CN217306476U - 一种用于芯片加工使用的抽检装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于质量检测设备技术领域，且公开了一种用于芯片加工使用的抽检装置，包括操作平台，所述操作平台顶面的后端固定安装有支撑臂，所述支撑臂顶面的前端固定安装有液压缸，所述液压缸的输出端固定套接有橡胶压轴，所述操作平台的顶面固定安装有支撑块，所述支撑块的顶端活动连接有滚珠丝杠。本实用新型通过滚珠丝杠带动啮合在滚珠丝杠表面的啮合板前后运动，从而带动两个支撑架向落料槽的中心运动，在两个支撑架相向运动并且两个支撑架之间的距离值等于芯片的长度值时，将芯片放置在两个支撑架的中部，随着两个支撑架继续运动时会逐渐将芯片夹持，从而方便对芯片进行固定，操作简单，降低了操作人员的劳动强度。

Description

一种用于芯片加工使用的抽检装置

技术领域

本实用新型属于质量检测设备技术领域，具体是一种用于芯片加工使用的抽检装置。

背景技术

芯片是电子学中将电路小型化的装置，在芯片制造中通常需要对芯片进行切割，在切割后，需要对切割下来的芯片进行强度抽检，从而避免芯片在后续的加工中出现断裂的情况。

现有的抽检装置在使用时，通常采用将芯片的两端分别进行固定，然后对两端进行弯折的方式进行强度检测，但在使用时，需要操作人员分别对芯片的两端进行夹持固定，操作复杂，增加了操作人员的劳动强度。

现有的抽检设备在使用时，通常需要操作人员首先将芯片放置在固定夹具中，在强度检测完毕后，还需要操作人员将已经检测完毕的芯片取出夹具，然后在放置新的芯片，操作繁琐，降低了操作人员的工作效率。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对以上问题，本实用新型提供了一种用于芯片加工使用的抽检装置，具有降低了操作人员的劳动强度，提高了操作人员的工作效率的优点。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于芯片加工使用的抽检装置，包括操作平台，所述操作平台顶面的后端固定安装有支撑臂，所述支撑臂顶面的前端固定安装有液压缸，所述液压缸的输出端固定套接有橡胶压轴，启动液压缸，液压缸带动橡胶压轴向下运动，使橡胶压轴下移与芯片的中部接触，随着橡胶压轴的下移，不合格的芯片会出现断裂，而合格的芯片则会发生弹性变形，所述操作平台的顶面固定安装有支撑块，所述支撑块的顶端活动连接有滚珠丝杠，所述操作平台底面的后端固定安装有驱动电机，所述驱动电机的输出端和滚珠丝杠的后端均固定安装有传动轮，所述传动轮的表面传动连接有传动带，通过传动带传动连接传动轮，可以实现在驱动电机工作时带动滚珠丝杠旋转，滚珠丝杠在旋转时，可以带动啮合在滚珠丝杠表面的啮合板前后运动，从而带动两个支撑架向落料槽的中心运动，所述滚珠丝杠的表面啮合有啮合板，所述啮合板的中部固定安装有支撑架，所述操作平台的中部开设有落料槽。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述操作平台的底面固定安装有出料管，所述出料管左右两个侧面的底部均固定安装有固定轴，所述固定轴的表面活动连接有旋转套，所述旋转套的前端固定安装有挡板，所述挡板的顶面固定安装有锁止板，所述锁止板的右端活动连接有插接杆，所述插接杆的表面活动套接有复位弹簧，将插接杆向上拉动，使插接杆对底端离开操作平台的前端，此时可以将挡板向前旋转，使挡板处于水平状态，从而可以对出料管内的芯片进行统一收集。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述滚珠丝杠的前后两端均固定安装有限位环，所述限位环远离滚珠丝杠中心的一面与支撑块接触，限位环对滚珠丝杠进行定位，避免滚珠丝杠发生滑移，保证了装置运行的稳定性。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述橡胶压轴位于落料槽的正上方，所述落料槽的宽度值比支撑架的长度值大三厘米，液压缸带动橡胶压轴上移离开芯片，此时两个支撑架相对运动，当两个支撑架之间的最短距离值大于芯片的长度值时，芯片失去支撑架的支撑向落料槽掉落，然后进入出料管内，并随着出料管底面的导向堆积在出料管内腔的前端。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述支撑架的形状为“L”形，所述支撑架共有两个，两个所述支撑架分别位于落料槽中心的前后两侧，在两个支撑架相向运动并且两个支撑架之间的距离值等于芯片的长度值时，将芯片放置在两个支撑架的中部，两个支撑架继续运动时会逐渐将芯片夹持。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述插接杆的底端依次插接在锁止板的后端和操作平台的前端，所述复位弹簧固定安装在插接杆的顶端和锁止板的顶面上，松开插接杆，复位弹簧的弹性会带动插接杆下移，使插接杆的底端插接在操作平台的前端，从而对挡板进行定位。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

