CN217255038U - 一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置 - Google Patents
一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型公开了一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置,包括机体和工作台,所述工作台顶部的左侧通过螺栓安装有安装座,所述安装座的顶部通过螺栓分别固定安装有减速器和轴承座,所述减速器的左侧通过螺栓固定连接有第一电机,所述减速器的输出轴固定连接有转杆,所述工作台顶部的右侧滑动连接有固定座。本实用新型具备调整晶向的优点,解决了目前的晶棒在进行正晶向滚磨加工前,不便于对晶棒的晶向偏离度进行调整,容易导致加工完毕的晶棒出现晶向超标的情况,晶向超标后无法调整晶棒的晶向,容易导致产品报废,在进行后续切片时需要再次调整晶向,会造成晶棒的切片成品率低、椭圆形和翘曲度大等问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体技术领域,具体为一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置。
背景技术
半导体是一种电导率在绝缘体至导体之间的物质,其电导率容易受控制,可作为信息处理的元件材料,常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等,而硅更是各种半导体材料中,在商业应用上最具有影响力的一种,晶棒的材料为单晶硅,属于半导体材料的一种,被广泛应用于半导体器件制作,晶棒是用高纯度的多晶硅在单晶炉内拉制而成,晶棒是加工晶圆的原材料。
在半导体行业中,单晶工艺生长的晶棒,其外观是不规则的圆柱体,切割成片之前必须按照一定的规范对其整形。整形第一步是利用砂轮与单晶棒产生相对运动,将晶棒外形滚圆成一定直径的规则圆柱体,满足后续切片统一直径。第二步按照一定晶向对滚磨后的圆柱体加工参考面。主参考面主要后续芯片最佳划片方位,副参考面主要是便于宏观区分硅片的型号和晶向。
目前单晶工艺生长的晶棒,其外观是不规则的圆柱体,在对不规则的单晶棒进行滚磨整形时,是将晶棒夹装在滚磨机两端的顶碗上利用砂轮磨削,没有对晶棒的晶向偏离度调整,容易导致加工完毕的晶棒出现晶向超标的情况,晶向超标后无法调整晶棒的晶向,导致产品的报废,后续进行切片时需要再次调整晶向,会造成晶棒的切片成品率低、椭圆形和翘曲度大等异常情况。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置,具备调整晶向的优点,解决了目前的晶棒在进行正晶向滚磨加工前,不便于对晶棒的晶向偏离度进行调整,容易导致加工完毕的晶棒出现晶向超标的情况,晶向超标后无法调整晶棒的晶向,容易导致产品报废,在进行后续切片时需要再次调整晶向,会造成晶棒的切片成品率低、椭圆形和翘曲度大等问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置,包括机体和工作台,所述工作台顶部的左侧通过螺栓安装有安装座,所述安装座的顶部通过螺栓分别固定安装有减速器和轴承座,所述减速器的左侧通过螺栓固定连接有第一电机,所述减速器的输出轴固定连接有转杆,所述工作台顶部的右侧滑动连接有固定座,所述固定座的内壁固定安装有液压缸;
所述液压缸的左端固定连接有转动连接件,所述转动连接件的左端和转杆的右端均固定安装有活动顶碗,所述工作台顶部的左侧分别固定安装有X射线探测器和X射线发射机构,所述机体右侧的底部焊接有支撑架,所述支撑架的顶部通过螺栓固定安装有控制器;
所述X射线发射机构包括X射线衍射仪,所述X射线衍射仪的底部固定连接有安装架,所述安装架的内壁通过螺栓固定连接有支撑柱,所述支撑柱通过螺栓固定安装于工作台的顶部;
所述活动顶碗包括安装板,所述安装板上焊接有活动座,所述活动座的内部活动连接有转动销,所述转动销上固定连接有转动球,所述转动球上焊接有连接板;
