CN217278791U - 一种接口测试电路、芯片及系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种接口测试电路、芯片及系统，该接口测试电路包括：第一计数模块、第二计数模块、判断模块、指示驱动模块和信号转发模块。第一计数模块、第二计数模块与判断模块、数据输入端口分别连接，指示驱动模块、信号转发模块与判断模块分别连接，第一计数模块、第二计数模块分别对相应的测试信号进行计数，指示驱动模块被配置为驱动指示模块，信号转发模块被配置为生成并输出测试信号。该接口测试电路能够在不影响LED驱动芯片正常使用的前提下，对LED驱动芯片的数据输入端口进行故障排查，并通过指示模块指示故障排查结果，LED驱动芯片中数据输入端口的故障结果能够立即通过指示模块进行显示。

Description

一种接口测试电路、芯片及系统

技术领域

本实用新型涉及集成电路技术领域，具体涉及一种接口测试电路、芯片及系统。

背景技术

目前，在LED驱动芯片级联系统中，为避免级联系统中的某颗LED驱动芯片出现故障，导致该LED驱动芯片之后的LED驱动芯片均无法正常驱动LED灯珠，所以LED驱动芯片通常会设置有两个数据输入端口，当其中一个数据输入端口接收到无效数据时，切换至另外一个数据输入端口接收数据。然而，在实际应用中发现LED驱动芯片的两个数据输入端口可能会存在开路、短路等故障，因此需要对LED驱动芯片的数据输入端口进行故障排查，防止无法实现级联传输。

实用新型内容

因此，本实用新型的目的是提供一种接口测试电路、芯片及系统，能够对LED驱动芯片的数据输入端口进行故障排查。

第一方面，一种接口测试电路，应用于包括第一数据输入端口和第二数据输入端口的LED驱动芯片；接口测试电路包括：

第一计数模块，其输入端与第一数据输入端口连接，第一计数模块被配置为对第一数据输入端口接收到的测试信号进行计数；

第二计数模块，其输入端与第二数据输入端口连接，第二计数模块被配置为对第二数据输入端口接收到的测试信号进行计数；

判断模块，其第一输入端与第一计数模块的输出端连接，其第二输入端与第二计数模块的输出端连接；

指示驱动模块，与判断模块的第一输出端、外部的指示模块连接，指示驱动模块被配置为驱动指示模块；

信号转发模块，与判断模块的第二输出端连接，信号转发模块被配置为生成并输出测试信号。

优选地，第一计数模块包括：

边沿检测单元，其输入端与第一数据输入端口连接；

计数单元，其与边沿检测单元的输出端、判断模块的第一输入端分别连接。

优选地，信号转发模块包括：

信号接收单元，与判断模块的第二输出端连接；

电平信号生成单元，与信号接收单元、外部的LED驱动芯片连接，电平信号生成单元被配置为生成具有与测试信号对应的特定时长的电平信号。

优选地，判断模块包括：

选择单元，选择单元配置第一数据输入端口为默认端口。

优选地，指示驱动模块包括但不限于蜂鸣器驱动电路、LED驱动电路。

优选地，指示驱动模块输出的驱动信号与判断模块的结果对应。

第二方面，一种LED驱动芯片，包括如第一方面的接口测试电路。

第三方面，一种接口测试系统，包括测试设备以及第二方面的LED驱动芯片，测试设备被配置为输出测试信号。

优选地，LED驱动芯片的数量为多个，多个LED驱动芯片级联连接，首个LED驱动芯片的第一数据输入端口和第二数据输入端口与测试设备连接。

优选地，测试设备被配置为向第一数据输入端口输入第一测试信号，向第二数据输入端口输入第二测试信号。

本实用新型提供的接口测试电路、芯片及系统，能够在不影响LED驱动芯片正常使用的前提下，对LED驱动芯片的数据输入端口进行故障排查，并通过指示模块指示故障排查结果，LED驱动芯片中输入端口的故障结果能够立即通过指示模块进行显示。且该接口测试电路可以无限桥接测试灯带，在不断电的情况下可以继续拼接灯带测试。同时该接口测试电路支持同时对多片开路或者短路异常的LED驱动芯片进行测试。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。附图中，各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。

