CN217506055U - 一种电子芯片检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种电子芯片检测装置，包括检测基座以及通过一旋转轴转动式连接检测基座的翻盖，检测基座上开设有限位槽，限位槽中设有检测探针，限位槽的4个对角处分别设有一个伸缩顶杆；其中，位于限位槽宽度方向一侧的两个第一伸缩顶杆通过第一连杆连接，位于限位槽宽度方向另一侧的两个第二伸缩顶杆通过第二连杆连接；检测基座上连接有一转轴，转轴位于第一连杆和第二连杆下表面的一侧，并且转轴的相对两端分别贯穿检测基座的左右侧壁延伸至外部，转轴上设有与第一连杆对应设置的第一凸轮，以及与第二连杆对应设置的第二凸轮。解决了现有技术的电子芯片不易从限位槽中扣取出，导致在人工扣取的过程中容易用力过大造成芯片损坏的技术问题。

Description

一种电子芯片检测装置

技术领域

本实用新型涉及芯片检测设备技术领域，特别涉及一种电子芯片检测装置。

背景技术

电子芯片通常在出厂质检、回收品检查、使用性能检测等情况选都需对电子芯片进行检测，通常情况下，检测治具包括设置检测电路的治具底板，治具底板上固定检测基座，治具底板上设置连接检测电路并与电子芯片匹配设置的检测探针。

现有技术当中，在检测时，为确保电子芯片的检测点与检测探针可以精准对齐，通常会在检测基座上开设一个与电子芯片相适配的限位槽，以对芯片的位置进行定位，然而由于芯片小且薄，使得在检测后，操作人员不易从限位槽中抠出，且扣取时用力过大容易造成芯片的损坏，影响检测的效率和质量。

实用新型内容

基于此，本实用新型的目的是提供一种电子芯片检测装置，用于解决现有技术中的电子芯片不易从限位槽中扣取出，导致在人工扣取的过程中容易用力过大造成芯片损坏的技术问题。

本实用新型提出一种电子芯片检测装置，包括检测基座以及通过一旋转轴转动式连接所述检测基座的翻盖，所述检测基座上开设有限位槽，所述限位槽中设有检测探针，所述限位槽的4个对角处分别设有一个伸缩顶杆；

其中，位于所述限位槽宽度方向一侧的两个第一伸缩顶杆通过第一连杆连接，位于所述限位槽宽度方向另一侧的两个第二伸缩顶杆通过第二连杆连接，所述第一连杆与所述第二连杆均位于所述检测基座的内腔位置且相互平行设置；

所述检测基座上连接有一转轴，所述转轴位于所述第一连杆和所述第二连杆下表面的一侧，并且所述转轴的相对两端分别贯穿所述检测基座的左右侧壁延伸至外部，所述转轴上设有与所述第一连杆对应设置的第一凸轮，以及与所述第二连杆对应设置的第二凸轮。

上述电子芯片检测装置，通过在限位槽的4个对角处设置伸缩顶杆来顶出电子芯片，便于操作人员从限位槽中取出电子芯片，具体的，当需要取出电子芯片时，操作人员可转动转轴，以驱使第一凸轮和第二凸轮转动顶推第一连杆和第二连杆上升，由伸缩顶杆顶升电子芯片的4个对角处，以将电子芯片从限位槽中平稳顶出，解决了现有技术的电子芯片不易从限位槽中扣取出，导致在人工扣取的过程中容易用力过大造成芯片损坏的技术问题。

进一步地，所述电子芯片检测装置，其中，所述转轴沿所述检测基座的宽度方向设置，且所述转轴的轴线与所述第一连杆和所述第二连杆的中心点相对应。

进一步地，所述电子芯片检测装置，其中，所述第一伸缩顶杆上套设有第一弹簧、且所述第一弹簧位于所述第一连杆与所述检测基座内腔的顶壁之间，所述第二伸缩顶杆上套设有第二弹簧、且所述第二弹簧位于所述第二连杆与所述检测基座内腔的顶壁之间。

进一步地，所述电子芯片检测装置，其中，所述第一伸缩顶杆和所述第二伸缩顶杆的端部设有缓冲垫片。

进一步地，所述电子芯片检测装置，其中，所述转轴的相对两端分别设有旋转手柄。

进一步地，所述电子芯片检测装置，其中，所述电子芯片检测装置还包括联动组件，所述联动组件包括设于所述转轴上的齿轮、通过一滑块滑动连接在所述检测基座侧壁上并与所述齿轮啮合传动的第一齿条、通过连接臂与所述滑块连接的第二齿条以及设于所述翻盖的旋转轴上的缺齿轮。

进一步地，所述电子芯片检测装置，其中，所述翻盖朝向所述检测基座的一侧设有与所述检测探针相对应的固定框，所述固定框内设有缓冲板，所述缓冲板与所述固定框的底面之间通过多个第三弹簧连接。

