CN215676939U - 一种可校准的检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种可校准的检测装置，包括支架、校准组件以及检测组件；所述支架上形成有检测工位和校准工位；所述校准组件对应所述校准工位设置在所述支架上，所述校准组件具有基准面和校准面，且所述基准面与所述校准面之间形成的高度差为目标校准值；所述检测组件设置在所述支架上，所述检测组件可相对所述支架移动以切换至所述检测工位对目标工件进行检测和切换至所述校准工位以实时测定所述基准面和所述校准面之间的高度差校准值，且所述检测组件中预存有所述目标校准值，以将所述高度差校准值与所述目标校准值进行比对。本技术方案可以对检测组件在移动过程中发生的松动进行校准，以保证检测组件的检测准确性。

Description

一种可校准的检测装置

技术领域

本实用新型涉及校准的技术领域，尤其是涉及一种可校准的检测装置。

背景技术

随着新型能源行业的发展，新能源汽车的市场份额正在迅速扩大，新能源动力电池的需求量大幅攀升，方形铝壳动力电池作为一种重要的新能源，在汽车行业起着举足轻重的作用。在动力电池生产过程中，对组装完成后的电池进行台阶检测，即需要对电池壳体的上表面和顶盖的上表面进行高度差检测，通过检测组件(轮廓检测仪)安装在运动机构上移动检测，但是检测组件在移动过程中可能存在松动的现象，从而影响检测结果的准确性。

实用新型内容

基于此，本实用新型提供了一种可校准的检测装置，可以对检测组件在移动过程中发生的松动进行校准，以保证检测组件的检测准确性。

本实用新型提供了一种可校准的检测装置，包括：

支架，所述支架上形成有检测工位和校准工位；

校准组件，所述校准组件对应所述校准工位设置在所述支架上，所述校准组件具有基准面和校准面，且所述基准面与所述校准面之间形成的高度差为目标校准值；

检测组件，所述检测组件设置在所述支架上，所述检测组件可相对所述支架移动以切换至所述检测工位对目标工件进行检测和切换至所述校准工位以实时测定所述基准面和所述校准面之间的高度差校准值，且所述检测组件中预存有所述目标校准值，以将所述高度差校准值与所述目标校准值进行比对。

在一种可校准的检测装置的实施例中，所述校准面至少包括第一校准面、第二校准面以及第三校准面，所述第一校准面与所述基准面的高度差为第一高度差校准值，所述第一高度差校准值等于所述目标校准值；所述第二校准面与所述基准面的高度差为第二高度差校准值，且所述第二高度差校准值小于所述目标校准值，所述第三校准面与所述基准面的高度差形状第三高度差校准值，且所述第三高度差校准值大于所述目标校准值。

在一种可校准的检测装置的实施例中，所述第二校准面和所述第三校准面分设于所述第一校准面的两侧。

在一种可校准的检测装置的实施例中，所述基准面凹陷形成凹槽，所述凹槽的槽底面为所述校准面。

在一种可校准的检测装置的实施例中，所述目标工件具有第一检测面和第二检测面，所述检测组件用于测定所述第一检测面与第二检测面之间的高度差检测值，所述检测组件中预存有用于与所述高度差检测值进行比对的目标检测值；其中，所述目标检测值与所述目标校准值相等。

在一种可校准的检测装置的实施例中，所述检测工位至少为两个，两个所述检测工位分设于所述校准工位的两侧。

在一种可校准的检测装置的实施例中，所述检测组件可沿X轴运动；所述校准组件包括与所述支架连接的第一支撑件和设置在所述第一支撑件上的校准块，所述校准块形成有所述基准面和所述校准面，且所述校准块可相对所述第一支撑块沿Y轴移动。

在一种可校准的检测装置的实施例中，所述第一支撑件形成有第一限位槽，且所述第一限位槽的长度延伸方向与Y轴平行；其中，所述校准块限位于所述第一限位槽中。

在一种可校准的检测装置的实施例中，所述校准组件还包括设置在所述支架与所述第一支撑件之间的第二支撑件，且所述第一支撑件可相对所述第二支撑件沿Z轴移动。

在一种可校准的检测装置的实施例中，所述第二支撑件形成有第二限位槽，且所述第二限位槽的长度延伸方向与Z轴平行；其中，所述第一支撑件限位于所述第二限位槽。

采用本实用新型实施例，具有如下有益效果：

在本实用新型中，校准组件与校准工位对应设置，将校准组件的基准面与校准面之间形成的高度差定义为目标校准值，并将该目标校准值预存入检测组件中；检测组件在相对支架的运动过程中不仅可以切换到检测工位对目标工件进行检测，还可以移动到校准工位，通过实时测定校准组件的基准面和校准面之间的高度差校准值来对自身进行校准；具体地，检测组件将检测到高度差校准值进行比对，若比对结果显示数值一致和/或符合比对条件范围，则表示检测组件在移动过程中未发生松动；若比对结果显示数值不一致和/或不符合比对条件范围，则表示检测组件在移动过程发生了松动，从而导致检测到的高度差校准值与目标校准值对应不上。运用本技术方案可以对检测组件在移动过程中发生的松动进行校准，以保证检测组件的检测准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