图1为接口测试电路的模块框图。

图2为第一计数模块的模块框图。

图3为边沿检测单元的一电路结构示意图。

图4为级联系统中各个LED驱动芯片接收到的测试信号的时序图。

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本实用新型的技术方案，因此只作为示例，而不能以此来限制本实用新型的保护范围。

实施例：

一种接口测试电路1，应用于包括第一数据输入端口Din和第二数据输入端口FDin的LED驱动芯片；参见图1，接口测试电路1包括：

第一计数模块11，其输入端与第一数据输入端口Din连接，第一计数模块11被配置为对第一数据输入端口Din接收到的测试信号进行计数；

第二计数模块15，其输入端与第二数据输入端口FDin连接，第二计数模块15被配置为对第二数据输入端口FDin接收到的测试信号进行计数；

判断模块12，其第一输入端与第一计数模块11的输出端连接，其第二输入端与第二计数模块15的输出端连接；

指示驱动模块13，与判断模块12的第一输出端、外部的指示模块2连接，指示驱动模块13被配置为驱动指示模块2；

信号转发模块14，与判断模块12的第二输出端连接，信号转发模块14被配置为生成并输出测试信号。

在本实施例中，需要注意的是，本实施例中所描述的“外部的指示模块2”是相对于接口测试电路1而言的“外部”，并不是接口测试电路1所在载体的“外部”，并不对“指示模块2”的具体位置做的限定。同理，本实施例中关于下述外部的外围电路、外部的电子元器件等同理。

在本实施例中，接口测试电路1可以应用于包含两个以上数据输入端口的LED驱动芯片，也可以应用于包含双数据输入端口双数据输出端口的LED驱动芯片。现有的级联系统可以包括多个级联的LED驱动芯片，LED驱动芯片之间的连接方式可以为依次串联，也可以是串并联结合。LED驱动芯片的数据输入端口用于接收LED驱动数据，LED驱动数据用于驱动所有外部灯珠，通过将不同位置于1或0来控制与该位对应的外部灯珠点亮或熄灭。

在本实施例中，接口测试电路1可以为LED驱动芯片的内置电路。第一计数模块11的输入端与第一数据输入端口Din连接，这样第一计数模块11的输入端就可以接收到第一数据输入端口Din的输入信号。测试信号可以为具有高低电平的电平信号，例如测试信号可以是具有指定频率的电平信号，还可以是具有特定时长的电平信号。

在本实施例中，第一计数模块11被配置为对第一数据输入端口Din接收到的测试信号进行计数。例如第一计数模块11可以基于时钟信号对测试信号中高/低电平信号的时长进行计数，其中第一计数模块11接收到的时钟信号可以具有固定频率，第一计数模块11中可以设有计数器，当检测到测试信号的边沿时，计数器开始计时，当接收到时钟信号中的一个脉冲时，计数器累加一，当再次检测到测试信号的边沿时，计数器结束计时，此时计数器的数值即为测试信号中高/低电平信号的时长。另外，第一计数模块11可以将计数得到的高/低电平信号的时长与预设时长比较，从而得到计数结果，因此，第一计数模块12输出的计数结果可以表征测试信号中高/低电平信号的时长是否达到预设时长，也可以为测试信号中高/低电平信号的时长。

在本实施例中，判断模块12的第一输入端与第一计数模块11的输出端连接。第一计数模块11的输出端可以输出测试信号的计数结果，判断模块12可以根据计数结果分析LED驱动芯片的第一数据输入端口Din是否存在故障，例如判断模块12可以根据计数结果判断测试信号中高/低电平信号的时长是否达到预设时长。如果达到预设时长，说明第一数据输入端口Din无故障，如果未达到预设时长，说明第一数据输入端口Din有故障。

