CN216815756U - 液晶光学片检测系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及光学技术领域，公开一种液晶光学片检测系统，以快速地检测液晶光学片在不同电压、不同波长所对应的相位延迟量。系统包括：广谱光源；处于第一线性偏振片与第二线性偏振片之间用于旋转被测的液晶光学片分别定位到光强最大值和光强最小值的支架；用于对第二线性偏振片出射的光束进行分析的光谱仪；控制主机，用于根据第一线性偏振片与第二线性偏振片之间的夹角并结合相应的光谱数据得到液晶光学片对各波长和各电压所一一对应的相位延迟量；其中，液晶光学片的两边连接有电压发生器，电压发生器与控制主机连接，以根据控制主机所设置的参数进行液晶光学片对各波长和各电压所一一对应的相位延迟量的测试过程中电压幅值的自动切换。
Description
技术领域
本实用新型涉及光学技术领域，尤其涉及一种液晶光学片检测系统。
背景技术
部分液晶光学片，例如液晶波片，是一种新型的可控相位延迟器。通过控制加在液晶两边的电压，可以改变液晶的双折射系数，从而改变通过液晶波片光的相位差。其中，未加电压情况下，液晶分子的取向由取向膜决定。
在液晶光学片的研制和生产过程中，需要对液晶光学片样品的相位延迟量进行检测，而如何快速地检测液晶光学片在不同电压、不同波长所对应的相位延迟量则成为研究的热点。
实用新型内容
本实用新型目的在于公开一种液晶光学片检测系统，以快速地检测液晶光学片在不同电压、不同波长所对应的相位延迟量。
为达上述目的，本实用新型公开的系统包括：
广谱光源；
第一线性偏振片；
第二线性偏振片；
处于所述第一线性偏振片与所述第二线性偏振片之间用于固定被测的不具分光能力的液晶光学片的支架，用于旋转被测的所述液晶光学片分别定位到光强最大值和光强最小值；
光谱仪，用于对所述第二线性偏振片出射的光束进行分光、感光测量各波长光的强度后得到相对应的光谱图；
控制主机，用于根据所述第一线性偏振片与所述第二线性偏振片之间的夹角并结合从所述光谱仪所调取的所述液晶光学片分别定位到光强最大值和光强最小值所对应的对比光谱数据得到所述液晶光学片对各波长和各电压所一一对应的相位延迟量；
其中，所述液晶光学片的两边连接有电压发生器，所述电压发生器与所述控制主机连接，以根据所述控制主机所设置的参数进行所述液晶光学片对各波长和各电压所一一对应的相位延迟量的测试过程中电压幅值的自动切换。
可选地，所述液晶光学片为波片。
优选地，所述支架采用能对所述液晶光学片在光路垂直平面内的二维坐标进行位移的位移台；所述位移台的位移驱动器与所述控制主机建立数据通道以根据所述控制主机设置的参数进行相应的位移。
作为一种延伸，本实用新型上述液晶光学片可被替换为能旋转相对角度的至少两个所述液晶光学片组成的液晶光学组件。
本实用新型具有以下有益效果：
结构简单实用，操作便捷，在光强最大值的测试环境下，可自动测量不同电压所对应的光谱数据，同理，在旋转到光强最小值的测试环境下，也能自动测量不同电压所对应的光谱数据；然后根据所述第一线性偏振片与所述第二线性偏振片之间的夹角并结合从所述光谱仪所调取的所述液晶光学片分别定位到光强最大值和光强最小值所对应的对比光谱数据得到所述液晶光学片对各波长和各电压所一一对应的相位延迟量。而且，当所述第一线性偏振片与第二线性偏振片的方向一致时，还可以进一步简化相位延迟量的计算过程。
下面将参照附图，对本实用新型作进一步详细的说明。
附图说明
构成本申请的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：
图1是本实用新型实施例公开的液晶光学片检测系统框架结构图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的实施例进行详细说明，但是本实用新型可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。
实施例1
本实用新型实施例公开一种液晶光学片检测系统，如图1所示，包括：
广谱光源1。
第一线性偏振片2。
第二线性偏振片4。
处于所述第一线性偏振片与所述第二线性偏振片之间用于固定被测的不具分光能力的液晶光学片3的支架，用于旋转被测的所述液晶光学片分别定位到光强最大值和光强最小值。
光谱仪5，用于对所述第二线性偏振片出射的光束进行分光、感光测量各波长光的强度后得到相对应的光谱图。
控制主机6，用于根据所述第一线性偏振片与所述第二线性偏振片之间的夹角并结合从所述光谱仪所调取的所述液晶光学片分别定位到光强最大值和光强最小值所对应的对比光谱数据得到所述液晶光学片对各波长和各电压所一一对应的相位延迟量。其测量原理与现有的旋转波片法测液晶波片的原理一致，不做赘述。
本实施例中，所述液晶光学片的两边连接有电压发生器7，所述电压发生器与所述控制主机连接，以根据所述控制主机所设置的参数进行所述液晶光学片对各波长和各电压所一一对应的相位延迟量的测试过程中电压幅值的自动切换。
