CN215678488U - 一种用于半导体产品生产的检测设备 - Google Patents

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欧阳灿
裴彦明
龙志青
冷仁兵
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Shenzhen Haitai Precision Technology Co ltd
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Abstract

本实用新型涉及一种用于半导体产品生产的检测设备,包括主体,所述主体的上端设有滑槽,所述滑槽内设有四个检测单元,所述检测单元与滑槽滑动连接,相邻的两个检测单元之间设有绝缘片,所述绝缘片位于滑槽内,所述检测单元包括插槽、触片和走位单元,所述触片位于插槽底部,所述插槽中空设置,该用于半导体产品生产的检测设备通过设置四个可活动式检测单元,能够适用于各种引脚间距的整流桥的测量,提高了适用范围,提高了实用性。

Description

一种用于半导体产品生产的检测设备
技术领域
本实用新型特别涉及一种用于半导体产品生产的检测设备。
背景技术
在整流桥生产线上,需要对整流桥进行检测,一般都是通过对四个引脚的电性进行测量,但是在生产和封装时,有些整流桥的引脚位置会发生偏差,导致无法插进检测孔内,需要另外进行人工测量,十分麻烦。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是:为了克服现有技术的不足,提供一种用于半导体产品生产的检测设备。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:一种用于半导体产品生产的检测设备,包括主体,所述主体的上端设有滑槽,所述滑槽内设有四个检测单元,所述检测单元与滑槽滑动连接,相邻的两个检测单元之间设有绝缘片,所述绝缘片位于滑槽内;
所述检测单元包括插槽、触片和走位单元,所述触片位于插槽底部,所述插槽中空设置,所述插槽的两侧均设有凹槽,所述走位单元有两个,两个走位单元分别位于两个凹槽内,所述走位单元包括U形壳体,所述壳体内设有两个滚轮,两个滚轮呈竖向分布,两个滚轮之间设有间隙;
所述滑槽的槽口处设有限位板,所述限位板位于同一走位单元的两个滚轮之间;
所述滑槽的底部设有四个金属条,四个金属条通过绝缘片隔开,四个检测单元的触片分别与四个金属条一一对应,所述触片与金属条接触。
作为优选,所述插槽内设有金属片,所述金属片与触片连接。
本实用新型的有益效果是,该用于半导体产品生产的检测设备通过设置四个可活动式检测单元,能够适用于各种引脚间距的整流桥的测量,提高了适用范围,提高了实用性。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1是本实用新型的用于半导体产品生产的检测设备的结构示意图;
图2是本实用新型的用于半导体产品生产的检测设备的检测单元与限位板的连接结构示意图;
图3是本实用新型的用于半导体产品生产的检测设备的结构示意图;
图中:1.主体,2.绝缘片,3.插槽,4.壳体,5.滚轮,6.限位板,7.触片,8.金属条。
具体实施方式
现在结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本实用新型的基本结构,因此其仅显示与本实用新型有关的构成。
如图1-3所示,一种用于半导体产品生产的检测设备,包括主体1,所述主体1的上端设有滑槽,所述滑槽内设有四个检测单元,所述检测单元与滑槽滑动连接,相邻的两个检测单元之间设有绝缘片2,所述绝缘片2位于滑槽内;
所述检测单元包括插槽3、触片7和走位单元,所述触片7位于插槽3底部,所述插槽3中空设置,所述插槽3的两侧均设有凹槽,所述走位单元有两个,两个走位单元分别位于两个凹槽内,所述走位单元包括U形壳体4,所述壳体4内设有两个滚轮5,两个滚轮5呈竖向分布,两个滚轮5之间设有间隙;
所述滑槽的槽口处设有限位板6,所述限位板6位于同一走位单元的两个滚5轮之间;
所述滑槽的底部设有四个金属条7,四个金属条7通过绝缘片2隔开,四个检测单元的触片6分别与四个金属条7一一对应,所述触片6与金属条7接触。
作为优选,所述插槽3内设有金属片,所述金属片与触片6连接。
这里的金属条7外接检测元件,主要是通过与触片6的连接将被检测的整流桥的引脚与检测元件实现导通用。
这里通过设置走位单元,即利用滚轮5与限位板6的配合,不仅方便了检测单元在滑槽上的移动,即方便调整间距,而且也起到了限位作用,检测时,引脚直接插入到插槽3内,当引脚间距存在偏差时,可以通过调整其中一个检测单元的位置来进行匹配,设置滚轮5则是将滑动摩擦变为滚动摩擦,设置绝缘片2,不仅起到绝缘作用,也是起到了对检测单元的限位作用。
与现有技术相比,该用于半导体产品生产的检测设备通过设置四个可活动式检测单元,能够适用于各种引脚间距的整流桥的测量,提高了适用范围,提高了实用性。
以上述依据本实用新型的理想实施例为启示,通过上述的说明内容,相关工作人员完全可以在不偏离本项实用新型技术思想的范围内,进行多样的变更以及修改。本项实用新型的技术性范围并不局限于说明书上的内容,必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。

Claims (2)

1.一种用于半导体产品生产的检测设备,其特征在于,包括主体,所述主体的上端设有滑槽,所述滑槽内设有四个检测单元,所述检测单元与滑槽滑动连接,相邻的两个检测单元之间设有绝缘片,所述绝缘片位于滑槽内;
所述检测单元包括插槽、触片和走位单元,所述触片位于插槽底部,所述插槽中空设置,所述插槽的两侧均设有凹槽,所述走位单元有两个,两个走位单元分别位于两个凹槽内,所述走位单元包括U形壳体,所述壳体内设有两个滚轮,两个滚轮呈竖向分布,两个滚轮之间设有间隙;
所述滑槽的槽口处设有限位板,所述限位板位于同一走位单元的两个滚轮之间;
所述滑槽的底部设有四个金属条,四个金属条通过绝缘片隔开,四个检测单元的触片分别与四个金属条一一对应,所述触片与金属条接触。
2.如权利要求1所述的用于半导体产品生产的检测设备,其特征在于,所述插槽内设有金属片,所述金属片与触片连接。
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