CN217007593U - 飞针测试机 - Google Patents

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CN217007593U CN202220241250.4U CN202220241250U CN217007593U CN 217007593 U CN217007593 U CN 217007593U CN 202220241250 U CN202220241250 U CN 202220241250U CN 217007593 U CN217007593 U CN 217007593U
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程龙瑞
袁绩
田德越
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Suzhou Vega Technology Co Ltd
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Suzhou Vega Technology Co Ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种飞针测试机,飞针测试机包括:机体和至少两层测试总成,测试总成包括:第一运动机构,第一运动机构安装于机体;第二运动机构,第二运动机构沿X方向可活动地安装于第一运动机构,第二运动机构安装有沿Y方向可活动的飞针测试组件,且飞针测试组件具有沿Z方向可活动的测试头;其中每层测试总成包括至少两组第二运动机构,至少两组第二运动机构安装于同一个第一运动机构,且至少两组第二运动机构在X方向上的运动区间存在重合区域。本实用新型将至少两层测试总成安装于机架上,可以针对不同测试点分布集中的情况,极大地利用了多测试头的优势,提升测试效率。

Description

飞针测试机
技术领域
本实用新型涉及检测设备领域,尤其是涉及一种飞针测试机。
背景技术
在PCB行业,飞针测试技术的应用已经越来越成熟。飞针测试机是通过数组XYZ轴模组进行高速运动,Z轴上设置有测试探针,探针在待测PCB板上进行快速测试的设备。目前市场上技术较为成熟的有四测试头和八测试头的飞针设备,均对称分布在PCB夹具两侧,实现两侧同时对PCB板的电性量测。随着高密度(HDI)PCB的制程的发展,四轴飞针测试机的效率已经满足不了PCB测试的需求,八轴飞针测试机已经成为主要的电性测试设备,其不仅具有更高的测试效率,还可以实现四线测量,开尔文测试等多种量测功能。
相关技术中,现有的四个测试头的飞针测试机,测试头数量较少,但是测试效率偏低。八轴结构的飞针测试机的八个测试头所能测试的区域互相没有交叉,每个测试头负责均等大小的各自的测试区域。该设备虽然满足了八轴测试的数量,但是没有考虑PCB板上的测试点的集中分布情况多数是偏移设置的,实际中测试点的分布是集中在某一个或者两个测试区域内。这样的话,其余的测试头便无法参与测试,因此其在实际测试过程中无法最大程度的实现八测试头应有的高效率,存在改进的空间。
实用新型内容
本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本实用新型提出一种飞针测试机,提高测试效率。
根据本实用新型实施例的一种飞针测试机,包括:机体和至少两层测试总成,所述测试总成包括:第一运动机构,所述第一运动机构安装于所述机体;第二运动机构,所述第二运动机构沿X方向可活动地安装于所述第一运动机构,所述第二运动机构安装有沿Y方向可活动的飞针测试组件,且所述飞针测试组件具有沿Z方向可活动的测试头;其中每层所述测试总成包括至少两组所述第二运动机构,至少两组所述第二运动机构安装于同一个所述第一运动机构,且至少两组所述第二运动机构在所述X方向上的运动区间存在重合区域。
