CN209690374U - 一种测试针、定位元件和测试夹具 - Google Patents
一种测试针、定位元件和测试夹具 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型提供了一种测试针、定位元件和测试夹具。该测试针包括:导电针体,和设置在针体上的绝缘固定部和活动安装部。绝缘固定部具有柱状结构并包含中心通孔,针体穿过该中心通孔,绝缘固定部的垂直于其中心轴的横截面为中心轴对称图形,且该横截面的宽度尺寸与针体的针头待接触的测试点之间的间距适配。该定位元件包括片状主体和设置在片状主体中的一个或多个条形孔,其中测试针通过绝缘固定部和活动安装部夹紧片状主体的方式被固定在条形孔中。通过根据测试点之间的间距选择不同横截面宽度尺寸的绝缘固定部,并根据测试点的排列规则将测试针排列固定于定位元件的条形孔的不同位置,无需重新定制定位片,即可适配于测试点的位置和排列变化。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试领域,特别是一种测试针、用于固定测试针的定位元件和测试夹具。
背景技术
印刷电路板(Printed Circuit Board,PCB)是电子元器件电气连接的提供者,在电子工业中占据绝对统治的地位。为了测试PCB上的零件是否符合规格以及焊性,一般通过自动化测试机台对PCB上测试点进行测试。自动化测试机台使用多根探针(测试针)同时接触PCB上待测的测试点进行测试。为了保证测试的顺利进行和探针的稳定,需要根据测试点之间的间距对探针进行定位。
现有技术中,探针的定位片一般采用单个圆形定位孔来固定探针,因此,针对现有的探针和定位片结构,需定制相应尺寸和孔位的定位片进行探针的固定,以便适配测试点的位置。一旦测试点的间距发生变化,或者测试点的排列规则改变,就需重新定制相应的定位片来固定探针,以使测试中探针可与测试点一一对准,这显著增加了测试的成本,并拉长了测试周期。
因此,亟需一种可自行组装从而适配测试点位置变化的测试针以及相应的用于固定该测试针的定位元件。
实用新型内容
鉴于上述问题,提出了本实用新型以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的测试针、用于固定测试针的定位元件和测试夹具。
根据本实用新型实施例的一方面,提供了一种测试针,包括:
导电针体,包括位于一端的用于与测试点接触的针头和位于另一端的针尾;
绝缘固定部,具有柱状结构并包含中心通孔,所述绝缘固定部以所述针体穿过所述中心通孔的方式固定设置于所述针体上,其中,所述绝缘固定部的垂直于其中心轴的横截面为中心轴对称图形,且所述横截面的宽度尺寸与所述针头待接触的测试点之间的间距适配;以及
活动安装部,具有中空柱状结构,可转动地设置于所述针体的靠近针尾的部分,并能够相对于所述绝缘固定部移动以根据定位元件的厚度调整自身与所述绝缘固定部之间的间距,从而将所述测试针固定于定位元件上,其中,所述活动安装部的垂直于其中心轴的横截面的最大宽度小于所述绝缘固定部的所述横截面的宽度尺寸。
可选地,所述绝缘固定部的垂直于其中心轴的横截面的外廓形状包括正偶数边形或圆形;
其中,当所述绝缘固定部的垂直于其中心轴的横截面的外廓形状是正偶数边形时,所述绝缘固定部的横截面的宽度尺寸为所述正偶数边形的对边宽度;
当所述绝缘固定部的垂直于其中心轴的横截面的外廓形状是圆形时,所述绝缘固定部的横截面的宽度尺寸为所述圆形的直径。
可选地,所述绝缘固定部的垂直于其中心轴的横截面的外廓形状为正方形。
可选地,所述绝缘固定部一体成型于所述针体上。
可选地,所述针体的设置所述绝缘固定部的位置设置有卡钩,所述卡钩镶嵌在所述绝缘固定部中,以将所述绝缘固定部固定于所述针体上。
可选地,所述针体的设置所述绝缘固定部的位置设置有卡钩;
所述绝缘固定部为沿其轴向分为两半的分体结构,每一半中具有与所述卡钩的相应部分相匹配的卡槽;其中,通过将所述绝缘固定部的两半沿所述针体的轴向扣合以使所述卡钩嵌入所述卡槽中,从而将所述绝缘固定部固定于所述针体上。