在本实施例中，第二计数模块15与第二数据输入端口FDin连接，这样第二计数模块15的输入端就可以接收到第二数据输入端口FDin的输入信号。第二计数模块15可以被配置为对第二数据输入端口FDin接收到的测试信号进行计数。例如第二计数模块15可以基于时钟信号对测试信号中高/低电平信号的时长进行计数，其中第二计数模块15接收到的时钟信号可以具有固定频率，第二计数模块15中可以设有计数器，当检测到测试信号的边沿时，计数器开始计时，当接收到时钟信号中的一个脉冲时，计数器累加一，当再次检测到测试信号的边沿时，计数器结束计时，此时计数器的数值即为测试信号中高/低电平信号的时长。需要注意的是，第二计数模块15对第二数据输入端口FDin接收到的测试信号的方式可以与第一计数模块11对第一数据输入端口Din接收到的测试信号的方式相同，此处不再赘述。

在本实施例中，判断模块12的第二输入端与第二计数模块15的输出端连接。第二计数模块15的输出端可以输出测试信号的计数结果，判断模块12可以根据计数结果分析LED驱动芯片的第二数据输入端口FDin是否存在故障，例如判断模块12可以根据计数结果判断测试信号中高/低电平信号的时长是否达到预设时长。如果达到预设时长，说明第二数据输入端口FDin无故障，如果未达到预设时长，说明第二数据输入端口FDin有故障。

在本实施例中，指示模块2可以通过点亮不同颜色的LED灯珠来指示第一数据输入端口Din和第二数据输入端口FDin是否存在故障。判断模块12的第一输出端可以输出第一数据输入端口Din和第二数据输入端口FDin的判断结果。指示驱动模块13可以根据判断模块12的结果驱动指示模块2呈现相应的信息，例如若第一数据输入端口Din无故障，第二数据输入端口FDin无故障，指示驱动模块控制指示模块呈现与第一数据输入端口Din无故障、第二数据输入端口FDin无故障对应的信号(红灯亮)。若第一数据输入端口Din无故障，第二数据输入端口FDin有故障，指示驱动模块控制指示模块呈现与第一数据输入端口Din无故障、第二数据输入端口FDin有故障对应的信号(绿灯亮)。若第一数据输入端口Din有故障，第二数据输入端口FDin无故障，指示驱动模块控制指示模块呈现与第一数据输入端口Din有故障、第二数据输入端口FDin无故障对应的信号(蓝灯亮)。若第一数据输入端口Din和第二数据输入端口FDin均有故障，指示驱动模块控制指示模块呈现与第一数据输入端口Din和第二数据输入端口FDin均有故障对应的信号(白灯亮)。

在本实施例中，指示模块2中可以设置蜂鸣器和/或LED灯珠。蜂鸣器可以通过不同的声音来指示第一数据输入端口Din和/或第二数据输入端口FDin是否存在故障。接口测试电路还可以通过LED灯珠的亮灭或者颜色来指示第一数据输入端口Din和/或第二数据输入端口FDin是否存在故障，LED灯珠的数量可以为一个或多个。判断模块12的第一输出端可以输出第一数据输入端口Din和/或第二数据输入端口FDin的判断结果。

在本实施例中，可以分别独立地对第一数据输入端口Din、第二数据输入端口FDin进行测试，以对第一数据输入端口Din进行测试为例，判断模块12的第一输出端可以通过输出高电平指示第一数据输入端口Din存在故障，输出低电平指示第一数据输入端口Din无故障。指示驱动模块13被配置为驱动指示模块2，指示驱动模块13可以根据判断模块12的结果驱动指示模块2呈现相应的信息，例如若第一数据输入端口Din无故障，指示驱动模块13控制指示模块2呈现与第一数据输入端口Din无故障对应的信号(例如红灯亮或蜂鸣器长鸣)。若第一数据输入端口Din有故障，指示驱动模块控制指示模块呈现与第一数据输入端口Din有故障对应的信号(例如蓝灯亮或蜂鸣器不响)。