根据本实用新型实施例的飞针测试机,将至少两层测试总成安装于机架上,且每层测试总成的两个测试头能够相互独立运动,利于实现多测试头的联动测试,且每层测试总成的两个测试头在实际运动过程中存在重合区域,能够针对不同测试点分布集中的情况,极大地利用了多测试头的优势,提升测试效率。
一些实施例中,所述第一运动机构包括第一驱动件和第一传动件,所述第一传动件至少两个,所述第二运动机构包括运动横梁,所述运动横梁与所述第一传动件一一对应,所述运动横梁与所述第一传动件配合连接;其中,同一层所述测试总成上,至少两组所述第一传动件分别驱动对应的所述运动横梁在X方向上相对靠近或远离,且至少部分运动区间在X方向上重合。
具体地,所述运动横梁的第一端通过第一运动滑轨与所述机体滑动配合,所述运动横梁的第二端通过第二运动滑轨与所述机体滑动配合,且所述运动横梁的第一端连接所述第一传动件。
更具体地,所述机体包括机架、第一机座和第二机座,所述第一机座和所述第二机座安装于所述机架彼此正对的两侧,所述第一运动滑轨和所述第二运动滑轨中的一个安装于所述第一机座,且另一个安装于所述第二机座。
进一步地,至少两层所述测试总成在竖向间隔分布;其中,相邻的两层所述测试总成中,位于上层的所述测试总成对应的所述第一运动机构和位于下层的所述测试总成对应的所述第一运动机构中的一个安装于所述第一机座,且另一个安装于所述第二机座。
可选地,所述第一机座和所述第二机座的材料为大理石。
一些实施例中,所述运动横梁的第一端设有第一滑动槽,且所述第一运动滑轨与所述第一滑动槽滑动配合;所述运动横梁的第二端设有第二滑动槽,且所述第二运动滑轨与所述第二滑动槽滑动配合。
一些实施例中,所述第一运动机构为直线电机,所述第一驱动件为定子,所述第一传动件为动子。
进一步地,两组所述第二运动机构的运动横梁在两组所述第一运动机构之间沿X向平行间隔开分布。
一些实施例中,所述第二运动机构还包括第二驱动件和第二传动件,所述第二传动件与所述第二驱动件连接,所述飞针测试组件与所述运动横梁滑动配合且与所述第二传动件配合连接。
具体地,所述测试总成为两层,两层所述测试总成在竖向间隔分布;其中,位于上层的所述测试总成对应的所述第二传动件和所述第二驱动件设于对应的所述运动横梁的上方,且位于下层的所述测试总成对应的所述第二传动件和所述第二驱动件设于对应的所述运动横梁的下方。
一些实施例中,所述机架上还设有用于传送电路板的输送装置,所述输送装置的上下方均设有所述测试总成。
可选地,所述飞针测试机还包括光栅传感器,以定位所述测试头的坐标。
本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本实用新型的实践了解到。
附图说明
本实用新型的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:
图1为本实用新型实施例中飞针测试机的结构示意图;
图2为本实用新型实施例中电路板处于飞针测试机中的示意图;
图3为本实用新型实施例中两层测试总成的结构示意图;
图4为本实用新型实施例中一层测试总成的结构示意图;
图5为本实用新型实施例中飞针测试组件与第二运动机构的配合示意图一;
图6为本实用新型实施例中飞针测试组件与第二运动机构的配合示意图二;
图7为本实用新型实施例中飞针测试组件与第二运动机构的配合示意图三;
图8为图1中I处局部放大图;
图9为本实用新型实施例中四个测试头的测试区域示意图。
附图标记:
100、飞针测试机;
1、机体;11、机架;12、第一机座;13、第二机座;
2、测试总成;21、第一运动机构;211、第一驱动件;212、第一传动件;22、第二运动机构;221、运动横梁;2212、第一滑动块;2213、第一滑动槽;2214、第二滑动块;2215、第二滑动槽;2216、连接板;222、第二驱动件;223、第二传动件;
3、安装导轨;4、飞针测试组件;41、测试头;42、运动滑块;51、第一运动滑轨;52、第二运动滑轨;
7、输送装置;8、光栅传感器;9、运动拖链装置;
200、电路板;A、第一个测试头测试区域;B、第二个测试头测试区域;C、第三个测试头测试区域;D、第四个测试头测试区域。
具体实施方式
