CN215812029U - 一种激光收发一体组件抗压测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种激光收发一体组件抗压测试装置,包括支撑板,所述支撑板的上部侧面固定安装有连杆,所述支撑板通过连杆固定连接有上限制块,上限制块的内部开设有通孔,所述通孔的内部活动安装有转动杆,转动杆的一端固定安装有转动筒。该种用于激光收发一体组件生产加工用封装测试装置,因固定杆的下部位于活动槽的内部,从而当转动筒转动时可以带动固定杆在活动槽内部活动,固定杆的上部固定连接至移动筒上,固定杆可以带动移动筒移动,因活动槽的围绕转动筒的两侧,呈相互对立开设,可以使移动筒进行上下移动,移动筒上下移动可以带动测试盘进行上下移动,可以对底部的元件进行测试,最后达到了便于检测的目的。
Description
技术领域
本实用新型涉及激光收发组件测试装置技术领域,特别涉及一种激光收发一体组件抗压测试装置。
背景技术
所谓封装测试其实就是封装后测试,把已制造完成的半导体元件进行结构及电气功能的确认,以保证半导体元件符合系统的需求的过程称为封装后测试。
封装是指连接集成电路和其他元器件到一个系统级的基板上的桥梁或手段,使之形成电子产品,而封装其中就包含了集成电路引脚的焊接,现有的封装测试装置无法快速有效的对集成电路的引脚进行检测,导致一些元件的抗压能力不够,从而对后期的安装造成一定的影响。
对此需要设计一种激光收发一体组件抗压测试装置。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种激光收发一体组件抗压测试装置,以解决上述背景技术中提出的现有的封装测试装置无法快速有效的对集成电路的引脚进行检测,导致一些元件的抗压能力不够,从而对后期的安装造成一定的影响的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种激光收发一体组件抗压测试装置,包括支撑板,所述支撑板的上部侧面固定安装有连杆,所述支撑板通过连杆固定连接有上限制块,所述上限制块的内部开设有通孔,所述通孔的内部活动安装有转动杆,所述转动杆的一端固定安装有转动筒,所述转动筒的侧面开设有活动槽,所述转动筒的外侧活动安装有移动筒,所述移动筒的内部开设有安装区,所述移动筒的上部固定安装有固定环,所述固定环的内部开设有固定口,所述固定口的内部固定安装有固定杆。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述安装区的直径大于转动筒的直径,所述转动筒位于安装区的内部。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述活动槽的围绕转动筒的两侧,呈相互对立开设。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述固定杆的下部直径和活动槽的宽度相匹配,所述固定杆的下部位于活动槽的内部。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述支撑板的下部侧面固定安装有限制杆,所述限制杆的一端固定安装有下限制块。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述移动筒的直径和下限制块的内部直径相匹配,所述移动筒的下部位于下限制块的内部。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述移动筒的下部固定安装有测试盘,所述测试盘的底部固定安装有压力传感器。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本实用新型一种激光收发一体组件抗压测试装置,具有便于检测抗压能力的特点,具体地说:
该种激光收发一体组件抗压测试装置,当转动杆进行转动时,可以带动与其连接的转动筒进行同时转动,因固定杆的下部位于活动槽的内部,从而当转动筒转动时可以带动固定杆在活动槽内部活动,固定杆的上部固定连接至移动筒上,从而通过固定杆可以带动移动筒移动,因活动槽的围绕转动筒的两侧,呈相互对立开设,从而可以使移动筒进行上下移动,移动筒上下移动可以带动测试盘进行上下移动,从而可以对底部的元件进行测试,最后达到了便于检测抗压能力的目的。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图;
图2为本实用新型的上部立体结构示意图;
图3为本实用新型的部分立体结构示意图;
图4为本实用新型的下部立体结构示意图;
图5为本实用新型的部分底面立体结构示意图。