进一步地，所述电子芯片检测装置，其中，所述缓冲板的外表面铺设有一层缓冲层。

附图说明

本实用新型的上述与/或附加的方面与优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显与容易理解，其中：

图1为本实用新型第一实施例中电子芯片检测装置的立体图；

图2为本实用新型第一实施例中电子芯片检测装置的局部剖视图；

图3为本实用新型第一实施例中翻盖的分解图；

图4为本实用新型第二实施例中电子芯片检测装置的立体图；

图5为本实用新型第二实施例中电子芯片检测装置的局部剖视图；

图6为图4中A位置的局部放大示意图；

图中主要元器件符号说明：

10-检测基座、20-翻盖、31-限位槽、32-检测探针、41-第一伸缩顶杆、42-第二伸缩顶杆、43-第一连杆、44-第二连杆、51-转轴、52-第一凸轮、53-第二凸轮、61-第一弹簧、62-第二弹簧、71-固定框、72-缓冲板、73-第三弹簧、80-旋转轴、90-旋转手柄、101-齿轮、102-第一齿条、103-滑块、104-连接臂、105-第二齿条、106-缺齿轮。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、特征与优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。附图中给出了本实用新型的若干实施例。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固设于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”、“上”、“下”以及类似的表述只是为了说明的目的，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造与操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型中，除非另有明确的规定与限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。本文所使用的术语“及／或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的与所有的组合。

请结合图1至图3，本实用新型第一实施例中的电子芯片检测装置，包括检测基座10以及通过一旋转轴80转动式连接所述检测基座10的翻盖20，所述检测基座10上开设有限位槽31，所述限位槽31中设有检测探针32，所述限位槽31的4个对角处分别设有一个伸缩顶杆；

其中，位于所述限位槽31宽度方向一侧的两个第一伸缩顶杆41通过第一连杆43连接，位于所述限位槽31宽度方向另一侧的两个第二伸缩顶杆42通过第二连杆44连接，所述第一连杆43与所述第二连杆44均位于所述检测基座10的内腔位置且相互平行设置；

所述检测基座10上连接有一转轴51，所述转轴51位于所述第一连杆43和所述第二连杆44下表面的一侧，并且所述转轴51的相对两端分别贯穿所述检测基座10的左右侧壁延伸至外部，所述转轴51的相对两端分别设有旋转手柄90，以便测试人员转动该转轴51，所述转轴51上设有与所述第一连杆43对应设置的第一凸轮52，以及与所述第二连杆44对应设置的第二凸轮53。

实际应用中，当需要将电子芯片顶出限位槽31时，操作人员可转动该旋转手柄90，以使第一凸轮52和第二凸轮53转动顶升第一连杆43和第二连杆44，当第一凸轮52和第二凸轮53旋转至竖直状态时，伸缩顶杆的顶出距离达到最大值。

具体地，所述转轴51沿所述检测基座10的宽度方向设置，且所述转轴51的轴线与所述第一连杆43和所述第二连杆44的中心点相对应。可以理解地，第一凸轮52对应第一连杆43的中心点位置设置，使得第一凸轮52对第一连杆43施加向上的顶推力时，可以确保设于第一连杆43上的两个第一伸缩顶杆41可以平稳上升，第二伸缩顶杆42也是同理，优化整体结构设计。

进一步地，所述第一伸缩顶杆41上套设有第一弹簧61、且所述第一弹簧61位于所述第一连杆43与所述检测基座10内腔的顶壁之间，所述第二伸缩顶杆42上套设有第二弹簧62、且所述第二弹簧62位于所述第二连杆44与所述检测基座10内腔的顶壁之间。可以理解地，当测试人员转动旋转手柄90，以使第一伸缩顶杆41和第二伸缩顶杆42顶出限位槽31后，该第一弹簧61和第二弹簧62被压缩，当测试人员取出电子芯片后，松开旋转手柄90，在第一弹簧61和第二弹簧62的弹力作用下，第一伸缩顶杆41和第二伸缩顶杆42自动复位，为下一组电子芯片的测试做好准备，大大提升了工作效率。

进一步地，所述第一伸缩顶杆41和所述第二伸缩顶杆42的端部设有缓冲垫片（图未示）。在本实施例中，该缓冲垫片的高度不超出限位槽31的底面，设置缓冲垫片的目的是对电子芯片进行顶升时进行缓冲保护，避免伸缩顶杆直接与电子芯片接触而容易损坏。