在本实施例中，信号转发模块14可以根据判断模块12的第二输出端的输出信号生成并输出测试信号，例如当信号转发模块14接收到判断模块12的第二输出端输出预设信号时，生成并输出测试信号。信号转发模块14可以将输出的测试信号转发给后续级联的LED驱动芯片，用于检测后续级联的LED驱动芯片的数据输入端口，这样上一片级联的LED驱动芯片可以为下一片级联的LED驱动芯片提供测试信号，该接口测试电路1能够支持在级联系统中随意增加LED驱动芯片进行测试，即使是正在测试的级联系统，也可以直接增加LED驱动芯片进行测试，不需要增设专门的测试设备提供专门的数据进行测试。例如可以将LED驱动芯片焊接在灯带上，灯带上灯珠的颜色能够立即反应出LED驱动芯片的数据输入端口是否故障。

该接口测试电路1能够在不影响LED驱动芯片正常使用的前提下，对LED驱动芯片的数据输入端口进行故障排查，并通过指示模块指示故障排查结果，LED驱动芯片中数据输入端口的故障结果能够立即通过指示模块进行显示。且该接口测试电路1可以无限桥接测试灯带，在不断电的情况下可以继续拼接灯带测试。同时该接口测试电路1支持同时对多片开路或者短路异常的LED驱动芯片进行测试。

进一步地，在一些实施例中，参见图2，第一计数模块11包括：

边沿检测单元112，其输入端与第一数据输入端口Din连接；

计数单元111，其与边沿检测单元112的输出端、判断模块12的第一输入端分别连接。

在本实施例中，边沿检测单元112可以被配置为检测测试信号的边沿，当检测到边沿时，计数单元111可以开始复位，当再次检测到边沿时，计数单元111可以生成计数结果后复位。计数单元111可以被配置为对测试信号中的特定电平进行计数，计数单元111中可以包括一个或多个计数器。比如，计数单元111可以基于基准时钟信号的脉冲数量计数，得到测试信号中的特定电平的时长。

其中，边沿检测单元112的电路参见图3，边沿检测单元112可以包括第一开关管1123、第二开关管1124、第三开关管1125、第四开关管1126、电容1127、第一比较器1128、第二比较器1129、第一电阻1121、第二电阻1122，其中第一开关管1123的第一端通过第一电阻1121连接至电压端VDD，第一开关管1123的第三端连接至参考地端GND，第一开关管1123的第二端与第二开关管1124的第二端连接，第一开关管1123的第二端与第二开关管1124的第二端共接后与电容1127连接，第二开关管1124的第三端连接至参考地端GND，第二开关管1124的第一端连接至第三开关管1125的第一端、第三开关管1125的第二端，第三开关管1125的第二端连接至第四开关管1126的第二端，第三开关管1125的第三端和第四开关管1126的第三端连接至参考地端GND，第四开关管1126的第一端通过第二电阻1122连接至电压端VDD，第一开关管1123的第一端连接至第一比较器1128的第一端，第四开关管1126的第三端连接至第一比较器1128的第二端和第二比较器1129的第二端，第四开关管1126的第一端连接至第二比较器1129的第一端，第二比较器1129的输出端可以输出上升沿检测结果，比如，当该第二比较器1129的输出端输出高电平时，表示该边沿检测单元112检测到上升沿。

需要注意的是，如图3所示的电路图中，是以第一开关管1123、第二开关管1124、第三开关管1125和第四开关管1126为N型MOS管作为示例，在另一些示例中，第一开关管1123、第二开关管1124、第三开关管1125和第四开关管1126中的部分开关管或全部开关管也可以采用P型MOS管，本领域技术人员可以基于实际的MOS管类型及电路需求配置相应的MOS管和连接关系。