1、本实用新型通过传动带传动连接传动轮，可以实现在驱动电机工作时带动滚珠丝杠旋转，滚珠丝杠在旋转时，可以带动啮合在滚珠丝杠表面的啮合板前后运动，从而带动两个支撑架向落料槽的中心运动，在两个支撑架相向运动并且两个支撑架之间的距离值等于芯片的长度值时，将芯片放置在两个支撑架的中部，随着两个支撑架继续运动时会逐渐将芯片夹持，从而方便对芯片进行固定，操作简单，降低了操作人员的劳动强度。

2、本实用新型通过在操作平台的底面设置出料管，液压缸带动橡胶压轴上移离开芯片，此时两个支撑架相对运动，当两个支撑架之间的最短距离值大于芯片的长度值时，芯片失去支撑架的支撑向落料槽掉落，然后进入出料管内，并随着出料管底面的导向堆积在出料管内腔的前端，从而实现自动对检测过的芯片进行取出，操作简单，提高了操作人员的工作效率。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型结构橡胶压轴连接示意图；

图3为本实用新型结构支撑架连接示意图；

图4为本实用新型结构图1中A处放大示意图；

图5为本实用新型结构图2中B处放大示意图。

图中：1、操作平台；2、支撑臂；3、液压缸；4、橡胶压轴；5、支撑块；6、滚珠丝杠；7、限位环；8、驱动电机；9、传动轮；10、传动带；11、啮合板；12、支撑架；13、落料槽；14、出料管；15、固定轴；16、旋转套；17、挡板；18、锁止板；19、插接杆；20、复位弹簧。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图1至图5所示，本实用新型提供一种用于芯片加工使用的抽检装置，包括操作平台1，操作平台1顶面的后端固定安装有支撑臂2，支撑臂2顶面的前端固定安装有液压缸3，液压缸3的输出端固定套接有橡胶压轴4，启动液压缸3，液压缸3带动橡胶压轴4向下运动，使橡胶压轴4下移与芯片的中部接触，随着橡胶压轴4的下移，不合格的芯片会出现断裂，而合格的芯片则会发生弹性变形，操作平台1的顶面固定安装有支撑块5，支撑块5的顶端活动连接有滚珠丝杠6，操作平台1底面的后端固定安装有驱动电机8，驱动电机8的输出端和滚珠丝杠6的后端均固定安装有传动轮9，传动轮9的表面传动连接有传动带10，通过传动带10传动连接传动轮9，可以实现在驱动电机8工作时带动滚珠丝杠6旋转，滚珠丝杠6在旋转时，可以带动啮合在滚珠丝杠6表面的啮合板11前后运动，从而带动两个支撑架12向落料槽13的中心运动，滚珠丝杠6的表面啮合有啮合板11，啮合板11的中部固定安装有支撑架12，操作平台1的中部开设有落料槽13。

其中，操作平台1的底面固定安装有出料管14，出料管14左右两个侧面的底部均固定安装有固定轴15，固定轴15的表面活动连接有旋转套16，旋转套16的前端固定安装有挡板17，挡板17的顶面固定安装有锁止板18，锁止板18的右端活动连接有插接杆19，插接杆19的表面活动套接有复位弹簧20，将插接杆19向上拉动，使插接杆19对底端离开操作平台1的前端，此时可以将挡板17向前旋转，使挡板17处于水平状态，从而可以对出料管14内的芯片进行统一收集。

其中，滚珠丝杠6的前后两端均固定安装有限位环7，限位环7远离滚珠丝杠6中心的一面与支撑块5接触，限位环7对滚珠丝杠6进行定位，避免滚珠丝杠6发生滑移，保证了装置运行的稳定性。

其中，橡胶压轴4位于落料槽13的正上方，落料槽13的宽度值比支撑架12的长度值大三厘米，液压缸3带动橡胶压轴4上移离开芯片，此时两个支撑架12相对运动，当两个支撑架12之间的最短距离值大于芯片的长度值时，芯片失去支撑架12的支撑向落料槽13掉落，然后进入出料管14内，并随着出料管14底面的导向堆积在出料管14内腔的前端。

