CN216160701U

CN216160701U - 探针组件及四线法探针测试组件

Info

Publication number: CN216160701U
Application number: CN202122234234.0U
Authority: CN
Inventors: 刘月敏
Original assignee: Shenzhen East Win Technology Co Ltd
Current assignee: Shenzhen East Win Technology Co Ltd
Priority date: 2021-09-15
Filing date: 2021-09-15
Publication date: 2022-04-01
Anticipated expiration: 2031-09-15

Abstract

本实用新型涉及电路检测技术领域，具体公开一种探针组件及四线法探针测试组件，所述探针组件包括间隔设置的两检测探针，其中，两所述检测探针均用于电连接至待检测的产品的同一检测点；所述检测探针包括针筒和位于所述针筒靠近所述检测点一端的针头；所述针头位于所述针筒的轴线偏向另一所述检测探针的一侧，使得两所述针头的针尖之间的距离小于两所述针筒的轴线之间的距离。本实用新型提供一种探针组件及四线法探针测试组件，对检测点的尺寸要求较低，有利于在小尺寸的检测点上实现开尔文四线检测。

Description

探针组件及四线法探针测试组件

技术领域

本实用新型涉及电路检测技术领域，尤其涉及一种探针组件及四线法探针测试组件。

背景技术

开尔文四线检测法是对电子产品进行电阻测试的主流方法之一。参见图1，一般地，待测试的产品1上设有第一检测点101和第二检测点102，进行开尔文四线检测之前，需要先使第一探针2a和第二探针2b均与第一检测点101电连接，然后使与第一探针2a构成一检测回路的第三探针2c、与第二探针2b构成另一检测回路的第四探针2d均与第二检测点102电连接。

目前的第一探针2a、第二探针2b、第三探针2c和第四探针2d等检测探针2大多是中心对称结构，即，检测探针2包括轴线重合的针筒201和针头202(针头202的直径通常小于针筒201的直径)，要使两根检测探针2的针头202同时与同一检测点连接，检测点的直径D应当满足以下条件：检测点的最小直径D≥两针筒的轴线之间的距离L。

近年来，随着5G技术的发展，电子产品的集成度越来越高，检测点的直径也越来越小。但针筒受内部的弹簧等零部件限制，直径难以缩小，因此，检测点提供的检测空间严重不足，导致两根检测探针的针头无法同时与同一检测点连接。