可选地,所述卡钩为T形。
可选地,所述绝缘固定部为弹性的,并通过所述中心通孔套接在所述针体上。
可选地,所述活动安装部的外轮廓为圆柱状或直n棱柱状,其中,n为大于或等于3的整数。
可选地,所述针体的靠近针尾的部分设置有外螺纹,所述活动安装部设置有内螺纹,所述活动安装部通过所述内螺纹与所述外螺纹的旋接转动设置于所述针体上。
可选地,所述活动安装部的长度小于所述外螺纹的长度。
可选地,所述针体的针尾焊接有连接元件,用于与外部元件进行连接。
可选地,所述连接元件包括排针和/或导线。
可选地,所述针体的针头为下列之一:
尖头、圆头、九爪头、皇冠头、平头、伞型头。
根据本实用新型实施例的另一方面,还提供了一种定位元件,用于固定根据上述任一项所述的测试针,包括:
片状主体;以及
设置在所述片状主体中的一个或多个条形孔;
其中,通过以所述测试针的绝缘固定部和活动安装部夹紧所述定位元件的片状主体的方式,将所述测试针固定在所述条形孔中。
可选地,所述多个条形孔之间的位置关系为下列之一:
所述多个条形孔互相平行;
所述多个条形孔互相交叉;
所述多个条形孔中的一部分条形孔互相平行;
所述多个条形孔中的一部分条形孔互相交叉。
可选地,所述片状主体是绝缘的。
根据本实用新型实施例的再一方面,还提供了一种测试夹具,包括:
根据上述任一项所述的定位元件;以及
排列组装于所述定位元件上的多根根据上述任一项所述的测试针;
其中,每根所述测试针通过以所述测试针的绝缘固定部和活动安装部夹紧所述定位元件的片状主体的方式被固定在所述定位元件的条形孔中,并且相邻两根所述测试针的绝缘固定部互相紧靠,使该两根测试针的针头之间的间距与该两根测试针的针头待接触的测试点之间的间距相同。
可选地,所述测试点包括下列至少之一:
芯片引脚、模块管脚、印刷电路板PCB测试点、PCB连接器。
本实用新型实施例提出的测试针,其针体上设置有具有柱状结构的绝缘固定部,针体穿过绝缘固定部的中心通孔,使针体的针头处于绝缘固定部的中心线位置,并且绝缘固定部的垂直于其中心轴的横截面为中心轴对称图形,且该横截面的宽度尺寸与针头待接触的测试点之间的间距适配。该测试针还设置有可转动地设置在针体的靠近针尾部分的活动安装部。本实用新型实施例还提出了与该测试针搭配使用的定位元件,该定位元件包括片状主体和设置在片状主体中的一个或多个条形孔。通过这样的结构设计,在多根测试针进行排列组装时,通过测试针的绝缘固定部和活动安装部夹紧定位元件的片状主体的方式,将测试针固定在条形孔中,并且使相邻两根测试针的绝缘固定部互相紧靠。由于绝缘固定部的横截面宽度尺寸适配于针头待接触的测试点之间的间距,使得该两根测试针的针头之间的间距与该两根测试针的针头待接触的测试点之间的间距相同,进而使测试中探针可与测试点一一对准。如此,通过定制不同横截面宽度尺寸的绝缘固定部,选取带有合适尺寸的绝缘固定部的测试针自由组装于该定位元件后,即可适配间距不同的排状测试点,而无需重新定制定位片。
进一步地,定位元件的多个条形孔可以设置为平行或交叉等位置关系,如此,当测试点的位置和排列规则发生变化时,可根据需求在定位元件上自行安装和取下测试针,并在条形孔范围内变换测试针的固定位置,从而更好地适配测试点的位置变化。
上述说明仅是本实用新型技术方案的概述,为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本实用新型的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举本实用新型的具体实施方式。
根据下文结合附图对本实用新型具体实施例的详细描述,本领域技术人员将会更加明了本实用新型的上述以及其他目的、优点和特征。
附图说明
通过阅读下文优选实施方式的详细描述,各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的,而并不认为是对本实用新型的限制。而且在整个附图中,用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中:
图1示出了根据本实用新型一实施例的测试针的立体结构示意图;
图2示出了根据本实用新型一实施例的测试针的剖视图;
图3示出了根据本实用新型一实施例的测试针的爆炸图;
图4示出了根据本实用新型一实施例的定位元件的结构示意图;
图5示出了根据本实用新型另一实施例的定位元件的结构示意图;
图6示出了根据本实用新型一实施例的测试针固定于定位元件上的示意图;
图7示出了根据本实用新型一实施例的测试夹具的结构示意图;以及
图8示出了根据本实用新型另一实施例的测试夹具的结构示意图。
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例,然而应当理解,可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反,提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开,并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
现有的PCB测试中,探针的定位片一般采用单个圆形定位孔来固定测试针,因此,传统测试针需定制相应尺寸和孔位的定位片来进行自身的固定,以适配测试点的位置。如此,若测试点间距发生变化或测试点的排列规则改变,则需重新定制相应的定位片才能将测试针固定至所需位置,这显著增加了测试的成本,并拉长了测试周期。
为解决上述技术问题,本实用新型实施例提供了一种测试针。
图1示出了根据本实用新型一实施例的测试针100的立体结构示意图。图2示出了根据本实用新型实施例的测试针100的剖视图。图3示出了根据本实用新型实施例的测试针100的爆炸图。参见图1至图3,测试针100可以包括导电针体1、绝缘固定部14以及活动安装部2。
通过绝缘固定部和活动安装部的设置,使测试针可自由组装于定位元件后适配间距不同的排状测试点。
以下针对本实用新型实施例提供的测试针100的各个元件及元件之间的连接关系作具体说明。
如图1所示,导电针体1包括位于一端的针头11和位于另一端的针尾16,还包括针头11和针尾16之间的主体针管12。在进行测试时,针头11用于与待测的测试点接触。导电针体1的针头11、针尾16和主体针管12可以由导体金属一体成型,有利于减小测试时测试针的信号传输阻抗。
可选地,针头11可采用常规的PCB探针针头的规格形状,包括但不限于尖头、圆头、九爪头、皇冠头、平头、伞型头等。在实际应用中,可以根据测试点的形状选择适合的针头11的形状。
绝缘固定部14固定设置在导电针体1上。绝缘固定部14具有柱状结构,并包含沿其中心轴延伸的中心通孔141。导电针体1穿过中心通孔141,使得针头11处于绝缘固定部14的中心线位置。绝缘固定部14的垂直于其中心轴的横截面为中心轴对称图形,包括但不限于正偶数边形(如正方形、正六边形、正八边形等)、圆形、菱形、长方形等。并且,绝缘固定部14的垂直于其中心轴的横截面的宽度尺寸与针头11待接触的测试点之间的间距适配。具体举例来说,当绝缘固定部14的垂直于其中心轴的横截面的外廓为长方形时,该横截面的宽度尺寸指长方形的长或宽,即,该长方形的长或宽与针头11待接触的测试点之间的间距相等。当绝缘固定部14的垂直于其中心轴的横截面的外廓为菱形时,该横截面的宽度尺寸指菱形的边长,即,该菱形的边长与针头11待接触的测试点之间的间距相等。
优选地,绝缘固定部14的垂直于其中心轴的横截面的外廓形状为正偶数边形或圆形。此时,当绝缘固定部14的垂直于其中心轴的横截面的外廓形状是正偶数边形时,绝缘固定部14的横截面的宽度尺寸为正偶数边形的对边宽度。当绝缘固定部14的垂直于其中心轴的横截面的外廓形状是圆形时,绝缘固定部14的横截面的宽度尺寸为圆形的直径。
