CN215297446U - 测试探针、测试夹具及测试系统 - Google Patents

Abstract

本申请公开的测试探针、测试夹具及测试系统，测试探针包括壳体、弹性件和两个探头，壳体具有容置空间，且壳体的两相对端具有连通至容置空间的第一开口和第二开口，弹性件设于容置空间中，两个探头分别设于壳体的两相对端，各个探头设于容置空间中并与弹性件抵接，且各个探头分别穿过第一开口和第二开口延伸至容置空间外，至少一个探头为限位探头，限位探头可相对壳体转动以调整测试探针的阻抗，且限位探头设有限位件，限位件用于限制限位探头在调整测试探针的阻抗后可保持在当前位置。本实用新型实施例提供的测试探针、测试夹具及测试系统，能够在确保测试结果的可靠度的同时，节省测试探针的制作费用，降低测试成本。

Description

测试探针、测试夹具及测试系统

技术领域

本实用新型涉及电子测试技术领域，尤其涉及一种测试探针、测试夹具及测试系统。

背景技术

相关技术中的芯片在制造完成后，通常需要对其进行电性特性测试，而常用的测试手段是利用测试夹具(Socket)内的测试探针(Pogo pin)与芯片的引脚(Pad)进行接触，以测定芯片的电性特性。

但是，由于相关技术中的测试探针的阻抗一般都是固定的，而且测试探针的插入损耗会因测试探针的阻抗的不同而产生差异，影响测试结果。因此，为了确保测试结果的可靠度，需根据测试要求的射频(Radio Frequency，RF)特性阻抗，重新制作阻抗不一样的测试探针，或者，测试前制作不同阻抗的探针，这样会导致花费在测试探针的制作上的费用较高，导致测试成本高。

实用新型内容

本实用新型实施例公开了一种测试探针、测试夹具及测试系统，能够在确保测试结果的可靠度的同时，节省测试探针的制作费用，降低测试成本。

为了实现上述目的，第一方面，本实用新型公开了一种测试探针，所述测试探针包括壳体、弹性件和两个探头，所述壳体具有容置空间，所述壳体具有相对的第一相对端和第二相对端，所述第一相对端设有连通至所述容置空间的第一开口，所述第二相对端设有连通至所述容置空间的第二开口，所述弹性件设于所述容置空间中，

两个探头，两个所述探头分别设于所述第一相对端和所述第二相对端，各个所述探头位于所述容置空间中并与所述弹性件抵接，且两个所述探头分别穿过所述第一开口和所述第二开口延伸至所述容置空间外；

至少一个所述探头为限位探头，所述限位探头可相对所述壳体转动，以调整所述测试探针的阻抗，且所述限位探头设有限位件，所述限位件用于限制所述限位探头在调整所述测试探针的阻抗后保持在当前位置，这样能够根据测试的实际需求，调整所述测试探针的阻抗，而无需重新制作新的阻抗不一样的测试探针或是在测试前制作不同阻抗的测试探针，使得所述测试探针的阻抗可以接近或处于最佳阻抗值，进而使得所述测试探针因测试环境导致的插入损耗可以最小化，有利于提高测试结果的可靠度，与此同时还有利于节省制作所述测试探针所需的费用，降低测试成本。

进一步地，通过设置所述限位件，使得在调整所述测试探针的阻抗后，所述限位探头可以维持在当前状态，以使所述测试探针的阻抗可以维持在调整后的阻抗值，不影响所述测试探针的使用。

作为一种可选的实施方式，在本实用新型第一方面的实施例中，所述限位探头包括主体部和抵接部，所述主体部位于所述容置空间中，且所述主体部穿过所述第一开口和/或所述第二开口延伸至所述容置空间外，所述抵接部位于所述容置空间中并与所述主体部连接；

所述限位件包括第一螺纹和第二螺纹，所述第一螺纹设于所述主体部与所述抵接部连接的端部，所述第二螺纹设于所述抵接部与所述主体部连接的端部，所述第二螺纹与所述第一螺纹配合连接，以在转动所述主体部时，所述抵接部可相对所述壳体移动，并在停止转动所述主体部时，所述抵接部可保持在当前位置。这样，在转动所述限位探头以调整所述测试探针的阻抗时，两个所述探头和所述壳体三者的总长度保持恒定，也即是在调整了所述测试探针的阻抗后，在安装时，由于两个所述探头对所述弹性件的压缩量是固定的，则所述测试探针压缩后的总长度不变，使得所述测试探针仍可以适配安装于测试夹具，以进行测试。