其中：

图1示出了根据本实用新型实施例所提供的可校准的检测装置的整体结构示意图；

图2示出了校准组件的结构示意图；

图3示出了校准块的结构示意图；

图4示出了目标工件的俯视图。

主要元件符号说明：

100、可校准的检测装置；100a、检测工位；100b、校准工位；10、支架；11、支撑立柱；12、导向板件；20、校准组件；20a、基准面；20b、校准面；20b1、第一校准面；20b2、第二校准面；20b3、第三校准面；21、第一支撑件；21a、第一限位槽；21b、第二固定孔；211、支撑部；212、第二固定部；2121、第三固定孔；22、校准块；221、第一固定部；2211、第一固定孔；222、校准部；23、第二支撑件；231、第二限位槽；30、检测组件；31、检测件；32、驱动件；41、导轨；42、滑块；200、目标工件；200a、第一检测面；200b、第二检测面；230、极柱。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳的实施例。但是，本实用新型可以通过其他多种不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

下面结合本实用新型实施例中的附图对本实用新型实施例进行描述。

参见图1-图3，本实用新型提供了一种可校准的检测装置100，其包括支架10、校准组件20以及检测组件30；支架10上形成有检测工位100a和校准工位100b；校准组件20对应校准工位100b设置在支架10上，校准组件20具有基准面20a和校准面20b，且基准面20a与校准面20b之间形成的高度差为目标校准值；检测组件30设置在支架10上，检测组件30可相对支架10运动以切换至检测工位100a对目标工件200进行检测和切换至校准工位100b以实时测定基准面20a和校准面20b之间的高度差校准值，且检测组件30中预存有目标校准值，以将高度差校准值与目标校准值进行比对。

在本实用新型中，校准组件20与校准工位100b对应设置，将校准组件20的基准面20a与校准面20b之间形成的高度差定义为目标校准值，并将该目标校准值预存入检测组件30中；检测组件30在相对支架10的运动过程中不仅可以切换到检测工位100a对目标工件200进行检测，还可以移动到校准工位100b，通过实时测定校准组件20的基准面20a和校准面20b之间的高度差校准值来对自身进行校准；具体地，检测组件30将检测到高度差校准值进行比对，若比对结果显示数值一致和/或符合比对条件范围，则表示检测组件30在移动过程中未发生松动；若比对结果显示数值不一致和/或不符合比对条件范围，则表示检测组件30在移动过程发生了松动，从而导致检测到的高度差校准值与目标校准值对应不上。运用本技术方案可以对检测组件30在移动过程中发生的松动进行校准，以保证检测组件30的检测准确性。

在一种实施例中，校准面20b包括第一校准面20b1，第一校准面20b1与基准面20a的高度差为第一高度差校准值，第一高度差校准值等于目标校准值。因此，当检测组件30检测到第一高度差校准值与目标校准值不相等时，则检测组件30在移动过程发生了松动；当检测组件30检测到第一高度差校准值与目标校准值相等时，则表示检测组件30在移动过程中未发生松动。

在另一种实施例中，参见图3，校准面20b至少包括第一校准面20b1、第二校准面20b2以及第三校准面20b3，第一校准面20b1与基准面20a的高度差为第一高度差校准值，第一高度差校准值等于目标校准值；第二校准面20b2与基准面20a的高度差为第二高度差校准值，且第二高度差校准值小于目标校准值，第三校准面20b3与基准面20a的高度差形状第三高度差校准值，且第三高度差校准值大于目标校准值。本实施例中，以目标校准值为临界值上下浮动将校准面20b分设呈第一校准面20b1、第二校准面20b2以及第三校准面20b3，因此，检测组件30在实时检测完成第一校准面20b1与基准面20a的高度差、第二校准面20b2与基准面20a的高度差、第三校准面20b3与基准面20a的高度差后，得到第一高度差校准值、第二高度差校准值以及第三高度差校准值，并与目标校准值一一进行比对，只有当第一高度差校准值等于目标校准值、第二高度差校准值小于目标校准值、第三高度差大于目标校准值才表示检测组件30在移动过程中未发生松动；否则，检测组件30在移动过程发生松动。以目标校准值为临界值增加上下范围的比对条件，从而提高校准组件20的校准率。

