CN215641540U - 测试机 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测试机，其包括测试机台以及设置在测试机台上的上探针机构和下测试机构，下测试机构包括机构框架以及分别设置在机构框架上的测试件固定组件、下探针组件和侧探针组件，其中，测试机还包括快拆结构，机构框架和测试机台之间通过快拆结构相连接。本实用新型的测试机于机构框架和测试机台之间通过快拆结构相连接，能够实现快速维修保养以及更换，减少了测试机发生异常时造成的停机时间，不仅提高了测试机的稳定性与耐用性，同时也提高了生产线的产能与效率。

Description

测试机

技术领域

本实用新型涉及一种测试机，具体地说，是涉及一种能够快速拆解维修更换的测试机。

背景技术

目前3C电子行业中普遍使用的测试机结构基本上采用上下模布局探针，通过电机或者气缸带动上模下压运动，将布置好的探针接触到所测试产品对应的PAD点位，从而获取测试结果。

基于测试机与模组的特点，在测试机发生异常时的维修过程中，需要在有限的空间内完成维修工序，维修难度大，维修时间长，即使投入了大量维保人力及时间，最后得出的结果却是测试机稳定性差，需要反复维修，严重影响了生产效率与产能。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种测试机，采用灵活便利的结构方式，降低维修难度以及缩短维修时间。

为了实现上述目的，本实用新型的测试机包括测试机台以及设置在所述测试机台上的上探针机构和下测试机构，所述下测试机构包括机构框架以及分别设置在所述机构框架上的测试件固定组件、下探针组件和侧探针组件，其还包括快拆结构，所述机构框架和所述测试机台之间通过所述快拆结构相连接。

上述的测试机的一实施方式中，所述快拆结构包括：至少两个定位销件，连接在所述测试机台上，所述机构框架的底部具有与所述定位销件相对应设置的定位销孔；以及至少两个定位销套，与所述定位销孔一一对应并嵌设于对应的所述定位销孔内。

上述的测试机的一实施方式中，所述快拆结构还包括基板，至少两个所述定位销件连接在所述基板上，所述基板连接在所述测试机台上。

上述的测试机的一实施方式中，所述基板与所述测试机台之间设置有微调平台。

上述的测试机的一实施方式中，所述微调平台为双方向调节的千分尺滑台。

上述的测试机的一实施方式中，所述下探针组件包括下探针以及驱动所述下探针纵向移动的下探针驱动件；所述上探针机构包括上探针和驱动所述上探针纵向移动的上探针驱动件；所述侧探针组件包括侧探针以及驱动所述侧探针横向移动的侧探针驱动件。

上述的测试机的一实施方式中，所述测试件固定组件包括：固定座，设置于所述下探针以及所述上探针之间的所述机构框架上；以及第一侧边固定件和第二侧边固定件，分别设置于所述固定座的相对的两侧以夹持固定所述固定座。

上述的测试机的一实施方式中，所述固定座包括与所述上探针相对应的竖直通孔；所述第一侧边固定件包括产品固定板和驱动所述产品固定板向所述固定座移动的固定板驱动件；所述第二侧边固定件包括挡边固定块和调节所述挡边固定块位置的调节螺杆。

上述的测试机的一实施方式中，所述固定座包括：座体，连接在所述机构框架上，所述座体上设有固定孔；以及产品固定件，固定设置于所述固定孔内；其中，所述竖直通孔设置于所述产品固定件的中心，并所述产品固定件的底端包括产品固定部，所述产品固定部伸出所述固定孔。

上述的测试机的一实施方式中，所述机构框架包括底板、顶板、第一侧板以及第二侧板，所述第一侧板以及第二侧板连接在所述底板以及所述顶板的两侧之间。

本实用新型的有益功效在于，本实用新型的测试机于机构框架和测试机台之间通过快拆结构相连接，能够实现快速维修保养以及更换，减少了测试机发生异常时造成的停机时间，不仅提高了测试机的稳定性与耐用性，同时也提高了生产线的产能与效率。

