CN217385574U - 一种芯片测试插座 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种芯片测试插座，属于芯片测试技术领域。为解决传统测试插座在测试芯片时，存在接触阻抗变化大，信号失真的问题。本申请包括插座本体、探针组件和弹性连接组件；插座本体具有放置芯片的凹槽；探针组件包括探针；凹槽底部的插座本体上设有与探针组件数量相对应的安装槽；安装槽的尺寸与探针相适配，且至少部分与凹槽联通，安装槽沿径向贯穿插座本体；探针安装在安装槽内，一端从安装槽与凹槽的联通端伸出，另一端通过与弹性连接组件固连并安装在安装槽的另一端；弹性连接组件由非导体制成。本申请在进行测试时能保证接触阻值稳定性，降低了信号传输的路经长度，可以保证对信号的干扰最小，探针采用一体式结构，能承载大的电流传输。

Description

一种芯片测试插座

技术领域

本申请涉及一种芯片测试插座，属于芯片测试技术领域。

背景技术

随着信号传输频率的提高，以及高清信号对数据传输准确性也越来越高，从而对芯片的要求也越来越高，因此对测试插座在应用过程中，在传输信号时要求测试插座对信号的影响要求越来越小。

但是传统的测试插座在使用时存在与芯片接触时，探针由于在使用过程中，存在沾锡，以及自身的磨损，从而在下一次与芯片接触时的阻抗变化比较大，使得在测试芯片过程中存在将信号失真。以及传统探针由于结构限制，存在信号传输路经比较长，更加容易导致信号失真。测试值由于阻抗的影响导致实际测量值偏离测试指标比较大，导致测试良率的下降，最终导致将好的芯片判断为不合格芯片。同时，传统测试插座的探针与芯片焊盘接触需要靠弹力使探针和焊盘接触可靠，但是探针弹力的产生是用弹簧产生的，弹簧在信号传输过程中容易将信号传输延时，最终导致信号失真。

实用新型内容

针对现有技术中存在的问题与不足，一种测试探针，包括插座本体、若干组探针组件和弹性连接组件；插座本体具有一放置芯片的凹槽；探针组件包括若干个探针；凹槽底部的插座本体上设有若干组与探针组件数量相对应的安装槽；安装槽的尺寸与探针相适配，且其至少部分与凹槽联通，安装槽沿径向贯穿插座本体；探针安装在安装槽内，一端从安装槽与凹槽的联通端伸出，另一端通过与弹性连接组件固定连接并安装在安装槽的另一端；弹性连接组件由非导体制成。本申请在进行测试时能保证接触阻值稳定性，降低了信号传输的路经长度，可以保证对信号的干扰最小，探针采用一体式结构，能承载大的电流传输。

为实现上述目的，本申请提供如下技术方案：一种芯片测试插座，包括：插座本体、若干组探针组件和弹性连接组件；插座本体具有一放置芯片的凹槽；探针组件包括若干个探针；凹槽底部的插座本体上设有若干组与探针组件数量相对应的安装槽；安装槽的尺寸与探针相适配，且其至少部分与凹槽联通，安装槽沿径向贯穿插座本体；探针安装在安装槽内，一端从安装槽与凹槽的联通端伸出，另一端通过与弹性连接组件固定连接并安装在安装槽的另一端；弹性连接组件由非导体制成；测试插座安装在测试板上，芯片从凹槽上方放入，芯片针脚与探针的伸出端相抵靠，推动探针朝测试板方向运动，使探针与测试板相接触，进行芯片测试工作。