如，设定第一高度差校准值等于目标校准值时，检测组件30的输出结果为A1，第一高度差校准值不等于目标校准值时，检测组件30的输出结果为A2；设定第二高度差校准值小于目标校准值时，检测组件30的输出结果为B1，第二高度差校准值不小于目标校准值时，检测组件30的输出结果为B2；设定第三高度差校准值大于目标校准值时，检测组件30的输出结果为C1，第三高度差校准值不大于目标校准值时，检测组件30的输出结果为C2。因此，只有在检测组件30的输出结果为A1、B1、C1时，才表示检测组件30没有发生松动。

此外，可校准的检测装置100还包括与检测组件30电连接的警示组件，当检测组件30的比对结果显示数值不一致和/或不符合比对条件范围，警示组件发出警示以提醒工作人员对检测组件30进行固紧维护，减少因检测组件30异常而造成不必要的损失。

在一些具体的实施例中，第二校准面20b2和第三校准面20b3分设于第一校准面20b1的两侧。

在一种实施例中，基准面20a凹陷形成凹槽，凹槽的槽底面为校准面20b。参见图2和图3，凹槽包括间隔设置的第一凹槽、第二凹槽以及第三凹槽，第一凹槽的槽底面为第一校准面20b1，第二凹槽的槽底面为第二校准面20b2，第三凹槽的槽底面为第三校准面20b3。

在一种实施例中，参见图4，目标工件200具有第一检测面200a和第二检测面200b，检测组件30用于测定第一检测面200a与第二检测面200b之间的高度差检测值，检测组件30中预存有用于与高度差检测值进行比对的目标检测值；其中，目标检测值与目标校准值相等。因此，检测组件30中只需要预存一个目标值即可。

在一些具体的实施例中，当高度差检测值小于目标检测值时，则表示检测结果合格，因此，检测组件30还可以减少判定条件的预存。

需要说明的是，目标检测值与目标校准值的数值大小还可以不一致。

具体地，目标工件200为电池，电池包括主壳体和盖设主壳体的顶盖，顶盖的上表面和主壳体的上表面形成台阶，即主壳体的上表面为第一检测面200a，顶盖的上表面为第二检测面200b，设定目标检测值为0.25mm，检测组件30在对第一检测面200a和第二检测面200b之间的高度进行检测得到高度差检测值时，只有当高度差检测值小于0.25mm，顶盖与主壳体形成的台阶才符合生产规定。

此外，顶盖上还设置有两个相互平行的极柱230，检测组件30还可以对电池进行极柱230平行度检测。

在一种实施例中，参见图2，校准组件20包括与支架10连接的第一支撑件21和设置在第一支撑件21上的校准块22，校准块22形成有基准面20a和校准面20b，且校准块22可相对第一支撑块沿Y轴移动。参见图1，检测组件30可沿X轴运动，当检测组件30沿X轴移动到校准工位100b时，检测组件30位于校准组件20的上方，通过设置校准块22可沿Y轴移动，保证校准块22始终位于检测组件30的检测范围内。

在一些具体的实施例中，参见图2，第一支撑件21形成有第一限位槽21a，且第一限位槽21a的长度延伸方向与Y轴平行；其中，校准块22限位于第一限位槽21a中。通过第一限位槽21a不仅限制了校准块22沿Y轴移动，同时保证了校准块22与第一支撑件21之间相对稳定的位置关系。

在一些具体的实施例中，参见图2，校准块22包括第一固定部221和自第一固定部221凸起形成的校准部222。其中，校准部222形成有上述的基座面和校准面20b，第一固定部221上开设有第一固定孔2211，第一限位槽21a的槽底上开设有若干个沿Y轴排列的第二固定孔21b，从而实现了校准块22相对第一支撑件21的Y轴移动，也保证了校准块22与第一支撑块之间的相对稳定性。

具体地，第一固定部221与校准部222呈T型结构。

在一种实施例中，参见图2，校准组件20还包括设置在支架10与第一支撑件21之间的第二支撑件23，且第一支撑件21可相对第二支撑件23沿Z轴移动。当检测组件30沿X轴移动到校准工位100b时，检测组件30位于校准组件20的上方，通过设置第一支撑件21可Z轴移动，使得校准组件20与检测组件30之间的距离可适应性调节。

在一些具体的实施例中，参见图2，第二支撑件23形成有第二限位槽231，且第二限位槽231的长度延伸方向与Z轴平行；其中，第一支撑件21限位于第二限位槽231。通过第二限位槽231不仅限制了第一支撑件21沿Z轴移动，同时保证了第一支撑件21与第二支撑件23之间相对稳定的位置关系。