下面详细描述本实用新型的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本实用新型,而不能理解为对本实用新型的限制。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
此外,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征,用于区别描述特征,无顺序之分,无轻重之分。
在本实用新型的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
下面结合附图描述本实用新型实施例的飞针测试机100。
下面参考图1-图8描述根据本实用新型实施例的飞针测试机100,该飞针测试机100具有多个灵活且独立运动的飞针测试组件4,飞针测试组件4包括可反复升降运动并对电路板200进行检测的测试头41,且不同的飞针测试组件4能够实现测试覆盖区域的重合,当PCB(印刷电路板)上的测试点集中分布在某一侧时,同层的一个测试头41可以跨区与另一个测试头41同步进行测量,从而最大程度地让更多的测试头41参与测试,提高了实际的测试效率。
如图1、图2所示,根据本实用新型实施例的飞针测试机100,飞针测试机100包括:机体1和至少两层测试总成2。
其中,如图1所示,机体1包括机架11和机座,机座为多个,且多个机座均安装于机架11的上方,机座用于安装测试总成2。如图1所示,机架11构造为中空的框架结构,具体地,机架11包括多个纵梁、横梁和竖梁,且多个纵梁、横梁和竖梁拼接相连以形成立方体状的机架11,且在机架11的上端形成有安装面,以用于安装机座,同时,如图1所示,在机架11的底部的四个拐角位置处分别支撑有一个支座,以使机架11通过四个支座稳定地支撑于地面。
如图、图2所示,测试总成2安装于机座,且测试总成2至少两层,至少两层测试总成2沿上下方向依次安装于机座,以在机架11的上方形成具有多个测试头41的飞针测试机100,从而实现对放置于机架11上方的电路板200进行准确测试。当然,可以理解的,本申请不限于测试总成2沿上下方向设置,还可以是沿前后或左方方向设置,测试总成2设置在电路板200的前后或左右方向,实现在电路板200两侧对称布局。
如图1、图3所示,测试总成2包括第一运动机构21和第二运动机构22以及安装于第二运动机构22的飞针测试组件4,其中,第一运动机构21安装于机体1,如第一运动机构21与机座通过螺栓可拆卸地相连,以使第一运动机构21能够从机座上灵活地拆卸,第二运动机构22安装于第一运动机构21,且第二运动机构22相对于第一运动机构21沿X方向可活动,即第二运动机构22能够相对于第一运动机构21以及机座运动至X方向上的多个不同位置处。其中,第二运动机构22在X方向的运动范围能够覆盖电路板200在X方向的延伸长度。
如图5所示,第二运动机构22安装有飞针测试组件4,其中,飞针测试组件4相对于第二运动机构22沿Y方向可活动,以使飞针测试组件4能够运动至Y方向上的多个不同位置处。其中,飞针测试组件4在Y方向的运动范围能够覆盖电路板200在Y方向的延伸长度。以及,飞针测试组件4具有测试头41,如图9所示,测试头41可相对于飞针测试组件4的其他主体结构沿Z方向运动,以使测试头41能够运动至Z方向上的多个不同位置处。测试头41在第一运动机构21和第二运动机构22的驱动下能够运动至电路板200的任一测试点处,测试总成2中的每个测试头41在X方向和Y方向的活动范围能够覆盖整个电路板200。
由此可知,本实用新型中的测试头41通过飞针测试组件4、第一运动机构21和第二运动机构22的运动配合,使得测试头41能够在机架11的上方灵活地运动至X方向、Y方向以及Z方向的多个不同位置处,实现对电路板200的全面化地测试。
其中,如图4所示,本实用新型中的每层测试总成2均包括至少两组第二运动机构22,至少两组第二运动机构22安装于同一个第一运动机构21。也就是说,在每层测试总成2中,对应安装有至少两组可活动的测试头41,且至少两组测试头41分别通过独立的飞针测试组件4、第一运动机构21和第二运动机构22实现在空间内X方向、Y方向以及Z方向的组合运动。