这样,通过定制不同横截面宽度尺寸的绝缘固定部,选取带有合适尺寸的绝缘固定部的测试针自由组装后,由绝缘固定部限定相邻测试针的针头之间的距离,即可适配间距不同的排状测试点。
更优选地,绝缘固定部14的垂直于其中心轴的横截面的外廓形状为正方形。通过采用绝缘固定部的正方形的横截面外轮廓设计,更有利于测试针的固定和排列组装,并且能更方便地确保排列好的每根测试针的针头处于其绝缘固定部的中心位置,进而确保针头与待测测试点一一对准。
绝缘固定部14可由绝缘体材料制成,包括但不限于塑料、橡胶、树脂、玻璃、陶瓷等。
在一种可选的实施方式中,绝缘固定部14可以一体成型于导电针体1上,从而提高绝缘固定部的稳固性。具体地,可以通过纳米注塑成型工艺(Nano Molding Technology,NMT)或嵌件成型(Insert Molding)工艺将绝缘固定部14一体成型于导电针体1上。
更进一步地,参见图2所示,导电针体1的设置绝缘固定部14的位置设置有卡钩13,卡钩13镶嵌在绝缘固定部14中,以将绝缘固定部14更加牢固地固定于导电针体1上。卡钩13的形状可以为L形、U形等。
进一步优选地,卡钩13为T形,有助于提升绝缘固定部14的稳固性。
在另一种可替换的实施方式中,导电针体1的设置绝缘固定部14的位置设置有卡钩13。绝缘固定部14为沿其轴向分为两半的分体结构,每一半中具有与卡钩13的相应部分相匹配的卡槽。通过将绝缘固定部14的两半沿针体1的轴向扣合以使卡钩13嵌入绝缘固定部14的两半的卡槽中,从而将绝缘固定部14固定于针体1上。
优选地,卡钩13为T形。相应地,绝缘固定部14的两半之间相对的一侧上分别具有与T形卡钩13相匹配的半T形卡槽,从而在将绝缘固定部14的两半沿针体1的轴向扣合后,该两个半T形卡槽组合成与T形卡钩13相匹配的整体T形卡槽,以容许T形卡钩13嵌入该整体T形卡槽中。
在实际应用中,可通过外箍件等外部固定件将绝缘固定部14的两半扣合,也可以通过卡扣连接的方式将绝缘固定部14的两半扣合,本实用新型不限于此。具体地,可以在绝缘固定部14的一半上设置第一卡扣件或第一卡扣孔,相应地在绝缘固定部14的另一半上设置第二卡扣件或第二卡扣孔,通过第一卡扣件卡接在第二卡扣孔上或第二卡扣件卡接在第一卡扣孔上来实现绝缘固定部14的两半的扣合。
上文提及的卡钩13可以与针体1一体成型,也可以通过焊接等方式设置在针体1上。优选卡钩13与针体1一体成型,进一步提高绝缘固定部14的稳固度,并减小测试针100的阻抗。
在又一种可替换的实施方式中,绝缘固定部14可以设计为弹性的,并通过中心通孔141以过盈配合的方式直接套接在针体1上。
活动安装部2具有中空柱状结构,可转动地设置在针体1的靠近针尾16的部分上,并在使用时能够相对于绝缘固定部14移动以根据相应的定位元件的厚度调整自身与绝缘固定部14之间的间距,从而将测试针100固定于该定位元件上。活动安装部2的垂直于其中心轴的横截面的最大宽度小于绝缘固定部14的垂直于其中心轴的横截面的宽度尺寸,从而保证多根测试针100排列组装时,相邻测试针100的绝缘固定部14可以互相紧靠。活动安装部2可以由金属导体或绝缘体材料制成,包括但不限于铜、塑料、橡胶、树脂、陶瓷等。
可选地,活动安装部2的外轮廓可以为圆柱状或直n棱柱状,其中,n为大于或等于3的整数,例如直四棱柱、直六棱柱等。
在一种优选的实施方式中,参见图1至图3所示,针体1的靠近针尾16的部分设置有外螺纹15。相应地,活动安装部2设置有内螺纹21,通过内螺纹21与外螺纹15的旋接将活动安装部2转动设置于针体1上。通过采用螺纹连接的方式,可方便地将活动安装部2旋接在针体1上或从针体1上取下,进而能够方便地在定位元件上安装和取下测试针100。
更优选地,活动安装部2的长度小于外螺纹15的长度,以便在将活动安装部2旋接在针体1上后,能够露出针体1的针尾16。进而,可以在针尾16处焊接连接元件,以用于与外部元件进行连接,从而实现将测试信号通过测试针100传输至该外部元件。上述提及的连接元件可以包括排针和/或导线等连接线。由于针体1由导体金属一体成型,通过在针尾16焊接排针或连接线实现测试针100与外部元件的连接,可使测试针100的阻抗最小化,提高测试信号的传输效率。