因此，现有的四线法探针测试组件限制了检测点尺寸的缩减，不利于电子产品的小型化。

本背景部分中公开的以上信息仅被包括用于增强本公开内容的背景的理解，且因此可包含不形成对于本领域普通技术人员而言在当前已经知晓的现有技术的信息。

实用新型内容

本实用新型的一个目的在于，提供一种探针组件及四线法探针测试组件，对检测点的尺寸要求较低，有利于在小尺寸的检测点上实现开尔文四线检测。

为达以上目的，一方面，本实用新型提供一种探针组件，包括间隔设置的两检测探针，其中，两所述检测探针均用于电连接至待检测的产品的同一检测点；

所述检测探针包括针筒和位于所述针筒靠近所述检测点一端的针头；

所述针头位于所述针筒的轴线偏向另一所述检测探针的一侧，使得两所述针头的针尖之间的距离小于两所述针筒的轴线之间的距离。

可选的，所述针头与所述检测点连接的一端的端面为倾斜平面结构；

两所述倾斜平面之间的距离朝靠近所述检测点的方向逐渐减小。

可选的，所述针头与所述检测点连接的一端的端面为圆弧曲面结构。

可选的，所述检测探针由铜制成。

可选的，所述针筒内部设有用于驱使所述针头往靠近所述检测点的方向运动的弹簧。

另一方面，提供一种四线法探针测试组件，用于对待测试的产品上的第一检测点和第二检测点之间的电阻进行检测，其包括两组任一所述的探针组件；

一组所述探针组件的两检测探针分别记为第一探针和第二探针；另一组所述探针组件的两检测探针分别记为第三探针和第四探针；

所述第一探针和第二探针均用于电连接至第一检测点，与所述第一探针构成一检测回路的第三探针、与第二探针构成另一检测回路的第四探针均用于电连接至所述第二检测点。

可选的，还包括用于容纳两组所述探针组件的壳体；

所述壳体上设有两贯穿孔，每一组所述探针组件的针头穿过一所述贯穿孔延伸至与对应的检测点抵持。

可选的，所述针头朝向所述贯穿孔的孔壁的一侧设有限位平面，以限制所述针头发生转动。

本实用新型的有益效果在于：提供一种探针组件及四线法探针测试组件，所述针头为偏心结构，所述针头位于所述针筒的轴线偏向另一所述检测探针的一侧，使得两所述针头的针尖之间的距离小于两所述针筒的轴线之间的距离，即，当处于“检测点的最小直径D＜两针筒的轴线之间的距离L”的情况下时，两根检测探针的针头也能同时与同一检测点连接，即便不缩减检测探针的整体尺寸，也能大幅缩减检测点的最小直径，极大地降低了对检测点的尺寸要求，有利于在小尺寸的检测点上实现开尔文四线检测。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为背景技术提供的现有开尔文四线检测法的电路连接示意图；

图2为实施例1提供的探针组件的结构示意图；

图3为实施例1提供的四线法探针测试组件的结构示意图；

图4为实施例2提供的探针组件的结构示意图；

图5为实施例2提供的四线法探针测试组件的结构示意图。

图中：

1、产品；101、第一检测点；102、第二检测点；103、检测点；

2、检测探针；201、针筒；202、针头；2021、倾斜平面结构；2022、限位平面；2023、圆弧曲面结构；2024、圆柱体结构；

2a、第一探针；2b、第二探针；2c、第三探针；2d、第四探针；

3、壳体；301、贯穿孔。

具体实施方式

为使得本实用新型的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而非全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。当一个组件被认为是“设置在”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中设置的组件。

此外，术语“长”“短”“内”“外”等指示方位或位置关系为基于附图所展示的方位或者位置关系，仅是为了便于描述本实用新型，而不是指示或暗示所指的装置或原件必须具有此特定的方位、以特定的方位构造进行操作，以此不能理解为本实用新型的限制。

以下将结合附图所示的具体实施方式对本实用新型进行详细描述。但这些实施方式并不限制本实用新型，本领域的普通技术人员根据这些实施方式所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本实用新型的保护范围内。

实施例1

本实施例提供一种探针组件，以及提供一种使用该探针组件的四线法探针测试组件。

参见图2，所述探针组件包括间隔设置的两检测探针2，其中，两所述检测探针2均用于电连接至待检测的产品1的同一检测点103。所述检测探针2包括针筒201、位于所述针筒201靠近所述检测点103一端的针头202以及位于针筒201内用于驱使所述针头202往靠近所述检测点103的方向运动的弹簧。当然，于一些其它的实施例中，也可以取消所述弹簧，本实用新型对此不作限定。可选的，各所述检测探针2由铜制成，导电性能优异。

本实施例中，所述针头202为偏心结构，所述针头202位于所述针筒201的轴线偏向另一所述检测探针2的一侧，使得两所述针头202的针尖之间的距离小于两所述针筒201的轴线之间的距离，即，当处于“检测点103的最小直径D＜两针筒201的轴线之间的距离L”的情况下时，两根检测探针2的针头202也能同时与同一检测点103连接。即便不缩减检测探针2的整体尺寸，也能大幅缩减检测点103的最小直径，进而极大地降低了对检测点103的尺寸要求，有利于在小尺寸的检测点103上实现开尔文四线检测。

参见图3，本实施例中，四线法探针测试组件用于对待测试的产品1上的第一检测点101和第二检测点102之间的电阻进行检测，其包括壳体3和两组上述的探针组件。

为方便描述，一组所述探针组件的两检测探针2分别记为第一探针2a和第二探针2b；另一组所述探针组件的两检测探针2分别记为第三探针2c和第四探针2d。所述第一探针2a和第二探针2b均用于电连接至第一检测点101，与所述第一探针2a构成一检测回路的第三探针2c、与第二探针2b构成另一检测回路的第四探针2d均用于电连接至所述第二检测点102。

所述壳体3上设有两贯穿孔301，第一探针2a和第二探针2b的针头202穿过一所述贯穿孔301延伸至与第一检测点101抵持，第三探针2c和第四探针2d的针头202穿过另一所述贯穿孔301延伸至与第一检测点101抵持。