且在本实用新型中,测试总成2设置为至少两层,多个测试总成2在Z方向依次分层排布,在实现多测试头同步进行测量以提高测试效率的同时,整机结构也更为紧凑,能有效利用机体1内部空间。
以及,本实用新型中的每层测试总成2的至少两组第二运动机构22在相对于同一第一运动机构21在X方向上运动时,如图9所示,至少两组第二运动机构22的运动区间存在重合区域。换言之,两组第二运动机构22上对应安装的测试头41在X方向上可运动至相同的位置处,由此,每层测试总成2的两组测试头41可进行交叉测试,测试覆盖区域实现了重合,当PCB(印刷电路板)上的测试点集中分布在某一侧时,同层的一个测试头41可以跨区与另一个测试头41同步进行测量,可以实现最大程度地让更多的测试头41参与测试,提高了实际的测试效率。
根据本实用新型实施例的飞针测试机100,将至少两层测试总成2安装于机架11上,且每层测试总成2的两个测试头41能够相互独立运动,利于实现多测试头41的联动测试,且每层测试总成2的两个测试头41在实际运动过程中存在重合区域,能够针对不同测试点分布集中的情况,极大地利用了多测试头41的优势,提升测试效率。
在一些实施例中,第一运动机构21包括第一驱动件211和第一传动件212,第一驱动件211可为直线电机的定子,第一传动件212可为直线电机的动子,提供更高的运动能力,提高加速度,使第二运动机构22高速高频移动,这样,可通过直线电机驱动第二运动机构22更好的运动,提高测试效率和测试精度。
第二运动机构22包括运动横梁221,运动横梁221与第一传动件212配合连接,这样,运动横梁221与第一传动件212共同运动,且在具体安装时,可将第一驱动件211固定安装于机座上,以使直线电机的定子与机座的相对位置固定,以及运动横梁221可活动地安装于机座上,如运动横梁221沿X方向滑动安装于机座上。
这样,在直线电机的定子带动第一传动件212运动的过程中,运动横梁221在第一传动件212的带动下移动,从而使得运动横梁221能够相对于第一运动机构21运动至X方向上的不同位置处。可选地,运动横梁221具有中空的减重孔,其中,减重孔为多个,多个减重孔在运动横梁221的长度方向上依次分布,这样,多个减重孔能够对运动横梁221在长度方向上的不同位置处起到减重的作用,从而利于降低运动横梁221以及整个第二运动机构22的重量,实现轻量化的设计,且减重孔可构造为三角形孔。
其中,在同一层测试总成2上,第一运动机构21包括至少两个第一传动件212,第二运动机构22包括运动横梁221,运动横梁221与第一传动件212一一对应,两者配合连接。例如,第一运动机构21包括两个第一传动件212,两个运动横梁221与两个第一传动件212一一对应连接,初始时,两个运动横梁221紧邻,在第一个运动横梁221前进时,第二个运动横梁221可以后退,如此,第一个运动横梁221便移动至第二个运动横梁221初始所在位置,相反亦是如此。这样,在通过两个第一传动件212驱动对应的运动横梁221在X方向上运动时,如图9所示,两个运动横梁221能够运动至相同的区域内,由此,可以实现单层的两个运动横梁221有相互交叉的轨迹,进而实现了该层的两个测试头41测试区域的一定面积的重合,针对不同测试点分布集中在电路板200预定区域的情况,多测试头41可同时运动至电路板200的预定区域进行检测,极大地利用了多测试头41的优势,提高测试效率。
在一些实施例中,飞针测试机100还包括第一运动滑轨51和第二运动滑轨52,其中,需要说明的是,如图1所示,每个飞针测试机100的机体1包括机架11和多个机座,且多个机座分开布置于机架11的上端的两侧区域,且如图1和图2所示,在两侧的机座之间限定出用于放置电路板200的测试区域。其中,第一运动滑轨51可固定安装于第一侧的机座上,第二运动滑轨52可固定安装于第二侧的机座上。
