CN216410992U - 磨料颗粒度目数合格检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种磨料颗粒度目数合格检测装置,属于磨料检测设备技术领域,包括工作台,所述工作台上设有转盘,所述工作台的下表面设有带动转盘转动的旋转电机,所述转盘的上表面设有旋转筛分结构,所述旋转筛分结构上放置有接料框,所述接料框的上方放置有多个竖向叠放的筛料框,处于顶层的筛料框的上方设有密封压盖,所述接料框、筛料框、密封压盖的两侧均通过可拆卸的连接结构与旋转筛分结构固定连接;本实用新型通过旋转筛分和竖向振动筛分的方式,提高磨料颗粒目数检测过程中的效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及磨料检测设备技术领域,具体涉及一种磨料颗粒度目数合格检测装置。
背景技术
磨料是锐利、坚硬的材料,用以磨削较软的材料表面;天然刚玉的化学成分为氧化铝,主要产地南非,用它抛光和研磨玻璃。为保证刚玉磨料的品质,加工出的磨料需要通过化学分析的手段分析检测刚玉磨料中的铁元素、硅元素、铝元素和钛元素含量。
磨料生产加工的过程中,需要进行粉碎处理,为了保证使用效果,需要对磨料的颗粒度进行检测,目前检测时,通过人为震荡叠放的多层筛子进行筛分,然后通过统计不同层的筛网里面的物料,计算不同颗粒度的占比,从而检测磨料的颗粒度目数是否合格,检测的过程效率低下,且浪费人力。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型提供一种磨料颗粒度目数合格检测装置,通过旋转筛分和竖向振动筛分的方式,提高磨料颗粒目数检测过程中的效率。
为解决上述技术问题,本实用新型提供一种磨料颗粒度目数合格检测装置,包括工作台,所述工作台的上表面设有凹槽,所述凹槽内设有转盘,所述工作台的下表面设有带动转盘转动的旋转电机,所述转盘的上表面设有旋转筛分结构,所述旋转筛分结构上放置有接料框,所述接料框的上方放置有多个竖向叠放的筛料框,处于顶层的筛料框的上方设有密封压盖,所述接料框、筛料框、密封压盖的两侧均通过可拆卸的连接结构与旋转筛分结构固定连接。
进一步的,所述旋转筛分结构包括设于转盘上表面的偏心轴,所述偏心轴的上表面设有转动筛盘。
进一步的,所述接料框包括第一环形框,所述第一环形框的底端为底盘。
进一步的,所述转动筛盘的上表面外缘设有第一限位圈,所述第一环形框的外壁与第一限位圈的内壁紧密接触。
进一步的,所述筛料框包括第二环形框,所述第二环形框的底面为筛网。
进一步的,所述第一环形框的顶端固定套放有第二限位圈,所述第二限位圈的顶端超出第一环形框外,处于最底层的筛料框的第二环形框的外壁与第二限位圈的内壁紧密接触。
进一步的,所述第二环形框的顶端固定套放有第三限位圈,所述第三限位圈的顶端超出第二环形框外。
进一步的,所述连接结构包括连接架,所述连接架的两端为螺纹端,所述连接架上靠近底端处设有限位环,所述接料框、筛料框、密封压盖的两侧均设有与连接架配合的第二C 型侧耳,所述转动筛盘的两侧均设有与连接架配合的第一C型侧耳。
进一步的,所述工作台的下方隔空设有底座,所述底座与工作台之间的四角处均设有减震支柱,所述工作台的下表面设有处于旋转电机两侧的两个振动电机。
进一步的,所述减震支柱包括弹簧柱,所述底座的上表面以及工作台的下表面均设有与弹簧柱对应配合的定向套,所述定向套的中心处设有定向柱。
本实用新型的上述技术方案的有益效果如下:
1、本实用新型中通过转动筛盘带动接料框和筛网框进行旋转筛分,并通过振动电机和减震支柱的辅助作用实现竖向振动筛分,筛分效率高,提高检测的效果且降低人力劳动。
2、本实用新型中,通过连接架和第一C型侧耳、第二C 型侧耳的配合作用实现将接料框、多个筛料框以及密封压盖固定于转动筛盘上,方便快捷,便于拆装,使用更加方便。
附图说明
图1为本实用新型磨料颗粒度目数合格检测装置的正视图;
图2为本实用新型中转动筛盘的结构示意图;