具体的，插座本体包括上盖和底座；上盖设有一上、下开口的通孔；底座上设有安装槽；上盖固定安装在底座上，通孔与底座之间形成凹槽。

具体的，每组安装槽包括第一安装槽组和第二安装槽组；第一安装槽组包括数量与探针数量一一对应的子安装槽；每个子安装槽为一具有第一开口和第二开口且中部联通空腔结构，且其与探针尺寸相适配；凹槽与第一开口至少部分相联通；每个子安装槽的中部联通空腔沿径向贯穿底座。这样设置可实现探针安装在子安装槽内，在进行测试时，探针在子安装槽内运动时，探针的尺寸由于与子安装槽尺寸相适配，探针因测试存在的锡在运动中与子安装槽的侧壁进行刮擦去除，从而保证在最终接触中，探针和芯片焊盘有很好的接触，以及探针与测试板有很好的接触，保证信号传输的稳定。

具体的，每个子安装槽彼此隔开，且其每个子安装槽的第二开口相联通，形成第二安装槽组；弹性连接组件安装在第二安装槽组内。这样设置可保证每个探针在测试时，信号传输彼此相互分开，不会相互干扰。同时，每个子安装槽的第二开口相联通，形成第二安装槽组，用于安装弹性连接组件，可实现测试插座整体结构简单，紧凑，同时实现测试插座部件的快速安装，减少安装调试时间，提高生产效率。

具体的，探针为一体式异型结构，且其安装在子安装槽内，一端从第一开口与凹槽的联通端伸出，另一端从第二开口处伸出并与弹性连接组件固定连接。这样设置可实现探针安装在子安装槽内时，探针一端从子安装槽的第一出口伸出，作为测试端，另一端从第二出口伸出与弹性连接组件连接作为连接端，这样可使得在形状上可以做得更小，信号在通过异型探针时的路经就很短，对信号的影响也就最小。

具体的，弹性连接组件为由弹性橡胶材料制成的胶条。这样设置使得胶条对信号传输不产生任何影响，从而保证信号在传输过程中无干扰。

具体的，底座上开设有定位通孔；定位通孔内固定安装有定位销；上盖与定位通孔相对应的位置上设有定位孔，上盖安装在底座上时，定位通孔与定位孔一一对应。这样设置是为了保证在进行测试插座部件安装时，能快速进行上盖与底座的快速定位安装，便于快速生产，提高部件安装与调试效率。

具体的，定位销固定安装在定位通孔内，且其两端分别从定位孔和定位通孔伸出；芯片与定位孔相对应的位置上设有销孔，测试板与定位通孔相对应的位置上设有定位销孔；芯片安装在上盖上时，销孔与定位销的一侧伸出端一一对应；底座安装在测试板上时，定位销另一侧伸出端与定位销孔一一对应。设置定位销是为了保证实际测试时，芯片焊盘的位置和异型探针头部的位置一致，另外定位销起定位测试插座和测试板，保证了将来测试探针和测试板上的焊盘位置一致，提高测试精度。

具体的，探针在电流传输过程中能传输12A的电流。测试探针采用一体式结构，相比传统探针只能传输5A电流，可承载更大的测试电流，提高测试插座的产品适用范围。

与现有技术相比，本申请的有益效果在于：

1.本申请通过探针安装在子安装槽内，一端作为测试端与芯片待测针脚相抵靠，探针在芯片针脚的推动下在子安装槽内朝向测试板运动，直至与测试板相抵靠进行测试工作，探针在运动过程中，将芯片针脚的锡的氧化层进行刮擦以及将自身残存的锡以及氧化层与子安装槽壁进行刮擦去除，保证最终三者的有效接触，保证测试信号接触阻抗稳定性，以及保证信号传输不失真。

2.本申请通过将探针采用一体式结构，不需要传统探针几个布局组合而成，因此在形状上可以做得更小，信号在通过异型探针时的路经就很短，对信号的影响也就最小，同时可承载更大的测试电流，提高产品适用范围。

