CN217443457U - 一种sg2803j驱动器阵列老炼板 - Google Patents

一种sg2803j驱动器阵列老炼板 Download PDF

Info

Publication number
CN217443457U
CN217443457U CN202122906016.7U CN202122906016U CN217443457U CN 217443457 U CN217443457 U CN 217443457U CN 202122906016 U CN202122906016 U CN 202122906016U CN 217443457 U CN217443457 U CN 217443457U
Authority
CN
China
Prior art keywords
sg2803j
driver
driver array
test
burn
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202122906016.7U
Other languages
English (en)
Inventor
左洪涛
贾民杰
宁凯
张凡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
CASIC Defense Technology Research and Test Center
Original Assignee
CASIC Defense Technology Research and Test Center
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by CASIC Defense Technology Research and Test Center filed Critical CASIC Defense Technology Research and Test Center
Priority to CN202122906016.7U priority Critical patent/CN217443457U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN217443457U publication Critical patent/CN217443457U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本公开提供一种SG2803J驱动器阵列老炼板,包括:至少一个用于安装SG2803J驱动器阵列的试验工位和用于进行所述SG2803J驱动器阵列老炼的试验回路,其中:所述SG2803J驱动器阵列包括多组驱动电路,多组所述驱动电路并联设置,每组所述驱动电路包括信号端、电源端和输出端,所述信号端、所述电源端、所述输出端分别连接信号引脚、电源引脚、接地引脚。本公开通过合理的电路、试验工位设计,能够对多个SG2803J驱动器阵列以及SG2803J驱动器阵列内部多组参数性能一致的驱动电路同时进行功率老炼。

