CN216937178U - 一种新型光源检测分类装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开一种新型光源检测分类装置,包括相互配合设置的上料装置、光源旋转调整装置、远场近场光源检测装置、光源同轴度检测装置;上料装置设有工作台、料盘、X向移动装置、Y向移动装置、Z向移动装置、Z向第一气爪、Z向第二气爪;横轴移动装置设于上料装置一侧,包括移动导轨;光源旋转调整装置包括直线移动模组、旋转马达、弧度台、顶针气缸、连接块、顶针、气动夹盘;远场近场光源检测装置包括支撑杆、近场靶位、近场观察相机、45°折射棱镜、水准仪、远场观察相机、远场靶位。本实用新型可通过上料机构自动上下料,而且可以自动调节光源水平度并且可以旋转任意角度,光源视觉部分则通过相机来检测光源质量。

Description

一种新型光源检测分类装置
技术领域
本实用新型涉及光源自动检测技术领域,具体为一种新型光源检测分类装置。
背景技术
自动化技术作为工业生产的主力军,随着工业技术的发展,自动化检测技术日益成熟,现有的光源检测还大都是靠人工肉眼观察,增加了工人数量的同时还限制了速度和精度,从而直接影响了工厂的效率和利益,同时也难以达到工业产品的标准化。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种新型光源检测分类装置,通过上料机构自动上下料,而且可以自动调节光源水平度并且可以旋转任意角度,光源视觉部分则通过相机来检测光源质量。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
一种新型光源检测分类装置,包括相互配合设置的上料装置、光源旋转调整装置、远场近场光源检测装置、光源同轴度检测装置;所述的上料装置设有工作台、料盘、X向移动装置、Y向移动装置、Z向移动装置、Z向第一气爪、Z向第二气爪,所述的料盘、X向移动装置分别固定在工作台上,所述的Y向移动装置可移动连接在X向移动装置上,所述的Z向移动装置固定在Y向移动装置上,所述的Z向第一气爪、Z向第二气爪分别固定在Z向移动装置移动端上;所述的横轴移动装置设于上料装置一侧,包括移动导轨,所述的移动导轨一端贴紧上料装置工作台;所述的光源旋转调整装置包括直线移动模组、旋转马达、弧度台、顶针气缸、连接块、顶针、气动夹盘,所述的直线移动模组与移动导轨可移动连接,所述的旋转马达固定在直线移动模组上,所述的弧度台包括相互之间通过圆弧面接触固定的底台、顶台并设有调整马达,所述的底台与旋转马达旋转部固定连接,所述的顶台上设有顶针气缸,所述的顶针气缸伸出杆上设有连接块、顶针,所述的气动夹盘固定在顶台顶部,所述的气动夹盘设有针阀气缸、夹台、光轴导柱、夹台复位弹簧;所述的远场近场光源检测装置包括支撑杆、设置在支撑杆上底部位置的近场靶位、近场观察相机、45°折射棱镜、设置在支撑杆上中部位置的水准仪、设置在支撑杆上部位置的远场观察相机、远场靶位;所述的光源同轴度检测装置设于移动导轨远离上料装置工作台一端,所述的光源同轴度检测装置包括支撑架,所述的支撑架由低到高设有45°棱镜及调节座、透镜及透镜座、标靶、同轴光斑检测相机及调整座。
作为本实用新型优选的方案,所述的Z向移动装置包括伺服电机、丝杠传动装置,所述的Z向第一气爪、Z向第二气爪通过缓冲滑轨与丝杠传动装置连接。缓冲滑轨能有效减轻外界对Z轴执行端的冲击。
作为本实用新型优选的方案,所述的料盘包括待检测料盘、A级标准料盘、B级标准料盘、不合格品料盘。
作为本实用新型优选的方案,所述的Z向第一气爪设有伸缩气缸。
作为本实用新型优选的方案,所述的顶针气缸连接块连接电源负极,所述的气动夹盘连接电源正极。顶针气缸连接块、顶针均为黄铜且相互连通,有较好的导电性,连接块连接电源,顶针用于与待测光源零件电连接。