其中，支撑架12的形状为“L”形，支撑架12共有两个，两个支撑架12分别位于落料槽13中心的前后两侧，在两个支撑架12相向运动并且两个支撑架12之间的距离值等于芯片的长度值时，将芯片放置在两个支撑架12的中部，两个支撑架12继续运动时会逐渐将芯片夹持。

其中，插接杆19的底端依次插接在锁止板18的后端和操作平台1的前端，复位弹簧20固定安装在插接杆19的顶端和锁止板18的顶面上，松开插接杆19，复位弹簧20的弹性会带动插接杆19下移，使插接杆19的底端插接在操作平台1的前端，从而对挡板17进行定位。

本实用新型的工作原理及使用流程：

在使用时，通过传动带10传动连接传动轮9，可以实现在驱动电机8工作时带动滚珠丝杠6旋转，滚珠丝杠6在旋转时，可以带动啮合在滚珠丝杠6表面的啮合板11前后运动，从而带动两个支撑架12向落料槽13的中心运动；

在两个支撑架12相向运动并且两个支撑架12之间的距离值等于芯片的长度值时，将芯片放置在两个支撑架12的中部，两个支撑架12继续运动时会逐渐将芯片夹持；

然后启动液压缸3，液压缸3带动橡胶压轴4向下运动，使橡胶压轴4下移与芯片的中部接触，随着橡胶压轴4的下移，不合格的芯片会出现断裂，而合格的芯片则会发生弹性变形；

在检测完毕后，液压缸3带动橡胶压轴4上移离开芯片，此时两个支撑架12相对运动，当两个支撑架12之间的最短距离值大于芯片的长度值时，芯片失去支撑架12的支撑向落料槽13掉落，然后进入出料管14内，并随着出料管14底面的导向堆积在出料管14内腔的前端；

在装置使用一端时间后，将插接杆19向上拉动，使插接杆19对底端离开操作平台1的前端，此时可以将挡板17向前旋转，使挡板17处于水平状态，从而可以对出料管14内的芯片进行统一收集。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种用于芯片加工使用的抽检装置，包括操作平台(1)，其特征在于：所述操作平台(1)顶面的后端固定安装有支撑臂(2)，所述支撑臂(2)顶面的前端固定安装有液压缸(3)，所述液压缸(3)的输出端固定套接有橡胶压轴(4)，所述操作平台(1)的顶面固定安装有支撑块(5)，所述支撑块(5)的顶端活动连接有滚珠丝杠(6)，所述操作平台(1)底面的后端固定安装有驱动电机(8)，所述驱动电机(8)的输出端和滚珠丝杠(6)的后端均固定安装有传动轮(9)，所述传动轮(9)的表面传动连接有传动带(10)，所述滚珠丝杠(6)的表面啮合有啮合板(11)，所述啮合板(11)的中部固定安装有支撑架(12)，所述操作平台(1)的中部开设有落料槽(13)。

2.根据权利要求1所述的一种用于芯片加工使用的抽检装置，其特征在于：所述操作平台(1)的底面固定安装有出料管(14)，所述出料管(14)左右两个侧面的底部均固定安装有固定轴(15)，所述固定轴(15)的表面活动连接有旋转套(16)，所述旋转套(16)的前端固定安装有挡板(17)，所述挡板(17)的顶面固定安装有锁止板(18)，所述锁止板(18)的右端活动连接有插接杆(19)，所述插接杆(19)的表面活动套接有复位弹簧(20)。

3.根据权利要求1所述的一种用于芯片加工使用的抽检装置，其特征在于：所述滚珠丝杠(6)的前后两端均固定安装有限位环(7)，所述限位环(7)远离滚珠丝杠(6)中心的一面与支撑块(5)接触。

4.根据权利要求1所述的一种用于芯片加工使用的抽检装置，其特征在于：所述橡胶压轴(4)位于落料槽(13)的正上方，所述落料槽(13)的宽度值比支撑架(12)的长度值大三厘米。

5.根据权利要求1所述的一种用于芯片加工使用的抽检装置，其特征在于：所述支撑架(12)的形状为“L”形，所述支撑架(12)共有两个，两个所述支撑架(12)分别位于落料槽(13)中心的前后两侧。

6.根据权利要求2所述的一种用于芯片加工使用的抽检装置，其特征在于：所述插接杆(19)的底端依次插接在锁止板(18)的后端和操作平台(1)的前端，所述复位弹簧(20)固定安装在插接杆(19)的顶端和锁止板(18)的顶面上。

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