Description

一种SG2803J驱动器阵列老炼板
技术领域
本实用新型涉及电子元件可靠性测试领域,尤其涉及一种SG2803J驱动器阵列老炼板。
背景技术
老炼试验能够缩短器件早期失效的时间,能充分暴露器件绝大部分的失效机理,是提高器件使用可靠性的有效措施。由于SG2803J驱动器阵列采用DIP18(18引脚双列直插)封装,其内部封装了八组参数性能一致的驱动电路,输出电流较大、功率耗散较高,因此,对SG2803J驱动器阵列进行高温功率老炼难度较大,导致其一直处于缺项试验状态,该器件的使用可靠性无法满足实际需要。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型的目的在于提出一种SG2803J驱动器阵列老炼板,以解决或部分解决上述技术问题。
基于上述目的,本实用新型提供了一种SG2803J驱动器阵列老炼板,包括:至少一个用于安装SG2803J驱动器阵列的试验工位和用于进行所述SG2803J驱动器阵列老炼的试验回路,其中:
所述SG2803J驱动器阵列包括多组驱动电路,多组所述驱动电路并联设置,每组所述驱动电路包括信号端、电源端和输出端,所述信号端、所述电源端、所述输出端分别连接信号引脚、电源引脚、接地引脚;
所述试验回路包括试验电源、负载电阻和试验回路开关;
所述试验电源、所述负载电阻和所述电源引脚顺次电连接,所述接地引脚接地设置;
所述试验回路开关被配置为对所述驱动电路进行开合,包括信号源和隔离电阻,所述信号源、所述隔离电阻和所述信号引脚顺次电连接。
进一步地,所述SG2803J驱动器阵列包括八组所述驱动电路和八个所述电源引脚,所述电源引脚与所述驱动电路一一对应设置,每一所述电源引脚与一所述负载电阻电连接,八个所述负载电阻并联设置。
进一步地,所述SG2803J驱动器阵列包括八个所述信号引脚,所述信号引脚与所述驱动电路一一对应设置,每一所述信号引脚与一所述隔离电阻电连接,每一所述隔离电阻与一所述信号源电连接。
进一步地,所述驱动电路还电联接有保护引脚,所述保护引脚与反接二极管电连接,所述反接二极管与所述试验电源电连接。
进一步地,所述试验回路还包括滤波电容,所述滤波电容一端与所述试验电源电相连,另一端接地设置。
进一步地,所述试验电源至少包括两个,每个所述试验电源分别与四个所述负载电阻电连接。
进一步地,多个所述SG2803J驱动器阵列在老炼板上阵列设置,每个所述SG2803J驱动器阵列对应一所述试验回路,多个所述试验回路并联设置。
进一步地,所述试验工位采用抱式簧片夹紧固定所述SG2803J驱动器阵列。
进一步地,所述SG2803J驱动器阵列在老炼板上竖向安装。
进一步地,所述负载电阻在老炼板上立式安装。
从上面所述可以看出,本实用新型提供的SG2803J驱动器阵列老炼板,包括:至少一个用于安装SG2803J驱动器阵列的试验工位和用于进行SG2803J驱动器阵列老炼的试验回路。试验回路包括试验电源、负载电阻和试验回路开关。其中,试验电源、负载电阻和电源引脚顺次电连接,接地引脚接地设置,形成用于老炼驱动电路的闭合回路。试验回路开关被配置为对驱动电路进行开合,包括信号源和隔离电阻,信号源、隔离电阻和信号引脚顺次电连接。通过合理设计驱动电路的闭合回路以及试验回路开关,能够对SG2803J驱动器阵列内部多组参数性能一致的驱动电路同时进行功率老炼。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型实施例SG2803J驱动器阵列的结构示意图;
图2为本实用新型实施例SG2803J驱动器阵列的结构标注示意图;
图3为本实用新型实施例SG2803J驱动器阵列功率老炼原理示意图;
图4为本实用新型实施例SG2803J驱动器阵列老炼板的顶层结构示意图;
图5为本实用新型实施例SG2803J驱动器阵列老炼板的底层结构示意图。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本实用新型进一步详细说明。
需要说明的是,除非另外定义,本实用新型实施例使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”和类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性,而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同,而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接,而是可以包括电性的连接,不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系,当被描述对象的绝对位置改变后,则该相对位置关系也可能相应地改变。
SG2803J驱动器阵列的高温老炼是指在设定的温度、功率下对SG2803J驱动器阵列进行老化试验。在经过一段时间的高温功率老炼后,存有缺陷的SG2803J驱动器阵列,其缺陷就会显露出来,它们本身的性能或参数与标准性能或参数相比也会发生变化。所以高温功率老炼后通过专用仪器,对老炼后的SG2803J驱动器阵列的性能或参数进行测量,就能够判断SG2803J驱动器阵列的好坏,从而剔除不合格的SG2803J驱动器阵列。
SG2803J驱动器阵列是一种输出电压高、输出电流较大、功率耗散较高的阵列型器件,所以需要考虑高温环境下器件内部如何散热的问题。又因其封装形式特殊,内部封装了八组参数性能一致的驱动电路,在设计老炼板时必须考虑如何对八组参数性能一致的驱动电路进行同时、同效的功率老炼,还应考虑如何满足SG2803J驱动器阵列批量试验的需求,以及如何合理、可靠的安排试验工位。
有鉴于此,本公开一个或多个实施例提供了一种SG2803J驱动器阵列老炼板,通过合理的电路设计能够对SG2803J驱动器阵列内部八组参数性能一致的驱动电路同时进行功率老炼试验。
以下,通过具体的实施例来详细说明本公开一个或多个实施例的技术方案,一种SG2803J驱动器阵列老炼板,包括:至少一个用于安装SG2803J驱动器阵列的试验工位和用于进行所述SG2803J驱动器阵列老炼的试验回路。其中,在试验工位上安装SG2803J驱动器阵列时,只需按照老炼板所示极性方向将SG2803J驱动器阵列插入试验工位上的试验夹具内即可。用于进行所述SG2803J驱动器阵列老炼的试验回路能够提供SG2803J驱动器阵列老炼试验所需的功率。
如图1、图2所示,所述SG2803J驱动器阵列包括多组驱动电路,多组所述驱动电路并联设置,每组所述驱动电路包括信号端a1、电源端a2和输出端a3,所述信号端a1、所述电源端a2、所述输出端a3分别连接信号引脚b1、电源引脚b2、接地引脚9。
具体地,所述试验回路包括试验电源V、负载电阻RO和试验回路开关。所述试验电源V、所述负载电阻RO和所述电源引脚b2顺次电连接,所述接地引脚9接地设置,试验电源V输出的电压通过负载电阻RO、电源引脚b2连接至驱动电路,并由与驱动电路电连接的接地引脚9输出,从而形成用于输入、调控所述SG2803J驱动器阵列老炼所需功率的闭合回路。
所述试验回路开关被配置为对所述驱动电路进行开合,包括信号源F和隔离电阻RI,所述信号源F、所述隔离电阻RI和所述信号引脚b1顺次电连接。通过程控信号源F控制SG2803J驱动器阵列的工作状态,具体地,当信号源F输出低电平电压时,驱动电路断开,当信号源F输出高电平电压时,驱动电路连通。
