CN102288897B - 具有物理隔离特征的测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明的具有物理隔离特征的测试装置包括探针、外围电路和特殊功能电路，所述外围电路和特殊功能电路分别设置在不同的电路板上，所述外围电路和特殊功能电路均与所述探针电连接。本发明的具有物理隔离特征的测试装置，外围电路和特殊功能电路在物理空间上隔离，可避免元器件间相互干扰，且降低测试成本。

Description

具有物理隔离特征的测试装置

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及一种具有物理隔离特征的测试装置。

背景技术

芯片测试装置通常包括探针、外围电路和特殊功能电路，所述外围电路用于测试芯片性能参数，所述特殊功能电路用于对芯片作特殊处理。现有技术中，测试装置的探针、外围电路和特殊功能电路均设置在同一电路板上，即测试装置的探针、外围电路和特殊功能电路设置在同一平面内，这使得电路板上元器件密度较大，易产生相互干扰，另外，若电路板上某一个电路损坏，则整个测试装置报废，需要更换新的测试装置，测试成本高。

以修整熔丝为例，为了优化芯片的性能，常常需要修整芯片的熔丝以选择合适的内部电路模块，修整熔丝包括以下步骤：测量芯片的参数，根据芯片参数的测量值选定要修整的熔丝，熔断选定的熔丝，因此，烧熔丝测试装置包括探针、用于测量芯片参数的外围电路和用于熔断熔丝的熔丝电路(特殊功能电路)。

图1所示为现有技术的烧熔丝测试装置的示意图，该测试装置包括电路板110、探针120、外围电路130和四个熔丝电路140，本例中，所述烧熔丝测试装置包含四个熔丝电路140(即四个特殊功能电路)，可同时对四个芯片的熔丝进行修整。所述电路板110设有圆孔，所述探针120通过探针座160设置在所述圆孔内，所述外围电路130和四个熔丝电路140均设置在所述电路板110上，所述电路板110上还设有探针引脚150，所述探针引脚150的数量等于所述探针120的数量，一个所述探针引脚150与一个所述探针120电连接，本例中，所述探针引脚150分布在同一圆周上，且围绕在所述探针120外，所述外围电路130和四个熔丝电路140均通过导线(图1中未示)与所述探针引脚150电连接，从而实现与所述探针120电连接，与所述外围电路130电连接的探针120用于测试芯片的参数，与所述熔丝电路140电连接的探针120用于熔断芯片的熔丝。

本实施例的烧熔丝测试装置在一个电路板110上排布五个电路(一个外围电路130和四个熔丝电路140)，密度较大，而且所有探针120均分布在同一圆周上(相邻探针之间的间隙较小)，极易相互干扰，另外，五个电路中只要有一个电路损坏，该烧熔丝测试装置就报废，要更换整个烧熔丝测试装置，测试成本较高。

发明内容

本发明的目的在于提供一种具有物理隔离特征的测试装置，外围电路和特殊功能电路在物理空间上隔离，可避免元器件间相互干扰，且降低测试成本。

为了达到上述的目的，本发明提供一种具有物理隔离特征的测试装置，包括探针、外围电路和特殊功能电路，所述外围电路和特殊功能电路分别设置在不同的电路板上，所述外围电路和特殊功能电路均与所述探针电连接。

上述具有物理隔离特征的测试装置，其中，设有所述探针的电路板上设有探针引脚，所述探针引脚围绕在所述探针外，一个所述探针引脚与一根所述探针电连接，所述外围电路和特殊功能电路均通过所述探针引脚与所述探针电连接。

上述具有物理隔离特征的测试装置，其中，所述探针引脚被分为两类，分别是外围电路探针引脚和特殊功能电路探针引脚，同一类探针引脚分布在同一圆周上，不同类的探针引脚分布在不同圆周上，且不同类的探针引脚形成的圆弧所对的圆心角不重叠。

上述具有物理隔离特征的测试装置，其中，所述外围电路与所述探针设置在同一电路板上。

上述具有物理隔离特征的测试装置，其中，所述测试装置还包括连接电路板，所述连接电路板与所述探针电连接，设有所述特殊功能电路的电路板与所述连接电路板电连接，从而实现所述特殊功能电路与所述探针的电连接。

上述具有物理隔离特征的测试装置，其中，所述探针、外围电路和特殊功能电路分别设置在不同的电路板上，所述测试装置还包括连接电路板，所述连接电路板与所述探针电连接，设有所述特殊功能电路的电路板和设有外围电路的电路板均与所述连接电路板电连接，从而实现所述特殊功能电路与所述探针以及所述外围电路与所述探针的电连接。

