CN217213007U - 一种半导体二极管测试定位装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及半导体二极管技术领域，且公开了一种半导体二极管测试定位装置，包括固定机构、本体机构、定位机构和半导体二极管本体，所述本体机构位于固定机构的上端，所述定位机构位于本体机构上端的内部，所述半导体二极管本体位于本体机构上端的内部并位于定位机构的内侧。该半导体二极管测试定位装置，通过在放置板的上端设置了防损垫，保护半导体二极管本体放置时不会和放置板硬性接触而受到损坏，检测时通过移动电机驱动伸缩杆推动定位板夹紧半导体二极管本体，使半导体二极管本体在检测过程中不会松动，增加半导体二极管本体检测的准确度，并且还通过定位板呈对称分布于放置板的外侧，可用于不同规格的半导体二极管本体进行定位检测。

Description

一种半导体二极管测试定位装置

技术领域

本实用新型涉及半导体二极管技术领域，具体为一种半导体二极管测试定位装置。

背景技术

半导体二极管是以半导体为材料制作而成的，是介于导体和绝缘体之间的，比如我们生活中所使用的灯管，就是半导体二极管的一种形态，半导体二极管制作出来以后，需要通过较为严格的检测才能流入市场使用。

现有技术中，通过电极对半导体二极管进行合格检测，而检测过程中，因为半导体二极管的规格较多，且材质较为特殊，不易固定，因此没有半导体二极管固定的定位装置，极大的降低了半导体二极管的检测效率，连带着浪费了较多的人工，增加了不必要的成本。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

本实用新型的目的在于提供一种半导体二极管测试定位装置，以解决上述背景技术中提出现有技术中，通过电极对半导体二极管进行合格检测，而检测过程中，因为半导体二极管的规格较多，且材质较为特殊，不易固定，因此没有半导体二极管固定的定位装置，极大的降低了半导体二极管的检测效率，连带着浪费了较多的人工，增加了不必要的成本的问题。

(二)技术方案

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体二极管测试定位装置，包括固定机构、本体机构、定位机构和半导体二极管本体，所述本体机构位于固定机构的上端，所述定位机构位于本体机构上端的内部，所述半导体二极管本体位于本体机构上端的内部并位于定位机构的内侧。

优选的，所述固定机构包括有固定承载台、支撑腿和加固架，所述支撑腿固定安装在固定承载台下端的边侧，所述加固架固定安装在支撑腿内侧的下端，通过设置加固架增加支撑腿的支撑稳定性，使该装置在放置时更为平稳。

优选的，所述本体机构包括有测试台本体、测试槽、滑槽、放置板、防损垫、显示屏和控制按钮，所述测试槽固定设置在测试台本体的上端，所述滑槽固定设置在测试槽的内部，所述放置板固定安装在测试槽的中部，所述防损垫固定安装在放置板的上端，所述显示屏固定安装在测试台本体前端的左侧，所述控制按钮固定安装在测试台本体前端的右侧，在放置板的上端设置了防损垫，使半导体二极管本体放置时避免和放置板硬性接触，保护半导体二极管本体放置时不会受到损坏。

优选的，所述定位机构包括有定位板、移动槽、正负极传导片、支撑柱、滑轮、转动轴、伸缩杆和移动电机，所述移动槽固定设置在定位板的中部，所述正负极传导片固定安装在定位板内端的中部并位于移动槽的上方，所述支撑柱固定安装在定位板的下端，所述滑轮固定安装在支撑柱的下端，所述转动轴固定安装在外端的中部并位于移动槽的上方，所述伸缩杆固定安装在转动轴的内部，所述移动电机固定安装在伸缩杆的外端并延伸安装在测试台本体的外端，通过设置滑轮，使定位板在移动时下端具有支撑点，使定位板移动过程中移动槽不与放置板硬性摩擦，从而增加定位板和放置板的使用寿命。

优选的，所述支撑腿为U型结构，所述支撑腿呈对称分布于固定承载台的下端，所述加固架呈对称分布于支撑腿内侧的下端，将支撑腿设置为U型结构，使支撑腿为一体成型结构，增加支撑腿的使用寿命。

优选的，所述测试台本体固定安装在固定承载台的上端，所述滑槽呈对称分布于测试槽的内部，所述放置板的上端为弧形结构，将放置板的上端设置为弧形结构，使用时和半导体二极管本体外端的弧形结构相贴合，增加半导体二极管本体放置时的稳定性。