所述转动连接件包括旋转杆,所述旋转杆的右端焊接有连接杆,所述连接杆的表面过盈配合有支撑轴承,所述连接杆的右端焊接有限位板,所述支撑轴承的表面固定套设有壳体。
为了便于带动液压缸移动对不同长度的晶棒进行固定,作为本实用新型的一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置优选的,所述机体和工作台相对的一侧焊接有框体,所述框体的内壁焊接有固定板,所述固定板的右侧通过螺栓固定安装有第二电机,所述第二电机的输出轴通过联轴器安装有丝杆,所述丝杆的表面螺纹套设有螺母座,所述螺母座的顶部焊接有滑杆,所述滑杆与固定座的底部通过螺栓固定连接。
为了便于对转杆进行稳固支撑,作为本实用新型的一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置优选的,所述转杆的右端贯穿轴承座并延伸至轴承座的右侧,所述转杆与轴承座内部的轴承过盈配合。
为了便于对螺母座进行限位使其稳定移动,作为本实用新型的一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置优选的,所述螺母座的底部与框体内壁的底部滑动连接,所述丝杆的左端与框体内壁的左侧通过轴承转动连接。
为了便于对工作台的底部进行支撑,作为本实用新型的一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置优选的,所述机体的顶部焊接有连接柱,所述连接柱的顶部焊接于工作台的底部。
为了便于工作人员操作控制器,作为本实用新型的一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置优选的,所述控制器正面的顶部固定安装有显示屏,所述控制器正面的底部固定安装有控制按键。
为了便于转动球在活动座的内壁进行转动并对其进行限位,作为本实用新型的一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置优选的,所述转动球的表面与活动座的内壁活动连接,所述活动座上设置有限位凸起。
为了便于连接杆和限位板在壳体的内部旋转,作为本实用新型的一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置优选的,所述连接杆和限位板的表面与壳体的内壁转动连接。
为了便于对机体的底部进行支撑,作为本实用新型的一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置优选的,所述机体底部的四角均通过螺纹连接有支腿,所述机体的正面通过螺栓安装有检修门。
优选的,一种调整晶棒正晶向滚磨加工的方法,包括以下步骤:
1)把晶棒放置在活动顶碗相对的一端,通过控制器启动第二电机,第二电机的输出轴带动丝杆旋转,丝杆带动螺母座在框体的内壁滑动,螺母座通过滑杆带动固定座和液压缸移动,使液压缸可以带动右侧的活动顶碗对晶棒进行夹持固定;
2)调节完成后启动液压缸,液压缸带动转动连接件向左移动,转动连接件带动右侧的活动顶碗向左移动,使左右两侧的活动顶碗对晶棒进行夹持固定,固定完成后启动X射线衍射仪和X射线探测器;
3)X射线衍射仪向晶棒的左侧发射X射线,X射线在晶棒的内部折射,并通过晶棒左侧折射出,X射线探测器对折射出的X射线进行探测接收,并把检测信号传输至控制器内,第一电机根据X射线衍射仪发出的X射线信息和X射线探测器检测到的X射线信息计算晶棒的晶向偏离角度;
4)晶棒晶向为111时,测试晶向偏离度为13.5°-14.5°时,晶棒晶向为100时,测试晶向偏离度33.5°-34.5°时,晶棒晶向为110,测试晶向值为22.5°-23.5°时,直接进行砂轮滚磨作业,当测试晶向偏离0.5°以上时,通过活动顶碗对晶棒的晶向进行调节;
5)使用橡皮锤敲击左右两侧的连接板,连接板带动晶棒转动对其晶向进行调节,连接板转动时带动转动球转动,转动球在活动座内壁转动的过程中带动转动销转动,转动销在活动座的内部转动对转动球进行限位,活动座上设置的限位凸起能够对转动球进行限位,避免其转动幅度过大;