以下结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细描述，但不作为对本实用新型的限定。

附图说明

图1为本实用新型的测试机的一实施例的立体结构示意图；

图2和图3为本实用新型的测试机的下测试机构与测试机台通过快拆结构分离后的立体结构示意图；

图4为本实用新型的测试机的下测试机构一实施例的立体结构示意图(第一角度)；

图5为本实用新型的测试机的下测试机构一实施例的立体结构示意图(第二角度)。

其中，附图标记

10：测试机

100：测试机台

200：上探针机构

210：上探针

220：上探针驱动件

300：下测试机构

310：机构框架

311：定位销孔

312：底板

313：顶板

314：第一侧板

315：第二侧板

320：测试件固定组件

321：固定座

321a：竖直通孔

321b：座体

321c：产品固定件

322：第一侧边固定件

322a：产品固定板

322b：固定板驱动件

323：第二侧边固定件

323a：挡边固定块

323b：调节螺杆

330：下探针组件

331：下探针

332：下探针驱动件

340：侧探针组件

341：侧探针

342：侧探针驱动件

400：快拆结构

410：定位销件

420：定位销套

430：基板

500：微调平台

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型技术方案进行详细的描述，以更进一步了解本实用新型的目的、方案及功效，但并非作为本实用新型所附权利要求保护范围的限制。

如图1至图3所示，图1为本实用新型的测试机的一实施例的立体结构示意图，图2和图3分别为本实用新型的测试机的下测试机构与测试机台通过快拆结构分离后的立体结构示意图。本实用新型的测试机10包括测试机台100以及设置在测试机台100上的上探针机构200和下测试机构300，待测件固定在下测试机构300上，上探针机构200能够竖向下移以与待测件接触测试。其中，下测试机构300包括机构框架310以及分别设置在机构框架310上的测试件固定组件320、下探针组件330和侧探针组件340(参见图5)。

本实用新型的测试机10还包括快拆结构400，下测试机构300的机构框架310和测试机台100之间通过快拆结构400相连接。

本实用新型改变以往测试机台与下测试机构的固定方式，而是采用快拆结构400连接测试机台100与下测试机构300，当测试机10出现工作异常时，可快速灵活的将下测试机构300整体拆离测试机台100，如图2和图3所示，为维修、测试提供了足够的工作空间。特别当下测试机构300的机构框架310为包围式结构时，能够在较大空间内对探针进行插装维护，极大降低了维修难度，缩短了维修时间。

如图3所示，上述的机构框架310例如包括底板312、顶板313、第一侧板314以及第二侧板315，第一侧板314以及第二侧板315连接在底板312以及顶板313的两侧之间，底板312、顶板313、第一侧板314以及第二侧板315连接呈包围式结构。

本实施例中，如图2和图3所示，快拆结构400包括定位销件410以及定位销套420，定位销件410以及定位销套420分别至少为两个并一一对应，其中，定位销件410连接在测试机台100上，下测试机构300的机构框架310的底部具有与定位销件410相对应设置的定位销孔311，定位销套420嵌设于对应机构框架310的定位销孔311内。本实施例中，快拆结构400采用定位销和销套配合的结构，结构简单、成本低廉，且使用效果可靠。

进一步地，如图2所示，快拆结构400还包括基板430，定位销件410连接在基板410上，基板410连接在测试机台100上，即，快拆结构400通过基板430与测试机台100相连。

基板410与测试机台100之间设置有微调平台500，微调平台500例如为双方向调节的千分尺滑台。本实用新型通过设置微调平台500实现于水平面内对下测试机构300进行位置微调，可以在不需要拆装下测试机构300时进行微调，也可以在拆装维护下测试机构300后，对下测试机构300的位置进行精确调整，利于满足测试精度的需要。

如图2所示，上探针机构200包括上探针210和驱动上探针210纵向移动的上探针驱动件220，上探针210用于驱动按钮或按键闭合导通，上探针驱动件220例如为运动丝杠驱动件。

如图4和图5所示，图4和图5分别为本实用新型的测试机的下测试机构一实施例的不同角度的立体结构示意图。下探针组件330包括下探针331以及驱动下探针331纵向移动的下探针驱动件332，侧探针组件340包括侧探针341以及驱动侧探针341横向移动的侧探针驱动件342。其中，侧探针341与下探针331用于测试待测按键或按钮的导电性能。下探针驱动件332和侧探针驱动件342例如为气缸驱动件。

如图4所示，测试件固定组件320包括固定座321、第一侧边固定件322和第二侧边固定件323，其中，固定座321设置于下探针组件330的下探针331以及上探针机构200的上探针210之间的机构框架310上，即沿竖直方向，固定座321位于下探针331与上探针210之间的路径上，待测件固定在固定座321上，测试时，上探针驱动件220驱动上探针210下移，以使按钮或按键闭合导通。第一侧边固定件322和第二侧边固定件323分别设置于固定座321的相对的两侧以夹持固定住固定座321。