相应地,本实用新型实施例还提供了一种用于固定上述任一实施例或其组合所述的测试针100的定位元件200。
图4和图5分别示出了根据本实用新型一实施例的定位元件200的结构示意图。参见图4和图5所示,定位元件200可以包括片状主体201,以及设置在片状主体201中的一个或多个条形孔202。通过以测试针100的绝缘固定部14和活动安装部2夹紧定位元件200的片状主体201的方式,将测试针100固定在条形孔202中。
图6示出了根据本实用新型一实施例的测试针100固定于定位元件200上的示意图。如图6所示,在固定测试针100时,在未旋接活动安装部2的情况下,将测试针100的针尾部分穿过定位元件200的条形孔202,直到绝缘固定部14抵靠在片状主体201上,然后,将活动安装部2从针尾16通过螺纹旋入至抵靠片状主体201,从而通过旋紧卡住的力使绝缘固定部14和活动安装部2夹紧片状主体201,进而将测试针100固定在条形孔202中。
片状主体201由绝缘材料制成,以保证测试信号的正常传输。
可选地,当定位元件200具有多个条形孔202时,条形孔202之间的位置关系可以为下列情况的任意之一:
条形孔202之间互相平行;
条形孔202之间互相交叉;
一部分条形孔202互相平行;
一部分条形孔202互相交叉。
通过设计条形孔202的不同位置关系,可使测试针100固定于定位元件200的不同位置,进而使测试针100适配于不同位置和排列规则的测试点。
基于同一构思,本实用新型实施例还提供了一种测试夹具300。
图7和图8分别示出了根据本实用新型一实施例的测试夹具300的结构示意图。参见图7和图8所示,测试夹具300包括定位元件200,以及排列组装于定位元件200上的多根测试针100。定位元件200包括片状主体201和条形孔202。测试针100包括导电针体1、绝缘固定部14和活动安装部2。每根测试针100通过以绝缘固定部14和活动安装部2夹紧片状主体201的方式被固定在条形孔202中。相邻两根测试针100的绝缘固定部14互相紧靠,使该两根测试针100的针头之间的间距与该两根测试针100的针头待接触的测试点之间的间距相同。在测试点的位置和/或排列规则改变时,通过根据测试点之间的间距选择带有不同横截面宽度尺寸的绝缘固定部的测试针,并根据测试点的排列规则将测试针排列固定于定位元件的条形孔的不同位置,无需重新定制定位片,即可得到适配于测试点的位置和排列变化的测试夹具。
本文中提及的测试点可以包括芯片引脚、模块管脚、PCB测试点、PCB连接器等。
根据上述任意一个优选实施例或多个优选实施例的组合,本实用新型实施例能够达到如下有益效果:
本实用新型实施例提出的测试针,其针体上设置有具有柱状结构的绝缘固定部,针体穿过绝缘固定部的中心通孔,使针体的针头处于绝缘固定部的中心线位置,并且绝缘固定部的垂直于其中心轴的横截面为中心轴对称图形,且该横截面的宽度尺寸与针头待接触的测试点之间的间距适配。该测试针还设置有可转动地设置在针体的靠近针尾部分的活动安装部。本实用新型实施例还提出了与该测试针搭配使用的定位元件,该定位元件包括片状主体和设置在片状主体中的一个或多个条形孔。通过这样的结构设计,在多根测试针进行排列组装时,通过测试针的绝缘固定部和活动安装部夹紧定位元件的片状主体的方式,将测试针固定在条形孔中,并且使相邻两根测试针的绝缘固定部互相紧靠。由于绝缘固定部的横截面宽度尺寸适配于针头待接触的测试点之间的间距,使得该两根测试针的针头之间的间距与该两根测试针的针头待接触的测试点之间的间距相同,进而使测试中探针可与测试点一一对准。如此,通过定制不同横截面宽度尺寸的绝缘固定部,选取带有合适尺寸的绝缘固定部的测试针自由组装于该定位元件后,即可适配间距不同的排状测试点,而无需重新定制定位片。
