CN215414518U - 采样装置及采样设备 - Google Patents

Abstract

一种采样装置，包括：输送机构，具有安放工位；且采样装置设有混匀位和穿刺位；混匀机构，设于所述混匀位；混匀机构拾取样本容器，并将样本容器内样本混匀；以及压紧机构，设于穿刺位，压紧机构抵压样本容器，以使样本容器下压到安放工位的预定位置，且穿刺时压紧机构防止样本容器往上运动。通过压紧机构替代传统压样本容器机构和固定样本容器机构，使该装置结构简化，减少了占用空间和节约了成本。且由于样本容器穿刺时在压紧机构作用下一直是压到安放工位最底部的状态，保证了样本容器从而穿刺位出来后也处于安放工位最底部状态，当样本容器再次来到混匀位时，混匀机构能正常抓取样本容器，从而无需手动转移样本容器即可实现重测功能。

Description

采样装置及采样设备

技术领域

本实用新型属于采样设备技术领域，尤其涉及一种采样装置及采样设备。

背景技术

在医疗生化分析等场景中，通常会将测试用的样本放入样本容器中，再将样本容器放入样本采样装置中进行混匀、穿刺和检测等。

传统的采样装置为了将混匀后的样本容器放在安放工位的最底部，需单独增设了压样本容器的机构。同时为了防止穿刺时样本容器会往上运动，还单独增设了样本容器固定机构，从而使装置结构较为复杂，占用空间更大，且成本增加。

实用新型内容

本申请实施例的目的在于提供一种采样装置及采样设备，旨在解决现有采样装置结构复杂以及占用空间大的问题。

为实现上述目的，本申请采用的技术方案是：提供一种采样装置，包括：

输送机构，用于输送样本容器；所述输送机构具有多个用于安放样本容器的安放工位；多个所述安放工位间隔排布；且所述采样装置沿所述样本容器的输送方向依次设有混匀位和穿刺位；

混匀机构，设于所述混匀位；所述输送机构带动所述样本容器进入所述混匀位；所述混匀机构拾取所述样本容器脱离所述安放工位，并将所述样本容器内样本混匀；以及

压紧机构，设于所述穿刺位，所述压紧机构的一端固定设置，压紧机构的另一端为压紧端；所述输送机构带动所述样本容器进入所述穿刺位，所述压紧端抵压所述样本容器，以使所述样本容器抵压到所述安放工位的预定位置；并防止穿刺机构拔出时所述样本容器脱离所述安放工位。

在一个实施例中，所述压紧机构包括固定板、和调节挡板，所述调节挡板连接于所述固定板的上端；所述调节挡板的上端向所述混匀机构方向延伸出有压紧部和导向部；所述压紧部的一端和导向部的一端连接，所述导向部靠近所述混匀机构；所述压紧部的底面为平面；所述导向部的底面为斜面，所述斜面靠近所述混匀机构端的高度高于靠近所述压紧部端的高度；所述样本容器于所述斜面的末端进入所述导向部，并在所述导向部的导向作用下进入所述压紧部，所述平面抵压所述样本容器的上端面。

在一个实施例中，所述压紧部的上下表面贯穿有穿刺孔，所述样本容器的上端面正对所述穿刺孔。

在一个实施例中，所述输送机构包括支撑架、电机和转盘组件；所述电机固定于所述支撑架上；所述转盘组件转动设于所述支撑架上并与所述电机的输出轴连接，所述电机驱动所述转盘组件转动；多个所述安放工位间隔排布于所述转盘组件的周缘。

在一个实施例中，所述安放工位中设有适配不同型号所述样本容器的适配器，所述样本容器安放于所述适配器。

在一个实施例中，所述采样装置还包括检测转盘组件复位的光耦合器组件，所述光耦合器组件包括设于所述支撑架上的第一光耦合器以及设于所述转盘组件的底面的第二光耦合器，所述第二光耦合器与所述第一光耦合器相对应。

在一个实施例中，所述混匀机构包括抓取结构、旋转驱动结构、水平驱动结构和垂直驱动结构；所述抓取结构抓取所述样本容器，且所述抓取结构连接于所述旋转驱动结构的输出端，所述旋转驱动结构带动所述抓取结构转动；所述旋转驱动结构连接于所述水平驱动结构的输出端，所述水平驱动结构驱动所述旋转驱动结构于水平方向移动；所述水平驱动结构连接于所述垂直驱动结构的输出端，所述垂直驱动结构驱动所述水平驱动结构于竖直方向移动。