在一些具体的实施例中，参见图2，第一支撑件21包括形成有第一限位槽21a的支撑部211、以及自支撑部211的相对两端沿X轴弯折延伸形成两个第二固定部212，两个第二固定部212分别与第二限位槽231相对的两槽侧壁滑动抵接，以保证第一支撑件21与第二支撑件23适配组装。

具体地，两个第二固定部212与支撑部211呈T型结构。

在一些具体的实施例中，参见图2，第二固定部212上开设有第三固定孔2121，第二限位槽231的槽底上开设有若干个沿Z轴排列的第四固定孔，从而实现了第一支撑件21相对第二支撑件23的Z轴移动，也保证了第一支撑件21与第二支撑件23之间的相对稳定性。

参见图1，支架10包括支撑立柱11和设置支撑立柱11上的导向板件12，导向板件12的中部与支撑立柱11固定连接，检测组件30沿导向件的长度延伸方向移动。一方面以保证导向板件12稳定的设置在支撑立柱11上，另一方面以使导向板件12的两端悬空，从而可以将目标工件200放置在导向板件12两端的下方，便于上料下料以实现对目标工件200的轮廓检测。

因此，在一些具体的实施例中，参见图1，检测工位100a至少为两个，两个检测工位100a位于校准工位100b的两侧。

在一些具体的实施例中，校准组件20设置在支撑立柱11上，以检测组件30移动时可从校准组件20的上方经过，满足校准位置需求。

在一些具体的实施例中，参见图1，检测组件30包括检测件31和用于驱动检测件31沿X轴运动的驱动件32，其中，检测件31可选用且不局限于轮廓仪。

在一些具体的实施例中，参见图1，可校准的检测装置100还包括设置在导向板件12的导轨41和与导轨41滑动连接的滑块42，其中，滑块42与检测组件30连接，以实现检测组件30的顺畅移动。

以上实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

Claims (10)

1.一种可校准的检测装置，其特征在于，包括：

支架，所述支架上形成有检测工位和校准工位；

校准组件，所述校准组件对应所述校准工位设置在所述支架上，所述校准组件具有基准面和校准面，且所述基准面与所述校准面之间形成的高度差为目标校准值；

检测组件，所述检测组件设置在所述支架上，所述检测组件可相对所述支架移动以切换至所述检测工位对目标工件进行检测和切换至所述校准工位以实时测定所述基准面和所述校准面之间的高度差校准值，且所述检测组件中预存有所述目标校准值，以将所述高度差校准值与所述目标校准值进行比对。

2.根据权利要求1所述的可校准的检测装置，其特征在于，所述校准面至少包括第一校准面、第二校准面以及第三校准面，所述第一校准面与所述基准面的高度差为第一高度差校准值，所述第一高度差校准值等于所述目标校准值；所述第二校准面与所述基准面的高度差为第二高度差校准值，且所述第二高度差校准值小于所述目标校准值，所述第三校准面与所述基准面的高度差形状第三高度差校准值，且所述第三高度差校准值大于所述目标校准值。

3.根据权利要求2所述的可校准的检测装置，其特征在于，所述第二校准面和所述第三校准面分设于所述第一校准面的两侧。

4.根据权利要求1所述的可校准的检测装置，其特征在于，所述基准面凹陷形成凹槽，所述凹槽的槽底面为所述校准面。

5.根据权利要求1所述的可校准的检测装置，其特征在于，所述目标工件具有第一检测面和第二检测面，所述检测组件用于测定所述第一检测面与第二检测面之间的高度差检测值，所述检测组件中预存有用于与所述高度差检测值进行比对的目标检测值；其中，所述目标检测值与所述目标校准值相等。

6.根据权利要求1所述的可校准的检测装置，其特征在于，所述检测工位至少为两个，两个所述检测工位分设于所述校准工位的两侧。

7.根据权利要求1-6中任一项所述的可校准的检测装置，其特征在于，所述检测组件可沿X轴运动；所述校准组件包括与所述支架连接的第一支撑件和设置在所述第一支撑件上的校准块，所述校准块形成有所述基准面和所述校准面，且所述校准块可相对所述第一支撑块沿Y轴移动。

8.根据权利要求7所述的可校准的检测装置，其特征在于，所述第一支撑件形成有第一限位槽，且所述第一限位槽的长度延伸方向与Y轴平行；其中，所述校准块限位于所述第一限位槽中。

9.根据权利要求7所述的可校准的检测装置，其特征在于，所述校准组件还包括设置在所述支架与所述第一支撑件之间的第二支撑件，且所述第一支撑件可相对所述第二支撑件沿Z轴移动。

10.根据权利要求9所述的可校准的检测装置，其特征在于，所述第二支撑件形成有第二限位槽，且所述第二限位槽的长度延伸方向与Z轴平行；其中，所述第一支撑件限位于所述第二限位槽。

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