3.本申请采用非导电的弹性橡胶材质制成的胶条作为弹性连接组件，可在探针在进行测试时，胶条对信号不产生任何影响，从而保证信号在传输过程中无干扰。

附图说明

图1为本实施例测试插座的部件爆炸图；

图2为本实施例测试插座的示意图（1）；

图3为本实施例测试插座的示意图（2）；

图4为本实施例测试插座的俯视图；

图5为本实施例测试插座的仰视图；

图6为本实施例测试插座未进行芯片测试剖视图；

图7为本实施例测试插座进行芯片测试剖视图；

图8为本实施例图1中A处的结构放大示意图。

图中：1、上盖；2、底座；3、第一安装槽组；4、第二安装槽组；5、探针；6、子安装槽；7、胶条；8、定位销。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，进一步阐述本申请。

请参阅图1本实施例公开了一种芯片测试插座，包括：插座本体、若干组探针组件和弹性连接组件；插座本体具有一放置芯片的凹槽；探针组件包括若干个探针5；凹槽底部的插座本体上设有若干组与探针组件数量相对应的安装槽；安装槽的尺寸与探针相适配，且其至少部分与凹槽联通，安装槽沿径向贯穿插座本体；探针安装在安装槽内，一端从安装槽与凹槽的联通端伸出，另一端通过与弹性连接组件固定连接并安装在安装槽的另一端；弹性连接组件由非导体制成；测试插座安装在测试板上，芯片从凹槽上方放入，芯片针脚与探针的伸出端相抵靠，推动探针朝测试板方向运动，使探针与测试板相接触，进行芯片测试工作。实现了芯片测试插座的基本工作需求。

进一步的，插座本体包括上盖1和底座2；上盖1设有一上、下开口的通孔；底座上设有安装槽；上盖1固定安装在底座2上，通孔与底座2之间形成凹槽。实现了插座本体的构成。

进一步的，每组安装槽包括第一安装槽组3和第二安装槽组4；第一安装槽组3包括数量与探针5数量一一对应的子安装槽6；每个子安装槽6为一具有第一开口和第二开口且中部联通空腔结构，且其与探针5尺寸相适配；凹槽与第一开口至少部分相联通；每个子安装槽6的中部联通空腔沿径向贯穿底座2。实现了安装槽的构成。

进一步的，每个子安装槽6彼此隔开，且其每个子安装槽的第二开口相联通，形成第二安装槽组4；弹性连接组件安装在第二安装槽组4内。实现了子安装槽的构成。

进一步的，探针5为一体式异型结构，且其安装在子安装槽内6，一端从第一开口与凹槽的联通端伸出，另一端从第二开口处伸出并与弹性连接组件固定连接。实现了探针的构成。

进一步的，弹性连接组件为由弹性橡胶材料制成的胶条7。实现了弹性连接组件的构成。

进一步的，底座2上开设有定位通孔；定位通孔内固定安装有定位销8；上盖1与定位通孔相对应的位置上设有定位孔，上盖1安装在底座2上时，定位通孔与定位孔一一对应。

进一步的，定位销8固定安装在定位通孔内，且其两端分别从定位孔和定位通孔伸出；芯片与定位孔相对应的位置上设有销孔，测试板与定位通孔相对应的位置上设有定位销孔；芯片安装在上盖1上时，销孔与定位销的一侧伸出端一一对应；底座2安装在测试板上时，定位销8另一侧伸出端与定位销孔一一对应。

进一步的，探针5在电流传输过程中能传输12A的电流。

工作原理：本申请提供一种异型测试插座，包括上盖1和底座2，上盖1上用于安装芯片，芯片的针脚从上盖1的凹槽进入与探针组件相抵靠。一体式异型探针5安装在底座2的子安装槽6内，并通过胶条7固定探针5的活动范围。定位销8安装在底座2上，以定位上盖1和底座2的相对位置，从而保证实际测试时，芯片针脚的位置和探针5的位置一致。另外定位销8也起定位底座2和测试板的相对位置，保证测试插座和测试板上的焊盘位置相一致。当通过固定螺丝把上盖1和底座2固定在一起时，上盖1能给胶条7一个反作用力作用在探针5上，这个力传递到探针5与芯片抵靠的一端时，力的一部分分解为X方向上与芯片的刮擦力，一部分分解为Y方向的力作用在芯片上，使探针5在运动时产生摩擦力与X方向上的刮擦力相平衡，完成对芯片针脚上的锡氧化层进行刮擦，同时探针5与子安装槽壁进行Y方向的刮擦，以除去探针5自身存在的锡以及氧化层等杂物，保证芯片安装后在进行测试时，芯片针脚与探针5的接触阻值处于稳定状态，实现测试信号的有效传输。