其中,如图1所示,两侧的机座在Y方向上间隔开分布,且运动横梁221沿Y方向延伸,这样,运动横梁221的第一端与第一运动滑轨51滑动配合,以使运动横梁221的第一端能够相对于机体1滑动,同时运动横梁221的第二端与第二运动滑轨52滑动配合,以使运动横梁221的第二端能够相对于机体1滑动,且第一运动滑轨51和第二运动滑轨52平行设置,这样,运动横梁221的两端能够在直线电机的作用下同步滑动,从而保证运动横梁221运动平稳。
这样,通过将运动横梁221的两端均通过运动滑轨得到了有效地支撑,避免出现运动横梁221一端悬空的问题,从而使得运动横梁221的结构更加稳定,这样,飞针测试组件4在运动横梁221上移动至不同的位置处时,运动横梁221均能够对飞针测试组件4提供良好的支撑环境,从而保证测试头41测试的准确性。
其中,运动横梁221的第一端连接第一传动件212,也就是说,第一驱动件211以及第一传动件212通过运动横梁221的第一端带动整个运动横梁221运动,换言之,运动横梁221的第一端为其动力端,且运动横梁221的第二端为其从动端,即运动横梁221的动力端通过第一运动滑轨51滑动支撑于机体1,且运动横梁221的从动端通过第二运动滑轨52滑动支撑于机体1,由此,利于实现运动横梁221的稳定滑动,从而保证测试头41在X方向上稳定地运动。
在一些实施例中,多个机座分别安装于机架11的上端的沿Y方向的两侧区域,其中,位于机架11的上端的第一侧区域的机座为第一机座12,且位于机架11的上端的第二侧区域的机座为第二机座13,如图1和图2所示,第一机座12安装于机架11上端的左侧区域,第二机座13安装于机架11上端的右侧区域。
其中,第一运动滑轨51和第二运动滑轨52中的一个安装于第一机座12,且另一个安装于第二机座13。也就是说,可将第一运动滑轨51安装于第一机座12,且将第二运动滑轨52安装于第二机座13,也可将第二运动滑轨52安装于第一机座12,且将第一运动滑轨51安装于第二机座13。需要说明的是,本实用新型中的测试总成2至少两层,且每层测试总成2的第一运动机构21和第二运动机构22均为相互独立的结构,这样,可在多层测试总成2安装于机架11时,分别以不同的布置方式安装于机架11。
换言之,在具体安装时,可将第一层测试总成2的运动横梁221对应的第一运动滑轨51安装于第一机座12,且将第二运动滑轨52安装于第二机座13;同时,将第二层测试总成2的运动横梁221对应的第一运动滑轨51安装于第一机座12、第二运动滑轨52安装于第二机座13,或者将第二层测试总成2的运动横梁221对应的第一运动滑轨51安装于第二机座13、第二运动滑轨52安装于第一机座12,从而使得运动横梁221的动力端和从动端能够灵活地布置于第一机座12以及第二机座13,实现结构的合理布置。
在一些实施例中,在测试总成2为两层,且两层测试总成2沿竖向依次分布时,在上下两层测试总成2中,上层测试总成2的运动横梁221对应的第一运动滑轨51安装于第一机座12且第二运动滑轨52安装于第二机座13,下层测试总成2的运动横梁221对应的第一运动滑轨51安装于第二机座13且第二运动滑轨52安装于第一机座12。也就是说,在两层测试总成2设置中,可将两层测试总成2对应的运动横梁221的动力端和从动端交错设置,以使运动横梁221对应的第一运动机构21分别位于第一机座12和第二机座13上,从而保证在第一机座12和第二机座13上均可设置驱动结构,从而将各层测试总成2的动力结构均衡地分布于机架11上端的两侧区域中。当然,还可以是上层测试总成2的第一运动机构21位于第二机座13上、下层测试总成2的第一运动机构21位于第一机座12上,或者,还可以是设置更多层的测试总成2,任意相邻的两层测试总成2的第一运动机构21交错设置,从而使整体较为均衡,飞针测试机100更加稳定。
其中,在具体的设置时,三层测试总成2从上到下依次分布,其中,可将最上层的测试总成2的运动横梁221对应的第一运动滑轨51安装于第一机座12,且将运动横梁221对应的第二运动滑轨52安装于第二机座13,进一步地,将中间层的测试总成2的运动横梁221对应的第一运动滑轨51安装于第二机座13,且将运动横梁221对应的第一运动滑轨51安装于第二机座13,再进一步地,将最下层的测试总成2的运动横梁221对应的第一运动滑轨51安装于第一机座12,且将运动横梁221对应的第二运动滑轨52安装于第二机座13。
