CN215003367U - 打刻深度测量仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种打刻深度测量仪，包括千分表和底座，所述千分表的探针穿过所述底座，所述底座包括主体和多个垂直支脚，所述垂直支脚从所述主体延伸出用于与测量面垂直接触，所述探针伸出所述垂直支脚用于测量深度，相邻所述垂直支脚之间留有观察窗，所述观察窗用于观察到所述探针。本实用新型中通过多个垂直支脚与待测件的最高处的接触，用于保证千分表的探针测量时垂直于测量面；并且在垂直支脚之间留有观察窗，便于测量过程中观察到探针，避免盲测，确保探针与待测件的最深处接触。

Description

打刻深度测量仪

技术领域

本实用新型涉及测量装置的技术领域，尤其涉及一种打刻深度测量仪。

背景技术

现有的车辆上牌拍照系统，采用拓印的方式把握车辆识别号(VIN)的打刻深度，而市面上现有的深度测量仪无法用于测量VIN深度，无法保证测量时千分表与测量面垂直，并且现有的深度测量仪在测量时，无法观察到探针，无法判断是否将探针放置在了正确的测量位置，导致测量稳定性差。

因此，有必要设计一种便于观察探针，并能够精确测量打刻深度的打刻深度测量仪。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种便于观察探针，并能够精确测量打刻深度的打刻深度测量仪。

本实用新型的技术方案提供一种打刻深度测量仪，包括千分表和底座，所述千分表的探针穿过所述底座，所述底座包括主体和多个垂直支脚，所述垂直支脚从所述主体延伸出用于与测量面垂直接触，所述探针伸出所述垂直支脚用于测量深度，相邻所述垂直支脚之间留有观察窗，所述观察窗用于观察到所述探针。

进一步地，所述垂直支脚中设有磁铁。

进一步地，所述垂直支脚的底面为平面。

进一步地，所述垂直支脚有四个，四个所述垂直支脚分布在正方形的四个角上，所述探针从所述正方形的中心穿出。

进一步地，所述垂直支脚为方形柱体，所述主体为圆柱体。

进一步地，所述观察窗有至少四个，并且两两对准布置。

进一步地，所述主体的中心开设有通孔，所述探针穿过所述通孔。

进一步地，所述探针包括固定部、安装部和探测部，所述固定部与所述千分表的活动部固定连接，所述活动部插入到所述通孔中后，所述安装部位于所述通孔中，所述探测部穿出所述通孔。

进一步地，还包括校准块，所述校准块包括校零平面。

进一步地，所述校零平面上开设有多条不同深度的校准槽。

采用上述技术方案后，具有如下有益效果：

本实用新型中通过多个垂直支脚与待测件的最高处接触，用于保证千分表的探针测量时垂直于测量面；并且在垂直支脚之间留有观察窗，便于测量过程中观察到探针，避免盲测，确保探针与待测件的最深处接触。

附图说明

参见附图，本实用新型的公开内容将变得更易理解。应当理解：这些附图仅仅用于说明的目的，而并非意在对本实用新型的保护范围构成限制。图中：

图1是本实用新型一实施例中千分表的示意图；

图2是本实用新型一实施例中打刻深度测量仪的示意图；

图3是本实用新型一实施例中底座的主视图；

图4是本实用新型一实施例中底座的仰视图；

图5是本实用新型一实施例中探针的主视图；

图6是本实用新型一实施例中校准块的俯视图；

图7是本实用新型一实施例中打刻深度测量仪测量时的剖视图。

附图标记对照表：

千分表1：探针11、表盘12、活动部13、固定部111、安装部112、探测部113、连接部131、伸缩部132；

底座2：主体21、垂直支脚22、磁铁23、通孔211；

观察窗3；

校准块4：校准槽41、校零平面42；

螺栓5；待测件10。

具体实施方式

下面结合附图来进一步说明本实用新型的具体实施方式。

容易理解，根据本实用新型的技术方案，在不变更本实用新型实质精神下，本领域的一般技术人员可相互替换的多种结构方式以及实现方式。因此，以下具体实施方式以及附图仅是对本实用新型的技术方案的示例性说明，而不应当视为本实用新型的全部或视为对实用新型技术方案的限定或限制。