6)晶棒的晶向偏离度调节完成后,启动第一电机,第一电机的输出轴带动减速器工作,减速器的输出轴带动转杆旋转,转杆带动左侧的活动顶碗旋转,活动顶碗带动晶棒转动,晶棒带动右侧的活动顶碗和旋转杆旋转,旋转杆和连接杆对右侧的活动顶碗进行支撑,晶棒在活动顶碗相对的一端旋转,工作人员使用砂轮打磨装置对晶棒进行滚磨加工。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:
1、本实用新型通过X射线探测器、X射线发射机构、X射线衍射仪、安装架、支撑柱、转杆、活动顶碗、安装板、活动座、限位凸起、转动球、连接板、转动销、转动连接件、旋转杆、连接杆、支撑轴承、限位板、壳体、固定座、液压缸和控制器的配合使用,解决了目前的晶棒在进行正晶向滚磨加工前,不便于对晶棒的晶向偏离度进行调整,容易导致加工完毕的晶棒出现晶向超标的情况,晶向超标后无法调整晶棒的晶向,容易导致产品报废,在进行后续切片时需要再次调整晶向,会造成晶棒的切片成品率低、椭圆形和翘曲度大等问题。
2、本实用新型通过设置固定座,能够便于对液压缸进行固定,通过设置液压缸,能够便于带动转动连接件和右侧的活动顶碗移动对晶棒进行夹持,通过设置轴承座,能够便于对转杆进行稳固支撑,通过第一电机和减速器的配合使用,能够便于带动晶棒旋转,通过第二电机、螺母座和丝杆的配合使用,能够便于带动固定座移动,使液压缸能够对不同长度的晶棒进行固定,通过X射线发射机构和X射线探测器的配合使用,能够便于对晶棒晶向的偏离度进行检测。
附图说明
图1为本实用新型主视局部剖视图;
图2为本实用新型X射线发射机构图;
图3为本实用新型活动顶碗局部剖视图;
图4为本实用新型转动连接件局部剖视图。
图中:1、机体;2、X射线探测器;3、安装座;4、第一电机;5、减速器;6、轴承座;7、X射线发射机构;71、X射线衍射仪;72、安装架;73、支撑柱;8、转杆;9、工作台;10、活动顶碗;101、安装板;102、活动座;103、限位凸起;104、转动球;105、连接板;106、转动销;11、转动连接件;111、旋转杆;112、连接杆;113、支撑轴承;114、限位板;115、壳体;12、固定座;13、液压缸;14、控制器;15、第二电机;16、固定板;17、支撑架;18、滑杆;19、螺母座;20、框体;21、丝杆;22、连接柱。
具体实施方式
请参阅图1-图4,一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置,包括机体1和工作台9,工作台9顶部的左侧通过螺栓安装有安装座3,安装座3的顶部通过螺栓分别固定安装有减速器5和轴承座6,减速器5的左侧通过螺栓固定连接有第一电机4,减速器5的输出轴固定连接有转杆8,工作台9顶部的右侧滑动连接有固定座12,固定座12的内壁固定安装有液压缸13;
液压缸13的左端固定连接有转动连接件11,转动连接件11的左端和转杆8的右端均固定安装有活动顶碗10,工作台9顶部的左侧分别固定安装有X射线探测器2和X射线发射机构7,机体1右侧的底部焊接有支撑架17,支撑架17的顶部通过螺栓固定安装有控制器14;
X射线发射机构7包括X射线衍射仪71,X射线衍射仪71的底部固定连接有安装架72,安装架72的内壁通过螺栓固定连接有支撑柱73,支撑柱73通过螺栓固定安装于工作台9的顶部;
活动顶碗10包括安装板101,安装板101上焊接有活动座102,活动座102的内部活动连接有转动销106,转动销106上固定连接有转动球104,转动球104上焊接有连接板105;
转动连接件11包括旋转杆111,旋转杆111的右端焊接有连接杆112,连接杆112的表面过盈配合有支撑轴承113,连接杆112的右端焊接有限位板114,支撑轴承113的表面固定套设有壳体115。
本实施例中:液压缸13带动转动连接件11向左移动,转动连接件11带动右侧的活动顶碗10向左移动,使左右两侧的活动顶碗10对晶棒进行夹持固定,固定完成后启动X射线衍射仪71和X射线探测器2,X射线衍射仪71向晶棒的左侧发射X射线,X射线在晶棒的内部折射,并通过晶棒左侧折射出,X射线探测器2对折射出的X射线进行探测接收,并把检测信号传输至控制器14内,第一电机4根据X射线衍射仪71发出的X射线信息和X射线探测器2检测到的X射线信息计算晶棒的晶向偏离角度;