进一步地，所述翻盖20朝向所述检测基座10的一侧设有与所述检测探针32相对应的固定框71，所述固定框71内设有缓冲板72，所述缓冲板72与所述固定框71的底面之间通过多个第三弹簧73连接，所述缓冲板72的外表面铺设有一层缓冲层（图未示），该缓冲层具体可采用橡胶或硅胶等柔性材料制成。可以理解地，在翻盖20闭合后，缓冲层在第三弹簧73的弹力作用下止抵电子芯片的上表面，使得电子芯片上的管脚与检测探针32可以稳定接触。

综上，本实用新型上述实施例当中的电子芯片检测装置，通过在限位槽的4个对角处设置伸缩顶杆来顶出电子芯片，便于操作人员从限位槽中取出电子芯片，具体的，当需要取出电子芯片时，操作人员可转动转轴，以驱使第一凸轮和第二凸轮转动顶推第一连杆和第二连杆上升，由伸缩顶杆顶升电子芯片的4个对角处，以将电子芯片从限位槽中平稳顶出，解决了现有技术的电子芯片不易从限位槽中扣取出，导致在人工扣取的过程中容易用力过大造成芯片损坏的技术问题。

请结合图4至图6，所示为本实用新型第二实施例中的电子芯片检测装置，本实施例当中的电子芯片检测装置与第一实施例当中的电子芯片检测装置的不同之处在于：所述电子芯片检测装置还包括联动组件，所述联动组件包括设于所述转轴51上的齿轮101、通过一滑块103滑动连接在所述检测基座10侧壁上并与所述齿轮101啮合传动的第一齿条102、通过连接臂104与所述滑块103连接的第二齿条105以及设于所述翻盖20的旋转轴80上的缺齿轮106。在本实施例中，第一齿条102和第二齿条105对向设置，当翻盖20翻转90°时，缺齿轮106与第二齿条105之间不发生啮合传动，此时，测试人员可将电子芯片放入限位槽31中，然后闭合翻盖20，待测试完成后，将翻盖20翻转大于90°但不超过180°，使得缺齿轮106与第二齿条105之间发生了啮合转动，通过第一齿条102驱使齿轮101旋转90°，进而带动转轴51旋转90°，实现了伸缩顶杆的向上顶升，从而将电子芯片从限位槽31中顶出，相比实施例一中手动调节旋转手柄90的方案更为方便快捷。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体与详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形与改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (8)

1.一种电子芯片检测装置，包括检测基座以及通过一旋转轴转动式连接所述检测基座的翻盖，所述检测基座上开设有限位槽，所述限位槽中设有检测探针，其特征在于，所述限位槽的4个对角处分别设有一个伸缩顶杆；

其中，位于所述限位槽宽度方向一侧的两个第一伸缩顶杆通过第一连杆连接，位于所述限位槽宽度方向另一侧的两个第二伸缩顶杆通过第二连杆连接，所述第一连杆与所述第二连杆均位于所述检测基座的内腔位置且相互平行设置；

所述检测基座上连接有一转轴，所述转轴位于所述第一连杆和所述第二连杆下表面的一侧，并且所述转轴的相对两端分别贯穿所述检测基座的左右侧壁延伸至外部，所述转轴上设有与所述第一连杆对应设置的第一凸轮，以及与所述第二连杆对应设置的第二凸轮。

2.根据权利要求1所述的电子芯片检测装置，其特征在于，所述转轴沿所述检测基座的宽度方向设置，且所述转轴的轴线与所述第一连杆和所述第二连杆的中心点相对应。

3.根据权利要求1所述的电子芯片检测装置，其特征在于，所述第一伸缩顶杆上套设有第一弹簧、且所述第一弹簧位于所述第一连杆与所述检测基座内腔的顶壁之间，所述第二伸缩顶杆上套设有第二弹簧、且所述第二弹簧位于所述第二连杆与所述检测基座内腔的顶壁之间。

4.根据权利要求1所述的电子芯片检测装置，其特征在于，所述第一伸缩顶杆和所述第二伸缩顶杆的端部设有缓冲垫片。

5.根据权利要求1所述的电子芯片检测装置，其特征在于，所述转轴的相对两端分别设有旋转手柄。

6.根据权利要求1所述的电子芯片检测装置，其特征在于，所述电子芯片检测装置还包括联动组件，所述联动组件包括设于所述转轴上的齿轮、通过一滑块滑动连接在所述检测基座侧壁上并与所述齿轮啮合传动的第一齿条、通过连接臂与所述滑块连接的第二齿条以及设于所述翻盖的旋转轴上的缺齿轮。

7.根据权利要求1所述的电子芯片检测装置，其特征在于，所述翻盖朝向所述检测基座的一侧设有与所述检测探针相对应的固定框，所述固定框内设有缓冲板，所述缓冲板与所述固定框的底面之间通过多个第三弹簧连接。

8.根据权利要求7所述的电子芯片检测装置，其特征在于，所述缓冲板的外表面铺设有一层缓冲层。

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