作为一种可选的实施方式，在本实用新型第一方面的实施例中，当两个所述探头中的一个探头为限位探头时，所述限位探头的所述主体部用于与电路板的第一引脚接触连接，也即是仅有一个探头设有螺纹，且设有螺纹的探头与电路板的第一引脚电连接，以使没有设有螺纹的探头用于与芯片的第二引脚接触连接，这主要是因为两个探头中的与电路板的第一引脚接触的探头在安装后是处于压缩状态的，而且在测试过程中与电路板的第一引脚接触连接的探头是不会再活动的，而另一个与芯片的第二引脚接触连接的探头在测试的时候需要伸缩，因此，将螺纹设置在与电路板的第一引脚接触连接的探头，能够避免出现因螺纹在频繁活动的情况下容易造成螺纹松动而导致螺纹损坏的情况，可靠性较好。

作为一种可选的实施方式，在本实用新型第一方面的实施例中，所述第一螺纹和所述第二螺纹中的其中一个为内螺纹，所述第一螺纹和所述第二螺纹中的另一个为外螺纹。采用上述实施方式，均能实现在转动所述主体部时，所述抵接部可相对所述壳体移动，以调整所述测试探针的阻抗，而在停止转动所述主体部时，所述抵接部可保持在当前位置，以使所述测试探针的阻抗可以维持在调整后的阻抗值。

作为一种可选的实施方式，在本实用新型第一方面的实施例中，所述第二开口与所述第一开口相对设置。这样能够确保两个探头和所述弹性件的轴线位于同一直线，使得两个探头都能沿着所述弹性件的轴线挤压所述弹性件，避免挤压所述弹性件时，所述弹性件发生倾斜，便于测试时挤压所述弹性件，稳定性较好。

作为一种可选的实施方式，在本实用新型第一方面的实施例中，所述限位件包括第三螺纹和第四螺纹，所述第三螺纹设于所述限位探头的外周面，所述第四螺纹设于所述第一开口和/或所述第二开口的内表面，所述第四螺纹与所述第三螺纹配合连接，以在转动所述限位探头时，所述限位探头可相对所述壳体移动，并在停止转动所述限位探头时，所述限位探头可保持在当前位置。通过利用探头的外表面的螺纹和开口的内表面的螺纹相互配合连接的方式，实现探头的位于所述容置空间的部分可相对所述壳体移动，以调整所述测试探针的阻抗，无需在探头位于所述容置空间的部分额外设置抵接部，有利于减少所述测试探针的组装步骤，提高所述测试探针的组装效率，同时也有利于使所述测试探针的结构更紧凑。

作为一种可选的实施方式，在本实用新型第一方面的实施例中，所述弹性件包括弹簧。通过所述弹性件采用弹簧，能够利用弹簧较强的稳定性，使得所述测试探针的探头可以与电路板的第一引脚和芯片的第二引脚保持良好的接触，可靠性比较好，以使测试稳定可靠，同时还可以利用弹簧较优的耐疲劳性能，使得所述测试探针可以具有较长的使用寿命。

作为一种可选的实施方式，在本实用新型第一方面的实施例中，至少一个所述探头的位于所述容置空间外的端部设有多个测试部，相邻的两个所述测试部之间形成V字形开槽，各所述V字形开槽相互贯通，多个所述测试部用于与芯片的第二引脚上的锡球接触。可以理解的，探头与芯片的第二引脚通常采用锡球接触，多个锥形测试部可以使得该探头更好地与锡球接触，避免测试时该探头与芯片的第二引脚接触不良而影响测试时的稳定性，而且，采用多个锥形测试部可以避免该探头对锡球外观的造成影响。

第二方面，本实用新型公开了一种测试夹具，所述测试夹具具有如第一方面所述的测试探针。可以理解的是，所述测试夹具包括第一方面所述的测试探针，则所述测试夹具具有第一方面的测试探针的有益效果。