晶棒晶向为111时,测试晶向偏离度为13.5°-14.5°时,晶棒晶向为100时,测试晶向偏离度33.5°-34.5°时,晶棒晶向为110,测试晶向值为22.5°-23.5°时,直接进行砂轮滚磨作业,当测试晶向偏离0.5°以上时,通过活动顶碗10对晶棒的晶向进行调节,使用橡皮锤敲击左右两侧的连接板105,连接板105带动晶棒转动对其晶向进行调节,连接板105转动时带动转动球104转动,转动球104在活动座102内壁转动的过程中带动转动销106转动,转动销106在活动座102的内部转动对转动球104进行限位,活动座102上设置的限位凸起103能够对转动球104进行限位,避免其转动幅度过大。
作为本实用新型的一种技术优化方案,机体1和工作台9相对的一侧焊接有框体20,框体20的内壁焊接有固定板16,固定板16的右侧通过螺栓固定安装有第二电机15,第二电机15的输出轴通过联轴器安装有丝杆21,丝杆21的表面螺纹套设有螺母座19,螺母座19的顶部焊接有滑杆18,滑杆18与固定座12的底部通过螺栓固定连接。
本实施例中:把晶棒放置在活动顶碗10相对的一端,通过控制器14启动第二电机15,第二电机15的输出轴带动丝杆21旋转,丝杆21带动螺母座19在框体20的内壁滑动,螺母座19通过滑杆18带动固定座12和液压缸13移动,使液压缸13可以带动右侧的活动顶碗10对晶棒进行夹持固定。
作为本实用新型的一种技术优化方案,转杆8的右端贯穿轴承座6并延伸至轴承座6的右侧,转杆8与轴承座6内部的轴承过盈配合。
本实施例中:减速器5带动转杆8旋转的过程中,转杆8在轴承座6的内部旋转,轴承座6内部的轴承对转杆8进行稳固支撑。
作为本实用新型的一种技术优化方案,螺母座19的底部与框体20内壁的底部滑动连接,丝杆21的左端与框体20内壁的左侧通过轴承转动连接。
本实施例中:丝杆21旋转的过程中,带动螺母座19在框体20的内壁滑动,防止螺母座19移动的过程中自转。
作为本实用新型的一种技术优化方案,机体1的顶部焊接有连接柱22,连接柱22的顶部焊接于工作台9的底部。
本实施例中:通过在机体1和工作台9相对的一侧设置连接柱22,能够对工作台9底部的左侧进行支撑避免其倾斜。
作为本实用新型的一种技术优化方案,控制器14正面的顶部固定安装有显示屏,控制器14正面的底部固定安装有控制按键。
本实施例中:在控制器14的正面设置显示屏和控制按键,能够便于使用者操作控制器14,对调整装置进行控制。
作为本实用新型的一种技术优化方案,转动球104的表面与活动座102的内壁活动连接,活动座102上设置有限位凸起103。
本实施例中:转动球104在活动座102内部转动的过程中,限位凸起103对转动球104进行限位,避免其转动幅度过大。
作为本实用新型的一种技术优化方案,连接杆112和限位板114的表面与壳体115的内壁转动连接。
本实施例中:连接杆112和限位板114在壳体115的内部转动,能够带动右侧的活动顶碗10旋转,限位板114对连接杆112进行限位,避免其脱离壳体115的内腔。
作为本实用新型的一种技术优化方案,机体1底部的四角均通过螺纹连接有支腿,机体1的正面通过螺栓安装有检修门。
本实施例中:通过设置支腿,能够对机体1的底部进行稳固支撑,设置检修门,能够便于工作人员对机体1内部的电气元件进行检修。
一种调整晶棒正晶向滚磨加工的方法,包括以下步骤:
1)把晶棒放置在活动顶碗10相对的一端,通过控制器14启动第二电机15,第二电机15的输出轴带动丝杆21旋转,丝杆21带动螺母座19在框体20的内壁滑动,螺母座19通过滑杆18带动固定座12和液压缸13移动,使液压缸13可以带动右侧的活动顶碗10对晶棒进行夹持固定;
2)调节完成后启动液压缸13,液压缸13带动转动连接件11向左移动,转动连接件11带动右侧的活动顶碗10向左移动,使左右两侧的活动顶碗10对晶棒进行夹持固定,固定完成后启动X射线衍射仪71和X射线探测器2;
3)X射线衍射仪71向晶棒的左侧发射X射线,X射线在晶棒的内部折射,并通过晶棒左侧折射出,X射线探测器2对折射出的X射线进行探测接收,并把检测信号传输至控制器14内,第一电机4根据X射线衍射仪71发出的X射线信息和X射线探测器2检测到的X射线信息计算晶棒的晶向偏离角度;
