CN217085117U - 自动测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及测试设备技术领域，涉及一种自动测试设备。自动测试设备包括输送装置、测试装置和控制装置；输送装置用于沿输送路径输送工件；测试装置设于输送路径上，且测试装置包括至少两个的温度测试组件以及常温等待区，常温等待区设于相邻的两个温度测试组件之间，其中至少两个温度测试组件之间的测试温度不相同；控制装置信号连接于输送装置和测试装置。依据上述实施例中的自动测试设备，通过设置控制装置对输送装置和测试装置进行控制，可以驱使工件沿输送路径在不同的温度测试组件之间输送，以实现对工件进行自动高低温老化测试，测试效率高，使用便捷。

Description

自动测试设备

技术领域

本实用新型涉及测试技术领域，尤其涉及一种自动测试设备。

背景技术

工件测试是机械自动化加工流程中重要的一环，在一些特殊的领域中，对电子工件具有严苛的可靠性要求。在工件的生产过程中，目前一个重要的测试工序是高低温极限老化测试，以对工件的进行筛选。

常用的方案有：方案一、采用单套温控装置来实现高低温切换，以分别进行高低温老化测试，这种方案的效率非常低，高温环境与低温环境之前的切换需要很长时间(半小时以上)，测试效率低下，难以满足生产的需求；方案二、将高温环境和低温环境独立，低温测试完后，再送到高温测试，中间工序都需要人工转移，这种方案在质量管控方面的难度较大，测试效率低下，使用效果不佳。

因此，有必要针对现有的测试装置进行改进，以改变现状。

实用新型内容

本实用新型提供一种自动测试设备，用于解决传统的测试装置测试效率低下，使用效果不佳的问题。

本实用新型提出一种自动测试设备，包括：

输送装置，用于沿输送路径输送工件；

测试装置，设于所述输送路径上，且所述测试装置包括至少两个的温度测试组件以及常温等待区，所述常温等待区设于相邻的两个所述温度测试组件之间，其中至少两个所述温度测试组件之间的测试温度不相同；以及

控制装置，信号连接于所述输送装置和所述测试装置。

根据本实用新型的一个实施例，所述输送装置包括进料输送带和回传输送带，所述进料输送带依次连接多个所述温度测试组件，且所述进料输送带具有相对设置的进料口和出料口，所述回传输送带分别连接于所述进料口和所述出料口，并与所述进料输送带形成闭合的所述输送路径。

根据本实用新型的一个实施例，所述进料输送带还具有进料输送段和出料输送段，所述进料输送段设于所述进料口和所述输送路径上的第一个所述温度测试组件之间，所述出料输送段设于所述输送路径上的最末端的所述温度测试组件与所述出料口之间；其中，所述进料输送段和/或所述出料输送段暴露于外部环境中。

根据本实用新型的一个实施例，所述进料输送带与所述回传输送带沿竖直方向或水平方向间隔设置。

根据本实用新型的一个实施例，所述测试装置还包括密封组件，所述温度测试组件包括沿所述输送路径依次设置的进料仓、测试仓和出料仓，其中一个所述密封组件设于所述测试仓的进口处，并用于连接所述进料仓，另一个所述密封组件设于所述测试仓的出口处，并用于连接所述出料仓。

根据本实用新型的一个实施例，所述密封组件包括驱动件和密封门，所述驱动件用于驱动所述密封门移动，以密封或打开所述测试仓的进口或出口。

根据本实用新型的一个实施例，所述密封组件还包括导向机构，所述密封门通过所述导向机构与所述测试仓滑动连接。

根据本实用新型的一个实施例，所述导向机构包括光轴和滑块，所述光轴连接于所述测试仓，所述滑块与所述光轴滑动配合，并连接于所述密封门。

根据本实用新型的一个实施例，所述导向机构设置有多组，多组所述导向机构平行设置。

根据本实用新型的一个实施例，所述测试仓内设有老化测试工位和电性能测试工位，且所述老化测试工位和所述电性能测试工位沿所述输送路径依次设置；所述老化测试工位的数量为N1，所述电性能测试工位数量为N2，所述工件的最小老化时间为T1，所述工件测试一次电性能的时间为T2，且满足以下关系式：

