CN215418103U - 一种针对工业半导体器件的同步测试冶具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种针对工业半导体器件的同步测试冶具，本实用新型涉及测试冶具技术领域。该针对工业半导体器件的同步测试冶具，通过定位组件以及测试组件的设置，当对应的定位板被压入对应的滑槽内部时，会使得其两侧的导电片通过导线与机架顶面的测试模块连通，当定位板持续向下压动时，其底部设置的若干个防滑片会与器件的顶面贴合，避免测试时器件出现移动的现象，其底部的导电头会分别与器件的两个电极端连接，实现器件与测试模块之间的电路连通，便于对器件进行检测作业，相较于传统的测试方式，能够进行多个器件同时测试的同时便于对器件进行连接、固定，提升了冶具使用的便捷性、节约了测试所需的时间。

Description

一种针对工业半导体器件的同步测试冶具

技术领域

本实用新型涉及测试冶具技术领域，具体为一种针对工业半导体器件的同步测试冶具。

背景技术

测试冶具，主要用于对零件、元件等进行在线检测；是对在线元器件的性能、原理及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设。

现有的冶具在对半导体等器件进行检测作业时，通常需要通过将半导体电极端连接至设备内部，然后通过设备内部的检测模块进行性能检测，且通常只能单个连接测试，较为繁琐的同时延长了器件检测所需的时间。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种针对工业半导体器件的同步测试冶具，解决了电极连接时较为繁琐、浪费时间过多的问题。

为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种针对工业半导体器件的同步测试冶具，包括机架，所述机架的顶面端部分别固定安装有测试模块以及显示屏，所述机架的顶面另一端固定安装有测试箱，所述测试箱的内部设置有定位组件、且测试箱的内部两侧均开设有放置槽，所述定位组件包含有定位框台，所述定位框台的两侧均开设有定位孔、且通过定位孔固定安装在测试箱的内部，所述定位框台的内部开设有限位槽以及若干个滑槽、且限位槽与若干个滑槽相互贯通，所述限位槽与若干个滑槽连接处均设置有支撑组件，所述限位槽的内部滑动安装有若干个定位板，若干个所述定位板的底部两侧均固定安装有若干个防滑片，若干个所述定位板的内部两侧均设置有测试组件。

优选的，所述支撑组件包含有支撑板，所述支撑板的内部转动安装有限位轴，所述限位轴的两端均固定安装有侧夹板、且圆周外侧固定套接有弹簧体，两个所述侧夹板的另一端分别固定连接至定位轴的两侧，所述定位轴固定安装在定位框台的内部，所述支撑板的体积大小与对应的滑槽端部尺寸大小相同。

优选的，若干个所述支撑板分别通过内部的限位轴以及定位轴的配合固定安装在对应的滑槽端部、且顶面均与限位槽内部齐平。

优选的，所述测试组件包含有导电片，若干个所述定位板的两侧中部均固定安装有导电片，若干个所述滑槽的内壁两侧均为导电材质制成、且均通过导线与测试模块之间并联，所述定位板的内部两侧均固定安装有电极板，若干个所述电极板的底部两侧均固定安装有导电头，若干个所述导电头分别与对应的电极板以及导电片之间通过导线电性连接。

优选的，若干个所述电极板的顶面均固定安装有指示灯、且与指示灯之间通过导线电性连接。

优选的，若干个所述定位板的顶面中部均固定安装有弹性滑块、且弹性滑块的内部均固定安装有弹性支杆。

有益效果

本实用新型提供了一种针对工业半导体器件的同步测试冶具。与现有技术相比具备以下有益效果：

(1)、该针对工业半导体器件的同步测试冶具，通过定位组件以及测试组件的设置，当定位板推动到对应的滑槽顶面时向下压动时，对应的支撑板能够通过内部的限位轴进行转动，使定位板被压入对应的滑槽内部，同时两侧的导电片通过导线与机架顶面的测试模块连通，当定位板持续向下压动时，其底部设置的若干个防滑片会与器件的顶面贴合，避免测试时器件出现移动的现象，其底部的导电头会分别与器件的两个电极端连接，实现器件与测试模块之间的连通，便于对器件进行检测作业，相较于传统的测试方式，能够进行多个器件同时测试的同时便于对器件进行连接、固定，提升了冶具使用的便捷性、节约了测试所需的时间。

(2)、该针对工业半导体器件的同步测试冶具，通过若干个电极板顶面设置的指示灯，当在对器件进行连接固定时，能够通过指示灯来判断电极连接是否完成，较为便捷，同时通过若干个防滑片的定位，能够有效的提升器件测试时的稳定性。

