CN216482829U - 一种c型片材测厚仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及测厚仪领域，特别地，涉及一种C型片材测厚仪，包括机架，所述机架内部设有用于移动片材的传送辊，所述机架上还设有立架，所述立架上下两端分别水平设有一个齿条，所述齿条与所述立架滑动连接，两个所述齿条对向设置且二者其中之一上设有光谱发射器，另一个上设有光谱接收器，所述立架上设有两个齿轮，两个所述齿轮一侧相互啮合，一个所述齿轮的另一侧与一个所述齿条啮合，另一个所述齿轮的另一侧与另一个所述齿条啮合；本实用新型目的是克服现有技术的不足而提供一种C型片材测厚仪，实现降低成本同时避免电磁精度问题对光谱接收器与光谱发射器的移动位置的影响的效果。

Description

一种C型片材测厚仪

技术领域

本实用新型涉及测厚仪领域，特别地，涉及一种C型片材测厚仪。

背景技术

测厚仪主要用于测量无纺布等片材的厚度，由于部分频率的光谱穿过不同厚度的片材时光谱强度会减弱，因此通过检测特定频率、固定强度的光谱穿过片材前后的强度变化经计算可得出片材厚度。

现有的片材厚度光谱检测设备通常包括一个光谱发射器与一个光谱接收器，二者分别安装于片材两侧的滑轨上，采用两个步进电机利用程序控制光谱发射器与光谱接收器同步移动，实现光谱接收器始终接收光谱发射器发出的光谱进而检测不同区域的片材厚度情况，然而程序控制步进电机移动不仅成本较高，而且可能由于设备工作过程中由于金属摩擦或其它原因产生的磁场干扰导致控制电路电流发生波动，进而导致两个步进电机的转动不同步，光谱发射器与光谱接收器无法同步移动，使片材测厚出现误差，因此如何设计一种同步测厚仪，可降低成本同时避免电磁精度问题对光谱接收器与光谱发射器的移动位置的影响成为了本领域技术人员亟待解决的技术问题。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型目的是克服现有技术的不足而提供一种C型片材测厚仪，实现降低成本同时避免电磁精度问题对光谱接收器与光谱发射器的移动位置的影响的效果。

为了解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：

一种C型片材测厚仪，包括机架，所述机架内部设有用于移动片材的传送辊，所述机架上还设有立架，所述立架上下两端分别水平设有一个齿条，所述齿条与所述立架滑动连接，两个所述齿条对向设置且二者其中之一上设有光谱发射器，另一个上设有光谱接收器，所述立架上设有两个齿轮，两个所述齿轮一侧相互啮合，一个所述齿轮的另一侧与一个所述齿条啮合，另一个所述齿轮的另一侧与另一个所述齿条啮合，两个所述齿轮至少其中之一上连接有用于控制所述齿轮转动的动力轴。

较之现有技术，本实用新型的优点在于：

本实用新型在准备检测片材厚度前，光谱发射器持续发射光谱给光谱接收器，处理器记录光谱接收器返回的信号，传送辊转动带动片材移动至光谱发射器与光谱接收器之间，光谱发射器发射给光谱接收器的光谱发生改变，处理器再次记录光谱接收器返回的信号并进行比对计算得出当前位置的片材厚度；需要检测其他位置的片材厚度时，动力轴带动一个齿轮移动，一个齿轮带动另一个齿轮转动，两个齿轮分别带动各自的齿条移动，由于两个齿轮线速度一致，两个齿条同步移动，一个齿条带动光谱发射器移动，另一个齿条带动光谱接收器移动，光谱接收器在移动过程中始终接收光谱发射器发出的光谱。

进一步的，所述立架上下两端分别设有一个限位滑槽，所述限位滑槽内部滑设有限位滑板，所述限位滑板与所述齿条固定连接，通过限位滑板对齿条的滑动进行限位。

进一步的，所述限位滑板一端固设有用于限制所述限位滑板移动的第一挡块，所述限位滑板另一端固设有用于限制所述限位滑板移动的第二挡块，所述光谱发射器安置于两个所述第一挡块其中之一上，所述光谱接收器安置于另一个所述第一挡块上，通过第一挡块与第二挡块限制限位滑板的滑动范围。