优选的，所述定位板呈对称分布于放置板的外侧，所述移动槽内端的上方为弧形结构，所述移动槽和放置板相适配，所述支撑柱呈对称分布于定位板的下端，定位板呈对称分布于放置板的外侧，在放置板的上端放置不同规格的半导体二极管本体时，通过移动电机驱动伸缩杆推动两端的定位板夹紧不同规格的半导体二极管本体，使半导体二极管本体在检测过程中不会松动，增加半导体二极管本体检测的准确度。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、该半导体二极管测试定位装置，通过将定位板呈对称分布于放置板的外侧，在放置板的上端放置不同规格的半导体二极管本体时，通过移动电机驱动伸缩杆推动两端的定位板夹紧不同规格的半导体二极管本体，使半导体二极管本体在检测过程中不会松动，增加半导体二极管本体检测的准确度；

2、该半导体二极管测试定位装置，通过设置滑轮，使定位板在移动时下端具有支撑点，使定位板移动过程中移动槽不与放置板硬性摩擦，从而增加定位板和放置板的使用寿命；

3、该半导体二极管测试定位装置，通过在放置板的上端设置了防损垫，使半导体二极管本体放置时避免和放置板硬性接触，保护半导体二极管本体放置时不会受到损坏。

附图说明

图1为本实用新型立体结构示意图；

图2为本实用新型定位机构立体结构示意图；

图3为本实用新型定位机构剖面结构示意图；

图4为本实用新型固定机构立体结构示意图；

图5为本实用新型放置板放大结构示意图。

图中：1、固定机构；101、固定承载台；102、支撑腿；103、加固架；2、本体机构；201、测试台本体；202、测试槽；203、滑槽；204、放置板；205、防损垫；206、显示屏；207、控制按钮；3、定位机构；301、定位板；302、移动槽；303、正负极传导片；304、支撑柱；305、滑轮；306、转动轴；307、伸缩杆；308、移动电机；4、半导体二极管本体。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-5，本实用新型提供一种技术方案：一种半导体二极管测试定位装置，包括固定机构1、本体机构2、定位机构3和半导体二极管本体4，本体机构2位于固定机构1的上端，定位机构3位于本体机构2上端的内部，半导体二极管本体4位于本体机构2上端的内部并位于定位机构3的内侧。

固定机构1包括有固定承载台101、支撑腿102和加固架103，支撑腿102固定安装在固定承载台101下端的边侧，加固架103固定安装在支撑腿102内侧的下端，通过设置加固架103增加支撑腿102的支撑稳定性，使该装置在放置时更为平稳；本体机构2包括有测试台本体201、测试槽202、滑槽203、放置板204、防损垫205、显示屏206和控制按钮207，测试槽202固定设置在测试台本体201的上端，滑槽203固定设置在测试槽202的内部，放置板204固定安装在测试槽202的中部，防损垫205固定安装在放置板204的上端，显示屏206固定安装在测试台本体201前端的左侧，控制按钮207固定安装在测试台本体201前端的右侧，在放置板204的上端设置了防损垫205，使半导体二极管本体4放置时避免和放置板204硬性接触，保护半导体二极管本体4放置时不会受到损坏；定位机构3包括有定位板301、移动槽302、正负极传导片303、支撑柱304、滑轮305、转动轴306、伸缩杆307和移动电机308，移动槽302固定设置在定位板301的中部，正负极传导片303固定安装在定位板301内端的中部并位于移动槽302的上方，支撑柱304固定安装在定位板301的下端，滑轮305固定安装在支撑柱304的下端，转动轴306固定安装在外端的中部并位于移动槽302的上方，伸缩杆307固定安装在转动轴306的内部，移动电机308固定安装在伸缩杆307的外端并延伸安装在测试台本体201的外端，通过设置滑轮305，使定位板301在移动时下端具有支撑点，使定位板301移动过程中移动槽302不与放置板204硬性摩擦，从而增加定位板301和放置板204的使用寿命；

支撑腿102为U型结构，支撑腿102呈对称分布于固定承载台101的下端，加固架103呈对称分布于支撑腿102内侧的下端，将支撑腿102设置为U型结构，使支撑腿102为一体成型结构，增加支撑腿102的使用寿命；测试台本体201固定安装在固定承载台101的上端，滑槽203呈对称分布于测试槽202的内部，放置板204的上端为弧形结构，将放置板204的上端设置为弧形结构，使用时和半导体二极管本体4外端的弧形结构相贴合，增加半导体二极管本体4放置时的稳定性；定位板301呈对称分布于放置板204的外侧，移动槽302内端的上方为弧形结构，移动槽302和放置板204相适配，支撑柱304呈对称分布于定位板301的下端，定位板301呈对称分布于放置板204的外侧，在放置板204的上端放置不同规格的半导体二极管本体4时，通过移动电机308驱动伸缩杆307推动两端的定位板301夹紧不同规格的半导体二极管本体4，使半导体二极管本体4在检测过程中不会松动，增加半导体二极管本体4检测的准确度。

工作原理：本实用新型的技术方案为一种半导体二极管测试定位装置，使用时，首先将半导体二极管本体4放置在放置板204上，放置板204上端的弧形结构贴合半导体二极管本体4的外端，使半导体二极管本体4放置平稳，同时，还在放置板204的上端设置了防损垫205，保护半导体二极管本体4放置时不会和放置板204硬性接触而受到损坏，半导体二极管本体4放置好之后，通过移动电机308驱动伸缩杆307推动两端的定位板301夹紧半导体二极管本体4，使半导体二极管本体4在检测过程中不会松动，增加半导体二极管本体4检测的准确度，该装置各个部件相辅相成，有效的提高了对半导体二极管本体4的检测效率，同时还通过定位板301呈对称分布于放置板204的外侧，可用于对不同规格的半导体二极管本体4进行定位检测。

最后应当说明的是，以上内容仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对本实用新型保护范围的限制，本领域的普通技术人员对本实用新型的技术方案进行的简单修改或者等同替换，均不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。

Claims (7)

1.一种半导体二极管测试定位装置，包括固定机构(1)、本体机构(2)、定位机构(3)和半导体二极管本体(4)，其特征在于：所述本体机构(2)位于固定机构(1)的上端，所述定位机构(3)位于本体机构(2)上端的内部，所述半导体二极管本体(4)位于本体机构(2)上端的内部并位于定位机构(3)的内侧。

2.根据权利要求1所述的一种半导体二极管测试定位装置，其特征在于：所述固定机构(1)包括有固定承载台(101)、支撑腿(102)和加固架(103)，所述支撑腿(102)固定安装在固定承载台(101)下端的边侧，所述加固架(103)固定安装在支撑腿(102)内侧的下端。

3.根据权利要求2所述的一种半导体二极管测试定位装置，其特征在于：所述本体机构(2)包括有测试台本体(201)、测试槽(202)、滑槽(203)、放置板(204)、防损垫(205)、显示屏(206)和控制按钮(207)，所述测试槽(202)固定设置在测试台本体(201)的上端，所述滑槽(203)固定设置在测试槽(202)的内部，所述放置板(204)固定安装在测试槽(202)的中部，所述防损垫(205)固定安装在放置板(204)的上端，所述显示屏(206)固定安装在测试台本体(201)前端的左侧，所述控制按钮(207)固定安装在测试台本体(201)前端的右侧。

4.根据权利要求3所述的一种半导体二极管测试定位装置，其特征在于：所述定位机构(3)包括有定位板(301)、移动槽(302)、正负极传导片(303)、支撑柱(304)、滑轮(305)、转动轴(306)、伸缩杆(307)和移动电机(308)，所述移动槽(302)固定设置在定位板(301)的中部，所述正负极传导片(303)固定安装在定位板(301)内端的中部并位于移动槽(302)的上方，所述支撑柱(304)固定安装在定位板(301)的下端，所述滑轮(305)固定安装在支撑柱(304)的下端，所述转动轴(306)固定安装在外端的中部并位于移动槽(302)的上方，所述伸缩杆(307)固定安装在转动轴(306)的内部，所述移动电机(308)固定安装在伸缩杆(307)的外端并延伸安装在测试台本体(201)的外端。

5.根据权利要求4所述的一种半导体二极管测试定位装置，其特征在于：所述支撑腿(102)为U型结构，所述支撑腿(102)呈对称分布于固定承载台(101)的下端，所述加固架(103)呈对称分布于支撑腿(102)内侧的下端。

6.根据权利要求5所述的一种半导体二极管测试定位装置，其特征在于：所述测试台本体(201)固定安装在固定承载台(101)的上端，所述滑槽(203)呈对称分布于测试槽(202)的内部，所述放置板(204)的上端为弧形结构。

7.根据权利要求6所述的一种半导体二极管测试定位装置，其特征在于：所述定位板(301)呈对称分布于放置板(204)的外侧，所述移动槽(302)内端的上方为弧形结构，所述移动槽(302)和放置板(204)相适配，所述支撑柱(304)呈对称分布于定位板(301)的下端。

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