进一步地,定位元件的多个条形孔可以设置为平行或交叉等位置关系,如此,当测试点的位置和排列规则发生变化时,可根据需求在定位元件上自行安装和取下测试针,并在条形孔范围内变换测试针的固定位置,从而更好地适配测试点的位置变化。
在此处所提供的说明书中,说明了大量具体细节。然而,能够理解,本实用新型的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中,并未详细示出公知的方法、结构和技术,以便不模糊对本说明书的理解。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:在本实用新型的精神和原则之内,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案脱离本实用新型的保护范围。
Claims (19)
1.一种测试针,其特征在于,包括:
导电针体,包括位于一端的用于与测试点接触的针头和位于另一端的针尾;
绝缘固定部,具有柱状结构并包含中心通孔,所述绝缘固定部以所述针体穿过所述中心通孔的方式固定设置于所述针体上,其中,所述绝缘固定部的垂直于其中心轴的横截面为中心轴对称图形,且所述横截面的宽度尺寸与所述针头待接触的测试点之间的间距适配;以及
活动安装部,具有中空柱状结构,可转动地设置于所述针体的靠近针尾的部分,并能够相对于所述绝缘固定部移动以根据定位元件的厚度调整自身与所述绝缘固定部之间的间距,从而将所述测试针固定于所述定位元件上,其中,所述活动安装部的垂直于其中心轴的横截面的最大宽度小于所述绝缘固定部的所述横截面的宽度尺寸。
2.根据权利要求1所述的测试针,其特征在于,所述绝缘固定部的垂直于其中心轴的横截面的外廓形状包括正偶数边形或圆形;
其中,当所述绝缘固定部的垂直于其中心轴的横截面的外廓形状是正偶数边形时,所述绝缘固定部的横截面的宽度尺寸为所述正偶数边形的对边宽度;
当所述绝缘固定部的垂直于其中心轴的横截面的外廓形状是圆形时,所述绝缘固定部的横截面的宽度尺寸为所述圆形的直径。
3.根据权利要求2所述的测试针,其特征在于,所述绝缘固定部的垂直于其中心轴的横截面的外廓形状为正方形。
4.根据权利要求1所述的测试针,其特征在于,所述绝缘固定部一体成型于所述针体上。
5.根据权利要求4所述的测试针,其特征在于,所述针体的设置所述绝缘固定部的位置设置有卡钩,所述卡钩镶嵌在所述绝缘固定部中,以将所述绝缘固定部固定于所述针体上。
6.根据权利要求1所述的测试针,其特征在于,所述针体的设置所述绝缘固定部的位置设置有卡钩;
所述绝缘固定部为沿其轴向分为两半的分体结构,每一半中具有与所述卡钩的相应部分相匹配的卡槽;其中,通过将所述绝缘固定部的两半沿所述针体的轴向扣合以使所述卡钩嵌入所述卡槽中,从而将所述绝缘固定部固定于所述针体上。
7.根据权利要求5或6所述的测试针,其特征在于,所述卡钩为T形。
8.根据权利要求1所述的测试针,其特征在于,所述绝缘固定部为弹性的,并通过所述中心通孔套接在所述针体上。
9.根据权利要求1所述的测试针,其特征在于,所述活动安装部的外轮廓为圆柱状或直n棱柱状,其中,n为大于或等于3的整数。
10.根据权利要求1所述的测试针,其特征在于,所述针体的靠近针尾的部分设置有外螺纹,所述活动安装部设置有内螺纹,所述活动安装部通过所述内螺纹与所述外螺纹的旋接转动设置于所述针体上。
11.根据权利要求10所述的测试针,其特征在于,所述活动安装部的长度小于所述外螺纹的长度。
12.根据权利要求11所述的测试针,其特征在于,所述针体的针尾焊接有连接元件,用于与外部元件进行连接。
13.根据权利要求12所述的测试针,其特征在于,所述连接元件包括排针和/或导线。
14.根据权利要求1所述的测试针,其特征在于,所述针体的针头为下列之一:
尖头、圆头、九爪头、皇冠头、平头、伞型头。
15.一种定位元件,用于固定根据权利要求1-14中任一项所述的测试针,其特征在于,包括:
片状主体;以及
设置在所述片状主体中的一个或多个条形孔;