附图说明

图1为本实用新型整体结构示意图；

图2为本实用新型定位框台结构示意图；

图3为本实用新型支撑板剖视结构示意图；

图4为本实用新型定位板剖视结构示意图。

图中：1、机架；2、测试模块；3、显示屏；4、测试箱；5、定位框台；501、定位孔；502、限位槽；503、滑槽；6、支撑板；601、限位轴；602、弹簧体；603、侧夹板；604、定位轴；7、定位板；701、防滑片；8、弹性滑块；801、弹性支杆；9、导电片；10、电极板；1001、指示灯；11、导电头。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种针对工业半导体器件的同步测试冶具，包括机架1，机架1的顶面端部分别固定安装有测试模块2以及显示屏3，机架1的顶面另一端固定安装有测试箱4，测试箱4的内部设置有定位组件、且测试箱4的内部两侧均开设有放置槽，定位组件包含有定位框台5，定位框台5的两侧均开设有定位孔501、且通过定位孔501固定安装在测试箱4的内部，定位框台5的内部开设有限位槽502以及若干个滑槽503、且限位槽502与若干个滑槽503相互贯通，限位槽502与若干个滑槽503连接处均设置有支撑组件，限位槽502的内部滑动安装有若干个定位板7，若干个定位板7的底部两侧均固定安装有若干个防滑片701，若干个定位板7的内部两侧均设置有测试组件，支撑组件包含有支撑板6，支撑板6的内部转动安装有限位轴601，限位轴601的两端均固定安装有侧夹板603、且圆周外侧固定套接有弹簧体602，两个侧夹板603的另一端分别固定连接至定位轴604的两侧，定位轴604固定安装在定位框台5的内部，支撑板6的体积大小与对应的滑槽503端部尺寸大小相同，若干个支撑板6分别通过内部的限位轴601以及定位轴604的配合固定安装在对应的滑槽503端部、且顶面均与限位槽502内部齐平，测试组件包含有导电片9，若干个定位板7的两侧中部均固定安装有导电片9，若干个滑槽503的内壁两侧均为导电材质制成、且均通过导线与测试模块2之间并联，定位板7的内部两侧均固定安装有电极板10，若干个电极板10的底部两侧均固定安装有导电头11，若干个导电头11分别与对应的电极板10以及导电片9之间通过导线电性连接，滑槽503的两侧分别通过一段导线与对应的导电头11电性连接，若干个电极板10的顶面均固定安装有指示灯1001、且与指示灯1001之间通过导线电性连接，若干个定位板7的顶面中部均固定安装有弹性滑块8、且弹性滑块8的内部均固定安装有弹性支杆801。

使用时，首先将需要测试的器件放置到测试箱4内开设的若干个放置槽内部，推动对应的定位板7，使其通过顶面设置的弹性滑块8在限位槽502内部滑动，将定位板7推动到对应的滑槽503顶面时向下压动，对应的支撑板6能够通过内部的限位轴601进行转动，使定位板7被压入对应的滑槽503内部，同时两侧的导电片9通过导线与机架1顶面的测试模块2连通，当定位板7持续向下压动时，其底部设置的若干个防滑片701会与器件的顶面贴合，避免测试时器件出现移动的现象，其底部的导电头11会分别与器件的两个电极端连接，实现器件与测试模块2之间的连通，便于对器件进行检测作业，相较于传统的测试方式，能够进行多个器件同时测试的同时便于对器件进行连接固定，提升了冶具使用的便捷性、节约了测试所需的时间。

同时本说明书中未作详细描述的内容均属于本领域技术人员公知的现有技术。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种针对工业半导体器件的同步测试冶具，包括机架(1)，所述机架(1)的顶面端部分别固定安装有测试模块(2)以及显示屏(3)，其特征在于：所述机架(1)的顶面另一端固定安装有测试箱(4)，所述测试箱(4)的内部设置有定位组件、且测试箱(4)的内部两侧均开设有放置槽；

所述定位组件包含有定位框台(5)，所述定位框台(5)的两侧均开设有定位孔(501)、且通过定位孔(501)固定安装在测试箱(4)的内部，所述定位框台(5)的内部开设有限位槽(502)以及若干个滑槽(503)、且限位槽(502)与若干个滑槽(503)相互贯通，所述限位槽(502)与若干个滑槽(503)连接处均设置有支撑组件，所述限位槽(502)的内部滑动安装有若干个定位板(7)，若干个所述定位板(7)的底部两侧均固定安装有若干个防滑片(701)，若干个所述定位板(7)的内部两侧均设置有测试组件。

2.根据权利要求1所述的一种针对工业半导体器件的同步测试冶具，其特征在于：所述支撑组件包含有支撑板(6)，所述支撑板(6)的内部转动安装有限位轴(601)，所述限位轴(601)的两端均固定安装有侧夹板(603)、且圆周外侧固定套接有弹簧体(602)，两个所述侧夹板(603)的另一端分别固定连接至定位轴(604)的两侧，所述定位轴(604)固定安装在定位框台(5)的内部，所述支撑板(6)的体积大小与对应的滑槽(503)端部尺寸大小相同。

3.根据权利要求2所述的一种针对工业半导体器件的同步测试冶具，其特征在于：若干个所述支撑板(6)分别通过内部的限位轴(601)以及定位轴(604)的配合固定安装在对应的滑槽(503)端部、且顶面均与限位槽(502)内部齐平。

4.根据权利要求1所述的一种针对工业半导体器件的同步测试冶具，其特征在于：所述测试组件包含有导电片(9)，若干个所述定位板(7)的两侧中部均固定安装有导电片(9)，若干个所述滑槽(503)的内壁两侧均为导电材质制成、且均通过导线与测试模块(2)之间并联，所述定位板(7)的内部两侧均固定安装有电极板(10)，若干个所述电极板(10)的底部两侧均固定安装有导电头(11)，若干个所述导电头(11)分别与对应的电极板(10)以及导电片(9)之间通过导线电性连接。

5.根据权利要求4所述的一种针对工业半导体器件的同步测试冶具，其特征在于：若干个所述电极板(10)的顶面均固定安装有指示灯(1001)、且与指示灯(1001)之间通过导线电性连接。

6.根据权利要求1所述的一种针对工业半导体器件的同步测试冶具，其特征在于：若干个所述定位板(7)的顶面中部均固定安装有弹性滑块(8)、且弹性滑块(8)的内部均固定安装有弹性支杆(801)。

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