CN216595383U - 一种半导体检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种半导体检测装置，包括检测基座，所述检测基座的顶部一侧固定设有集成电路检测台，所述集成电路检测台的顶部一侧开有方形的集成电路固定槽，所述集成电路固定槽的四侧内壁开有等距离分布的针脚定位槽，所述针脚定位槽的底部内壁固定设有倾斜向上的弹性触片，所述检测基座的顶部两侧开有两个滑槽。本实用新型通过导向斜板能够下压集成电路板，通过推拉块滑动挤压板，将挤压板移动到集成电路检测台的顶部，通过导向斜板能够下压集成电路板，使集成电路板的针脚和弹性触片接触，便于固定集成电路板，万用表通过无触点开关通过导线和弹性触片连通，能够快速测量集成电路板的电路是否正常。

Description

一种半导体检测装置

技术领域

本实用新型涉及半导体领域，具体涉及一种半导体检测装置。

背景技术

半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，现有的半导体制品通常有集成电路板、储存卡和二极管等，其中集成电路板是最为精密的零件，集成电路板是电路小型化的方式，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。

正因为集成电路板内部的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，集成电路板内部的电路形成短路和短路，集成电路板内的元件出现损坏，均会造成集成电路板运行过程中出现故障，为此需要一种新型的半导体检测设备，而现有的集成电路检测过程中，通常使用万用表使用电触笔测量集成电路板上电路的电压，以诊断出集成电路板上的故障位置，现有的检测装置检测效率低，不便于操作，且使用万用表检测到集成电路板上短路的位置时容易产生高温，集成电路板上缺少散热装置，导致集成电路板上聚集热量，容易造成集成电路板二次损坏。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种半导体检测装置，以解决技术中的上述不足之处。

为了实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体检测装置，包括检测基座，所述检测基座的顶部一侧固定设有集成电路检测台，所述集成电路检测台的顶部一侧开有方形的集成电路固定槽，所述集成电路固定槽的四侧内壁开有等距离分布的针脚定位槽，所述针脚定位槽的底部内壁固定设有倾斜向上的弹性触片，所述检测基座的顶部两侧开有两个滑槽，两个所述滑槽的内壁滑动连接有滑块，所述滑块的顶部一侧固定设有一个挤压板，所述挤压板的顶部中央位置开有方形的固定槽，所述固定槽的底部内壁固定设有导热板，所述导热板的顶部一侧固定设有等距离分布的散热翅片。

优选的，所述滑块的顶部一侧固定设有推拉块，通过推拉块便于在检测基座的顶部移动挤压板，所述滑块的底部一侧固定设有限位板，通过限位板便于将挤压板顶部开有的固定槽对准集成电路固定槽的顶部。

优选的，所述集成电路固定槽的底部内壁固定设有海绵垫，通过海绵垫能够保护集成电路板的底部不受损伤，所述集成电路固定槽的内壁轮廓和集成电路板的外壁轮廓相适配，所述针脚定位槽的位置和集成电路板的针脚位置相适配，便于将集成电路板安装于集成电路固定槽的内壁，便于将集成电路板的针脚和针脚定位槽的外壁接触。

优选的，所述检测基座的一侧外壁固定设有万用表，所述万用表包括有显示屏和旋钮。

优选的，所述万用表的两个检测端连接有导线，所述导线串联有等距离分布的无触点开关，所述无触点开关和弹性触片连通。

优选的，所述检测基座的一侧外壁开有电源插口，所述电源插口通过导线连接电源开关，所述电源开关连接有电源线，所述检测基座的一侧开有数据插口，所述数据插口通过USB数据线连接有计算机，万用表通过无触点开关通过导线和弹性触片连通，能够快速测量集成电路板的电路是否正常，检测速度快，并将检测数据通过数据插口使用USB数据线传输入电脑上，对检测的数据进行对比，能够快速检测出集成电路板上故障的位置。