或者,三层测试总成2中,可将最上层的测试总成2的运动横梁221对应的第一运动滑轨51安装于第二机座13,且将运动横梁221对应的第二运动滑轨52安装于第一机座12,进一步地,将中间层的测试总成2的运动横梁221对应的第一运动滑轨51安装于第一机座12,且将运动横梁221对应的第二运动滑轨52安装于第二机座13,再进一步地,将最下层的测试总成2的运动横梁221对应的第一运动滑轨51安装于第二机座13,且将运动横梁221对应的第二运动滑轨52安装于第一机座12。
由此,可实现三层的运动机构的均衡搭配,使得三层测试总成2的第二运动机构22的动力端和从动端均衡地分布,从而很好地控制三层测试总成2的飞针测试机100的重心问题,控制重心位于飞针测试机100的几何中心,以在飞针测试机100进行高速高频动作的过程中,可以保持飞针测试机100的稳定性。
在一些实施例中,在测试总成2为沿竖向依次分布的四层时,位于上下两侧的两层测试总成2的运动横梁221对应的第一运动滑轨51安装于第一机座12且第二运动滑轨52安装于第二机座13,位于中间的两层测试总成2的运动横梁221对应的第一运动滑轨51安装于第二机座13且第二运动滑轨52安装于第一机座12。也就是说,位于上下两侧测试总成2的第一运动滑轨51和第二运动滑轨52的布置方式相同,且位于中间的两层测试总成2的第一运动滑轨51和第二运动滑轨52的布置方式相同。
其中,可选地,为了进一步提高飞针测试机100的稳定性,可将第一机座12和第二机座13的材料设置为大理石,相比较相关技术中铸铁、钢材,增加自身重量,同时自身不易因为温度、磁场发生变化,从而提高飞针测试机100的整体性能。
在一些实施例中,运动横梁221的第一端设有第一滑动槽2213,且第一运动滑轨51与第一滑动槽2213滑动配合。其中,如图3、图6所示,运动横梁221的左端设有第一滑动块2212,且第一滑动块2212的中部开设有沿X向延伸的第一滑动槽2213,这样,可将第一运动滑轨51穿设于第一滑动块2212的第一滑动槽2213内,以使第一运动滑轨51与第一滑动块2212滑动配合,从而保证运动横梁221的第一端能够相对于第一运动滑轨51平顺地滑动。
同样地,在运动横梁221的第二端设有第二滑动槽2215,且第二运动滑轨52与第二滑动槽2215滑动配合。其中,如图6所示,运动横梁221的右端设有第二滑动块2214,且第二滑动块2214的中部开设有沿X向延伸的第二滑动槽2215,这样,可将第二运动滑轨52穿设于第二滑动块2214的第二滑动槽2215内,以使第二运动滑轨52与第二滑动块2214滑动配合,从而保证运动横梁221的第二端能够相对于第二运动滑轨52平顺地滑动。
在一些实施例中,第一运动机构21构造为直线电机,且第一驱动件211为定子,且第一传动件212为动子,这样,可通过直线电机驱动运动横梁221滑动。或者第一运动机构21构造为丝杆进给机构,第一驱动件211为驱动电机,第一传动件212为丝杆传动机构,这样,第一驱动件211可通过丝杠传动机构驱动运动横梁221滑动。
在一些实施例中,运动横梁221的第一端设有连接板2216,第一传动件212与连接板2216紧固连接,这样,在第一传动件212移动的过程中,可通过第一传动件212的移动带动连接板2216以带动整个运动横梁221运动,从而实现对运动横梁221的驱动作用,保证运动横梁221以及整个第二运动机构22相对于机架11沿X向运动,实现测试头41在X方向上的位置调节。
在一些实施例中,测试总成2为两层,每层测试总成2中设有两组第二运动机构22,其中,两组第二运动机构22通过同一个第一运动机构21上的第一驱动件211和第一传动件212实现运动配合。其中,在具体地设置中,可将每层测试总成2中的两组第二运动机构22的运动横梁221在两组第一运动机构21的第一驱动件211之间沿X向平行间隔开分布。