第三方面，本实用新型公开了一种测试系统，所述测试系统包括电路板、芯片和如第一方面所述的测试探针，所述电路板具有第一引脚，所述芯片具有第二引脚，两个所述探头中的其中一个探头与所述第一引脚接触连接，两个所述探头中的另一个探头与所述第二引脚接触连接。可以理解的是，所述测试系统包括第一方面所述的测试探针，则所述测试系统具有第一方面的测试探针的有益效果。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：

本实用新型实施例提供的测试探针、测试夹具及测试系统，通过将两个探头中的至少一个探头设置为限位探头，且该限位探头可以相对壳体转动的探头，以使该测试探针的阻抗可以调整，从而能够根据测试的实际需求，调整测试探针的阻抗，而无需重新制作新的阻抗不一样的测试探针或是在测试前制作不同阻抗的测试探针，使得测试探针的阻抗可以接近或处于最佳阻抗值，进而使得因测试环境导致的插入损耗可以最小化，有利于提高测试结果的可靠度，与此同时还有利于节省制作测试探针所需的费用，降低测试成本。

进一步地，通过设置限位件，使得在调整测试探针的阻抗后，限位探头可以维持在当前状态，以使测试探针的阻抗可以维持在调整后的阻抗值，避免出现测试探针的阻抗在调整后恢复至最初的阻抗值而影响测试结果的情况。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型实施例公开的测试探针处于第一视角的结构示意图；

图2是图1的测试探针沿a-a方向的剖面示意图；

图3是图2的测试探针的分解结构示意图；

图4是本实用新型实施例公开的限位探头的一种结构示意图；

图5是本实用新型实施例公开的限位探头的另一种结构示意图；

图6是本实用新型实施例公开的测试探针的剖视图；

图7是本实用新型实施例公开的测试探针处于第二视角的结构示意图；

图8是图7中A处的局部放大图；

图9是图8的前视图。

图标：100、测试探针；1、壳体；11、容置空间；12、第一相对端；121、第一开口；122、第四螺纹；13、第二相对端；131、第二开口；2、弹性件；3、探头；31、主体部；311、第一螺纹；312、螺纹孔；32、抵接部；321、第二螺纹；322、螺杆；33、第三螺纹；35、测试部；36、V字形开槽。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型中，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“中”、“竖直”、“水平”、“横向”、“纵向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系。这些术语主要是为了更好地描述本实用新型及其实施例，并非用于限定所指示的装置、元件或组成部分必须具有特定方位，或以特定方位进行构造和操作。

并且，上述部分术语除了可以用于表示方位或位置关系以外，还可能用于表示其他含义，例如术语“上”在某些情况下也可能用于表示某种依附关系或连接关系。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解这些术语在本实用新型中的具体含义。

此外，术语“安装”、“设置”、“设有”、“连接”、“相连”应做广义理解。例如，可以是固定连接，可拆卸连接，或整体式构造；可以是机械连接，或电连接；可以是直接相连，或者是通过中间媒介间接相连，又或者是两个装置、元件或组成部分之间内部的连通。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

此外，术语“第一”、“第二”等主要是用于区分不同的装置、元件或组成部分(具体的种类和构造可能相同也可能不同)，并非用于表明或暗示所指示装置、元件或组成部分的相对重要性和数量。除非另有说明，“多个”的含义为两个或两个以上。

本申请一实施方式公开了一种测试夹具(Socket)，所述测试夹具具有测试探针(Pogo pin)，所述测试探针具有两个探头，其中一个探头可以用于与电路板的第一引脚接触连接，另一个探头可以用于与芯片的第二引脚接触连接，以对芯片进行电性特性测试，测定芯片的电性特性。

本申请另一实施方式公开了一种测试系统，所述测试系统可以包括电路板、芯片和测试探针，所述电路板具有第一引脚，所述芯片具有第二引脚，所述测试探针具有两个探头，其中一个探头可以与电路板的第一引脚接触连接，另一个探头可以与芯片的第二引脚接触连接，以对芯片进行电性特性测试，测定芯片的电性特性。

其中，上述提及的芯片可以为芯片封装类产品，例如可以为采用表面贴装型封装技术或球栅阵列(Ball Grid Array Package，BGA)封装技术等封装技术，且引脚为封装在芯片内部(Pad)或锡球类的芯片。其中，表面贴装型封装可以为双侧无引脚扁平封装(DualFlat Non-Leaded Package，DFN)或四侧无引脚扁平封装(Quad Flat Non-LeadedPackage，QFN)等；球栅阵列封装具体可为球形光栅阵列封装(Thin Fine-Pitch Ball GridArray Package，TFBGA)。