本发明的具有物理隔离特征的测试装置将外围电路和特殊功能电路分别设置在不同的电路板上，使外围电路和特殊功能电路在物理空间上隔离，降低了同一电路板上元器件的密度，可避免元器件间相互干扰，另外，若测试装置中某一个电路损坏，而其余电路性能均良好，则只需更换载有该损坏电路的电路板即可，无需更换整个测试装置，降低了测试成本。

附图说明

本发明的具有物理隔离特征的测试装置由以下的实施例及附图给出。

图1是现有技术的烧熔丝测试装置的示意图。

图2是本发明具有物理隔离特征的测试装置实施例一的示意图。

图3是本发明实施例一中第一电路板的示意图。

图4是本发明实施例一中第二电路板的示意图。

图5是本发明具有物理隔离特征的测试装置实施例二的示意图。

图6是本发明实施例二中第三电路板的示意图。

具体实施方式

以下将结合图2～图6对本发明的具有物理隔离特征的测试装置作进一步的详细描述。

本发明的具有物理隔离特征的测试装置包括探针、外围电路和特殊功能电路，所述外围电路用于测试芯片性能参数，所述特殊功能电路用于对芯片作特殊处理，所述外围电路和特殊功能电路分别设置在不同的电路板上，所述外围电路和特殊功能电路均与所述探针电连接。

本发明的具有物理隔离特征的测试装置将外围电路和特殊功能电路分别设置在不同的电路板上，使外围电路和特殊功能电路在物理空间上隔离，降低了同一电路板上元器件的密度，可避免元器件间相互干扰，另外，若测试装置中某一个电路损坏，而其余电路性能均良好，则只需更换载有该损坏电路的电路板即可，无需更换整个测试装置，降低了测试成本。

现举实施例详细说明本发明的具有物理隔离特征的测试装置：

实施例一：

参见图2～图4，本实施例的具有物理隔离特征的测试装置包括多根探针210、一个外围电路220和一个特殊功能电路230，所述外围电路220和探针210设置在第一电路板240上，所述特殊功能电路230设置在第二电路板250上；

如图3所示，所述第一电路板240设有圆孔，一环状探针座260设置在该圆孔内，所述多根探针210通过绝缘树脂270固定于所述探针座260上；

所述外围电路220设置在所述第一电路板240上，位于所述圆孔的一侧；

所述第一电路板240上还设有探针引脚，所述探针引脚围绕在所述探针210外；

所述探针引脚的数量等于所述探针210的数量，一个所述探针引脚与一根所述探针210电连接，为了连接的方便，一个所述探针引脚与一根所述探针210对应设置；

如图4所示，所述特殊功能电路230设置在所述第二电路板250上，所述第二电路板250上还设有特殊功能电路引脚290，所述特殊功能电路230通过导线(图4中未示)与所述特殊功能电路引脚290电连接，所述特殊功能电路引脚290用于与所述第一电路板240上的探针引脚连接，从而实现所述特殊功能电路230与所述探针210的电连接；

所述外围电路220通过导线(图3中未示)与所述探针引脚电连接，从而实现所述外围电路220与所述探针210的电连接，所述特殊功能电路引脚290与所述探针引脚电连接，从而实现所述特殊功能电路230与所述探针210的电连接，例如，所述特殊功能电路引脚290通过弹簧针291与所述探针引脚电连接；

由于本实施例中外围电路220和特殊功能电路230分别设置在不同的电路板上，同一电路板上元器件的密度大大降低，因此，设计同一电路板上元器件的排布有较大灵活性，在本实施例中，将探针引脚分为两类，一类是外围电路探针引脚281，另一类是特殊功能电路探针引脚282，所述外围电路探针引脚281用于与所述外围电路220连接，所述特殊功能电路探针引脚282用于与所述特殊功能电路230连接，这样，所述探针210也被分为两类，与所述外围电路探针引脚281电连接的探针210为外围电路探针，与所述特殊功能电路探针引脚282电连接的探针210为特殊功能电路探针，同一类探针引脚分布在同一圆周上，不同类的探针引脚分布在不同圆周上，且不同类的探针引脚形成的圆弧所对的圆心角不重叠，如图3所示，本实施例中，所述外围电路探针引脚281分布在同一圆周上，所述特殊功能电路探针引脚282分布在同一圆周上，所述外围电路探针引脚281所在的圆周的半径大于所述特殊功能电路探针引脚282所在的圆周的半径，且所述外围电路探针引脚281形成的圆弧所对的圆心角Φ1与所述特殊功能电路探针引脚282形成的圆弧所对的圆心角Φ2不重叠，因为所述外围电路220位于所述第一电路板240的圆孔的一侧，所以可以将所述外围电路探针引脚281设置在靠近所述外围电路220的一边，将所述特殊功能电路探针引脚282设置在远离所述外围电路220的一边，同理，所述外围电路探针设置在靠近所述外围电路220的一边，所述特殊功能电路探针设置在远离所述外围电路220的一边，而所述第二电路板250上的特殊功能电路引脚290的排布位置可根据所述第一电路板240上的特殊功能电路探针引脚282的排布位置设计，保证连接的方便；