如图2所示,在上层的测试总成2中,两个第二运动机构22的两个运动横梁221安装在同一个第一驱动件211上,两个运动横梁221可以独立运动,两个运动横梁221可以紧邻,两个测试头41可以紧邻,这样,两个运动横梁221分别在两个第一传动件212上运动时,能够运动到X方向上的相同的位置处,从而使得该层的两个测试头41测试区域具有一定面积的重合,针对不同测试点分布集中的情况,极大地利用了多测试头41的优势,提高测试效率。
在一些实施例中,如图7所示,第二运动机构22还包括第二驱动件222和第二传动件223,第二驱动件222安装于运动横梁221,第二传动件223与第二驱动件222连接,飞针测试组件4与运动横梁221滑动配合且与第二传动件223配合连接。
其中,飞针测试组件4设有运动滑块42,同时,在运动横梁221上设置有安装导轨3,安装导轨3沿运动横梁221的长度方向延伸,即安装导轨3沿Y方向延伸,运动滑块42滑动安装于安装导轨3,且运动滑块42与第二传动件223连接,这样,在第二驱动件222驱动第二传动件223移动时,第二传动件223能够带动运动滑块42相对于运动横梁221运动,从而实现测试头41在Y方向上的位置调整。
第二驱动件222可设置为直线电机的定子,第二传动件223为直线电机的动子,以在直线电机工作过程中,提供更高的运动能力,提高加速度,能够带动运动滑块42高速高频移动,从而实现对运动滑块42和飞针测试组件4更好的驱动作用,有效提高测试效率和测试精度。
在一些实施例中,如图1、图3所示,测试总成2为两层,且两层测试总成2在竖向依次分布。其中在两层测试总成2中,位于上层的测试总成2对应的第二传动件223和第二驱动件222设于对应的运动横梁221的上方,且位于下层的测试总成2对应的第二传动件223和第二驱动件222设于对应的运动横梁221的下方。
具体如图1、图3中所示,位于上层的测试总成2的运动横梁221对应的第二传动件223和第二驱动件222均安装于该运动横梁221的上方,即其第二传动件223和第二驱动件222占用该运动横梁221的上方的空间;同时位于下层的测试总成2的运动横梁221对应的第二传动件223和第二驱动件222均安装于该运动横梁221的下方,即其第二传动件223和第二驱动件222占用该运动横梁221的下方的空间。也就是说,上下两层的测试总成2互不干涉,减少飞针测试机100的设计难度。
由此,通过上述的对应的第二传动件223和第二驱动件222的设置,可使得上层XYZ轴的Z轴测试头41距离下层XYZ轴的Z轴测试头41更远,即上层XYZ轴的Z轴测试头41与下层XYZ轴的Z轴测试头41之间的空间更大,可以适应更多种电路板200。
在一些实施例中,机架11上还设有传送电路板200的输送装置7,多层测试总成2分别位于输送装置7的上下方,如图2所示,输送装置7可为两个,且两个输送装置7可分别设于靠近第一机座12和第二机座13的位置处,且两个输送装置7共同用于传送电路板200。
可选地,如图3、图6及图8所示,飞针测试机100还包括光栅传感器8,用于定位测试头41的坐标,通过设置光栅传感器8反馈测试头41的实时坐标,实现对测试头41位置的闭环控制,从而进一步提高测试精度。具体地,光栅传感器8为光栅尺,光栅尺为多个,光栅尺安装在第一机座12、第二机座13用于对运动横梁221在X向的坐标进行检测,光栅尺安装在运动横梁221上用于对飞针测试组件4在Y向的坐标进行检测,从而实现对测试头41在XY坐标系上的确定。
可选地,本实用新型一些实施例中,直线电机可以是U型电机,也可以是平板电机等形式,实现对飞针测试组件4的直驱。
本实用新型一些实施例中,如图2所示,飞针测试机100还包括运动拖链装置9,以收束飞针测试机100的导线与管道,避免对工作产生干扰。具体地,运动拖链装置9为多个,多个运动拖链装置9设置在第一机座12、第二机座13及运动横梁221上。
根据本实用新型实施例的飞针测试机100的其他构成以及操作对于本领域普通技术人员而言都是已知的,这里不再详细描述。