4)晶棒晶向为111时,测试晶向偏离度为13.5°-14.5°时,晶棒晶向为100时,测试晶向偏离度33.5°-34.5°时,晶棒晶向为110,测试晶向值为22.5°-23.5°时,直接进行砂轮滚磨作业,当测试晶向偏离0.5°以上时,通过活动顶碗10对晶棒的晶向进行调节;
5)使用橡皮锤敲击左右两侧的连接板105,连接板105带动晶棒转动对其晶向进行调节,连接板105转动时带动转动球104转动,转动球104在活动座102内壁转动的过程中带动转动销106转动,转动销106在活动座102的内部转动对转动球104进行限位,活动座102上设置的限位凸起103能够对转动球104进行限位,避免其转动幅度过大;
6)晶棒的晶向偏离度调节完成后,启动第一电机4,第一电机4的输出轴带动减速器5工作,减速器5的输出轴带动转杆8旋转,转杆8带动左侧的活动顶碗10旋转,活动顶碗10带动晶棒转动,晶棒带动右侧的活动顶碗10和旋转杆111旋转,旋转杆111和连接杆112对右侧的活动顶碗10进行支撑,晶棒在活动顶碗10相对的一端旋转,工作人员使用砂轮打磨装置对晶棒进行滚磨加工。
综上所述:该调整晶棒正晶向滚磨加工的装置和方法,通过X射线探测器2、X射线发射机构7、X射线衍射仪71、安装架72、支撑柱73、转杆8、活动顶碗10、安装板101、活动座102、限位凸起103、转动球104、连接板105、转动销106、转动连接件11、旋转杆111、连接杆112、支撑轴承113、限位板114、壳体115、固定座12、液压缸13和控制器14的配合使用,解决了目前的晶棒在进行正晶向滚磨加工前,不便于对晶棒的晶向偏离度进行调整,容易导致加工完毕的晶棒出现晶向超标的情况,晶向超标后无法调整晶棒的晶向,容易导致产品报废,在进行后续切片时需要再次调整晶向,会造成晶棒的切片成品率低、椭圆形和翘曲度大等问题。
Claims (9)
1.一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置,包括机体(1)和工作台(9),所述工作台(9)顶部的左侧通过螺栓安装有安装座(3),所述安装座(3)的顶部通过螺栓分别固定安装有减速器(5)和轴承座(6),所述减速器(5)的左侧通过螺栓固定连接有第一电机(4),所述减速器(5)的输出轴固定连接有转杆(8),所述工作台(9)顶部的右侧滑动连接有固定座(12),所述固定座(12)的内壁固定安装有液压缸(13);
其特征在于:所述液压缸(13)的左端固定连接有转动连接件(11),所述转动连接件(11)的左端和转杆(8)的右端均固定安装有活动顶碗(10),所述工作台(9)顶部的左侧分别固定安装有X射线探测器(2)和X射线发射机构(7),所述机体(1)右侧的底部焊接有支撑架(17),所述支撑架(17)的顶部通过螺栓固定安装有控制器(14);
所述X射线发射机构(7)包括X射线衍射仪(71),所述X射线衍射仪(71)的底部固定连接有安装架(72),所述安装架(72)的内壁通过螺栓固定连接有支撑柱(73),所述支撑柱(73)通过螺栓固定安装于工作台(9)的顶部;
所述活动顶碗(10)包括安装板(101),所述安装板(101)上焊接有活动座(102),所述活动座(102)的内部活动连接有转动销(106),所述转动销(106)上固定连接有转动球(104),所述转动球(104)上焊接有连接板(105);
所述转动连接件(11)包括旋转杆(111),所述旋转杆(111)的右端焊接有连接杆(112),所述连接杆(112)的表面过盈配合有支撑轴承(113),所述连接杆(112)的右端焊接有限位板(114),所述支撑轴承(113)的表面固定套设有壳体(115)。
2.根据权利要求1所述的一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置,其特征在于:所述机体(1)和工作台(9)相对的一侧焊接有框体(20),所述框体(20)的内壁焊接有固定板(16),所述固定板(16)的右侧通过螺栓固定安装有第二电机(15),所述第二电机(15)的输出轴通过联轴器安装有丝杆(21),所述丝杆(21)的表面螺纹套设有螺母座(19),所述螺母座(19)的顶部焊接有滑杆(18),所述滑杆(18)与固定座(12)的底部通过螺栓固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置,其特征在于:所述转杆(8)的右端贯穿轴承座(6)并延伸至轴承座(6)的右侧,所述转杆(8)与轴承座(6)内部的轴承过盈配合。