优选的，所述检测基座的一侧外壁固定设有静电导片，所述静电导片的一侧开有贯穿口，所述贯穿口的内壁连接有接地线，能够避免集成电路检测过程中产生静电，防静电效果好。

在上述技术方案中，本实用新型提供的技术效果和优点：

集成电路板安装于集成电路固定槽的内壁，集成电路板的针脚位于针脚定位槽的内壁，通过导向斜板能够下压集成电路板，通过推拉块滑动挤压板，将挤压板移动到集成电路检测台的顶部，通过导向斜板能够下压集成电路板，使集成电路板的针脚和弹性触片接触，便于固定集成电路板，万用表通过无触点开关通过导线和弹性触片连通，能够快速测量集成电路板的电路是否正常。

通过固定槽底部内壁固定设有的导热板，导热板能够吸收集成电路板检测过程中产生的热量，然后通过导热板顶部设有的散热翅片能够将产生的热量排出，散热效果好，能够避免集成电路板检测过程中热量过高从而造成的二次故障。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型立体结构示意图；

图2为本实用新型挤压板立体结构示意图；

图3为本实用新型挤压板剖面结构示意图。

附图标记说明：

1检测基座、2集成电路检测台、3集成电路固定槽、4海绵垫、5针脚定位槽、6弹性触片、7万用表、8显示屏、9旋钮、10滑槽、11滑块、12挤压板、13导向斜板、14固定槽、15导热板、16散热翅片、17推拉块、18限位板、19电源插口、20数据插口、21静电导片。

具体实施方式

为了使本领域的技术人员更好地理解本实用新型的技术方案，下面将结合附图对本实用新型作进一步的详细介绍。

实施例一

参照说明书附图1-3，一种半导体检测装置，包括检测基座1，检测基座1的顶部一侧固定设有集成电路检测台2，集成电路检测台2的顶部一侧开有方形的集成电路固定槽3，集成电路固定槽3的四侧内壁开有等距离分布的针脚定位槽5，针脚定位槽5的底部内壁固定设有倾斜向上的弹性触片6，检测基座1的顶部两侧开有两个滑槽10，两个滑槽10的内壁滑动连接有滑块11，滑块11的顶部一侧固定设有一个挤压板12，挤压板12的顶部中央位置开有方形的固定槽14，固定槽14的底部内壁固定设有导热板15，导热板15的顶部一侧固定设有等距离分布的散热翅片16。

实施例二

基于实施例一的基础上，滑块11的顶部一侧固定设有推拉块17，通过推拉块17便于在检测基座1的顶部移动挤压板12，滑块11的底部一侧固定设有限位板18，通过限位板18便于将挤压板12顶部开有的固定槽14对准集成电路固定槽3的顶部，集成电路固定槽3的底部内壁固定设有海绵垫4，通过海绵垫4能够保护集成电路板的底部不受损伤，集成电路固定槽3的内壁轮廓和集成电路板的外壁轮廓相适配，针脚定位槽5的位置和集成电路板的针脚位置相适配，便于将集成电路板安装于集成电路固定槽3的内壁，便于将集成电路板的针脚和针脚定位槽5的外壁接触。

实施例三

基于实施例一的基础上，检测基座1的一侧外壁固定设有万用表7，万用表7包括有显示屏8和旋钮9，万用表7的两个检测端连接有导线，导线串联有等距离分布的无触点开关，无触点开关和弹性触片6连通，检测基座1的一侧外壁开有电源插口19，电源插口19通过导线连接电源开关，电源开关连接有电源线，检测基座1的一侧开有数据插口20，数据插口20通过USB数据线连接有计算机，万用表7通过无触点开关通过导线和弹性触片6连通，能够快速测量集成电路板的电路是否正常，检测速度快，并将检测数据通过数据插口20使用USB数据线传输入电脑上，对检测的数据进行对比，能够快速检测出集成电路板上故障的位置。

