CN216757282U - 一种用于磁芯加工的检测装置 - Google Patents

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杨进
杨娇娇
史孝冬
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Nantong Yueli Magnetic Industry Co ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种用于磁芯加工的检测装置,包括检测框,检测框的内部设置有支撑机构,支撑机构的内部设置有检测机构,支撑机构包括传送带,传送带卡接在检测框的内部,传送带的表面上等距开设有多个圆孔,多个圆孔的底部内壁上均呈环形等距固定连接有多个橡胶块,多个圆孔的内部均卡接有磁芯,本实用新型所达到的有益效果是:通过传送带移动时带动固定板移动,固定板带动弧板移动,当圆孔靠近检测器时,检测器上的固定块与弧板的下表面接触,通过弧板推动固定块下移,固定块带动检测器下移,使检测器与磁芯接触进行检测,当检测的结果为不合格时,启动气缸推动推板下移,通过推板推动劣质磁芯下移,进而将劣质磁芯完全去除。

Description

一种用于磁芯加工的检测装置
技术领域
本实用新型涉及一种检测装置,尤其涉及一种用于磁芯加工的检测装置,属于磁芯加工技术领域。
背景技术
磁芯是指由各种氧化铁混合物组成的一种烧结磁性金属氧化物,锰-锌铁氧体和镍-锌铁氧体是典型的磁芯体材料,锰-锌铁氧体具有高磁导率和高磁通密度的特点,且具有较低损耗的特性,镍-锌铁氧体具有极高的阻抗率、不到几百的低磁导率等特性,铁氧体磁芯用于各种电子设备的线圈和变压器中。
现有的磁芯在生产时需要进行检测,通过检测可将产品中的劣质品剔除,但是现有的磁芯检测均是通过抽样检测进行检查的,这样的检测方式无法对生产的产品完全进行检测,进而会导致产品中已然存在劣质品。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种用于磁芯加工的检测装置。
为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:
设计一种用于磁芯加工的检测装置,包括检测框,所述检测框的内部设置有支撑机构,所述支撑机构的内部设置有检测机构;
所述支撑机构包括传送带,所述传送带卡接在检测框的内部,所述传送带的表面上等距开设有多个圆孔,多个所述圆孔的底部内壁上均呈环形等距固定连接有多个橡胶块,多个所述圆孔的内部均卡接有磁芯,所述传送带的表面上对称固定连接有多个固定板,多个所述固定板的侧壁上均固定连接有弧板;
所述检测机构包括套筒,所述套筒嵌设在检测框的上端内壁上,所述套筒的顶部内壁上固定连接有弹簧,所述弹簧的下端卡接在锥槽内部,所述锥槽开设在检测器的上端,所述检测器的下表面中心处开设有圆槽,所述圆槽的内部固定连接有气缸,所述气缸的下端固定连接有推板,所述检测器的下端外壁上对称固定连接有两个固定块,所述套筒的内壁上对称固定连接有两个限位块。
优选的,多个所述固定板分别位于多个圆孔的两侧。
优选的,两个所述弧板的间距与检测器的直径相同。
优选的,所述检测器的下端设置有用于检测的触点。
优选的,所述弹簧的下端为锥形设置,所述弹簧的下端与锥槽相匹配。
优选的,所述检测器的上端与限位块的间距与弧板至传送带的间距小。
本实用新型提出的一种用于磁芯加工的检测装置,有益效果在于:通过传送带移动时带动固定板移动,固定板带动弧板移动,当圆孔靠近检测器时,检测器上的固定块与弧板的下表面接触,通过弧板推动固定块下移,固定块带动检测器下移,使检测器与磁芯接触进行检测,当检测的结果为不合格时,启动气缸推动推板下移,通过推板推动劣质磁芯下移,进而将劣质磁芯完全去除。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种用于磁芯加工的检测装置结构示意图;
图2为本实用新型提出的一种用于磁芯加工的检测装置的传送带侧视结构示意图;
图3为本实用新型提出的一种用于磁芯加工的检测装置的传送带俯视结构示意图;
图4为本实用新型提出的一种用于磁芯加工的检测装置的检测器结构示意图;
图5为本实用新型提出的一种用于磁芯加工的检测装置的弧板结构示意图。
图中:检测框1、支撑机构2、传送带21、圆孔22、橡胶块23、磁芯24、固定板25、弧板26、检测机构3、套筒31、弹簧32、锥槽33、检测器34、圆槽35、气缸36、推板37、固定块38、限位块39。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。