本实施例中，所述针头202朝向所述贯穿孔301的孔壁的一侧设有限位平面2022，以限制所述针头202发生转动。进一步地，所述针头202与所述检测点103连接的一端的端面为倾斜平面结构2021，且两所述倾斜平面之间的距离朝靠近所述检测点103的方向逐渐减小，以尽量缩减两针头202的针尖之间的距离，有利于实现检测点103尺寸的最小化。

本实施例提供的探针组件及四线法探针测试组件，具备以下优点：

①两检测探针2相背设置，极限缩小了检测点103所需的尺寸，有利于实现产品1的小型化；

②针头202侧面设置限位平面2022，有效防止检测探针2因转动而导致相背设置失效，保证了相背设置结构的可靠性。

实施例2

本实施例提供一种探针组件，以及提供一种使用该探针组件的四线法探针测试组件，其与实施例一的区别包括：所述针头202靠近检测点103的端面为圆弧曲面结构2023，且针头202整体呈圆柱体结构2024，取消限位平面2022的设置。

参见图4，本实施例中，所述探针组件包括间隔设置的两检测探针2，其中，两所述检测探针2均用于电连接至待检测的产品1的同一检测点103。所述检测探针2包括针筒201、位于所述针筒201靠近所述检测点103一端的针头202以及位于针筒201内用于驱使所述针头202往靠近所述检测点103的方向运动的弹簧。当然，于一些其它的实施例中，也可以取消所述弹簧，本实用新型对此不作限定。可选的，各所述检测探针2由铜制成，导电性能优异。

本实施例中，所述针头202为偏心结构，所述针头202位于所述针筒201的轴线偏向另一所述检测探针2的一侧，使得两所述针头202的针尖之间的距离小于两所述针筒201的轴线之间的距离，即，当处于“检测点103的最小直径D＜两针筒201的轴线之间的距离L”的情况下时，两根检测探针2的针头202也能同时与同一检测点103连接，即便不缩减检测探针2的整体尺寸，也能大幅缩减检测点103的最小直径，极大地降低了对检测点103的尺寸要求，有利于在小尺寸的检测点103上实现开尔文四线检测。

参见图5，本实施例中，四线法探针测试组件用于对待测试的产品1上的第一检测点101和第二检测点102之间的电阻进行检测，其包括壳体3和两组上述的探针组件。

本实施例中，所述针头202靠近检测点103的端面为圆弧曲面结构2023，且针头202整体呈圆柱体结构2024。进一步地，两所述针头202之间的轴线距离大于两所述针筒201之间的轴线距离。

①两检测探针2偏心设置，缩小了检测点103所需的尺寸，有利于实现产品1的小型化；

②针头202为圆柱体结构2024，即便发生转动，两检测探针2的针尖位置不变，具有较强的适应性。

应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施方式中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

上文所列出的一系列的详细说明仅仅是针对本实用新型的可行性实施方式的具体说明，它们并非用以限制本实用新型的保护范围，凡未脱离本实用新型技艺精神所作的等效实施方式或变更均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims

1.一种探针组件，其特征在于，包括间隔设置的两检测探针，其中，两所述检测探针均用于电连接至待检测的产品的同一检测点；

2.根据权利要求1所述的探针组件，其特征在于，所述针头与所述检测点连接的一端的端面为倾斜平面结构；

3.根据权利要求1所述的探针组件，其特征在于，所述针头与所述检测点连接的一端的端面为圆弧曲面结构。

4.根据权利要求1所述的探针组件，其特征在于，所述检测探针由铜制成。

5.根据权利要求1所述的探针组件，其特征在于，所述针筒内部设有用于驱使所述针头往靠近所述检测点的方向运动的弹簧。

6.一种四线法探针测试组件，用于对待测试的产品上的第一检测点和第二检测点之间的电阻进行检测，其特征在于，包括两组权利要求1～5任一项所述的探针组件；

7.根据权利要求6所述的四线法探针测试组件，其特征在于，还包括用于容纳两组所述探针组件的壳体；

8.根据权利要求7所述的四线法探针测试组件，其特征在于，所述针头朝向所述贯穿孔的孔壁的一侧设有限位平面，以限制所述针头发生转动。