下面将结合实施例和附图对本实用新型的技术方案作进一步的说明。

请参阅图1至图3，图1为本申请一实施方式提供的测试探针的结构示意图，图2和图3为本申请实施例公开的限位探头包括主体部和抵接部的一种结构示意图。本申请中的测试探针100可以包括壳体1、弹性件2和两个探头3，壳体1具有容置空间11，且所述壳体1具有相对的第一相对端12和第二相对端13，第一相对端12可以设有连通至容置空间11的第一开口121，第二相对端13设有连通至容置空间11的第二开口131，弹性件2设于容置空间11中，两个探头3分别设于第一相对端12和第二相对端13，各个探头3位于容置空间11中与弹性件2抵接，且两个探头3分别穿过第一开口121和第二开口131延伸至容置空间11外。两个探头3中的至少一个探头为限位探头，所述限位探头可相对壳体1转动，以调整测试探针100的阻抗，适应不同的测试需要。

也即是说，通过将两个探头3的至少一个探头设置为限位探头，并且在转动所述限位探头时，限位探头可以相对壳体1移动，以使测试探针100的阻抗可以调整，从而能够根据测试的实际需求调整测试探针100的阻抗，使得测试探针100的阻抗可以接近或处于最佳阻抗值，进而使得测试探针100因测试环境导致的插入损耗可以最小化，有利于提高测试结果的可靠度。换言之，当测试环境改变时，无需重新制作新的阻抗不一样的测试探针100或是在测试前制作不同阻抗的测试探针100，而是可以通过转动限位探头，以使限位探头可以相对壳体1移动，从而可改变测试探针100的阻抗，适应不同的测试需要，从而能够在确保测试结果的可靠度的同时，节省测试探针100的制作费用，降低测试成本。

一些实施例中，所述壳体1和两个探头3都可以为柱状结构，弹性件2也可以柱状结构。可选地，第二开口131与第一开口121可以相对设置，这样能够确保两个探头和弹性件2的轴线位于同一直线L，使得两个探头3都能沿着弹性件2的轴线挤压所述弹性件2，从而能够避免挤压所述弹性件2时，弹性件2发生倾斜，进而便于测试时挤压弹性件2，稳定性较好。

本申请提供的限位探头设有限位件，所述限位件可以用于限制所述限位探头在调整所述测试探针100的阻抗后保持在当前位置，以使测试探针100的阻抗可以维持在调整后的阻抗值，避免测试探针100的阻抗在调整后恢复至最初的阻抗值而影响测试结果。

为了能在转动限位探头时，限位探头可相对所述壳体1移动以调整测试探针100的阻抗，而在停止转动限位探头时，限位探头可以保持在当前位置，作为一种可选的实施方式，如图3所示，限位探头可以包括相互连接的主体部31和抵接部32，主体部31位于容置空间11中，且主体部31穿过第一开口121和/或第二开口131延伸至容置空间11外，抵接部32位于容置空间11中并与主体部31连接。限位件包括互相适配的第一螺纹311和第二螺纹321，所述第一螺纹311设于主体部31与抵接部32连接的端部，第二螺纹321设于抵接部32与主体部31连接的端部，第二螺纹321与第一螺纹311连接，以在转动主体部31时，抵接部32可相对壳体1移动以调整测试探针100的阻抗，并在停止转动主体部31时，利用第一螺纹311和第二螺纹321之间的锁紧力，使得抵接部32可保持在当前位置。

可以理解的，在转动主体部31以调整测试探针100的阻抗时，两个探头和壳体1三者的总长度可以保持恒定，也即是在调整了测试探针100的阻抗后，在安装时，由于两个探头3在受到沿测试探针100的轴向的作用力时对弹性件2的压缩量是固定的，测试探针100压缩后的总长度可以保持不变，从而使得测试探针100在调整了自身的阻抗后仍可以适配安装于测试夹具，以进行测试，便于测试探针100的安装。其中，测试探针100的轴向可为测试探针100从其中一个探头到另一个探头的方向，如图1中的箭头x所指的方向。

