CN215005727U - 一种发光二极管检测装置 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种发光二极管检测装置，其包括基座和检测机构，所述检测机构设置在所述基座一侧；所述基座包括第一连接座、第二连接座、连接轴和调节机构，所述连接轴转动在所述第一连接座上，所述第二连接座设置在所述连接轴上；所述调节机构设置在所述第一连接座上且与所述第二连接座连接；二极管设置在所述第二连接座上，所述检测机构对位于所述第二连接座上的二极管进行检测。本申请具有降低二极管损坏的现象，从而节约资源的效果。

Description

一种发光二极管检测装置

技术领域

本申请涉及检测设备的技术领域，尤其是涉及一种发光二极管检测装置。

背景技术

二极管是用半导体材料制成的一种电子器件。

目前，授权公告号为CN210954236U的中国专利公开了一种二极管测试座，包括基座，基座的下表面固定连接有支撑腿，多个支撑腿在基座的下表面呈矩形阵列分布，基座的上表面分别开设有第一安装孔和第二安装孔，第一安装孔和第二安装孔均在基座的上表面呈矩形阵列分布，基座的背面设置有测试装置。质检人员将需要的二极管本体插入第一安装孔和第二安装孔的内部，然后用测试装置进行检测。

针对上述中的相关技术，发明人认为存在有以下缺陷：基座放置的地方一般会低于操作人员的身高，操作人员将二极管的两个引脚分别放置在第一安装孔与第二安装孔内的时候，操作人员不易观察到引脚与安装孔的位置，因此在二极管的引脚在放置到安装孔内的时候，二极管引脚会一直与基座侧壁产生碰撞，因此导致二极管损坏的概率变大。

实用新型内容

为了降低二极管损坏的现象，达到节约资源的目的，本申请提供一种发光二极管检测装置。

本申请提供的一种发光二极管检测装置采用如下的技术方案：

一种发光二极管检测装置，包括基座和检测机构，所述检测机构设置在所述基座一侧；所述基座包括第一连接座、第二连接座、连接轴和调节机构，所述连接轴转动在所述第一连接座上，所述第二连接座设置在所述连接轴上；所述调节机构设置在所述第一连接座上且与所述第二连接座连接；二极管设置在所述第二连接座上，所述检测机构对位于所述第二连接座上的二极管进行检测。

通过采用上述技术方案，在需要检测二极管的时候，先启动调节机构，调节机构带动第二连接座转动，使第二连接座相对第一连接座之间存在一定夹角，然后再将管安装在第二连接座上；操作人员在放置二极管的时候，可以看到二极管与第二连接座的位置情况，从而使二极管更好的安装在第二连接座上；最后用检测机构对位于第二连接座上的二极管进行检测；设置的基座可以便于二极管的安装，降低二极管损坏的现象，从而节约资源。

可选的，所述第一连接座靠近所述第二连接座的一侧开设有放置槽，所述调节机构包括转轴、伸缩杆和调节组件，所述转轴转动在所述放置槽的侧壁上，所述伸缩杆连接所述转轴与所述第二连接座；所述调节组件设置在所述第一连接座上且与所述转轴连接。

通过采用上述技术方案，启动调节组件，调节组件带动转轴转动，转轴带动伸缩杆转动，伸缩杆就会带动第二连接座转动；开设上的放置槽也能够实现对伸缩杆的收纳。

可选的，所述调节组件包括第一齿轮、第二齿轮和调节电机，所述调节电机设置在所述第一连接座上，所述第一齿轮设置在所述调节电机上；所述第二齿轮设置在所述转轴上且与所述第一齿轮啮合。

通过采用上述技术方案，启动调节电机，调节电机的输出轴带动第一齿轮转动，与第一齿轮啮合的第二齿轮就会带动转轴转动。

可选的，所述伸缩杆包括主杆和副杆，所述主杆的一端设置在所述转轴上，所述主杆上开设有凹槽，所述副杆一端滑移在所述凹槽内且另外一端铰接在所述第二连接座上。

通过采用上述技术方案，转轴带动主杆转动的时候，主杆就会副杆转动，副杆就会实现带动第二连接座运动。

可选的，所述凹槽侧壁上开设有加固槽；所述副杆上设置有加固机构，所述加固机构包括加固杆和驱动组件，所述加固杆滑移在所述副杆上，所述驱动组件设置在所述副杆上且与所述加固杆连接。

通过采用上述技术方案，当第二连接座的位置确定后，启动驱动组件，驱动组件带动加固杆在副杆上运动，使加固杆与主杆上的加固槽卡接；设置的加固机构能够提高副杆在主杆上的稳定性，从而可以提高第二连接座的稳定性。

