CN216771899U - Norflash性能测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种Norflash性能测试装置，包括：适配于测试机台的测试机输出端口，测试机输出端口上配置有包括多个channel引脚的第一插槽和包括多个relay引脚的第二插槽，且第一插槽中channel引脚的数量至少大于同时测试两颗Norflash芯片时channel引脚的需求数量；channel输出件，一端与第一插槽适配连接，另一端包括多个channel端口，每个channel端口至少与第一插槽中的一个channel引脚连接；relay输出件，一端与第二插槽适配连接，另一端包括多个relay端口，每个relay端口至少与第二插槽中的一个relay引脚连接。其通过channel输出件和relay输出件将测试机输出端口上原本配置的第一插槽和第二插槽中的功能性引脚分接出来，增加一次性同时测试的site数量，提高测试效率的同时大大提高了资源的利用率。

Description

Norflash性能测试装置

技术领域

本实用新型涉及测试设备技术领域，尤指一种Norflash性能测试装置。

背景技术

Norflash是一种非易失散存器，在出厂之前均需对其进行测试，不同测试机台的测试效率存在差异，但普遍会存在测试效率低下等问题。例如，对于常用的S50测试机台(由台湾久元电子生产)来说，通过配置的测试板对Norflash芯片进行最终测试(Final Test，简称FT)。但是，由于机台插座的限制，如图1所示，一块测试板对应的测试板配置有2个68引脚(pin)插槽和1个50pin插槽，一块测试板一次只能对1颗Norflash芯片进行测试(单site测试，对应图示中的site1)，即便测试机台配满4块测试板一次性最多也只能同时测试4颗Norflash芯片(4site同测)，效率不高。此外，通常来说，1颗Norflash芯片在测试过程中仅使用到68pin插槽中的7个channel引脚和50pin插槽中的1个relay引脚，其他引脚并未得到利用，造成了资源浪费。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种Norflash性能测试装置，有效解决现有测试装置测试效率低及资源浪费的技术问题。

本实用新型提供的技术方案如下：

一种Norflash性能测试装置，包括：

配置于测试机台上的多个测试机输出端口，每个所述测试机输出端口上配置有包括多个channel引脚的第一插槽和包括多个relay引脚的第二插槽，且所述第一插槽中channel引脚的数量至少大于同时测试两颗Norflash芯片时channel引脚的需求数量；

channel输出件，一端与所述第一插槽适配连接，另一端包括多个channel端口，每个所述channel端口至少与所述第一插槽中的一个channel引脚连接，每个channel端口对应测试一颗Norflash芯片；

relay输出件，一端与所述第二插槽适配连接，另一端包括多个relay端口，每个所述relay端口至少与所述第二插槽中的一个relay引脚连接，每个relay端口对应测试一颗Norflash芯片。

本实用新型提供的Norflash性能测试装置，通过channel输出件和relay输出件将测试机输出端口上原本配置的第一插槽和第二插槽中的功能性引脚分接出来，增加一次性同时测试的site数量，提高测试效率，同时大大提高了资源的利用率，节约了硬件投入成本。

附图说明

下面将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施例，对上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。

图1为现有技术Norflash性能测试装置结构示意图；

图2为本实用新型中Norflash性能测试装置一实施例结构示意图；

图3为本实用新型中Norflash性能测试装置另一实施例结构示意图。

附图标号说明：

10-测试机输出端口，11-第一插槽，12-第二插槽，20-channel输出件，30-relay输出件。

具体实施方式

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本实用新型的具体实施例。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施例。

本实用新型的第一种实施例，一种Norflash性能测试装置，如图2所示，包括：

配置于测试机台上的多个测试机输出端口10，每个测试机输出端口10上配置有包括多个channel引脚的第一插槽11和包括多个relay引脚的第二插槽12，且第一插槽11中channel引脚的数量至少大于同时测试两颗Norflash芯片时channel引脚的需求数量；

channel输出件20，一端与第一插槽11适配连接，另一端包括多个channel端口(如图示中的channel端口1、…、channel端口n)，每个channel端口至少与第一插槽11中的一个channel引脚连接，每个channel端口对应测试一颗Norflash芯片；

relay输出件30，一端与第二插槽12适配连接，另一端包括多个relay端口(如图示中的relay端口1、…、relay端口n)，每个relay端口至少与第二插槽12中的一个relay引脚连接，每个relay端口对应测试一颗Norflash芯片。

在本实施例中，测试机输出端口10具体为测试机台配置的用于对Norflash芯片进行测试的板，测试机台不同，配置的测试机输出端口10的数量也不同。为实现对Norflash芯片性能的测试，在测试机输出端口10上配置插槽，为芯片供电及提供测试信号，针对测试机输出端口10来说同测最大的site数量(芯片颗数)即为配置的测试机输出端口10的数量。例如，S50测试机台配置有4个测试机输出端口10，在直接使用测试机输出端口10对Norflash芯片进行性能测试时，每个测试机输出端口10上配置的第一插槽11和第二插槽12只能进行单site测试，即该机台最多只能同测4site，效率较低且浪费插槽资源(通常第一插槽11中channel引脚的数量至少大于同时测试两颗Norflash芯片甚至更多时channel引脚的需求数量)。