当节点X电压下降时，由于电容1127两端的电压差不会发生突变。当第一开关管1123的第二端和第三端之间电压大于第一开关管1123的阈值电压时，第一开关管1123导通，此时，电流流向为VDD→第一开关管1123的第一端→第一开关管1123的第二端→电容1127→节点X，当第一开关管1123的第二端电流足够大时，流经第一电阻1121的电流也会增大，第一电阻1121两端的电压增大，使得第一开关管1123的第一端的电压发生翻转，表示节点X电压处于下降沿状态，从而实现下降沿检测。

当节点X电压上升时，第二开关管1124的第三端和第二端之间电压大于第二开关管1124的阈值电压的绝对值后，第二开关管1124导通，流经第二电阻器1122的电流也会增大，第二电阻器1122两端的电压增大，使得第四开关管1126的第一端电压发生翻转，表示节点X电压处于上升沿状态，从而实现上升沿检测。其中，节点X可以为第一数据输入端口Din。

进一步地，在一些实施例中，信号转发模块14可以包括：信号接收单元和电平信号生成单元。其中，信号接收单元与判断模块12的第二输出端连接，电平信号生成单元与信号接收单元、外部的LED驱动芯片连接，电平信号生成单元被配置为生成具有与测试信号对应的特定时长的电平信号。

在本实施例中，判断模块12可以输出信号，该信号可以用于表征第一数据输入端口Din、第二数据输入端口FDin是否故障，还可以用于表征第一数据输入端口Din、第二数据输入端口FDin分别接收到的测试信号的高低电平的时长。信号接收单元可以接收判断模块12输出的信号，并生成相应的触发信号至电平信号生成单元。

在本实施例中，第一数据输入端口Din、第二数据输入端口FDin接收到的测试信号的高/低电平时长可以不同，因此，与第一数据输入端口Din接收的测试信号对应的特定时长可以和与第二数据输入端口FDin接收的测试信号对应的特定时长不相同。比如，参见图4，当信号接收单元接收到的信号表征第一数据输入端口Din正常，第一数据输入端口Din接收到的测试信号的高/低电平时长为ams，信号接收单元也可以生成相应的ams的高/低电平信号，以发送至外部的LED驱动芯片。

在本实施例中，接口测试电路1可以同时向第一数据输入端口Din和第二数据输入端口FDin发送测试信号进行测试，也可以分时分别向第一数据输入端口Din和第二数据输入端口FDin发送测试信号进行测试。参见图4，当级联系统中存在多个级联的芯片1、芯片2、芯片3时，芯片1、芯片2、芯片3接收到的测试信号参见图4，LED驱动芯片当接收到有效的测试信号后才开始进行测试，所以图4的时序图中，LED驱动芯片的测试顺序为：芯片1-芯片2-芯片3。信号转发模块14在完成自身LED驱动芯片的数据输入端口的故障检测时，通过信号转发模块14转发测试信号给下一个LED驱动芯片，所以在级联系统中，即使其中一个LED驱动芯片中某数据输入端口故障，也不影响该LED驱动芯片之后的LED驱动芯片中数据输入端口的测试。

进一步地，在一些实施例中，判断模块12可以包括：

选择单元，选择单元配置第一数据输入端口Din为默认端口。

在本实施例中，判断模块12设置选择单元，如果第一数据输入端口Din无故障，不管第二数据输入端口FDin是否有故障，默认LED驱动芯片选择第一数据输入端口Din接收LED驱动数据，无论第二数据输入端口FDin是否接收到信号都无需处理。如果第一数据输入端口Din有故障，第二数据输入端口FDin无故障，选择第二数据输入端口FDin接收LED驱动数据。