作为本实用新型优选的方案,所述的上料装置、光源旋转调整装置、远场近场光源检测装置、光源同轴度检测装置设于检测平台上。
本方案产品连接控制系统;预先按照指定位置人工放置料盘,包括待检测料盘、A级标准料盘、B级标准料盘、不合格品料盘,三轴上料装置通过X向移动装置、Y向移动装置移动到指定的坐标位置,Z向移动装置向下移动一段距离,再用Z向第一气爪按顺序依次从待检测料盘将光源零件夹到气动夹盘上,光源零件到达夹盘后,针阀气缸动作,带动夹台沿光轴导柱夹紧光源零件,接着顶针气缸动作,带动连接在一起的连接块和顶针一起动作,顶针气缸连接块连接光源零件并连接负极,气动夹盘装置连接光源零件并连接电源正级,这样形成通路,光源零件通电发光,进行后续检测,完成检测后,针阀气缸缩回,夹台随夹台复位弹簧复位,用Z向第二气爪将检测完成的光源零件夹持并按结果放置到A级标准料盘或B级标准料盘或不合格品料盘;
弧度台是一种现有水平调整装置,可通过调整马达调整顶台在两坐标方向的弧度(1-7°),以保持光源零件水平,检测时,弧度台首先动作,调节角度,来弥补装置装配误差和零件上料夹持位置的误差,调整完后光斑就可打到近场靶位上,近场观察相机可通过预先设置的阈值来判断近场光斑是否符合标准,同时45°棱镜将光斑折射到水准仪中(水准仪为7米水准仪,从水准仪出来的光源相当于传播了7米),从水准仪射出的光源打到远场靶位上,远场观察相机判断远场线质量,线宽,对光源进行分类、对符合要求的光源进行分级处理,光源旋转调整装置通过下面的旋转马达可旋转360度,从而可以检测光源各个角度的光斑质量;
当远近场检测完后,直线移动模组动作将光源旋转调整装置移动到光源同轴度检测装置正下方,此时被检测零件的发光源通过四周的四个45度棱镜折射到透镜座,通过透镜座的光源将会打到顶部的标靶纸张,标靶纸张上的井子形状的光斑作为检测光斑同轴的光斑,同轴光斑检测相机将预先设置好的光源阈值作为标准,将模组进行分类,同样旋转马达可旋转360度,检测各个方向的同轴度。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:可通过上料机构自动上下料,而且可以自动调节光源水平度并且可以旋转任意角度,光源视觉部分则通过相机来检测光源质量。
附图说明
图1为本实用新型的一种结构示意图。
图2为本实用新型上料装置的一种结构示意图。
图3为本实用新型光源旋转调整装置的一种结构示意图。
图4为本实用新型气动夹盘的一种俯视结构示意图。
图5为本实用新型远场近场光源检测装置的一种结构示意图。
图6为本实用新型光源同轴度检测装置的一种结构示意图。
图7为本实用新型同轴光斑检测相机的一种安装结构示意图。
图中:1、上料装置 2、横轴移动装置 3、光源旋转调整装置
4、远场近场光源检测装置 5、光源同轴度检测装置
6、检测平台 11、工作台 12、料盘 13、X向移动装置
14、Y向移动装置 15、Z向移动装置 16、Z向第一气爪
17、Z向第二气爪 18、缓冲滑轨 21、移动导轨
31、直线移动模组 32、旋转马达 33、弧度台
34、顶针气缸 35、连接块 36、顶针 37、气动夹盘
41、支撑杆 42、近场靶位 43、近场观察相机
44、45°折射棱镜 45、水准仪 46、远场观察相机
47、远场靶位 51、支撑架 52、45°棱镜 53、透镜
54、标靶 55、同轴光斑检测相机 371、针阀气缸
372、夹台 373、光轴导柱 374、夹台复位弹簧。
具体实施方式