由于外围电路220和特殊功能电路230设置在不同的电路板上，所以探针引脚的排布具有较大的灵活性，将探针引脚分成两类，并将两类探针引脚分开分布，探针同样分成两类，两类探针同样分开分布，这有利于降低相互间的干扰；

由于外围电路220和特殊功能电路230设置在不同的电路板上，某一个电路损坏时，只需更换载有该损坏电路的电路板即可，无需更换整个测试装置，降低了测试成本。

以同时可对四个芯片进行熔丝修整的烧熔丝测试装置为例，可将四个熔丝电路均设置在所述第二电路板250上，即将四个熔丝电路看作一个整体(一个特殊功能电路)。

实施例二：

参见图5和图6，本实施例的具有物理隔离特征的测试装置包括多根探针310、一个外围电路320、一块连接电路板340和四个特殊功能电路，所述四个特殊功能电路分别为第一特殊功能电路、第二特殊功能电路、第三特殊功能电路和第四特殊功能电路；

所述外围电路320和探针310设置在第三电路板330上，所述第一特殊功能电路设置在第四电路板351上，所述第二特殊功能电路设置在第五电路板352上，所述第三特殊功能电路设置在第六电路板353上，所述第四特殊功能电路设置在第七电路板354上；

如图6所示，所述第三电路板330设有圆孔，一环状探针座360设置在该圆孔内，所述多根探针310通过绝缘树脂370固定于所述探针座360上；

所述外围电路320设置在所述第三电路板330上，位于所述圆孔的一侧；

所述第三电路板330上还设有探针引脚，所述探针引脚围绕在所述探针310外；

所述探针引脚的数量等于所述探针310的数量，一个所述探针引脚与一根所述探针310电连接，为了连接的方便，一个所述探针引脚与一根所述探针310对应设置；

同样地，本实例中，所述探针引脚被分为两类，一类是外围电路探针引脚381，另一类是特殊功能电路探针引脚382，所述外围电路320通过导线(图6中未示)与所述外围电路探针引脚381电连接，从而实现所述外围电路320与所述探针310的电连接；

所述第四电路板351、第五电路板352、第六电路板353第七电路板354通过所述连接电路板340与所述特殊功能电路探针引脚382电连接，从而实现所述四个特殊功能电路与所述探针310的电连接，例如，在所述连接电路板340上设四个插接口，所述四个插接口均与所述特殊功能电路探针引脚382电连接，所述第四电路板351、第五电路板352、第六电路板353第七电路板354各通过一个所述插接口插接在所述连接电路板340上；

所述外围电路探针引脚381和特殊功能电路探针引脚382的排布方式与实施例一相同。

以同时可对四个芯片进行熔丝修整的烧熔丝测试装置为例，可将四个熔丝电路分别设置在四个电路板上。

在实施例一和实施例二中，外围电路和探针设置在同一电路板上，但本发明并不局限于此，可将外围电路和探针分别设置在不同的电路板上，这样，外围电路和特殊功能电路均通过连接电路板与探针电连接。

Claims (4)

1.一种具有物理隔离特征的测试装置，包括探针、外围电路和特殊功能电路，其特征在于，所述外围电路和特殊功能电路分别设置在不同的电路板上，所述外围电路和特殊功能电路均与所述探针电连接；其中， 

设有所述探针的电路板上设有探针引脚，所述探针引脚围绕在所述探针外，一个所述探针引脚与一根所述探针电连接，所述外围电路和特殊功能电路均通过所述探针引脚与所述探针电连接； 

所述探针引脚被分为两类，分别是外围电路探针引脚和特殊功能电路探针引脚，同一类探针引脚分布在同一圆周上，不同类的探针引脚分布在不同圆周上，且不同类的探针引脚形成的圆弧所对的圆心角不重叠。 

2.如权利要求1所述的具有物理隔离特征的测试装置，其特征在于，所述外围电路与所述探针设置在同一电路板上。 

3.如权利要求2所述的具有物理隔离特征的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括连接电路板，所述连接电路板与所述探针电连接，设有所述特殊功能电路的电路板与所述连接电路板电连接，从而实现所述特殊功能电路与所述探针的电连接。 

4.如权利要求1所述的具有物理隔离特征的测试装置，其特征在于，所述探针、外围电路和特殊功能电路分别设置在不同的电路板上，所述测试装置还包括连接电路板，所述连接电路板与所述探针电连接，设有所述特殊功能电路的电路板和设有外围电路的电路板均与所述连接电路板电连接，从而实现所述特殊功能电路与所述探针以及所述外围电路与所述探针的电连接。 

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