在本说明书的描述中,参考术语“实施例”、“示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,本领域的普通技术人员可以理解:在不脱离本实用新型的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (13)

1.一种飞针测试机,其特征在于,包括:机体和至少两层测试总成,所述测试总成包括:
第一运动机构,所述第一运动机构安装于所述机体;
第二运动机构,所述第二运动机构沿X方向可活动地安装于所述第一运动机构,所述第二运动机构安装有沿Y方向可活动的飞针测试组件,且所述飞针测试组件具有沿Z方向可活动的测试头;其中
每层所述测试总成包括至少两组所述第二运动机构,至少两组所述第二运动机构安装于同一个所述第一运动机构,且至少两组所述第二运动机构在所述X方向上的运动区间存在重合区域。
2.根据权利要求1所述的飞针测试机,其特征在于,所述第一运动机构包括第一驱动件和第一传动件,所述第一传动件至少两个,所述第二运动机构包括运动横梁,所述运动横梁与所述第一传动件一一对应,所述运动横梁与所述第一传动件配合连接;其中,
同一层所述测试总成上,至少两组所述第一传动件分别驱动对应的所述运动横梁在X方向上相对靠近或远离,且至少部分运动区间在X方向上重合。
3.根据权利要求2所述的飞针测试机,其特征在于,所述运动横梁的第一端通过第一运动滑轨与所述机体滑动配合,所述运动横梁的第二端通过第二运动滑轨与所述机体滑动配合,且所述运动横梁的第一端连接所述第一传动件。
4.根据权利要求3所述的飞针测试机,其特征在于,所述机体包括机架、第一机座和第二机座,所述第一机座和所述第二机座安装于所述机架彼此正对的两侧,所述第一运动滑轨和所述第二运动滑轨中的一个安装于所述第一机座,且另一个安装于所述第二机座。
5.根据权利要求4所述的飞针测试机,其特征在于,至少两层所述测试总成在竖向间隔分布;其中
相邻的两层所述测试总成中,位于上层的所述测试总成对应的所述第一运动机构和位于下层的所述测试总成对应的所述第一运动机构中的一个安装于所述第一机座,且另一个安装于所述第二机座。
6.根据权利要求4所述的飞针测试机,其特征在于,所述第一机座和所述第二机座的材料为大理石。
7.根据权利要求3所述的飞针测试机,其特征在于,
所述运动横梁的第一端设有第一滑动槽,且所述第一运动滑轨与所述第一滑动槽滑动配合;
所述运动横梁的第二端设有第二滑动槽,且所述第二运动滑轨与所述第二滑动槽滑动配合。
8.根据权利要求2所述的飞针测试机,其特征在于,所述第一运动机构为直线电机,所述第一驱动件为定子,所述第一传动件为动子。
9.根据权利要求8所述的飞针测试机,其特征在于,两组所述第二运动机构的运动横梁在两组所述第一运动机构之间沿X向平行间隔开分布。
10.根据权利要求2所述的飞针测试机,其特征在于,所述第二运动机构还包括第二驱动件和第二传动件,所述第二传动件与所述第二驱动件连接,所述飞针测试组件与所述运动横梁滑动配合且与所述第二传动件配合连接。
11.根据权利要求10所述的飞针测试机,其特征在于,所述测试总成为两层,两层所述测试总成在竖向间隔分布;其中
位于上层的所述测试总成对应的所述第二传动件和所述第二驱动件设于对应的所述运动横梁的上方,且位于下层的所述测试总成对应的所述第二传动件和所述第二驱动件设于对应的所述运动横梁的下方。
12.根据权利要求4所述的飞针测试机,其特征在于,所述机架上还设有用于传送电路板的输送装置,所述输送装置的上下方均设有所述测试总成。
13.根据权利要求1至12任一项所述的飞针测试机,其特征在于,还包括光栅传感器,以定位所述测试头的坐标。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114942381A (zh) * 2022-07-21 2022-08-26 深圳市东方宇之光科技股份有限公司 基于悬臂式结构测试电路板的飞针测试机及测试方法

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