进一步的，所述立架上设有调节板，所述调节板连接有用于支撑所述限位滑板的支架，所述支架与所述限位滑板抵接，通过支架辅助支撑限位滑板。

进一步的，所述立架上设有用于固定所述调节板的固定螺栓，所述调节板内部开设有用于容纳所述固定螺栓滑动的可调滑槽，所述固定螺栓穿过所述可调滑槽抵压所述调节板对所述调节板进行固定，通过固定螺栓限制调节板的位置。

进一步的，所述光谱发射器上连接有第一伸缩线，所述光谱接收器上连接有第二伸缩线，所述第一伸缩线一端连接有处理器，所述第一伸缩线另一端与所述光谱发射器电性连接，所述第二伸缩线一端与处理器电性连接，所述第二伸缩线另一端与所述光谱接收器电性连接，通过第一伸缩线与第二伸缩线的设置实现对光谱发射器和光谱接收器进行供电与信号传输。

附图说明

图1为本实用新型的右轴侧结构示意图；

图2为本实用新型的左轴测结构示意图；

图3为图2的A处放大示意图；

图4为本实用新型的局部剖视示意图；

图5为图4的B处放大示意图。

附图标记：10、机架；11、传送辊；12、立架；20、限位滑槽；21、限位滑板；22、齿条；23、齿轮；24、动力轴；25、第一挡块；26、第二挡块；30、第一伸缩线；31、光谱发射器；32、光谱接收器；33、第二伸缩线；40、调节板；41、支架；42、可调滑槽；43、固定螺栓。

具体实施方式

以下结合附图，对本实用新型的具体实施方式作进一步详述，以使本实用新型技术方案更易于理解和掌握。

参照图1、图2和图4所示，本实施例提供一种C型片材测厚仪，主要用于降低成本同时避免电磁精度问题对光谱接收器于光谱发射器的移动位置的影响。

一种C型片材测厚仪，包括机架10，所述机架10内部设有用于移动片材的传送辊11，所述机架10上还设有立架12，所述立架12上下两端分别水平设有一个齿条22，所述齿条22与所述立架12滑动连接，两个所述齿条22对向设置且二者其中之一上设有光谱发射器31，另一个上设有光谱接收器32，所述立架12上设有两个齿轮23，两个所述齿轮23一侧相互啮合，一个所述齿轮23的另一侧与一个所述齿条22啮合，另一个所述齿轮23的另一侧与另一个所述齿条22啮合，两个所述齿轮23至少其中之一上连接有用于控制所述齿轮23转动的动力轴24。

具体的：

结合图2和图3所示，为了对齿条22的滑动进行限位，所述立架12上下两端分别设有一个限位滑槽20，所述限位滑槽20内部滑设有限位滑板21，所述限位滑板21与所述齿条22固定连接，通过限位滑板21对齿条22的滑动进行限位。

结合图4所示，为了限制限位滑板21的滑动范围，所述限位滑板21一端固设有用于限制所述限位滑板21移动的第一挡块25，所述限位滑板21另一端固设有用于限制所述限位滑板21移动的第二挡块26，所述光谱发射器31安置于两个所述第一挡块25其中之一上，所述光谱接收器32安置于另一个所述第一挡块25上，通过第一挡块25与第二挡块26限制限位滑板21的滑动范围。

结合图4所示，为了对限位滑板21进行辅助支撑，所述立架12上设有调节板40，所述调节板40连接有用于支撑所述限位滑板21的支架41，所述支架41与所述限位滑板21抵接，通过支架41辅助支撑限位滑板21。

结合图4与图5所示，为了固定调节板40的位置，所述立架12上设有用于固定所述调节板40的固定螺栓43，所述调节板40内部开设有用于容纳所述固定螺栓43滑动的可调滑槽42，所述固定螺栓43穿过所述可调滑槽42抵压所述调节板40对所述调节板40进行固定，通过固定螺栓43限制调节板40的位置。