在一个实施例中，所述采样装置还包括：用于检测所述样本容器的检测机构，所述检测机构位于所述输送机构的侧旁。

在一个实施例中，所述采样装置还包括：用于扫描所述样本容器上条码的扫描机构，所述扫描机构位于所述输送机构侧旁。

一种采样设备，包括：机架、驱动板以及所述的采样装置，所述驱动板和所述采样装置均设于所述机架上，且所述采样装置与所述驱动板电性连接。

本申请的有益效果在于：通过压紧机构替代传统压样本容器机构和固定样本容器机构，使该装置结构简化，且减少了占用空间和节约了成本。且由于样本容器穿刺时在压紧机构作用下一直是压到安放工位最底部的状态，保证了样本容器从而穿刺位出来后也处于安放工位最底部状态，当样本容器再次来到混匀位时，混匀机构能正常抓取样本容器，从而无需手动转移样本容器即可实现重测功能。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的采样设备的立体图；

图2为本申请实施例提供的混匀机构的立体图；

图3为本申请实施例提供的输送机构的立体图；

图4为本申请实施例提供的压紧机构的立体图；

图5为本申请实施例提供的采样设备的局部组装结构立体图。

其中，图中各附图标记：

1、样本容器 2、机架

3、驱动板 4、散热器

5、防护罩 10、输送机构

101、安放工位 11、支撑架

12、电机 13、转盘组件

131、上转盘 132、中转盘

133、下转盘 20、混匀机构

21、抓取结构 22、旋转驱动结构

23、水平驱动结构 24、垂直驱动结构

30、压紧机构 31、固定板

32、调节挡板 321、压紧部

322、导向部 40、适配器

51、第一光耦合器 60、检测机构(反射式光耦合器)

70、扫描机构(扫码仪)。

具体实施方式

为了使本申请所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。

需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

请参阅图1至图5，本申请实施例提供了一种采样装置，包括：

输送机构10，用于输送样本容器1，可选地，样本容器1可为，采血管、试剂管、呕吐物收集盒等。输送机构10具有多个用于安放样本容器的安放工位101，可选地，安放工位101为定位槽，当然，安放工位101也可以是其它可固定样本容器1的结构，多个安放工位101间隔排布。且采样装置沿样本容器1的输送方向依次设有混匀位和穿刺位。

混匀机构20，设于混匀位。输送机构10带动样本容器1进入混匀位；混匀机构20拾取样本容器1，并将样本容器1内样本混匀。

压紧机构30，设于穿刺位，压紧机构30的一端固定设置，压紧机构30的另一端为压紧端；输送机构带动样本容器1进入所述穿刺位，压紧端抵压样本容器1，以使样本容器1抵压到安放工位101的预定位置，即将样本容器1下压到安放工位101的最底部，从而实现对样本容器1在穿刺位置的保证。穿刺机构(图纸未示)的穿刺端插入样本容器1，进行加样或取样；且压紧端抵压样本容器1于安放工位101中，防止穿刺机构拔出时带动样本容器1脱离安放工位101，即防止样本容器1向上运动。从而压紧机构30实现了一举两用，且压紧机构30结构更简单，且减少了占用空间，成本更低。

通过压紧机构替代传统压样本容器机构和固定样本容器机构，使该装置结构简化，且由于样本容器1穿刺时在压紧机构30作用下一直是压到安放工位101最底部的状态，所以保证样本容器1从而穿刺位出来后也处于安放工位101最底部状态，当样本容器1再次来到混匀位时，混匀机构20能正常抓取样本容器，从而无需手动转移样本容器即可实现重测功能。

如图4所示，在一个实施例中，压紧机构30包括固定板31、和调节挡板32，调节挡板32连接于固定板31的上端，可选地，调节挡板32是上下可调地连接于固定板31的上端，从而使用更加的灵活。作为一个示例，固定板31的上端开设有条形孔，对应调节挡板32上开设有螺丝孔，使用螺丝穿过条形孔后与螺丝孔螺纹连接，需调节调节挡板32位置时，松开螺丝即可上下上下调节。