测试第一数据输入端口Din是否正常：

第一计数模块11接收第一数据输入端口Din的测试信号(ams的高/低电平信号)，当检测到边沿信号，基于时钟信号对该测试信号的时长进行计数，直至再次检测到边沿信号，当检测到该高/低电平信号的时长达到预设时长范围时，证明第一数据输入端口Din无故障，此时无论第二数据输入端口FDin是否接收到信号都无需处理，指示驱动模块13均控制指示模块2呈现与第一数据输入端口Din无故障对应的信号(红灯亮)，同时控制信号转发模块14输出ams的高/低电平信号。当第一数据输入端口Din接收到该高/低电平信号的时长未达到预设时长范围，而第二数据输入端口FDin接收到该高/低电平信号的时长达到预设时长范围(通过第二计数模块15计数)，则证明第一数据输入端口Din存在故障，指示驱动模块13控制指示模块2呈现与第一数据输入端口Din有故障对应的信号(蓝灯亮)，同时控制信号转发模块14输出ams的高/低电平信号，以测试后续LED驱动芯片的端口。由此，可以实现级联LED驱动芯片中第一数据输入端口Din的故障检测，即使其中一个LED驱动芯片中某端口故障，也不影响该LED驱动芯片之后的LED驱动芯片的第一数据输入端口Din测试。

测试第二数据输入端口FDin是否正常：

第二计数模块15接收第二数据输入端口FDin的测试信号(bms的高/低电平信号)，基于时钟信号对该测试信号的时长进行计数，直至边沿检测模块检测到边沿，当检测到该高/低电平信号的时长达到预设时长范围时，证明第二数据输入端口FDin无故障，此时无论第一数据输入端口Din是否接收到信号都无需处理，指示驱动模块13均控制指示模块2呈现与第二数据输入端口FDin无故障对应的信号(红灯亮)，同时控制信号转发模块14输出bms的高/低电平信号。当第二数据输入端口FDin接收到该高/低电平信号的时长未达到预设时长范围，而第一数据输入端口Din接收到该高/低电平信号的时长达到预设时长范围，则证明第二数据输入端口FDin存在故障，指示驱动模块13控制指示模块2呈现与第二数据输入端口FDin有故障对应的信号(蓝灯亮)，同时控制信号转发模块14输出bms的高/低电平信号，以测试后续LED驱动芯片的端口。由此，可以实现级联LED驱动芯片中第二数据输入端口FDin的故障检测，即使其中一个LED驱动芯片中某数据输入端口故障，也不影响该LED驱动芯片之后的LED驱动芯片的第二数据输入端口FDin测试。

进一步地，在一些实施例中，指示驱动模块13包括但不限于蜂鸣器驱动电路、LED驱动电路。

在本实施例中，指示驱动模块13设置蜂鸣器驱动电路驱动指示模块2中蜂鸣器工作，指示驱动模块13设置LED驱动电路驱动电路驱动指示模块2中LED灯珠工作。

在本实施例中，可以采用LED灯珠来指示测试结果，便于厂商在出厂前对LED灯带进行测试，无需专门在LED灯带设置指示模块，减少成本，同时，还可以随时在LED灯带桥接其他LED灯带，测试的难度也大大降低。

进一步地，在一些实施例中，指示驱动模块13输出的驱动信号与判断模块12的结果对应。

在本实施例中，指示驱动模块13输出的驱动信号与判断模块12的结果对应，不同的结果对应唯一一个驱动信号，使得指示驱动模块13能够驱动指示模块2表示出唯一一个指示状态。

一种LED驱动芯片，包括如上述接口测试电路1。

本发明实施例所提供的芯片，为简要描述，实施例部分未提及之处，可参考前述实施例中相应内容。

一种接口测试系统，包括测试设备以及上述驱动芯片，测试设备被配置为输出测试信号。

在本实施例中，接口测试系统可以通过其他LED驱动芯片转发测试信号后，也可以通过测试设备输出测试信号。

进一步地，在一些实施例中，LED驱动芯片的数量为多个，多个LED驱动芯片级联连接，首个LED驱动芯片的第一数据输入端口Din和第二数据输入端口FDin与测试设备连接。