结合图1与图4所示，为了对光谱发射器31和光谱接收器32进行供电与信号传输，所述光谱发射器31上连接有第一伸缩线30，所述光谱接收器32上连接有第二伸缩线33，所述第一伸缩线30一端连接有处理器，所述第一伸缩线30另一端与所述光谱发射器31电性连接，所述第二伸缩线33一端与处理器电性连接，所述第二伸缩线33另一端与所述光谱接收器32电性连接，通过第一伸缩线30与第二伸缩线33的设置实现对光谱发射器31和光谱接收器32进行供电与信号传输。

实施原理：准备检测片材厚度前，光谱发射器31持续发射光谱给光谱接收器32，处理器记录光谱接收器32返回的信号，传送辊11转动带动片材移动至光谱发射器31与光谱接收器32之间，光谱发射器31发射给光谱接收器32的光谱发生改变，处理器再次记录光谱接收器32返回的信号并进行比对计算得出当前位置的片材厚度；

需要检测其他位置的片材厚度时，动力轴24带动一个齿轮23移动，一个齿轮23带动另一个齿轮23转动，两个齿轮23分别带动各自的齿条22、限位滑板21以及第一挡块25移动，由于两个齿轮23线速度一致，两个齿条22、限位滑板21以及第一挡块25同步移动，一个齿条22带动光谱发射器31移动，另一个齿条22带动光谱接收器32移动，光谱接收器32在移动过程中始终接收光谱发射器31发出的光谱。

以上只是本实用新型的典型实例，除此之外，本实用新型还可以有其它多种具体实施方式，凡采用等同替换或等效变换形成的技术方案，均落在本实用新型要求保护的范围。

Claims (6)

1.一种C型片材测厚仪，包括机架(10)，所述机架(10)内部设有用于移动片材的传送辊(11)，其特征在于，所述机架(10)上还设有立架(12)，所述立架(12)上下两端分别水平设有一个齿条(22)，所述齿条(22)与所述立架(12)滑动连接，两个所述齿条(22)对向设置且二者其中之一上设有光谱发射器(31)，另一个上设有光谱接收器(32)，所述立架(12)上设有两个齿轮(23)，两个所述齿轮(23)一侧相互啮合，一个所述齿轮(23)的另一侧与一个所述齿条(22)啮合，另一个所述齿轮(23)的另一侧与另一个所述齿条(22)啮合，两个所述齿轮(23)至少其中之一上连接有用于控制所述齿轮(23)转动的动力轴(24)。

2.根据权利要求1所述的一种C型片材测厚仪，其特征在于，所述立架(12)上下两端分别设有一个限位滑槽(20)，所述限位滑槽(20)内部滑设有限位滑板(21)，所述限位滑板(21)与所述齿条(22)固定连接。

3.根据权利要求2所述的一种C型片材测厚仪，其特征在于，所述限位滑板(21)一端固设有用于限制所述限位滑板(21)移动的第一挡块(25)，所述限位滑板(21)另一端固设有用于限制所述限位滑板(21)移动的第二挡块(26)，所述光谱发射器(31)安置于两个所述第一挡块(25)其中之一上，所述光谱接收器(32)安置于另一个所述第一挡块(25)上。

4.根据权利要求2所述的一种C型片材测厚仪，其特征在于，所述立架(12)上设有调节板(40)，所述调节板(40)连接有用于支撑所述限位滑板(21)的支架(41)，所述支架(41)与所述限位滑板(21)抵接。

5.根据权利要求4所述的一种C型片材测厚仪，其特征在于，所述立架(12)上设有用于固定所述调节板(40)的固定螺栓(43)，所述调节板(40)内部开设有用于容纳所述固定螺栓(43)滑动的可调滑槽(42)，所述固定螺栓(43)穿过所述可调滑槽(42)抵压所述调节板(40)对所述调节板(40)进行固定。

6.根据权利要求1所述的一种C型片材测厚仪，其特征在于，所述光谱发射器(31)上连接有第一伸缩线(30)，所述光谱接收器(32)上连接有第二伸缩线(33)，所述第一伸缩线(30)一端连接有处理器，所述第一伸缩线(30)另一端与所述光谱发射器(31)电性连接，所述第二伸缩线(33)一端与处理器电性连接，所述第二伸缩线(33)另一端与所述光谱接收器(32)电性连接。

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