图3为本实用新型中接料框的结构示意图;
图4为本实用新型中筛料框的结构示意图;
图5为本实用新型中连接架的结构示意图。
1、底座;
2、工作台;21、凹槽;22、旋转电机;23、转盘;24、偏心轴;25、转动筛盘;251、第一限位圈;252、第一C型侧耳;26、振动电机;
3、减震支柱;31、弹簧柱;32、定向柱;33、定向套;
4、接料框;40、第一环形框;41、第二限位圈;42、底盘;43、第二C 型侧耳;
5、筛料框;50、第二环形框;51、筛网;52、第三限位圈;
6、连接架;61、限位环;62、螺纹端;
7、密封压盖。
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本实用新型实施例的附图1-5,对本实用新型实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于所描述的本实用新型的实施例,本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
如图1-5所示:一种磨料颗粒度目数合格检测装置,包括工作台2,工作台2的上表面设有凹槽21,凹槽21内设有转盘23,工作台2的下表面设有带动转盘23转动的旋转电机22,转盘23的上表面设有旋转筛分结构,旋转筛分结构上放置有接料框4,接料框4的上方放置有多个竖向叠放的筛料框5,处于顶层的筛料框5的上方设有密封压盖7,接料框4、筛料框5、密封压盖7的两侧均通过可拆卸的连接结构与旋转筛分结构固定连接。
根据本实用新型的一个实施例,如图1所示,
旋转筛分结构包括设于转盘23上表面的偏心轴24,偏心轴24的上表面设有转动筛盘25。
通过转盘23上的偏心轴24带动转动筛盘25旋转,从而实现旋转筛分的作用。
根据本实用新型的另一个实施例,如图2和图3所示,
接料框4包括第一环形框40,第一环形框40的底端为底盘42。
转动筛盘25的上表面外缘设有第一限位圈251,第一环形框40的外壁与第一限位圈251的内壁紧密接触。
接料框4用于底层接料,第一限位圈251方便定位、限位放置接料框4。
在本实用新型的一个实施例中,如图1和图4所示,
筛料框5包括第二环形框50,第二环形框50的底面为筛网51。
第一环形框40的顶端固定套放有第二限位圈41,第二限位圈41的顶端超出第一环形框40外,处于最底层的筛料框5的第二环形框50的外壁与第二限位圈41的内壁紧密接触。
第二环形框50的顶端固定套放有第三限位圈52,第三限位圈52的顶端超出第二环形框50外。
筛料框5便于安装于接料框4上,且相邻的筛料框5的之间便于定位叠放。
在本实用新型的另一个实施例中,如图1-3所示,
连接结构包括连接架6,连接架6的两端为螺纹端62,连接架6上靠近底端处设有限位环61,接料框4、筛料框5、密封压盖7的两侧均设有与连接架6配合的第二C 型侧耳43,转动筛盘25的两侧均设有与连接架6配合的第一C型侧耳252。
通过连接架6和第一C型侧耳252、第二C 型侧耳43的配合作用实现将接料框4、多个筛料框5以及密封压盖7固定于转动筛盘25上,方便快捷,便于拆装,使用更加方便。
在本实用新型的另一个实施例中,如图1所示,
工作台2的下方隔空设有底座1,底座1与工作台2之间的四角处均设有减震支柱3,工作台2的下表面设有处于旋转电机22两侧的两个振动电机26。
减震支柱3包括弹簧柱31,底座1的上表面以及工作台2的下表面均设有与弹簧柱31对应配合的定向套33,定向套33的中心处设有定向柱32。
振动电机26和减震支柱3配合作用实现带动筛料框5实现竖向振动。