N1+N2≥T1/T2。

实施本实用新型实施例，具有如下有益效果：

依据上述实施例中的自动测试设备，通过设置控制装置对输送装置和测试装置进行控制，可以驱使工件沿输送路径在不同的温度测试组件之间输送，以实现对工件进行自动高低温老化测试，测试效率高，使用便捷。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

其中：

图1是本实用新型的实施例中自动测试设备的轴侧视图；

图2是图1中局部A的放大视图；

图3是图1中局部B的放大视图；

图4是本实用新型的实施例中自动测试设备的内部结构示意图；

图5是本实用新型的实施例中密封组件的局部结构示意图；

图6是本实用新型的实施例中温度测试组件的结构示意图；

附图标记：

10、自动测试设备；

100、输送装置；110、进料输送带；111、进料口；112、出料口；113、进料输送段；114、出料输送段；120、回传输送带；

200、测试装置；210、温度测试组件；211、进料仓；212、测试仓；2121、老化测试工位；2122、电性能测试工位；213、出料仓；220、常温等待区；230、密封组件；231、驱动件；232、密封门；233、导向机构；2331、光轴；2332、滑块；

300、控制装置。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型中的附图，对本实用新型中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

参阅图1所示，本实用新型实施例提供了一种自动测试设备10，其包括输送装置100、测试装置200和控制装置300；输送装置100用于沿输送路径输送工件；测试装置200设于输送路径上，且测试装置200包括至少两个的温度测试组件210以及常温等待区220，常温等待区220设于相邻的两个温度测试组件210 之间，其中至少两个温度测试组件210之间的测试温度不相同；控制装置300信号连接于输送装置100和测试装置200。

依据上述实施例中的自动测试设备10，通过设置控制装置300对输送装置 100和测试装置200进行控制，可以驱使工件沿输送路径在不同的温度测试组件 210之间输送，以实现对工件进行自动高低温老化测试，测试效率高，使用便捷。具体地，控制装置300可以包括PLC控制器，并通过电缆信号连接于输送装置100 和测试装置200，以实现自动控制功能，在此不做赘述。

参阅图1至图3所示，输送装置100包括进料输送带110和回传输送带120，进料输送带110依次连接多个温度测试组件210，且进料输送带110具有相对设置的进料口111和出料口112，回传输送带120分别连接于进料口111和出料口 112，并与进料输送带110形成闭合的输送路径。

可以理解，通过设置进料输送带110和回传输送带120配合，可以使输送装置100形成一个闭环的输送路径，进料输送带110可以依次贯穿多个温度测试组件210，通过将多个温度测试组件210中的至少两个设置为不相同的，可以实现对工件在不同的温度中进行老化测试，例如可以使工件在不同的温度测试组件 210中分别进行低温测试、高温测试以完成工件的两个测试步骤；具体地，测试步骤中包括工序：带电老化测试工序和电性能测试工序。

通过在设置为高温环境的温度测试组件210中设置有高温测试区，以及在设置为低温环境的温度测试组件210中设置低温测试区，高温测试区和低温测试区内可以根据用户需求设置内部区域的温度和湿度，以保证被测工件在一个相对稳定的条件下进行测试。低温区的设置温度为工件工作的极限低温，例如-40℃，高温的设置温度为工件工作的极限高温，例如90℃，湿度一般控制在较低水平，例如10％，防止被测工件发生凝露；温度测试组件210内部的具体环境参数根据工件的测试需求设定，操作人员可以通过向控制装置300输入控制信号，并通过控制装置300进行自动控制。

具体地，进料输送带110还具有进料输送段113和出料输送段114，进料输送段113设于进料口111和输送路径上的第一个温度测试组件210之间，出料输送段114设于输送路径上的最末端的温度测试组件210与出料口112之间。