4.根据权利要求2所述的一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置,其特征在于:所述螺母座(19)的底部与框体(20)内壁的底部滑动连接,所述丝杆(21)的左端与框体(20)内壁的左侧通过轴承转动连接。
5.根据权利要求1所述的一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置,其特征在于:所述机体(1)的顶部焊接有连接柱(22),所述连接柱(22)的顶部焊接于工作台(9)的底部。
6.根据权利要求1所述的一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置,其特征在于:所述控制器(14)正面的顶部固定安装有显示屏,所述控制器(14)正面的底部固定安装有控制按键。
7.根据权利要求1所述的一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置,其特征在于:所述转动球(104)的表面与活动座(102)的内壁活动连接,所述活动座(102)上设置有限位凸起(103)。
8.根据权利要求1所述的一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置,其特征在于:所述连接杆(112)和限位板(114)的表面与壳体(115)的内壁转动连接。
9.根据权利要求1所述的一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置,其特征在于:所述机体(1)底部的四角均通过螺纹连接有支腿,所述机体(1)的正面通过螺栓安装有检修门。
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CN202221206727.1U CN217255038U (zh) | 2022-05-19 | 2022-05-19 | 一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置 |
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CN202221206727.1U CN217255038U (zh) | 2022-05-19 | 2022-05-19 | 一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN114952458A (zh) * | 2022-05-19 | 2022-08-30 | 宁夏中晶半导体材料有限公司 | 一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置和方法 |
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2022
- 2022-05-19 CN CN202221206727.1U patent/CN217255038U/zh active Active
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CN114952458A (zh) * | 2022-05-19 | 2022-08-30 | 宁夏中晶半导体材料有限公司 | 一种调整晶棒正晶向滚磨加工的装置和方法 |
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GR01 | Patent grant | ||
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