本实用新型的工作方法:具体使用的过程中,将接料框4放置于转动筛盘25上,然后将筛料框5按照从下往上按筛网51的网孔依次增大的顺序排放,然后将待检测的物料添加至最顶层的筛料框5内,然后盖上密封压盖7,最后用连接架6实现将接料框4、筛料框5、密封压盖7与转动筛盘25固定连接,具体将连接架6卡进第一C型侧耳252、第二C 型侧耳43内,螺纹端62处安装螺母,通过螺母实现压紧;然后开启旋转电机22带动转盘23转动,转盘23上的偏心轴24带动转动筛盘25转动,实现检测物料的旋转筛分;同时开启两个振动电机26,两个振动电机26旋向方向相反,使得横向的振幅抵消,竖向的振幅叠加,配合减震支柱3的辅助作用实现竖向振动,通过旋转筛分和竖向振动筛分的方式,提高磨料颗粒目数检测过程中的效率。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系,除非另有明确的限定,对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
以上所述是本实用新型的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型所述原理的前提下,还可以作出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。
Claims (10)
1.磨料颗粒度目数合格检测装置,其特征在于:包括工作台(2),所述工作台(2)的上表面设有凹槽(21),所述凹槽(21)内设有转盘(23),所述工作台(2)的下表面设有带动转盘(23)转动的旋转电机(22),所述转盘(23)的上表面设有旋转筛分结构,所述旋转筛分结构上放置有接料框(4),所述接料框(4)的上方放置有多个竖向叠放的筛料框(5),处于顶层的筛料框(5)的上方设有密封压盖(7),所述接料框(4)、筛料框(5)、密封压盖(7)的两侧均通过可拆卸的连接结构与旋转筛分结构固定连接。
2.如权利要求1所述的磨料颗粒度目数合格检测装置,其特征在于:所述旋转筛分结构包括设于转盘(23)上表面的偏心轴(24),所述偏心轴(24)的上表面设有转动筛盘(25)。
3.如权利要求2所述的磨料颗粒度目数合格检测装置,其特征在于:所述接料框(4)包括第一环形框(40),所述第一环形框(40)的底端为底盘(42)。
4.如权利要求3所述的磨料颗粒度目数合格检测装置,其特征在于:所述转动筛盘(25)的上表面外缘设有第一限位圈(251),所述第一环形框(40)的外壁与第一限位圈(251)的内壁紧密接触。
5.如权利要求3所述的磨料颗粒度目数合格检测装置,其特征在于:所述筛料框(5)包括第二环形框(50),所述第二环形框(50)的底面为筛网(51)。
6.如权利要求5所述的磨料颗粒度目数合格检测装置,其特征在于:所述第一环形框(40)的顶端固定套放有第二限位圈(41),所述第二限位圈(41)的顶端超出第一环形框(40)外,处于最底层的筛料框(5)的第二环形框(50)的外壁与第二限位圈(41)的内壁紧密接触。
7.如权利要求5所述的磨料颗粒度目数合格检测装置,其特征在于:所述第二环形框(50)的顶端固定套放有第三限位圈(52),所述第三限位圈(52)的顶端超出第二环形框(50)外。
8.如权利要求7所述的磨料颗粒度目数合格检测装置,其特征在于:所述连接结构包括连接架(6),所述连接架(6)的两端为螺纹端(62),所述连接架(6)上靠近底端处设有限位环(61),所述接料框(4)、筛料框(5)、密封压盖(7)的两侧均设有与连接架(6)配合的第二C 型侧耳(43),所述转动筛盘(25)的两侧均设有与连接架(6)配合的第一C型侧耳(252)。
9.如权利要求1-8任一项所述的磨料颗粒度目数合格检测装置,其特征在于:所述工作台(2)的下方隔空设有底座(1),所述底座(1)与工作台(2)之间的四角处均设有减震支柱(3),所述工作台(2)的下表面设有处于旋转电机(22)两侧的两个振动电机(26)。
10.如权利要求9所述的磨料颗粒度目数合格检测装置,其特征在于:所述减震支柱(3)包括弹簧柱(31),所述底座(1)的上表面以及工作台(2)的下表面均设有与弹簧柱(31)对应配合的定向套(33),所述定向套(33)的中心处设有定向柱(32)。
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