为了便于理解本实用新型,下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述,给出了本实用新型的若干实施例,但是,本实用新型可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例,相反地,提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容更加透彻全面。
需要说明的是,当元件被称为“固设于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件,当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件,本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
请参阅图1-7,本实用新型提供一种技术方案:
一种新型光源检测分类装置,包括相互配合设置的上料装置1、横轴移动装置2、光源旋转调整装置3、远场近场光源检测装置4、光源同轴度检测装置5;上料装置1设有工作台11、料盘12、X向移动装置13、Y向移动装置14、Z向移动装置15、Z向第一气爪16、Z向第二气爪17,料盘12、X向移动装置13分别固定在工作台11上,Y向移动装置14可移动连接在X向移动装置13上,Z向移动装置15固定在Y向移动装置14上,Z向第一气爪16、Z向第二气爪17分别固定在Z向移动装置15移动端上;横轴移动装置2设于上料装置1一侧,包括移动导轨21,移动导轨21一端贴紧上料装置1工作台11;光源旋转调整装置3包括直线移动模组31、旋转马达32、弧度台33、顶针气缸34、连接块35、顶针36、气动夹盘37,直线移动模组31与移动导轨21可移动连接,旋转马达32固定在直线移动模组31上,弧度台33包括相互之间通过圆弧面接触固定的底台、顶台并设有调整马达,底台与旋转马达32旋转部固定连接,顶台上设有顶针气缸34,顶针气缸34伸出杆上设有连接块35、顶针36,气动夹盘37固定在顶台顶部,气动夹盘37设有针阀气缸371、夹台372、光轴导柱373、夹台复位弹簧374;远场近场光源检测装置4包括支撑杆41、设置在支撑杆41上底部位置的近场靶位42、近场观察相机43、45°折射棱镜44、设置在支撑杆41上中部位置的水准仪45、设置在支撑杆41上部位置的远场观察相机46、远场靶位47;光源同轴度检测装置5设于移动导轨21远离上料装置1工作台11一端,光源同轴度检测装置5包括支撑架51,支撑架51由低到高设有45°棱镜52及调节座、透镜53及透镜座、标靶54、同轴光斑检测相机55及调整座。
Z向移动装置15包括伺服电机、丝杠传动装置,Z向第一气爪16、Z向第二气爪17通过缓冲滑轨18与丝杠传动装置连接。
料盘12包括待检测料盘、A级标准料盘、B级标准料盘、不合格品料盘。
Z向第一气爪16设有伸缩气缸。
顶针气缸34连接块35连接电源负极,气动夹盘37连接电源正极。
上料装置1、横轴移动装置2、光源旋转调整装置3、远场近场光源检测装置4、光源同轴度检测装置5设于检测平台6上。
本实用新型具体使用过程:
先按照指定位置人工放置料盘12,包括待检测料盘、A级标准料盘、B级标准料盘、不合格品料盘,三轴上料装置1通过X向移动装置13、Y向移动装置14移动到指定的坐标位置,Z向移动装置15向下移动一段距离,再用Z向第一气爪16按顺序依次从待检测料盘将光源零件夹到气动夹盘37上,光源零件到达气动夹盘37后,针阀气缸371动作,带动夹台372沿光轴导柱373夹紧光源零件,接着顶针气缸34动作,带动连接在一起的连接块35和顶针36一起动作,顶针气缸34连接块35连接光源零件并连接负极,气动夹盘37装置连接光源零件并连接电源正级,这样形成通路,光源零件通电发光,进行后续检测,完成检测后,针阀气缸371缩回,夹台372随夹台复位弹簧374复位,用Z向第二气爪17将检测完成的光源零件夹持并按结果放置到A级标准料盘或B级标准料盘或不合格品料盘;