图中:1、支撑板;2、连杆;3、上限制块;4、通孔;5、转动杆;6、转动筒;7、活动槽;8、移动筒;9、固定环;10、固定口;11、固定杆;12、安装区;13、下限制块;14、限制杆;15、测试盘;16、压力传感器。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-5,本实用新型提供了一种激光收发一体组件抗压测试装置,包括支撑板1,支撑板1的上部侧面固定安装有连杆2,支撑板1通过连杆2固定连接有上限制块3,启动电动机,电动机可以带动转动杆5进行转动,当转动杆5进行转动时,可以带动与其连接的转动筒6进行同时转动,因固定杆11的下部位于活动槽7的内部,从而当转动筒6转动时可以带动固定杆11在活动槽7内部活动,固定杆11的上部固定连接至移动筒8上,从而通过固定杆11可以带动移动筒8移动,因活动槽7的围绕转动筒6的两侧,呈相互对立开设,从而可以使移动筒8进行上下移动,上限制块3的内部开设有通孔4,通孔4的内部活动安装有转动杆5,转动杆5的上部安装有电动机,用来带动转动杆5进行转动,转动杆5的一端固定安装有转动筒6,转动筒6的侧面开设有活动槽7,转动筒6的外侧活动安装有移动筒8,移动筒8的内部开设有安装区12,移动筒8的上部固定安装有固定环9,固定环9的内部开设有固定口10,固定口10的内部固定安装有固定杆11。
安装区12的直径大于转动筒6的直径,转动筒6位于安装区12的内部,活动槽7的围绕转动筒6的两侧,呈相互对立开设,固定杆11的下部直径和活动槽7的宽度相匹配,固定杆11的下部位于活动槽7的内部。
支撑板1的下部侧面固定安装有限制杆14,限制杆14的一端固定安装有下限制块13,移动筒8的直径和下限制块13的内部直径相匹配,移动筒8的下部位于下限制块13的内部,移动筒8的下部固定安装有测试盘15,测试盘15下端面嵌套安装有压力传感器16,通过测试盘15对元件施力,同时压力传感器16与外部显示器连接,用于显示元件的受力程度。
工作原理:
该种激光收发一体组件抗压测试装置,首先将元件放置到测试盘15的下部,然后启动电动机,电动机可以带动转动杆5进行转动,当转动杆5进行转动时,可以带动与其连接的转动筒6进行同时转动,因固定杆11的下部位于活动槽7的内部,从而当转动筒6转动时可以带动固定杆11在活动槽7内部活动,固定杆11的上部固定连接至移动筒8上,从而通过固定杆11可以带动移动筒8移动,因活动槽7的围绕转动筒6的两侧,呈相互对立开设,从而可以使移动筒8进行上下移动,移动筒8上下移动可以带动测试盘15进行上下移动,从而可以使压力传感器16对底部的元件进行测试,最后达到了便于检测抗压能力的目的,解决了现有的封装测试装置无法快速有效的对集成电路的引脚进行检测,导致一些元件的抗压能力不够,从而对后期的安装造成一定的影响的问题。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (7)
1.一种激光收发一体组件抗压测试装置,包括支撑板(1),其特征在于:所述支撑板(1)的上部侧面固定安装有连杆(2),所述支撑板(1)通过连杆(2)固定连接有上限制块(3),所述上限制块(3)的内部开设有通孔(4),所述通孔(4)的内部活动安装有转动杆(5),所述转动杆(5)的一端固定安装有转动筒(6),所述转动筒(6)的侧面开设有活动槽(7),所述转动筒(6)的外侧活动安装有移动筒(8),所述移动筒(8)的内部开设有安装区(12),所述移动筒(8)的上部固定安装有固定环(9),所述固定环(9)的内部开设有固定口(10),所述固定口(10)的内部固定安装有固定杆(11)。
2.根据权利要求1所述的一种激光收发一体组件抗压测试装置,其特征在于:所述安装区(12)的直径大于转动筒(6)的直径,所述转动筒(6)位于安装区(12)的内部。
3.根据权利要求1所述的一种激光收发一体组件抗压测试装置,其特征在于:所述活动槽(7)的围绕转动筒(6)的两侧,呈相互对立开设。
4.根据权利要求1所述的一种激光收发一体组件抗压测试装置,其特征在于:所述固定杆(11)的下部直径和活动槽(7)的宽度相匹配,所述固定杆(11)的下部位于活动槽(7)的内部。
5.根据权利要求1所述的一种激光收发一体组件抗压测试装置,其特征在于:所述支撑板(1)的下部侧面固定安装有限制杆(14),所述限制杆(14)的一端固定安装有下限制块(13)。
6.根据权利要求5所述的一种激光收发一体组件抗压测试装置,其特征在于:所述移动筒(8)的直径和下限制块(13)的内部直径相匹配,所述移动筒(8)的下部位于下限制块(13)的内部。
7.根据权利要求1所述的一种激光收发一体组件抗压测试装置,其特征在于:所述移动筒(8)的下部固定安装有测试盘(15),所述测试盘(15)的底部固定安装有压力传感器(16)。
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