实施例四

基于实施例一的基础上，检测基座1的一侧外壁固定设有静电导片21，静电导片21的一侧开有贯穿口，贯穿口的内壁连接有接地线，能够避免集成电路检测过程中产生静电，防静电效果好。

本实用新型工作原理：

参照说明书附图1-3，使用时首先将集成电路板的底面向下安装于集成电路固定槽3的内壁，集成电路板的针脚位于针脚定位槽5的内壁，然后通过推拉块17滑动挤压板12，将挤压板12移动到集成电路检测台2的顶部，通过导向斜板13能够下压集成电路板，使集成电路板的针脚和弹性触片6接触，便于固定集成电路板，然后使用万用表7通过无触点开关通过导线和弹性触片6连通，能够快速测量集成电路板的电路是否正常，检测速度快，并将检测数据通过数据插口20使用USB数据线传输入电脑上，对检测的数据进行对比，能够快速检测出集成电路板上故障的位置，集成电路板在检测过程中发生短路的位置会产生大量的热量，此时通过固定槽14底部内壁固定设有的导热板15，导热板15能够吸收集成电路板检测过程中产生的热量，然后通过导热板15顶部设有的散热翅片16能够将产生的热量排出，散热效果好，能够避免集成电路板检测过程中热量过高从而造成的二次故障。

以上只通过说明的方式描述了本实用新型的某些示范性实施例，毋庸置疑，对于本领域的普通技术人员，在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下，可以用各种不同的方式对所描述的实施例进行修正。因此，上述附图和描述在本质上是说明性的，不应理解为对本实用新型权利要求保护范围的限制。

Claims (7)

1.一种半导体检测装置，包括检测基座（1），其特征在于：所述检测基座（1）的顶部一侧固定设有集成电路检测台（2），所述集成电路检测台（2）的顶部一侧开有方形的集成电路固定槽（3），所述集成电路固定槽（3）的四侧内壁开有等距离分布的针脚定位槽（5），所述针脚定位槽（5）的底部内壁固定设有倾斜向上的弹性触片（6），所述检测基座（1）的顶部两侧开有两个滑槽（10），两个所述滑槽（10）的内壁滑动连接有滑块（11），所述滑块（11）的顶部一侧固定设有一个挤压板（12），所述挤压板（12）的顶部中央位置开有方形的固定槽（14），所述固定槽（14）的底部内壁固定设有导热板（15），所述导热板（15）的顶部一侧固定设有等距离分布的散热翅片（16）。

2.根据权利要求1所述的一种半导体检测装置，其特征在于：所述滑块（11）的顶部一侧固定设有推拉块（17），所述滑块（11）的底部一侧固定设有限位板（18）。

3.根据权利要求1所述的一种半导体检测装置，其特征在于：所述集成电路固定槽（3）的底部内壁固定设有海绵垫（4），所述集成电路固定槽（3）的内壁轮廓和集成电路板的外壁轮廓相适配，所述针脚定位槽（5）的位置和集成电路板的针脚位置相适配。

4.根据权利要求1所述的一种半导体检测装置，其特征在于：所述检测基座（1）的一侧外壁固定设有万用表（7），所述万用表（7）包括有显示屏（8）和旋钮（9）。

5.根据权利要求4所述的一种半导体检测装置，其特征在于：所述万用表（7）的两个检测端连接有导线，所述导线串联有等距离分布的无触点开关，所述无触点开关和弹性触片（6）连通。

6.根据权利要求1所述的一种半导体检测装置，其特征在于：所述检测基座（1）的一侧外壁开有电源插口（19），所述电源插口（19）通过导线连接电源开关，所述电源开关连接有电源线，所述检测基座（1）的一侧开有数据插口（20），所述数据插口（20）通过USB数据线连接有计算机。

7.根据权利要求1所述的一种半导体检测装置，其特征在于：所述检测基座（1）的一侧外壁固定设有静电导片（21），所述静电导片（21）的一侧开有贯穿口，所述贯穿口的内壁连接有接地线。

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