进一步地，在调整测试探针100的阻抗时，抵接部32会挤压弹性件2，此时的抵接部32会受到弹性件2因受压而产生的作用力，以使抵接部32具有移动的趋势，而使测试探针100的阻抗会重新发生改变，而本申请的主体部31和抵接部32之间采用螺纹的连接方式，能够在实现调整测试探针100的阻抗的同时，便于在调整测试探针100的阻抗后，能够利用第一螺纹311和第二螺纹321之间的锁紧力，以使抵接部32维持在当前状态，使得测试探针100的阻抗可以维持在调整后的阻抗值，而且这样的设计使得测试探针100的结构比较简单，有利于测试探针100的小型化设计。

优选地，两个探头3中有且仅有一个探头为限位探头，即两个探头3中有且仅有一个探头包括相互连接的主体部31和抵接部32，限位探头的主体部31用于与电路板的第一引脚接触连接，换言之，在此优选的实施方式中，仅有一个探头设有螺纹，且设有螺纹的探头与电路板的第一引脚电连接，以使没有设有螺纹的探头可以用于与芯片的第二引脚接触连接。这主要是因为两个探头中的与电路板的第一引脚接触的探头在安装后是处于压缩状态的，而且在测试过程中与电路板的第一引脚接触的探头是不会再活动的，而另一个与芯片的第二引脚接触连接的探头在测试的时候需要伸缩，因此，将设有第一螺纹311和第二螺纹321的探头与电路板的第一引脚接触连接，没有设有第一螺纹311和第二螺纹321的探头与芯片的第二引脚接触连接，能够避免出现因第一螺纹311和第二螺纹321在频繁活动的情况下容易造成第一螺纹311和第二螺纹321松动而导致第一螺纹311和第二螺纹321损坏的情况，这样可靠性较好。

前述的第一螺纹311和第二螺纹321中的其中一个可以为内螺纹，第一螺纹311和第二螺纹321中的另一个可以为外螺纹。示例性地，如图4所示，图4为本申请实施例公开的主体部31设有螺纹孔312，抵接部32设有螺杆322的一种结构示意图，主体部31的与抵接部32连接的一端可以设有开口朝向抵接部32设置的螺纹孔312，第一螺纹311为设于螺纹孔312的内壁面的内螺纹，抵接部32的与主体部31连接的一端可以为与螺纹孔312配合的螺杆322，第二螺纹321为设于螺杆322的外表面的外螺纹。另一种示例性的，如图5所示，图5为本申请实施例公开的主体部设有螺杆，抵接部设有螺纹孔的一种结构示意图，抵接部32的与主体部31连接的一端可以设有开口朝向主体部31设置的螺纹孔312，第二螺纹321为设于螺纹孔312的内壁面的内螺纹，主体部31的与抵接部32连接的一端可以为与螺纹孔312配合的螺杆322，第一螺纹311为设于螺杆322的外表面的外螺纹。无论是采用上述哪种实施方式，均能在转动主体部31时，抵接部32可相对壳体1转动，以调整测试探针100的阻抗，并能在停止转动主体部31时，抵接部32可以保持在当前状态。

作为另一种可选的实施方式，如图6所示，图6为本申请实施例公开的限位探头的外周面设有第三螺纹，第一开口的内表面设有第四螺纹的一种结构示意图。限位件包括互相适配的第三螺纹33和第四螺纹122，第三螺纹33设于限位探头的外周面，第四螺纹122设于第一开口121和/或第二开口131的内表面，所述第四螺纹122与第三螺纹33连接，以在转动限位探头时，限位探头可相对壳体1移动，调整测试探针100的阻抗，并在停止转动限位探头时，限位探头可保持在当前位置。通过利用限位探头的外表面的第三螺纹33和第一开口121和/或第二开口131的内表面的第四螺纹122相互配合连接的方式，能够在通过转动限位探头调整测试探针100的阻抗的同时，相较于限位探头包括通过螺纹连接的主体部31和抵接部32的方式而言，有利于减少测试探针100的组装步骤，提高测试探针100的组装效率，同时也有利于使测试探针100的结构更紧凑。

在此实施方式中，同样可以在调整测试探针100的阻抗后，利用第三螺纹33和第四螺纹122之间的锁紧力，以使限位探头维持在当前状态，使得测试探针100的阻抗可以维持在调整后的阻抗值。