通过在进料输送带110上设置进料输送段113和出料输送段114，当输送装置100输送工件时，进料输送段113和出料输送段114可以对工件进行暂存，例如操作人员可以在进料输送段113和出料输送段114对工件的排布进行调整，或是对输送路径上的工件进行视觉检测等操作。

在一些实施例中，进料输送段113和/或出料输送段114暴露于外部环境中。由此设置，当工件沿输送路径输送时，工件可以在进料输送段113和出料输送段 114上与外部环境进行热交换，当输送路径上末端的温度测试组件210内设定为高温测试环境时，工件在出料输送段114上输送时可以进行散热，以便于后续工序操作。

参阅图1所示的实施例，进料输送带110与回传输送带120沿竖直方向。

在本实施例中，自动测试设备10还包括底部支架，底部支架设于测试装置 200下侧，回传输送带120可以穿设于底部支架内；由此设置，可以使输送装置100具有更为紧凑的结构，充分利用自动测试设备10的底部支架的内部空间，以达到优化自动测试设备10整体体积的效果。在其他实施例中，进料输送带110 与回传输送带120也可以沿水平方向间隔设置，进料输送带110与回传输送带120 的具体布置位置根据自动测试设备10的使用需求设定，在此不做唯一限定；可以理解地是，在一些实施例中，输送装置100还可以设置有移料装置，以用于将出料口112处的工件移动至回传输送带120进行回传输送，并在进料口111处设置移料装置，可以将回传输送带120上的工件移动至进料口111处。

进一步地，参阅图4所示，测试装置200还包括密封组件230，温度测试组件210包括沿输送路径依次设置的进料仓211、测试仓212和出料仓213，其中一个密封组件230设于测试仓212的进口处，并用于连接进料仓211，另一个密封组件230设于测试仓212的出口处，并用于连接出料仓213。

可以理解的，通过在测试仓212的进口处和出口处设置密封组件230，密封组件230不仅可以对测试仓212的内部空间进行密封，同时也可以提高测试仓212 内部的保温效果，以使低温测试区和高温测试区在测试过程中保证测试温度的相对稳定；另外，也可以在进料仓211远离测试仓212的一侧设置密封组件230，并且在出料仓213远离测试仓212的一侧也设置密封组件230，并且进料仓211、测试仓212和出料仓213的温度依次递增或递减，通过设置多个密封组件230与各个仓室配合，可以在工件进料或出料时，尽量最小程度减少对测试仓212内的环境的影响，

特别是工件在进仓或者出仓过程中，两个不同温度仓体将短暂连通，不同温度的空气将会相互扩散，为了尽量降低对自身仓体内部温度影响，需要尽可能保证如下条件：1、两个仓体内部温差尽量小；2、两个仓体之间门的面积尽量小； 3、工件从一个仓体传输到另外一个的时间尽量短。如果系统为低温测试区时，测试仓212温度低于进料仓211，也要低于出料仓213，进料仓211和出料仓213 温度均低于测试区外部温度；如果系统为高温测试区时，测试仓212温度高于进料仓211，也要高于出料仓213，进料仓211和出料仓213温度均高于测试区外部温度。进料仓211为工件进料等待区域，出料仓213为工件出料等待区域，在极限温度下，工件在测试仓212完成老化测试和电性能测试两个关键工序，根据这两个工序的测试结果判断工件是否合格，使用效果好。

具体地，密封组件230包括驱动件231和密封门232，驱动件231用于驱动密封门232移动，以密封或打开测试仓212的进口或出口。在本实施例中，驱动件231可以是例如直线气缸、直线电机等直线驱动件。

更进一步地，参阅图4和图5所示，密封组件230还包括导向机构233，密封门232通过导向机构233与测试仓212滑动连接。

可以理解，通过设置导向机构233连接密封门232和测试仓212，导向机构 233一方面可以提高密封门232移动时的平顺度，同时也可以对密封门232的移动进行导向限位，使用效果好。