在一些实施例中,如图3所示,所述SG2803J驱动器阵列包括八组所述驱动电路和八个所述电源引脚b2,所述电源引脚b2与所述驱动电路一一对应设置,每一所述电源引脚b2与一所述负载电阻RO电连接,八个所述负载电阻RO并联设置。八个所述电源引脚b2以及八个所述负载电阻RO即图3中的电源引脚11~18、负载电阻RO1~RO8。
在一些实施例中,如图3所示,所述SG2803J驱动器阵列包括八个所述信号引脚b1,所述信号引脚b1与所述驱动电路一一对应设置,每一所述信号引脚b1与一所述隔离电阻RI电连接,每一所述隔离电阻RI与一所述信号源F电连接。八个所述信号源F、八个所述隔离电阻RI、八个所述信号引脚b1即图3中的信号源F1~F8、隔离电阻RI1-RI8以及信号引脚1~8。总的来说,信号源F1~F8通过隔离电阻RI1~RI8连接到SG2803J的信号引脚1~8。
在一些实施例中,如图3所示,所述驱动电路还电联接有保护引脚10,所述保护引脚10与反接二极管D0电连接,所述反接二极管D0与所述试验电源V电连接。保护引脚10通过一反接二极管D0与试验电源V连接,当试验电源V出现意外短路故障时,反接二极管D0可保护SG2803J驱动器阵列内部的八只二极管D1~D8正常。
在一些实施例中,如图3所示,所述试验回路还包括滤波电容C,所述滤波电容C一端与所述试验电源V电相连,另一端接地设置。滤波电容C用在电源整流电路中,用来滤除交流成分,使输出的直流更平稳。
在一些实施例中,如图3所示,所述试验电源V至少包括两个,每个所述试验电源V分别与四个所述负载电阻RO电连接。两个所述试验电源V分别为试验电源VCC与试验电源VMUX,试验电源VCC与负载电阻RO1~RO4电连接,负载电阻RO1~RO4电连接到SG2803J驱动器阵列的电源引脚15~18。试验电源VMUX与负载电阻RO5~RO8电连接,负载电阻RO5~RO8电连接到SG2803J驱动器阵列的电源引脚11~14。保护引脚10通过反接二极管D0与试验电源VMUX电连接。
在一些实施例中,如图3所示,为试验电源VCC与试验电源VMUX分别配置一个滤波电容C,即试验电源VCC电连接滤波电容C1,滤波电容C1接地设置;试验电源VMUX电连接滤波电容C2,滤波电容C2接地设置。
在一些实施例中,如图4所示,多个所述SG2803J驱动器阵列在老炼板上阵列设置,每个所述SG2803J驱动器阵列对应一所述试验回路,多个所述试验回路并联设置。
在一些实施例中,所述试验工位采用抱式簧片夹紧固定所述SG2803J驱动器阵列,能够增加导热接触面积,利于SG2803J驱动器阵列的散热。
在一些实施例中,在进行SG2803J驱动器阵列老炼板设计时,还会增加老炼板上的焊盘、引线的宽度和厚度以增加散热面积。
在一些实施例中,所述SG2803J驱动器阵列在老炼板上竖向安装。每个试验工位都是一个大的发热源,而对试验工位进行排风散热的设备通常为横向排风设计,故将器件在老炼板上的安装方式设计为竖向,可以保证每只器件可以得到最大的受风面积。
在一些实施例中,所述负载电阻RO在老炼板上立式安装。将负载电阻RO设计成立式安装以便于有效增加受风面积。此外,试验工位间加大间距,确保风道畅通。
在一些实施例中,如图4、图5所示,考虑到批量试验能力,老炼板整板规划设计52个试验工位,以完成SG2803J驱动器阵列的批量老炼试验。
在一些实施例中,SG2803J驱动器阵列老炼板的顶层设计电源线、地线以及试验工位的输入线,SG2803J驱动器阵列老炼板的底层设计工位电压采样线。
所属领域的普通技术人员应当理解:以上任何实施例的讨论仅为示例性的,并非旨在暗示本公开的范围包括权利要求被限于这些例子;在本实用新型的思路下,以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合,步骤可以以任意顺序实现,并存在如上所述的本实用新型的不同方面的许多其它变化,为了简明它们没有在细节中提供。
本实用新型的实施例旨在涵盖落入所附权利要求的宽泛范围之内的所有这样的替换、修改和变型。因此,凡在本实用新型的精神和原则之内,所做的任何省略、修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种SG2803J驱动器阵列老炼板,其特征在于,包括:至少一个用于安装SG2803J驱动器阵列的试验工位和用于进行所述SG2803J驱动器阵列老炼的试验回路,其中:
所述SG2803J驱动器阵列包括多组驱动电路,多组所述驱动电路并联设置,每组所述驱动电路包括信号端、电源端和输出端,所述信号端、所述电源端、所述输出端分别连接信号引脚、电源引脚、接地引脚;
所述试验回路包括试验电源、负载电阻和试验回路开关;
所述试验电源、所述负载电阻和所述电源引脚顺次电连接,所述接地引脚接地设置;
所述试验回路开关被配置为对所述驱动电路进行开合,包括信号源和隔离电阻,所述信号源、所述隔离电阻和所述信号引脚顺次电连接。
2.根据权利要求1所述的SG2803J驱动器阵列老炼板,其特征在于,所述SG2803J驱动器阵列包括八组所述驱动电路和八个所述电源引脚,所述电源引脚与所述驱动电路一一对应设置,每一所述电源引脚与一所述负载电阻电连接,八个所述负载电阻并联设置。
3.根据权利要求2所述的SG2803J驱动器阵列老炼板,其特征在于,所述SG2803J驱动器阵列包括八个所述信号引脚,所述信号引脚与所述驱动电路一一对应设置,每一所述信号引脚与一所述隔离电阻电连接,每一所述隔离电阻与一所述信号源电连接。
4.根据权利要求1所述的SG2803J驱动器阵列老炼板,其特征在于,所述驱动电路还电联接有保护引脚,所述保护引脚与反接二极管电连接,所述反接二极管与所述试验电源电连接。
5.根据权利要求1所述的SG2803J驱动器阵列老炼板,其特征在于,所述试验回路还包括滤波电容,所述滤波电容一端与所述试验电源电相连,另一端接地设置。
6.根据权利要求2所述的SG2803J驱动器阵列老炼板,其特征在于,所述试验电源至少包括两个,每个所述试验电源分别与四个所述负载电阻电连接。
7.根据权利要求1所述的SG2803J驱动器阵列老炼板,其特征在于,多个所述SG2803J驱动器阵列在老炼板上阵列设置,每个所述SG2803J驱动器阵列对应一所述试验回路,多个所述试验回路并联设置。
8.根据权利要求7所述的SG2803J驱动器阵列老炼板,其特征在于,所述试验工位采用抱式簧片夹紧固定所述SG2803J驱动器阵列。
9.根据权利要求8所述的SG2803J驱动器阵列老炼板,其特征在于,所述SG2803J驱动器阵列在老炼板上竖向安装。
10.根据权利要求6所述的SG2803J驱动器阵列老炼板,其特征在于,所述负载电阻在老炼板上立式安装。
CN202122906016.7U 2021-11-24 2021-11-24 一种sg2803j驱动器阵列老炼板 Active CN217443457U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202122906016.7U CN217443457U (zh) 2021-11-24 2021-11-24 一种sg2803j驱动器阵列老炼板