检测时,弧度台33首先动作,调节角度,来弥补装置装配误差和零件上料夹持位置的误差,调整完后待检测光源零件发出的光斑就可打到近场靶位42上,近场观察相机43可通过预先设置的阈值来判断近场光斑是否符合标准,同时45°折射棱镜44将光斑折射到水准仪45中(水准仪为7米水准仪,从水准仪出来的光源相当于传播了7米),从水准仪45射出的光源打到远场靶位47上,远场观察相机46判断远场线质量,线宽,对光源进行分类、对符合要求的光源进行分级处理,光源旋转调整装置3通过下面的旋转马达32可旋转360度,从而可以检测光源各个角度的光斑质量;
当远近场检测完后,直线移动模组31动作将光源旋转调整装置3沿移动导轨21移动到光源同轴度检测装置5正下方,此时被检测零件的发光源通过四周的四个45度棱镜52折射到透镜53,通过透镜53的光源将会打到顶部的标靶54纸张,标靶54纸张上的井字形状的光斑作为检测光斑同轴的光斑,同轴光斑检测相机55将预先设置好的光源阈值作为标准,将模组进行分类,同样旋转马达32可旋转360度,检测各个方向的同轴度。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种新型光源检测分类装置,其特征在于:包括相互配合设置的上料装置、横轴移动装置、光源旋转调整装置、远场近场光源检测装置、光源同轴度检测装置;
所述的上料装置设有工作台、料盘、X向移动装置、Y向移动装置、Z向移动装置、Z向第一气爪、Z向第二气爪,所述的料盘、X向移动装置分别固定在工作台上,所述的Y向移动装置可移动连接在X向移动装置上,所述的Z向移动装置固定在Y向移动装置上,所述的Z向第一气爪、Z向第二气爪分别固定在Z向移动装置移动端上;
所述的横轴移动装置设于上料装置一侧,包括移动导轨,所述的移动导轨一端贴紧上料装置工作台;
所述的光源旋转调整装置包括直线移动模组、旋转马达、弧度台、顶针气缸、连接块、顶针、气动夹盘,所述的直线移动模组与移动导轨可移动连接,所述的旋转马达固定在直线移动模组上,所述的弧度台包括相互之间通过圆弧面接触固定的底台、顶台并设有调整马达,所述的底台与旋转马达旋转部固定连接,所述的顶台上设有顶针气缸,所述的顶针气缸伸出杆上设有连接块、顶针,所述的气动夹盘固定在顶台顶部,所述的气动夹盘设有针阀气缸、夹台、光轴导柱、夹台复位弹簧;
所述的远场近场光源检测装置包括支撑杆、设置在支撑杆上底部位置的近场靶位、近场观察相机、45°折射棱镜、设置在支撑杆上中部位置的水准仪、设置在支撑杆上部位置的远场观察相机、远场靶位;
所述的光源同轴度检测装置设于移动导轨远离上料装置工作台一端,所述的光源同轴度检测装置包括支撑架,所述的支撑架由低到高设有45°棱镜及调节座、透镜及透镜座、标靶、同轴光斑检测相机及调整座。
2.根据权利要求1所述的一种新型光源检测分类装置,其特征在于:所述的Z向移动装置包括伺服电机、丝杠传动装置,所述的Z向第一气爪、Z向第二气爪通过缓冲滑轨与丝杠传动装置连接。
3.根据权利要求1所述的一种新型光源检测分类装置,其特征在于:所述的料盘包括待检测料盘、A级标准料盘、B级标准料盘、不合格品料盘。
4.根据权利要求1或2所述的一种新型光源检测分类装置,其特征在于:所述的Z向第一气爪设有伸缩气缸。
5.根据权利要求1所述的一种新型光源检测分类装置,其特征在于:所述的顶针气缸连接块连接电源负极,所述的气动夹盘连接电源正极。
6.根据权利要求1所述的一种新型光源检测分类装置,其特征在于:所述的上料装置、光源旋转调整装置、远场近场光源检测装置、光源同轴度检测装置设于检测平台上。
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