为解决这一问题，本实用新型针对测试机输出端口10上配置的第一插槽11和第二插槽12，设计并配置channel输出件20和relay输出件30，将第一插槽11内配置的channel引脚拆分开连接至不同的channel端口，及将第二插槽12内配置的relay引脚拆分开连接至不同的relay端口，且第一插槽11中的一个channel引脚仅连接至一个channel端口，第二插槽12中的一个relay引脚仅连接至一个relay端口，这样，在进行芯片测试时，只需通过由一个channel端口和一个relay端口形成的测试通道就能实现单颗芯片的测试，从而增加了同测site数量，且能够避免单颗测试中对第一插槽11和第二插槽12未使用到的引脚的资源浪费。

在本实施例提供的Norflash性能测试装置中，要求channel输出件20中的每个channel端口对应测试一颗Norflash芯片，relay输出件30中的每个relay端口对应测试一颗Norflash芯片，即一个channel端口和一个relay端口配套形成一路测试通道(为形成测试通道，relay输出件30中relay端口的数量不少于channel输出件20中channel端口的数量)对一颗Norflash芯片进行测试，故只要channel端口连接的channel引脚数量和relay端口连接的relay引脚的数量能够满足测试需求即可，这里对其具体连接的引脚数量不做具体限定。

对于channel输出件20和relay输出件30来说，需要从一个端口中分出多个端口，为了能够更好的实现这一目的，实际应用中，可配置channel输出件20和relay输出件30的两端之间通过缆线连接，channel输出件20中缆线的一端为与第一插槽11适配的端口，另一端为缆线分出的多个channel端口；relay输出件30中缆线的一端为与第二插槽12适配的端口，另一端为缆线分出的多个relay端口。另外，为了实现测试，将接出的channel输出件20和relay输出件30固定于一测试板(每个测试机输出端口10对应配置一个块测试板)上，对应标识出由channel端口和relay端口形成的不同测试通道即可。

为了实现资源的最大化利用，在另一实施例中，channel输出件20中每个channel端口连接第一插槽11中channel引脚的数量与单颗Norflash的channel引脚数量适配；在relay输出件30中，每个relay端口连接第二插槽12中relay端口的数量与单颗Norflash的relay端口数量适配，以配置更多数量的channel端口和relay端口，实现更高效的多site同测。例如，假定测试每颗Norflash芯片需要7个channel引脚和1个relay引脚，则配置每个channel端口与第一插槽11中的7个channel引脚连接，配置每个relay端口与第二插槽12中的1个relay引脚连接。

对上述实施例进行改进得到本实施例，在本实施例中，测试机输出端口10上配置多个第一插槽11，Norflash性能测试装置对应配置相应数量的channel输出件20，每个channel输出件20适配连接一个第一插槽11；relay输出件30中relay端口的数量不少于多个channel输出件20中channel端口的数量总和。

在本实施例中，当测试机输出端口10中配置有多个第一插槽11，则对应配置多个channel输出件20，每个channel输出件20与一个第一插槽11对应连接，将对应第一插槽11中的channel引脚拆分接至不同的channel端口中，并基于配置的channel端口的总数对应配置相应数量的relay端口即可实现目的。例如，当测试机输出端口10表面配置有2个第一插槽11，则对应配置两个channel输出件20，分别与两个第一插槽11连接，充分利用两个第一插槽11中的channel引脚，通过relay输出件30引出相应数量的relay端口即可。

在实际应用中，测试每颗Norflash芯片需要7个channel引脚和1个relay引脚，S50测试机台的每个测试机输出端口配置有2个第一插槽和一个第二插槽，其中，第一插槽为68引脚插槽，且68个引脚中包括32个channel引脚；第二插槽为50引脚插槽；采用传统的测试方法一次只能与一个site的测试板连接，进行单site测试(如图1所示)。改进后的本实施例中，在Norflash性能测试装置中配置分别与两个第一插槽适配连接的两个channel输出件，每个channel输出件的一端与第一插槽适配连接，另一端包括至少2个channel端口，每个channel端口至少与第一插槽中的7个channel引脚连接。relay输出件，一端与第二插槽适配连接，另一端包括至少4个relay端口，每个relay端口至少与第二插槽中的一个relay引脚连接，且一个relay端口与一个channel端口对应形成一路测试通道。

在该实施例中，每个channel端口至少与第一插槽中的7个channel引脚连接，确保能够满足Norflash芯片的测试需求，保证第一插槽中的channel引脚不重复连接即可，如，一实例中，每个channel端口与对应第一擦槽中的8个、9个甚至更多个channel引脚连接，当然，由于第一插槽只包括了32个channel引脚，是以，当channel输出件接出两个channel端口时，每个channel端口最多只能与16个channel引脚连接。

为了进一步提高测试效率，如图3所示，在本述实施例中，针对一个配置有2个68引脚插槽(包括channel1～channel32共32个channel引脚)和1个50引脚插槽的测试机输出端口，一个68引脚插槽对应channel输出件分接出4个channel端口，每个channel端口与第一插槽中的至少7个channel引脚连接；relay输出件对应两个第一插槽分接出的channel端口数量适应性的接出8个relay端口，每个relay端口与第二插槽中的至少一个relay引脚连接，且一个relay端口与一个channel端口对应形成一路测试通道。

在本实施例中，针对每个第一插槽通过channel输出件分接出4个channel端口，每个channel端口连接至少7个channel引脚，以此达到最大化同测数量的目的，针对一个测试机输出端口来说，将原来的单site测试，提高到8site同测，大大提高了测试效率，且充分利用了第一插槽的channel引脚。

一实例，一个68pin端口(对应第一插槽)通过缆线对应接出4个Site测试位(即4个channel端口)，Site1～Site4，其中Site1与channel1～channel8连接，Site2与channel9～channel16连接，Site3与channel17～channel24连接，Site4与channel25～channel32连接；另一个68pin端口同样通过缆线对应接出4个Site测试位，Site5～Site8，其中Site5与channel1～channel8连接，Site6与channel9～channel16连接，Site7与channel17～channel24连接，Site8与channel25～channel32连接。相对应的，50pin端口(对应第二插槽)接出8个relay端口，端口A～端口H(relay1～ralay8，+5V电源)，且与8个Site测试位一一对应，Site1与端口A对应、Site2与端口B对应，以此类推。

Claims (7)

1.一种Norflash性能测试装置，其特征在于，包括：

配置于测试机台上的多个测试机输出端口，每个所述测试机输出端口上配置有包括多个channel引脚的第一插槽和包括多个relay引脚的第二插槽，且所述第一插槽中channel引脚的数量至少大于同时测试两颗Norflash芯片时channel引脚的需求数量；

channel输出件，一端与所述第一插槽适配连接，另一端包括多个channel端口，每个所述channel端口至少与所述第一插槽中的一个channel引脚连接，每个channel端口对应测试一颗Norflash芯片；

relay输出件，一端与所述第二插槽适配连接，另一端包括多个relay端口，每个所述relay端口至少与所述第二插槽中的一个relay引脚连接，每个relay端口对应测试一颗Norflash芯片。

2.如权利要求1所述的Norflash性能测试装置，其特征在于，

所述channel输出件中，每个channel端口连接第一插槽中channel引脚的数量与单颗Norflash的channel引脚数量适配；

所述relay输出件中，每个relay端口连接第二插槽中relay端口的数量与单颗Norflash的relay端口数量适配。

3.如权利要求1所述的Norflash性能测试装置，其特征在于，所述relay输出件中relay端口的数量不少于所述channel输出件中channel端口的数量，且一个channel端口与一个relay端口对应形成一路测试通道。

4.如权利要求1或2或3所述的Norflash性能测试装置，其特征在于，所述测试机输出端口配置有多个第一插槽，所述Norflash性能测试装置对应配置相应数量的channel输出件，每个channel输出件适配连接一个第一插槽；

所述relay输出件中relay端口的数量不少于所述多个channel输出件中channel端口的数量总和。

5.如权利要求4所述的Norflash性能测试装置，其特征在于，测试每颗Norflash芯片需要7个channel引脚和1个relay引脚，所述测试机输出端口配置有2个第一插槽和一个第二插槽，其中，第一插槽为68引脚插槽，且68个引脚中包括32个channel引脚；第二插槽为50引脚插槽；

所述Norflash性能测试装置中包括分别与两个所述第一插槽适配连接的两个channel输出件，每个channel输出件的一端与所述第一插槽适配连接，另一端包括至少2个channel端口，每个所述channel端口至少与所述第一插槽中的7个channel引脚连接；

relay输出件，一端与所述第二插槽适配连接，另一端包括至少4个relay端口，每个所述relay端口至少与所述第二插槽中的一个relay引脚连接，且一个relay端口与一个channel端口对应形成一路测试通道。

6.如权利要求5所述的Norflash性能测试装置，其特征在于，

所述Norflash性能测试装置中包括分别与所述第一插槽和一个第二插槽适配连接的两个channel输出件，每个channel输出件的一端与所述第一插槽适配连接，另一端包括4个channel端口，每个所述channel端口至少与所述第一插槽中的7个channel引脚连接；

relay输出件，一端与所述第二插槽适配连接，另一端包括8个relay端口，每个所述relay端口至少与所述第二插槽中的一个relay引脚连接，且一个relay端口与一个channel端口对应形成一路测试通道。

7.如权利要求1或2或3或5或6所述的Norflash性能测试装置，其特征在于，所述channel输出件和relay输出件的两端之间通过缆线连接，所述channel输出件中缆线的一端为与第一插槽适配的端口，另一端为缆线分出的多个channel端口；所述relay输出件中缆线的一端为与第二插槽适配的端口，另一端为缆线分出的多个relay端口。

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