参照图1-5,一种用于磁芯加工的检测装置,包括检测框1,检测框1的内部设置有支撑机构2,支撑机构2的内部设置有检测机构3;
支撑机构2包括传送带21,传送带21卡接在检测框1的内部,传送带21的表面上等距开设有多个圆孔22,多个圆孔22的底部内壁上均呈环形等距固定连接有多个橡胶块23,多个圆孔22的内部均卡接有磁芯24,传送带21的表面上对称固定连接有多个固定板25,多个固定板25的侧壁上均固定连接有弧板26,将磁芯24卡在圆孔22中,然后通过传送带21带动磁芯24从检测框1中经过,当传送带21移动时带动固定板25移动,固定板25带动弧板26移动;
检测机构3包括套筒31,套筒31嵌设在检测框1的上端内壁上,套筒31的顶部内壁上固定连接有弹簧32,弹簧32的下端卡接在锥槽33内部,锥槽33开设在检测器34的上端,检测器34的下表面中心处开设有圆槽35,圆槽35的内部固定连接有气缸36,气缸36的下端固定连接有推板37,检测器34的下端外壁上对称固定连接有两个固定块38,套筒31的内壁上对称固定连接有两个限位块39,当圆孔22靠近检测器34时,检测器34上的固定块38与弧板26的下表面接触,通过弧板26推动固定块38下移,固定块38带动检测器34下移,使检测器34与磁芯24接触进行检测,当检测的结果为不合格时,启动气缸36推动推板37下移,通过推板37推动劣质磁芯24下移,进而将劣质磁芯24完全去除。
多个固定板25分别位于多个圆孔22的两侧,进而使每个圆口22的两侧均设置有弧板26。
两个弧板26的间距与检测器34的直径相同,进而使弧板26的下表面与检测器34的两侧固定块38相接触。
检测器34的下端设置有用于检测的触点,使检测器34与磁芯24接触时对磁芯24进行检测。
弹簧32的下端为锥形设置,弹簧32的下端与锥槽33相匹配,进而使弹簧32可带动检测器34上移。
检测器34的上端与限位块39的间距与弧板26至传送带21的间距小,进而防止检测器34移动过高导致固定块38无法与弧板26的下表面接触。
工作原理:在使用时,首先将磁芯24卡在圆孔22中,然后通过传送带21带动磁芯24从检测框1中经过,当传送带21移动时带动固定板25移动,固定板25带动弧板26移动,当圆孔22靠近检测器34时,检测器34上的固定块38与弧板26的下表面接触,通过弧板26推动固定块38下移,固定块38带动检测器34下移,使检测器34与磁芯24接触进行检测,当检测的结果为不合格时,启动气缸36推动推板37下移,通过推板37推动劣质磁芯24下移,进而将劣质磁芯24完全去除。
以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种用于磁芯加工的检测装置,包括检测框(1),其特征在于,所述检测框(1)的内部设置有支撑机构(2),所述支撑机构(2)的内部设置有检测机构(3);
所述支撑机构(2)包括传送带(21),所述传送带(21)卡接在检测框(1)的内部,所述传送带(21)的表面上等距开设有多个圆孔(22),多个所述圆孔(22)的底部内壁上均呈环形等距固定连接有多个橡胶块(23),多个所述圆孔(22)的内部均卡接有磁芯(24),所述传送带(21)的表面上对称固定连接有多个固定板(25),多个所述固定板(25)的侧壁上均固定连接有弧板(26);
所述检测机构(3)包括套筒(31),所述套筒(31)嵌设在检测框(1)的上端内壁上,所述套筒(31)的顶部内壁上固定连接有弹簧(32),所述弹簧(32)的下端卡接在锥槽(33)内部,所述锥槽(33)开设在检测器(34)的上端,所述检测器(34)的下表面中心处开设有圆槽(35),所述圆槽(35)的内部固定连接有气缸(36),所述气缸(36)的下端固定连接有推板(37),所述检测器(34)的下端外壁上对称固定连接有两个固定块(38),所述套筒(31)的内壁上对称固定连接有两个限位块(39)。
2.根据权利要求1所述的一种用于磁芯加工的检测装置,其特征在于,多个所述固定板(25)分别位于多个圆孔(22)的两侧。
3.根据权利要求1所述的一种用于磁芯加工的检测装置,其特征在于,两个所述弧板(26)的间距与检测器(34)的直径相同。
4.根据权利要求1所述的一种用于磁芯加工的检测装置,其特征在于,所述检测器(34)的下端设置有用于检测的触点。
5.根据权利要求1所述的一种用于磁芯加工的检测装置,其特征在于,所述弹簧(32)的下端为锥形设置,所述弹簧(32)的下端与锥槽(33)相匹配。
6.根据权利要求1所述的一种用于磁芯加工的检测装置,其特征在于,所述检测器(34)的上端与限位块(39)的间距与弧板(26)至传送带(21)的间距小。
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