具体在本实施例中，导向机构233包括光轴2331和滑块2332，光轴2331 连接于测试仓212，滑块2332与光轴2331滑动配合，并连接于密封门232。

优选地，导向机构233设置有多组，多组导向机构233平行设置。

如图5所示的实施例中，导向机构233设置有两组，且两组导向机构233对称设于密封门232的相对两侧，由此可以提高密封门232的移动平顺度，在其他实施例中，导向机构233也可以设置为三组、或三组以上，通过多组导向机构233 连接密封门232和测试仓212，可以进一步提高密封门232的移动平顺度，在此不做赘述。

进一步地，参阅图6所示，测试仓212内设有老化测试工位2121和电性能测试工位2122，且老化测试工位2121和电性能测试工位2122沿输送路径依次设置；老化测试工位2121的数量为N1，电性能测试工位2122数量为N2，工件的最小老化时间为T1，工件测试一次电性能的时间为T2，且满足以下关系式： N1+N2≥T1/T2。

使用本实施例的自动测试设备10，工件可以在老化测试工位2121上老化测试，并可以在电性能测试工位2122上进行各项电性能测试，测试完成后，输送装置100整体向前移动一个工位，位于输送路径上的第一个工件移出测试仓212，进入出料仓213，同时进料仓211移入一个工位到测试仓212，通过各个相邻的工件之间彼此配合，可以形成一个自动化步进移动流程，在不增加额外驱动装置的前提下，可以保证自动测试设备10的输送效果，结构简单，使用效果好。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型实施例的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种自动测试设备，其特征在于，包括：

输送装置，用于沿输送路径输送工件；

测试装置，设于所述输送路径上，且所述测试装置包括至少两个的温度测试组件以及常温等待区，所述常温等待区设于相邻的两个所述温度测试组件之间，其中至少两个所述温度测试组件之间的测试温度不相同；以及

控制装置，信号连接于所述输送装置和所述测试装置。

2.根据权利要求1所述的自动测试设备，其特征在于，所述输送装置包括进料输送带和回传输送带，所述进料输送带依次连接多个所述温度测试组件，且所述进料输送带具有相对设置的进料口和出料口，所述回传输送带分别连接于所述进料口和所述出料口，并与所述进料输送带形成闭合的所述输送路径。

3.根据权利要求2所述的自动测试设备，其特征在于，所述进料输送带还具有进料输送段和出料输送段，所述进料输送段设于所述进料口和所述输送路径上的第一个所述温度测试组件之间，所述出料输送段设于所述输送路径上的最末端的所述温度测试组件与所述出料口之间；其中，所述进料输送段和/或所述出料输送段暴露于外部环境中。

4.根据权利要求2所述的自动测试设备，其特征在于，所述进料输送带与所述回传输送带沿竖直方向或水平方向间隔设置。

5.根据权利要求1所述的自动测试设备，其特征在于，所述测试装置还包括密封组件，所述温度测试组件包括沿所述输送路径依次设置的进料仓、测试仓和出料仓，其中一个所述密封组件设于所述测试仓的进口处，并用于连接所述进料仓，另一个所述密封组件设于所述测试仓的出口处，并用于连接所述出料仓。

6.根据权利要求5所述的自动测试设备，其特征在于，所述密封组件包括驱动件和密封门，所述驱动件用于驱动所述密封门移动，以密封或打开所述测试仓的进口或出口。

7.根据权利要求6所述的自动测试设备，其特征在于，所述密封组件还包括导向机构，所述密封门通过所述导向机构与所述测试仓滑动连接。

8.根据权利要求7所述的自动测试设备，其特征在于，所述导向机构包括光轴和滑块，所述光轴连接于所述测试仓，所述滑块与所述光轴滑动配合，并连接于所述密封门。

9.根据权利要求7或8所述的自动测试设备，其特征在于，所述导向机构设置有多组，多组所述导向机构平行设置。

10.根据权利要求5所述的自动测试设备，其特征在于，所述测试仓内设有老化测试工位和电性能测试工位，且所述老化测试工位和所述电性能测试工位沿所述输送路径依次设置；所述老化测试工位的数量为N1，所述电性能测试工位数量为N2，所述工件的最小老化时间为T1，所述工件测试一次电性能的时间为T2，且满足以下关系式：

N1+N2≥T1/T2。

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