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202122906016.7U CN217443457U (zh) 2021-11-24 2021-11-24 一种sg2803j驱动器阵列老炼板

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN217443457U true CN217443457U (zh) 2022-09-16

Family

ID=83210038

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202122906016.7U Active CN217443457U (zh) 2021-11-24 2021-11-24 一种sg2803j驱动器阵列老炼板

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN217443457U (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6614253B2 (en) On-circuit board continuity tester
CN101231322B (zh) 集成电路开路/短路的测试连接方法
US7280370B2 (en) Electronic package and circuit board having segmented contact pads
US20030234659A1 (en) Electrical isolation between pins sharing the same tester channel
CN108398627B (zh) 芯片引脚电路、芯片和芯片测试方法
CN217443457U (zh) 一种sg2803j驱动器阵列老炼板
CN101311740A (zh) 电子组件测试系统
CN215813112U (zh) 一种用于片式电阻的老炼装置
CN216389354U (zh) 一种测试用封装基板及测试系统
CN216560878U (zh) 数字集成电路通用测试装置
CN214623642U (zh) 一种基于srio总线的航空fc总线子卡测试装置
CN212207591U (zh) 一种电压调整器动态emmi分析系统
CN201477852U (zh) 探针卡及驱动电路测试系统
CN205812489U (zh) 一种印刷电路板及其caf测试单元
CN217443458U (zh) 一种lv7745dev晶体振荡器老炼板
CN211123130U (zh) 一种耐压测试装置
CN114814518A (zh) 测试装置
CN220473650U (zh) 一种适用于sot23-3封装芯片老炼试验的老炼板
CN207557301U (zh) 一种电老化筛选夹具及夹具的控制电路
CN220252101U (zh) 一种新型htrb老化pcb测试板
CN218240296U (zh) 一种适于ulq2003三极管阵列老炼试验的老炼板
CN217879499U (zh) 一种适于fcx458三极管老炼试验的老炼板
CN201119084Y (zh) 液晶面板模块熄灯复归装置
JP2000012634A (ja) バーンイン試験用基板への半導体装置の供給方法
CN102288897B (zh) 具有物理隔离特征的测试装置

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant