CN217112503U - 一种自动测电阻的工装 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种自动测电阻的工装，包括检测框架结构和用于接触玻璃表面进行电阻检测的电阻检测探针，所述电阻检测探针包括下部电阻检测探针和上部电阻检测探针，下部电阻检测探针位于上部电阻检测探针的下方分别设在检测框架结构两侧上。该自动测电阻的工装结构设计合理，机械定点检测，检测简便高效，减少人为因素对产品品质的影响，保证产出合格率；降低产品返工，减少能耗的浪费；控制人工成本，实现劳动效率最大化。
Description
技术领域
本实用新型涉及液晶屏技术领域，尤其是涉及一种自动测电阻的工装。
背景技术
随着液晶屏行业的高速发展，对现实生活中各类液晶显示屏要求越来越高，对液晶屏的表面要求也越来越高，镀膜行业新型设备也随之逐渐发展起来。ITO镀膜是在产品表面镀上一层ITO膜层，增加透过率(提升屏幕发光效果)，形成屏蔽层，减少电子元器件受外界电场杂讯干扰(提高触控体验)。
为了检测膜层是否合格，我们通过测量ITO膜层的电阻对ITO膜层进行监控；目前检测一人将产品从镀膜基片车取下来后，另一人手持电阻仪对产品表面进行测电阻，浪费人力；人工测电阻受人为因素影响，因为在操作过程中，要求精力集中这样才能保证生产达到预期效果，但在人工操作过程中，受情绪波动影响产品出现系统性效果，人工不能长时间持续工作，不能保证产出合格率，易产生产品返工；人员测量电阻的干扰因素较大，测量电阻后容易在玻璃表面产生探针印，导致产品返工；人员具有惰性，有时漏测玻璃，造成不良品流出。
实用新型内容
针对现有技术不足，本实用新型所要解决的技术问题是提供一种自动测电阻的工装，以达到机械定点检测，检测简便高效的目的。
为了解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案为：
该自动测电阻的工装，包括检测框架结构和用于接触玻璃表面进行电阻检测的电阻检测探针，所述电阻检测探针包括下部电阻检测探针和上部电阻检测探针，下部电阻检测探针位于上部电阻检测探针的下方分别设在检测框架结构两侧上。
进一步的：
所述检测框架结构为与电阻仪相连的金属框架。
还包括警报器，所述电阻仪和警报器相连。
所述检测框架结构包括顶架和底架以及两个连接板，所述两连接板为相对设置的一侧连接板和另一侧连接板，所述顶架和底架之间通过两连接板相连，所述下部电阻检测探针固定在一侧连接板的下部，上部电阻检测探针固定在另一侧连接板上。
所述下部电阻检测探针和上部电阻检测探针的长度相同。
所述连接板为受力可弹性变形的条形板。
本实用新型与现有技术相比，具有以下优点：
该自动测电阻的工装结构设计合理，机械定点检测，检测简便高效，减少人为因素对产品品质的影响，保证产出合格率；降低产品返工，减少能耗的浪费；控制人工成本，实现劳动效率最大化。
附图说明
下面对本说明书各幅附图所表达的内容及图中的标记作简要说明：
图1为本实用新型工装结构示意图。
图2为本实用新型工装应用示意图。
图中：
1.顶架、2.底架、3.一侧连接板、4.下部电阻检测探针、5.另一侧连接板、6.上部电阻检测探针。
具体实施方式
下面对照附图，通过对实施例的描述，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细的说明。
如图1和图2所示，该自动测电阻的工装，包括检测框架结构和用于接触玻璃表面进行电阻检测的电阻检测探针；电阻检测探针包括下部电阻检测探针4和上部电阻检测探针6，下部电阻检测探针位于上部电阻检测探针的下方分别设在检测框架结构两侧上。
检测框架结构为与电阻仪相连的金属框架；进一步的，本实用新型还包括警报器，电阻仪和警报器相连，对于检测不合格的产品报警提醒工作人员隔离此玻璃。
优选的，
检测框架结构包括顶架1和底架2以及两个连接板，所述两连接板为相对设置的一侧连接板3和另一侧连接板5，顶架和底架之间通过两连接板相连，下部电阻检测探针4固定在一侧连接板的下部，上部电阻检测探针6固定在另一侧连接板上。
下部电阻检测探针和上部电阻检测探针的长度相同；连接板为受力可弹性变形的条形板，检测接触受力较大时可弹性变形缓冲，避免在产品表面留下探针印。
本实用新型中，将接触玻璃表面的探针固定在金属架上，在连接电阻仪；镀膜完成后的玻璃，在基片车停止后，带有探针的架子靠近玻璃，直到两根探针接触玻璃表面，则停止前进，返回原位。电阻仪连接警报器，电阻未在250Ω≤x≤600Ω，蜂鸣装置会响起，成膜员人员隔离玻璃，检测操作简便高效，大幅提高了工作效率。
本实用新型自动测电阻的工装结构设计合理，机械定点检测，检测简便高效，减少人为因素对产品品质的影响，保证产出合格率；降低产品返工，减少能耗的浪费；控制人工成本，实现劳动效率最大化。
上述仅为对本实用新型较佳的实施例说明，上述技术特征可以任意组合形成多个本实用新型的实施例方案。
上面结合附图对本实用新型进行了示例性描述，显然本实用新型具体实现并不受上述方式的限制，只要采用了本实用新型的构思和技术方案进行的各种非实质性的改进，或未经改进将本实用新型的构思和技术方案直接应用于其它场合的，均在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种自动测电阻的工装，其特征在于：包括检测框架结构和用于接触玻璃表面进行电阻检测的电阻检测探针，所述电阻检测探针包括下部电阻检测探针和上部电阻检测探针，下部电阻检测探针位于上部电阻检测探针的下方分别设在检测框架结构两侧上。
2.如权利要求1所述自动测电阻的工装，其特征在于：所述检测框架结构为与电阻仪相连的金属框架。
3.如权利要求2所述自动测电阻的工装，其特征在于：还包括警报器，所述电阻仪和警报器相连。
4.如权利要求2所述自动测电阻的工装，其特征在于：所述检测框架结构包括顶架和底架以及两个连接板，所述两连接板为相对设置的一侧连接板和另一侧连接板，所述顶架和底架之间通过两连接板相连，所述下部电阻检测探针固定在一侧连接板的下部，上部电阻检测探针固定在另一侧连接板上。
5.如权利要求4所述自动测电阻的工装，其特征在于：所述下部电阻检测探针和上部电阻检测探针的长度相同。
6.如权利要求4所述自动测电阻的工装，其特征在于：所述连接板为受力可弹性变形的条形板。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202123444258.5U CN217112503U (zh) | 2021-12-30 | 2021-12-30 | 一种自动测电阻的工装 |
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Publications (1)
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| CN217112503U true CN217112503U (zh) | 2022-08-02 |
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Country Status (1)
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2021
- 2021-12-30 CN CN202123444258.5U patent/CN217112503U/zh active Active
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