可选的，所述驱动组件包括齿条、驱动电机和第三齿轮；所述齿条设置在所述加固杆上；所述驱动电机设置在所述副杆上，所述第三齿轮设置在所述驱动电机上，所述第三齿轮与所述齿条啮合。

通过采用上述技术方案，启动驱动电机，驱动电机的输出轴带动第三齿轮转动，第三齿轮带动齿条运动，齿条就会带动加固杆运动。

可选的，所述检测机构包括万用表和传导棒，所述第二连接座上开设有安装槽，所述传导棒位于所述安装槽内，所述传导棒上开设有检测槽；所述第二连接座上开设有与所述安装槽连通的通孔，二极管引脚穿过所述通孔位于所述检测槽内；所述万用表的检测笔抵触所述传导棒。

通过采用上述技术方案，将二极管的引脚穿过第二连接座上的通孔进入到传导棒上的检测槽内，然后用万用表的检测笔抵触传导棒。

可选的，所述第一连接座上设置有托座，所述万用表的检测笔抵触所述托座。

通过采用上述技术方案，当万用表的检测笔抵触传导棒的时候，可以将万用表的检测笔放置在托座上避免操作人员一直手握万用表的检测笔。

综上所述，本申请包括以下至少一种发光二极管检测装置有益技术效果：

1.设置的基座可以便于二极管的安装，降低二极管损坏的现象，从而节约资源；

2.设置的加固机构能够提高副杆在主杆上的稳定性，从而可以提高第二连接座的稳定性。

附图说明

图1为本申请实施例中发光二极管检测装置的结构示意图；

图2为本申请实施例中放置槽的结构示意图；

图3为本申请实施例中调节机构的结构示意图；

图4为本申请实施例中加固机构的结构示意图。

附图标记：1、第一连接座；11、放置槽；2、第二连接座；21、通孔；3、调节机构；31、转轴；32、伸缩杆；321、主杆；322、副杆；3221、空腔；3222、滑槽；33、调节组件；331、第一齿轮；332、第二齿轮；333、调节电机；34、安装座；4、加固机构；41、加固杆；421、齿条；422、驱动电机；423、第三齿轮；5、检测机构；51、万用表；52、传导棒；521、插槽；6、托座。

具体实施方式

以下结合附图1-4对本申请作进一步详细说明。

本申请实施例公开一种发光二极管检测装置。

参考图1和图2，发光二极管检测装置包括用于放置二极管的基座，基座一侧设置有用于检测二极管的检测机构5。

基座包括第一连接座1，第一连接座1的一端转动连接有连接轴，连接轴上固定连接有第二连接座2。

参考图2和图3，第一连接座1朝向第二连接座2一侧的侧壁上开设有放置槽11，第一连接座1上设置有调节机构3，调节机构3包括固定连接在放置槽11底壁上的安装座34，安装座34位于放置槽11靠近连接轴的一端；安装座34上转动连接有转轴31。第一连接座1上设置有调节组件33，调节组件33包括固定连接在第一连接座1上的调节电机333，调节电机333的输出轴上键连接有第一齿轮331；转轴31上键连接有与第一齿轮331啮合的第二齿轮332。

调节电机333启动且其输出轴带动第一齿轮331转动，第一齿轮331带动第二齿轮332转动，第二齿轮332带动转轴31转动。

参考图2和图3，转轴31上设置有伸缩杆32，伸缩杆32包括固定连接在转轴31上的主杆321，主杆321远离转轴31的一端沿其长度方向上开设有凹槽，凹槽内滑移连接有副杆322，副杆322远离转轴31的一端与第二连接座2铰接。主杆321与副杆322的横截面均呈矩形。

参考图3和图4，凹槽的侧壁上开设有加固槽，副杆322靠近转轴31的一端设置有开设有空腔3221，副杆322上开设有与两个与空腔3221连通的滑槽3222。副杆322上设置有加固机构4，加固机构4包括两个加固杆41，两个加固杆41分别滑移在两个滑槽3222内，且加固杆41与加固槽卡接。空腔3221内设置有驱动组件，驱动组件包括固定连接在空腔3221侧壁上的驱动电机422，驱动电机422的输出轴上键连接有第三齿轮423，第三齿轮423位于两个加固杆41之间；两个加固杆41相向的侧壁上均一体设置有齿条421，两个齿条421均与第三齿轮423啮合。

驱动电机422启动且其输出轴带动第三齿轮423转动，第三齿轮423带动两个齿条421做向背运动，两个齿条421就会带动两个加固杆41做向背运动，使加固杆41与凹槽侧壁上的加固槽卡接。