而且在此实施方式中，在转动限位探头以调整测试探针100的阻抗时，两个探头3和壳体1三者的总长度会发生改变，使得测试探针100在调整了自身的阻抗后无法适配安装于测试夹具，而且，由于第三螺纹33设于限位探头的外周面，而第四螺纹122设于第一开口121和/或第二开口131的内表面，使得在测试时，尽管限位探头受到了沿测试探针100的轴向的作用力也无法相对壳体1伸缩，为此，可以将限位探头设计为在受外力作用时可以伸缩的探头，以克服上述问题，也即是说，在调整了测试探针100的阻抗后，例如两个探头3和壳体1三者的总长度变短了，由于限位探头可以伸缩，因此在测试时，可以调整限位探头的长度，以弥补上述长度差，以满足测试需要。

可以理解的是，在其他实施例中，除了可以采用在限位探头的外周面设有第三螺纹33，对应地，在第一开口121和/或第二开口131的内表面设有第四螺纹122的方式外，还可以在限位探头的外周面设有限位块，在第一开口121和/或第二开口131的内表面设有多个限位槽，多个限位槽可以沿壳体的轴向间隔排列设置，所述限位块可以卡接于其中一个限位槽中，以使限位探头在调整测试探针100的阻抗后可维持在当前状态，使得测试探针100的阻抗可以维持在调整后的阻抗值。

示例性地，限位探头的外周面设有限位块，第一开口的内表面设有5个限位槽，5个限位槽分别为第一限位槽、第二限位槽、第三限位槽、第四限位槽和第五限位槽，假设在调整测试探针的阻抗前，限位块卡接于第二限位槽，当在转动限位探头以调整测试探针的阻抗时，可以使限位块不再卡接于第二限位槽，限位探头可以相对壳体移动，以调整测试探针的阻抗，待将测试探针阻抗调整至预设阻抗值时，限位块可以卡接于第一限位槽或第三限位槽或第四限位槽或第五限位槽，以使限位探头维持在当前状态，使得测试探针的阻抗可以维持在调整后的阻抗值。

一些实施例中，弹性件2可以为弹簧、金属弹片或由弹性材料形成并在其表面涂布有导电材料的弹性柱等。可以理解的，当本申请的限位探头采用包括通过螺纹连接的主体部31和抵接部32的方式，调整测试探针100的阻抗同时可利用螺纹的锁紧力将抵接部32维持在当前状态时，在测试时，两个探头3受到了沿测试探针100的轴向的作用力时会适当挤压弹性件2，这样可以利用弹性件2受压产生的作用力，使得测试探针100的两个探头3能够始终与电路板的第一引脚和芯片的第二引脚形成紧密接触。示例性地，弹性件2可以为弹簧。这样，能够利用弹簧本身具有较强的稳定性，使得测试探针100的探头可以与电路板的第一引脚和芯片的第二引脚保持良好的接触，可靠性比较好，以使测试稳定可靠；此外，还可以利用弹簧较优的耐疲劳性能，使得测试探针100可以具有较长的使用寿命，提高测试探针100的使用寿命。

结合图7至图9所示，一些实施例中，至少一个探头的位于容置空间11外的端部设有多个测试部35，相邻的两个测试部35之间形成V字形开槽36，各个V字形开槽36相互贯通，如图7和图8所示。多个锥形测试部35可以用于芯片的第二引脚接触连接。

可以理解的，两个探头3中与芯片的第二引脚接触连接的探头(以下简称第一探头)与芯片的第二引脚之间通常采用锡球接触，多个锥形测试部35可以使第一探头更好地与锡球接触，确保了第一探头可以稳定地接触于芯片的第二引脚，不易滑开，从而能够避免测试时，第一探头与芯片的第二引脚接触不良而影响测试时的稳定性，而且，采用此结构设计的第一探头，可以避免第一探头对锡球外观的造成影响。