在本实施例中，接口测试系统可以通过测试设备向级联系统中首个LED驱动芯片提供测试信号，例如测试设备可以生成两个测试信号，分别传输给首个LED驱动芯片的第一数据输入端口Din和第二数据输入端口FDin。级联系统中其他LED驱动芯片接收到的测试信号可以由上一片级联的LED驱动芯片输出。

进一步地，在一些实施例中，测试设备被配置为向第一数据输入端口Din输入第一测试信号，向第二数据输入端口FDin输入第二测试信号。

在本实施例中，第一测试信号和第二测试信号可以均为电平信号，如果第一测试信号和第二测试信号的时序相同，接口测试系统就可以同时对第一数据输入端口Din和第二数据输入端口FDin进行测试。如果第一测试信号和第二测试信号的时序不同，接口测试系统就能实现分时对第一数据输入端口Din和第二数据输入端口FDin进行测试。

本发明实施例所提供的系统，为简要描述，实施例部分未提及之处，可参考前述实施例中相应内容。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围，其均应涵盖在本实用新型的权利要求和说明书的范围当中。

Claims (10)

1.一种接口测试电路，其特征在于，应用于包括第一数据输入端口和第二数据输入端口的LED驱动芯片；所述接口测试电路包括：

第一计数模块，其输入端与所述第一数据输入端口连接，所述第一计数模块被配置为对所述第一数据输入端口接收到的测试信号进行计数；

第二计数模块，其输入端与所述第二数据输入端口连接，所述第二计数模块被配置为对所述第二数据输入端口接收到的测试信号进行计数；

判断模块，其第一输入端与所述第一计数模块的输出端连接，其第二输入端与所述第二计数模块的输出端连接；

指示驱动模块，与所述判断模块的第一输出端、外部的指示模块连接，所述指示驱动模块被配置为驱动所述指示模块；

信号转发模块，与所述判断模块的第二输出端连接，所述信号转发模块被配置为生成并输出所述测试信号。

2.根据权利要求1所述的接口测试电路，其特征在于，所述第一计数模块包括：

边沿检测单元，其输入端与所述第一数据输入端口连接；

计数单元，其与所述边沿检测单元的输出端、所述判断模块的第一输入端分别连接。

3.根据权利要求1所述的接口测试电路，其特征在于，所述信号转发模块包括：

信号接收单元，与所述判断模块的第二输出端连接；

电平信号生成单元，与所述信号接收单元、外部的LED驱动芯片连接，所述电平信号生成单元被配置为生成具有与所述测试信号对应的特定时长的电平信号。

4.根据权利要求1所述的接口测试电路，其特征在于，所述判断模块包括：

选择单元，所述选择单元配置所述第一数据输入端口为默认端口。

5.根据权利要求1所述的接口测试电路，其特征在于，所述指示驱动模块包括但不限于蜂鸣器驱动电路、LED驱动电路。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的接口测试电路，其特征在于，所述指示驱动模块输出的驱动信号与所述判断模块的结果对应。

7.一种LED驱动芯片，其特征在于，包括如权利要求1至5中任一项所述的接口测试电路。

8.一种接口测试系统，其特征在于，包括测试设备以及如权利要求7所述的LED驱动芯片，所述测试设备被配置为输出测试信号。

9.根据权利要求8所述的接口测试系统，其特征在于，所述LED驱动芯片的数量为多个，多个所述LED驱动芯片级联连接，首个所述LED驱动芯片的第一数据输入端口和第二数据输入端口与所述测试设备连接。

10.根据权利要求9所述的接口测试系统，其特征在于，所述测试设备被配置为向所述第一数据输入端口输入第一测试信号，向所述第二数据输入端口输入第二测试信号。

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