参考图1和图2，第二连接座2上开设有安装槽，第二连接座2上开设有与安装槽连通的通孔21，通孔21的轴线与安装槽的轴线垂直。

检测机构5包括放置在安装槽内的传导棒52，传导棒52的一端上开设有检测槽，检测槽的轴线与通孔21的轴线重合，二极管引脚穿过通孔21位于检测槽内；传导棒52远离检测槽的一端开设有插槽521。

第一连接座1远离连接轴的一端固定连接有托座6。第一连接座1一侧放置有万用表51，万用表51的检测笔放置在托座6上且检测笔笔头与传导棒52上的插槽521卡接。

本实施例中的电机均为三相异步电机。

本申请实施例一种发光二极管检测装置5的实施原理为：先启动调节电机333，使转轴31转动，转轴31带动主杆321转动，主杆321带动副杆322转动，使第二连接座2相对第一连接座1转动。

当第二连接座2转动到一定角度后，启动驱动电机422，使加固杆41与主杆321上的加固槽卡接。然后将二极管的引脚穿过第二连接座2上的通孔21进入到传导棒52上的检测槽内。

在启动调节电机333和驱动电机422，使第二连接座2抵触第一连接座1，最后将万用表51的检测笔放置在托座6上且检测笔笔头与传导棒52上的插槽521卡接。

以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种发光二极管检测装置，包括基座和检测机构（5），所述检测机构（5）设置在所述基座一侧；其特征在于，所述基座包括第一连接座（1）、第二连接座（2）、连接轴和调节机构（3），所述连接轴转动在所述第一连接座（1）上，所述第二连接座（2）设置在所述连接轴上；所述调节机构（3）设置在所述第一连接座（1）上且与所述第二连接座（2）连接；二极管设置在所述第二连接座（2）上，所述检测机构（5）对位于所述第二连接座（2）上的二极管进行检测。

2.根据权利要求1所述的一种发光二极管检测装置，其特征在于，所述第一连接座（1）靠近所述第二连接座（2）的一侧开设有放置槽（11），所述调节机构（3）包括转轴（31）、伸缩杆（32）和调节组件（33），所述转轴（31）转动在所述放置槽（11）的侧壁上，所述伸缩杆（32）连接所述转轴（31）与所述第二连接座（2）；所述调节组件（33）设置在所述第一连接座（1）上且与所述转轴（31）连接。

3.根据权利要求2所述的一种发光二极管检测装置，其特征在于，所述调节组件（33）包括第一齿轮（331）、第二齿轮（332）和调节电机（333），所述调节电机（333）设置在所述第一连接座（1）上，所述第一齿轮（331）设置在所述调节电机（333）上；所述第二齿轮（332）设置在所述转轴（31）上且与所述第一齿轮（331）啮合。

4.根据权利要求2所述的一种发光二极管检测装置，其特征在于，所述伸缩杆（32）包括主杆（321）和副杆（322），所述主杆（321）的一端设置在所述转轴（31）上，所述主杆（321）上开设有凹槽，所述副杆（322）一端滑移在所述凹槽内且另外一端铰接在所述第二连接座（2）上。

5.根据权利要求4所述的一种发光二极管检测装置，其特征在于，所述凹槽侧壁上开设有加固槽；所述副杆（322）上设置有加固机构（4），所述加固机构（4）包括加固杆（41）和驱动组件，所述加固杆（41）滑移在所述副杆（322）上，所述驱动组件设置在所述副杆（322）上且与所述加固杆（41）连接。

6.根据权利要求5所述的一种发光二极管检测装置，其特征在于，所述驱动组件包括齿条（421）、驱动电机（422）和第三齿轮（423）；所述齿条（421）设置在所述加固杆（41）上；所述驱动电机（422）设置在所述副杆（322）上，所述第三齿轮（423）设置在所述驱动电机（422）上，所述第三齿轮（423）与所述齿条（421）啮合。

7.根据权利要求1所述的一种发光二极管检测装置，其特征在于，所述检测机构（5）包括万用表（51）和传导棒（52），所述第二连接座（2）上开设有安装槽，所述传导棒（52）位于所述安装槽内，所述传导棒（52）上开设有检测槽；所述第二连接座（2）上开设有与所述安装槽连通的通孔（21），二极管引脚穿过所述通孔（21）位于所述检测槽内；所述万用表（51）的检测笔抵触所述传导棒（52）。

8.根据权利要求7所述的一种发光二极管检测装置，其特征在于，所述第一连接座（1）上设置有托座（6），所述万用表（51）的检测笔抵触所述托座（6）。

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