详细来说，固定座321包括与上探针210相对应的竖直通孔321a，第一侧边固定件322包括产品固定板322a和驱动产品固定板322a向固定座321移动的固定板驱动件322b，第二侧边固定件323包括挡边固定块323a和调节挡边固定块323a位置的调节螺杆323b。调节固定时，首先通过调节螺杆323b调节挡边固定块323a的位置而调整固定座321至需要的位置，然后通过固定板驱动件322b驱动产品固定板322a逐渐靠近固定座321，并最终夹紧固定座321，使之固定于挡边固定块323a与产品固定板322a之间。固定板驱动件322b例如为气缸驱动件。

固定座321包括座体321b和产品固定件321c，座体321b连接在机构框架310上，座体321b上设有固定孔，产品固定件321c固定设置于座体321b的固定孔内。其中，竖直通孔321a设置于产品固定件321c的中心，并产品固定件321c的底端包括产品固定部，产品固定部伸出座体321b的固定孔。

本实施例中，产品固定件321c例如为固定螺母，座体321b例如为螺母座体，固定螺母容置定位于螺母座体的固定孔内，固定螺母中心设置有竖直通孔321a，上探针210在上探针驱动件220的驱动下穿过固定螺母的竖直通孔321a后按压按钮，按钮闭合后进行导电性测试。固定螺母底端的产品固定部例如与待测件可拆卸固定连接，比如这里优选是螺纹连接。

综上，本实用新型采用了灵活可快速拆卸式的机构，完美改善维修时的弊端，维修时首先将下测试机构300从测试机台100上取下，然后维修或更换探针结构，之后通过微调平台500调试探针位置。本实用新型结构简单，维修简单易行，有助于提高车间自动机的稼动率与产能。

当然，本实用新型还可有其它多种实施例，在不背离本实用新型精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本实用新型作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本实用新型所附的权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种测试机(10)，包括测试机台(100)以及设置在所述测试机台上的上探针机构(200)和下测试机构(300)，所述下测试机构包括机构框架(310)以及分别设置在所述机构框架上的测试件固定组件(320)、下探针组件(330)和侧探针组件(340)，其特征在于，还包括快拆结构(400)，所述机构框架和所述测试机台之间通过所述快拆结构相连接。

2.根据权利要求1所述的测试机，其特征在于，所述快拆结构包括：

至少两个定位销件(410)，连接在所述测试机台上，所述机构框架的底部具有与所述定位销件相对应设置的定位销孔(311)；以及

至少两个定位销套(420)，与所述定位销孔一一对应并嵌设于对应的所述定位销孔内。

3.根据权利要求2所述的测试机，其特征在于，所述快拆结构还包括基板(430)，至少两个所述定位销件连接在所述基板上，所述基板连接在所述测试机台上。

4.根据权利要求3所述的测试机，其特征在于，所述基板与所述测试机台之间设置有微调平台(500)。

5.根据权利要求4所述的测试机，其特征在于，所述微调平台为双方向调节的千分尺滑台。

6.根据权利要求1至5任一项所述的测试机，其特征在于，所述下探针组件(330)包括下探针(331)以及驱动所述下探针纵向移动的下探针驱动件(332)；所述上探针机构(200)包括上探针(210)和驱动所述上探针纵向移动的上探针驱动件(220)；所述侧探针组件(340)包括侧探针(341)以及驱动所述侧探针横向移动的侧探针驱动件(342)。

7.根据权利要求6所述的测试机，其特征在于，所述测试件固定组件(320)包括：

固定座(321)，设置于所述下探针以及所述上探针之间的所述机构框架上；以及

第一侧边固定件(322)和第二侧边固定件(323)，分别设置于所述固定座的相对的两侧以夹持固定所述固定座。

8.根据权利要求7所述的测试机，其特征在于，所述固定座包括与所述上探针相对应的竖直通孔(321a)；所述第一侧边固定件包括产品固定板(322a)和驱动所述产品固定板向所述固定座移动的固定板驱动件(322b)；所述第二侧边固定件包括挡边固定块(323a)和调节所述挡边固定块位置的调节螺杆(323b)。

9.根据权利要求8所述的测试机，其特征在于，所述固定座包括：

座体(321b)，连接在所述机构框架上，所述座体上设有固定孔；以及

产品固定件(321c)，固定设置于所述固定孔内；

其中，所述竖直通孔设置于所述产品固定件的中心，并所述产品固定件的底端包括产品固定部，所述产品固定部伸出所述固定孔。

10.根据权利要求1至5任一项所述的测试机，其特征在于，所述机构框架(310)包括底板(312)、顶板(313)、第一侧板(314)以及第二侧板(315)，所述第一侧板以及第二侧板连接在所述底板以及所述顶板的两侧之间。

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