其中,通过以所述测试针的绝缘固定部和活动安装部夹紧所述定位元件的片状主体的方式,将所述测试针固定在所述条形孔中。
16.根据权利要求15所述的定位元件,其特征在于,所述多个条形孔之间的位置关系为下列之一:
所述多个条形孔互相平行;
所述多个条形孔互相交叉;
所述多个条形孔中的一部分条形孔互相平行;
所述多个条形孔中的一部分条形孔互相交叉。
17.根据权利要求15或16所述的定位元件,其特征在于,所述片状主体是绝缘的。
18.一种测试夹具,其特征在于,包括:
根据权利要求15-17中任一项所述的定位元件;以及
排列组装于所述定位元件上的多根根据权利要求1-14中任一项所述的测试针;
其中,每根所述测试针通过以所述测试针的绝缘固定部和活动安装部夹紧所述定位元件的片状主体的方式被固定在所述定位元件的条形孔中,并且相邻两根所述测试针的绝缘固定部互相紧靠,使该两根测试针的针头之间的间距与该两根测试针的针头待接触的测试点之间的间距相同。
19.根据权利要求18所述的测试夹具,其特征在于,所述测试点包括下列至少之一:
芯片引脚、模块管脚、印刷电路板PCB测试点、PCB连接器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201822042534.7U CN209690374U (zh) | 2018-12-06 | 2018-12-06 | 一种测试针、定位元件和测试夹具 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201822042534.7U CN209690374U (zh) | 2018-12-06 | 2018-12-06 | 一种测试针、定位元件和测试夹具 |
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---|---|
CN209690374U true CN209690374U (zh) | 2019-11-26 |
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ID=68595654
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201822042534.7U Active CN209690374U (zh) | 2018-12-06 | 2018-12-06 | 一种测试针、定位元件和测试夹具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN209690374U (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112557879A (zh) * | 2020-12-12 | 2021-03-26 | 江西洪都航空工业集团有限责任公司 | 一种用于快速测试电机驱动器硬件板卡的装置 |
CN116990656A (zh) * | 2023-09-27 | 2023-11-03 | 苏州朗之睿电子科技有限公司 | 半导体测试器用测试片及其制备方法 |
-
2018
- 2018-12-06 CN CN201822042534.7U patent/CN209690374U/zh active Active
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CN116990656A (zh) * | 2023-09-27 | 2023-11-03 | 苏州朗之睿电子科技有限公司 | 半导体测试器用测试片及其制备方法 |
CN116990656B (zh) * | 2023-09-27 | 2023-12-12 | 苏州朗之睿电子科技有限公司 | 半导体测试器用测试片及其制备方法 |
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