如图4所示，调节挡板32的上端向混匀机构20方向延伸出有压紧部321和导向部322；压紧部321的一端和导向部322的一端连接，导向部322靠近混匀机构20。压紧部321的底面为平面；导向部322的底面为斜面，斜面靠近混匀机构20端的高度高于靠近压紧部321端的高度。样本容器1于斜面的末端进入导向部322，在斜面的压紧和导引下，样本容器1在安放工位101中的位置越来越低，并在导向部322的导向作用下进入压紧部321，平面抵压样本容器1的上端面，从而将样本容器1下压到安放工位101的最底部。相较传统使用机械自动化结构来下压样本容器1和固定样本容器，该申请使用一块调节挡板32即可实现对样本容器1的下压和固定，结构更加的简单，成本更低。

如图4所示，在一个实施例中，压紧部321的上下表面贯穿有穿刺孔301，样本容器1的上端面正对穿刺孔301，即样本容器1上的盖帽与穿刺孔301正对。穿刺机构的穿刺端穿过穿刺孔301后插入样本容器1内。

如图1和图3所示，在一个实施例中，输送机构10包括支撑架11、电机12和转盘组件13。电机12固定于支撑架11上。转盘组件13转动设于支撑架11上并与电机12的输出轴连接，电机12驱动转盘组件13转动，多个安放工位101间隔排布于转盘组件13的周缘。可选地，转盘组件13包括由上而下依次间隔排布的上转盘131、中转盘132和下转盘133，使用该转盘结构，使样本容器1安放更加的稳定。当然输送机构10的结构不局限于此，例如，输送机构10可为直线输送式结构。

在一个实施例中，安放工位101中设有适配不同型号样本容器的适配器40，样本容器1安放于适配器40。可选地，适配器40的上端固定在安放工位101的上端周缘，适配器40的下端采用多个弹性夹持臂结构，多个弹性夹持臂夹持不同型号尺寸的样本容器1时会产生对应的变形，从而可适用不同型号大小的样本容器1，使用更加的方便。

如图3所示，在一个实施例中，采样装置还包括检测转盘组件复位的光耦合器组件，光耦合器组件包括设于支撑架上的第一光耦合器51以及设于转盘组件的底面的第二光耦合器(图中未示)，第二光耦合器与第一光耦合器51相对应。当转盘组件13转动一圈后，第二光耦合器与第一光耦合器51相感应，提示转盘组件13复位。当然，复位检测组件结构不局限于此。

如图1和图3所示，在一个实施例中，混匀机构20包括抓取结构21、旋转驱动结构22、水平驱动结构23和垂直驱动结构24。抓取结构21抓取样本容器1，且抓取结构21连接于旋转驱动结构22的输出端，旋转驱动结构22带动抓取结构21转动。可选地，抓取结构21包括混匀抓手、抓手缓冲垫、抓手扭簧、转轴、轴承、轴承挡块、轴压板、采血管挡板和抓手安装支架，当然，抓取结构21的结构不仅仅局限于此。旋转驱动结构22连接于水平驱动结构23的输出端，水平驱动结构23驱动旋转驱动结构22于水平方向移动。可选地，旋转驱动结构22包括步进电机、旋转电机安装支架、光耦和旋转光耦挡片，当然，旋转驱动结构22的结构不仅仅局限于此。水平驱动结构23连接于垂直驱动结构24的输出端，垂直驱动结构24驱动水平驱动结构23于竖直方向移动。可选地，水平驱动结构23包括直线滑轨、水平安装支架、连接板、皮带压板、光耦、光耦支架、步进电机、主动同步轮、从动同步轮、同步轮轴和同步带，当然，水平驱动结构23的结构不仅仅局限于此。可选地，垂直驱动结构24包括垂直安装支架、直线滑轨、光耦、光耦支架、步进电机、主动同步轮、从动同步轮、同步轮轴、同步带和皮带压板，当然，垂直驱动结构24的结构不仅仅局限于此。

通过旋转驱动结构22、水平驱动结构23和垂直驱动结构24的配合对抓取结构21进行移动，从而使抓取结构21具有一定的运动自由度，能够在一定范围内的容器进行抓取，降低了对容器与抓手机构之间的定位精确度要求，同时，抓手机构在抓取容器的后，可直接在旋转驱动结构22的驱动下旋转，实现对容器内样本的混匀，有效提高整个抓取混匀过程的效率。