优选地，本实施例的液晶光学片为波片。
优选地，本实施例所述支架采用能对所述液晶光学片在光路垂直平面内的二维坐标进行位移的位移台；所述位移台的位移驱动器与所述控制主机建立数据通道以根据所述控制主机设置的参数进行相应的位移。通过位移台的位移可切换调整光斑所映射的具体检测区域。
优选地，所述第一线性偏振片与第二线性偏振片的方向一致。在任一电压下，其对应的延迟量的计算公式为：
其中，
为相位延迟角，Imax为光强最大值测试环境下所得到的光强值，Imin为光强最小值测试环境下所得到的光强值，且配对的Imax与Imin为同一波长对应同一电压下的对比数据。
实施例2
本实施例作为上述实施例1的一种延伸，将上述实施例中所述液晶光学片替换为能旋转相对角度的至少两个所述液晶光学片组成的液晶光学组件。以此测量该液晶光学组件对各波长和各电压所一一对应的相位延迟量的变化。其原理与实施例1类似，不做赘述。
综上，本实用新型所公开的液晶光学片检测系统，结构简单实用，操作便捷，在光强最大值的测试环境下，可自动测量不同电压所对应的光谱数据；同理，在旋转到光强最小值的测试环境下，也能自动测量不同电压所对应的光谱数据；然后根据所述第一线性偏振片与所述第二线性偏振片之间的夹角并结合从所述光谱仪所调取的所述液晶光学片分别定位到光强最大值和光强最小值所对应的对比光谱数据得到所述液晶光学片对各波长和各电压所一一对应的相位延迟量。而且，当所述第一线性偏振片与第二线性偏振片的方向一致时，还可以进一步简化相位延迟量的计算过程。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种液晶光学片检测系统，其特征在于，包括：
广谱光源；
第一线性偏振片；
第二线性偏振片；
处于所述第一线性偏振片与所述第二线性偏振片之间用于固定被测的不具分光能力的液晶光学片的支架，用于旋转被测的所述液晶光学片分别定位到光强最大值和光强最小值；
光谱仪，用于对所述第二线性偏振片出射的光束进行分光、感光测量各波长光的强度后得到相对应的光谱图；
控制主机，用于根据所述第一线性偏振片与所述第二线性偏振片之间的夹角并结合从所述光谱仪所调取的所述液晶光学片分别定位到光强最大值和光强最小值所对应的对比光谱数据得到所述液晶光学片对各波长和各电压所一一对应的相位延迟量；
其中，所述液晶光学片的两边连接有电压发生器，所述电压发生器与所述控制主机连接，以根据所述控制主机所设置的参数进行所述液晶光学片对各波长和各电压所一一对应的相位延迟量的测试过程中电压幅值的自动切换。
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述液晶光学片为波片。
3.根据权利要求1或2所述的系统，其特征在于，所述支架采用能对所述液晶光学片在光路垂直平面内的二维坐标进行位移的位移台；所述位移台的位移驱动器与所述控制主机建立数据通道以根据所述控制主机设置的参数进行相应的位移。
4.根据权利要求1或2所述的系统，其特征在于，所述第一线性偏振片与第二线性偏振片的方向一致。
5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述液晶光学片被替换为能旋转相对角度的至少两个所述液晶光学片组成的液晶光学组件。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202123341518.6U CN216815756U (zh) | 2021-12-28 | 2021-12-28 | 液晶光学片检测系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202123341518.6U CN216815756U (zh) | 2021-12-28 | 2021-12-28 | 液晶光学片检测系统 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN216815756U true CN216815756U (zh) | 2022-06-24 |
Family
ID=82055927
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202123341518.6U Active CN216815756U (zh) | 2021-12-28 | 2021-12-28 | 液晶光学片检测系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN216815756U (zh) |
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2021
- 2021-12-28 CN CN202123341518.6U patent/CN216815756U/zh active Active
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