上面结合实施例对本申请的实施方式作了详细说明，但是本申请并不限于上述实施方式，对于本技术领域的普通技术人员来说，在获知本申请中记载内容后，在不脱离本申请原理的前提下，还可以对其作出若干同等变换和替代，这些同等变换和替代也应视为属于本申请的保护范围。

Claims (9)

1.一种芯片测试插座，包括：插座本体、若干组探针组件和弹性连接组件；所述插座本体具有一放置芯片的凹槽；其特征在于：所述探针组件包括若干个探针；所述凹槽底部的插座本体上设有若干组与所述探针组件数量相对应的安装槽；所述安装槽的尺寸与所述探针相适配，且其至少部分与所述凹槽联通，所述安装槽沿径向贯穿所述插座本体；所述探针安装在所述安装槽内，一端从所述安装槽与所述凹槽的联通端伸出，另一端通过与所述弹性连接组件固定连接并安装在所述安装槽的另一端；所述弹性连接组件由非导体制成；所述测试插座安装在测试板上，芯片从所述凹槽上方放入，芯片针脚与所述探针的伸出端相抵靠，推动探针朝所述测试板方向运动，使探针与所述测试板相接触，进行芯片测试工作。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试插座，其特征在于：所述插座本体包括上盖和底座；所述上盖设有一上、下开口的通孔；所述底座上设有所述安装槽；所述上盖固定安装在所述底座上，所述通孔与所述底座之间形成所述凹槽。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试插座，其特征在于：每组所述安装槽包括第一安装槽组和第二安装槽组；所述第一安装槽组包括数量与所述探针数量一一对应的子安装槽；每个所述子安装槽为一具有第一开口和第二开口且中部联通空腔结构，且其与所述探针尺寸相适配；所述凹槽与第一开口至少部分相联通；每个所述子安装槽的中部联通空腔沿径向贯穿所述底座。

4.根据权利要求3所述的一种芯片测试插座，其特征在于：每个所述子安装槽彼此隔开，且其每个所述子安装槽的第二开口相联通，形成所述第二安装槽组；所述弹性连接组件安装在所述第二安装槽组内。

5.根据权利要求4所述的一种芯片测试插座，其特征在于：所述探针为一体式异型结构，且其安装在所述子安装槽内，一端从所述第一开口与所述凹槽的联通端伸出，另一端从所述第二开口处伸出并与所述弹性连接组件固定连接。

6.根据权利要求1、4和5任一项所述的一种芯片测试插座，其特征在于：所述弹性连接组件为由弹性橡胶材料制成的胶条。

7.根据权利要求2所述的一种芯片测试插座，其特征在于：所述底座上开设有定位通孔；所述定位通孔内固定安装有定位销；所述上盖与所述定位通孔相对应的位置上设有定位孔，所述上盖安装在所述底座上时，所述定位通孔与所述定位孔一一对应。

8.根据权利要求7所述的一种芯片测试插座，其特征在于：所述定位销固定安装在所述定位通孔内，且其两端分别从所述定位孔和所述定位通孔伸出；芯片与所述定位孔相对应的位置上设有销孔，所述测试板与所述定位通孔相对应的位置上设有定位销孔；所述芯片安装在所述上盖上时，所述销孔与所述定位销的一侧伸出端一一对应；所述底座安装在所述测试板上时，所述定位销另一侧伸出端与所述定位销孔一一对应。

9.根据权利要求1所述的一种芯片测试插座，其特征在于：所述探针在电流传输过程中能传输12A的电流。

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