如图3所示，在一个实施例中，采样装置还包括：用于检测样本容器的检测机构60，检测机构60位于输送机构10的侧旁；可选地，检测机构60为反射式光耦合器。通过反射式光耦合器对样本容器1进行检测，有效避免装置空运行。

如图1和图5所示，在一个实施例中，采样装置还包括：用于扫描样本容器上条码的扫描机构70，扫描机构70位于输送机构侧旁。可选地，扫描机构70为条码扫描仪。

如图1所示，本实用新型还提出了一种采样设备，包括：机架2、驱动板3以及采样装置，驱动板3和采样装置均设于机架2上，且采样装置与驱动板3电性连接，且机架2上针对驱动板3设有散热器4和防护罩5。

以上所述仅为本申请的较佳实施例而已，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种采样装置，其特征在于，包括：

输送机构，用于输送样本容器；所述输送机构具有多个用于安放样本容器的安放工位；多个所述安放工位间隔排布；且所述采样装置沿所述样本容器的输送方向依次设有混匀位和穿刺位；

混匀机构，设于所述混匀位；所述输送机构带动所述样本容器进入所述混匀位；所述混匀机构拾取所述样本容器脱离所述安放工位，并将所述样本容器内样本混匀；以及

压紧机构，设于所述穿刺位，所述压紧机构的一端固定设置，压紧机构另一端为压紧端；所述输送机构带动所述样本容器进入所述穿刺位，所述压紧端抵压所述样本容器，以使所述样本容器抵压到所述安放工位的预定位置，并防止穿刺机构于所述样本容器拔出时带动所述样本容器脱离所述安放工位。

2.如权利要求1所述的采样装置，其特征在于：所述压紧机构包括固定板、和调节挡板，所述调节挡板连接于所述固定板的上端；所述调节挡板的上端向所述混匀机构方向延伸出有压紧部和导向部；所述压紧部的一端和导向部的一端连接，所述导向部靠近所述混匀机构；所述压紧部的底面为平面；所述导向部的底面为斜面，所述斜面靠近所述混匀机构端的高度高于靠近所述压紧部端的高度；所述样本容器于所述斜面的末端进入所述导向部，并在所述导向部的导向作用下进入所述压紧部，所述平面抵压所述样本容器的上端面。

3.如权利要求2所述的采样装置，其特征在于：所述压紧部的上下表面贯穿有穿刺孔，所述样本容器的上端面正对所述穿刺孔。

4.如权利要求1所述的采样装置，其特征在于：所述输送机构包括支撑架、电机和转盘组件；所述电机固定于所述支撑架上；所述转盘组件转动设于所述支撑架上并与所述电机的输出轴连接，所述电机驱动所述转盘组件转动；多个所述安放工位间隔排布于所述转盘组件的周缘。

5.如权利要求1或4所述的采样装置，其特征在于：所述安放工位中设有适配不同型号所述样本容器的适配器，所述样本容器安放于所述适配器。

6.如权利要求4所述的采样装置，其特征在于：所述采样装置还包括检测转盘组件复位的光耦合器组件，所述光耦合器组件包括设于所述支撑架上的第一光耦合器以及设于所述转盘组件的底面的第二光耦合器，所述第二光耦合器与所述第一光耦合器相对应。

7.如权利要求1所述的采样装置，其特征在于：所述混匀机构包括抓取结构、旋转驱动结构、水平驱动结构和垂直驱动结构；所述抓取结构抓取所述样本容器，且所述抓取结构连接于所述旋转驱动结构的输出端，所述旋转驱动结构带动所述抓取结构转动；所述旋转驱动结构连接于所述水平驱动结构的输出端，所述水平驱动结构驱动所述旋转驱动结构于水平方向移动；所述水平驱动结构连接于所述垂直驱动结构的输出端，所述垂直驱动结构驱动所述水平驱动结构于竖直方向移动。

8.如权利要求1所述的采样装置，其特征在于：所述采样装置还包括：用于检测所述样本容器的检测机构，所述检测机构位于所述输送机构的侧旁。

9.如权利要求8所述的采样装置，其特征在于：所述采样装置还包括：用于扫描所述样本容器上条码的扫描机构，所述扫描机构位于所述输送机构侧旁。

10.一种采样设备，其特征在于，包括：机架、驱动板以及如权利要求1－9任一项所述的采样装置，所述驱动板和所述采样装置均设于所述机架上，且所述采样装置与所述驱动板电性连接。

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