本实用新型实施例提供的测试探针、测试夹具及测试系统，测试探针的限位探头包括主体部和抵接部，且主体部和抵接部通过第一螺纹和第二螺纹连接，以使在转动主体部时，抵接部可相对壳体移动，以调整测试探针的阻抗，从而能够根据测试的实际需求，调整所述测试探针的阻抗，而无需重新制作新的阻抗不一样的测试探针或是在测试前制作不同阻抗的测试探针，使得所述测试探针的阻抗可以接近或处于最佳阻抗值，进而使得所述测试探针因测试环境导致的插入损耗可以最小化，有利于提高测试结果的可靠度，与此同时还有利于节省制作所述测试探针所需的费用，降低测试成本。

进一步地，采用第二螺纹与第一螺纹的配合连接实现主体部和抵接部之间的连接，能够在实现调整测试探针的阻抗的同时，便于在调整测试探针的阻抗后，能够利用第一螺纹和第二螺纹之间的锁紧力，以使限位探头可维持在当前状态，使得测试探针的阻抗维持在调整后的阻抗值，而且这样的设计能使测试探针的结构比较简单、紧凑。

以上对本实用新型实施例公开的一种测试探针、测试夹具及测试系统进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的测试探针、测试夹具及测试系统及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。

Claims (10)

1.一种测试探针，其特征在于，所述测试探针包括：

壳体，所述壳体具有容置空间，所述壳体具有相对的第一相对端和第二相对端，所述第一相对端设有连通至所述容置空间的第一开口，所述第二相对端设有连通至所述容置空间的第二开口；

弹性件，所述弹性件设于所述容置空间中；以及

两个探头，两个所述探头分别设于所述第一相对端和所述第二相对端，各个所述探头位于所述容置空间中并与所述弹性件抵接，且两个所述探头分别穿过所述第一开口和所述第二开口延伸至所述容置空间外；

至少一个所述探头为限位探头，所述限位探头可相对所述壳体转动，以调整所述测试探针的阻抗，且所述限位探头设有限位件，所述限位件用于限制所述限位探头在调整所述测试探针的阻抗后保持在当前位置。

2.根据权利要求1所述的测试探针，其特征在于，所述限位探头包括主体部和抵接部，所述主体部位于所述容置空间中，且所述主体部穿过所述第一开口和/或所述第二开口延伸至所述容置空间外，所述抵接部位于所述容置空间中并与所述主体部连接；

所述限位件包括第一螺纹和第二螺纹，所述第一螺纹设于所述主体部与所述抵接部连接的端部，所述第二螺纹设于所述抵接部与所述主体部连接的端部，所述第二螺纹与所述第一螺纹配合连接，以在转动所述主体部时，所述抵接部可相对所述壳体移动，并在停止转动所述主体部时，所述抵接部可保持在当前位置。

3.根据权利要求2所述的测试探针，其特征在于，当两个所述探头中的一个探头为限位探头时，所述限位探头的所述主体部用于与电路板的第一引脚接触连接。

4.根据权利要求2所述的测试探针，其特征在于，所述第一螺纹和所述第二螺纹中的其中一个为内螺纹，所述第一螺纹和所述第二螺纹中的另一个为外螺纹。

5.根据权利要求1所述的测试探针，其特征在于，所述第二开口与所述第一开口相对设置。

6.根据权利要求1所述的测试探针，其特征在于，所述限位件包括第三螺纹和第四螺纹，所述第三螺纹设于所述限位探头的外周面，所述第四螺纹设于所述第一开口和/或所述第二开口的内表面，所述第四螺纹与所述第三螺纹配合连接，以在转动所述限位探头时，所述限位探头可相对所述壳体移动，并在停止转动所述限位探头时，所述限位探头可保持在当前位置。

7.根据权利要求1-6任一项所述的测试探针，其特征在于，所述弹性件包括弹簧。

8.根据权利要求1-6任一项所述的测试探针，其特征在于，至少一个所述探头的位于所述容置空间外的端部设有多个测试部，相邻的两所述测试部之间形成V字形开槽，各所述V字形开槽相互贯通，多个所述测试部用于与芯片的第二引脚上的锡球接触。

9.一种测试夹具，其特征在于，所述测试夹具具有如权利要求1-8任一项所述的测试探针。

10.一种测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：

电路板，所述电路板具有第一引脚；

芯片，所述芯片具有第二引脚；以及

如权利要求1-8任一项所述的测试探针，两个所述探头中的其中一个探头与所述第一引脚接触连接，两个所述探头中的另一个探头与所述第二引脚接触连接。

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