在本说明书中提到或者可能提到的上、下、左、右、前、后、正面、背面、顶部、底部等方位用语是相对于各附图中所示的构造进行定义的，它们是相对的概念，因此有可能会根据其所处不同位置、不同使用状态而进行相应地变化。所以，也不应当将这些或者其他的方位用语解释为限制性用语。

本实用新型的一些实施例中，如图1-图2所示，打刻深度测量仪，包括千分表1和底座2，千分表1的探针11穿过底座2，底座2包括主体21和多个垂直支脚22，垂直支脚22从主体21延伸出用于与测量面垂直接触，探针11伸出垂直支脚22用于测量深度，相邻垂直支脚22之间留有观察窗3，观察窗3用于观察到探针11。

具体为，如图1所示，千分表1包括表盘12、活动部13和探针11，活动部13连接表盘12和探针11，活动部13包括连接部131和伸缩部132，连接部131的上端与表盘12固定连接，下端连接伸缩部132，伸缩部132的下端连接探针11，伸缩部132能够自由伸缩。自然状态时，伸缩部132将探针11向下推出；当探针11与待测件接触时，伸缩部132被压缩，并且长度缩短。

可选地，自然状态时，伸缩部132还可以带动探针11向上缩回到底座2中；测量时，垂直支脚22先与待测件的最高处接触，伸缩部132向下放下探针11，此时伸缩部132被拉长。

如图2所示，千分表1与底座2连接后，活动部13插入到底座2中，其中连接部131通过螺栓5与底座2固定连接，伸缩部132能够在底座2中自由伸缩，探针11穿过底座2，用于对测量车辆识别号的打刻深度。

底座2的底面用于与待测件的最高处接触，待测件可以为车架上打刻车辆识别号的部位，或其他打刻有字体或图案的部件。最高处可以为打刻字体的顶面或打刻图案的周边面，底座2放置在待测件的最高处上，用于定位测量的初始点。探针11向下伸出底座2，并且与待测件的最深处接触，用于测量待测件的打刻深度。

本实施例中，底座包括垂直支脚22，垂直支脚22用于与待测件的最高处垂直接触，保证千分表1的探针11测量时垂直于待测件。

垂直支脚22从主体21的下表面向下延伸出，垂直支脚22的底面与待测件的最高处接触，使得探针11与待测件垂直。

探针11穿过主体21后从多个垂直支脚22之间穿出，由于相邻垂直支脚22之间留有观察窗3，能够观察到探针11的运动情况，以及与车辆识别打刻号的接触情况，利于测量时探针的摆放位置调整，避免盲测，造成较大的误差。

优选地，如图4所示，垂直支脚22中设有磁铁23。

当垂直支脚22放置在待测件的最高处上时，磁铁23能够吸附待测件，保持垂直支脚22与待测件的相对位置不动，利于探针11的精准测量。测量完毕后，也方便移走打刻深度测量仪。

可选地，垂直支脚22中也可以不设置磁铁23，通过手部，或夹持工具来保持测量时位置不变。

优选地，垂直支脚22的底面为平面，垂直支脚22的底面与待测件的最高处的接触，保证探针11与待测件垂直。

可选地，垂直支脚22的底面还可以配合待测件的最高处的形状对应设置。例如：待测件的最高处为弧形面，垂直支脚22的底面设置为对应的凹面。多个垂直支脚22的底面的形状可以设置的不同，只要能够保证探针与待测件的最深处垂直，都属于本实用新型的保护范围。

本实用新型的一实施例中，如图4所示，垂直支脚22有四个，四个垂直支脚22分布在正方形的四个角上，探针11从正方形的中心穿出。

四个垂直支脚22具有足够的稳定性，能够保证垂直支脚22与待测件的最高处充分接触，并且保证探针11与待测件的最深处之间的垂直度。

可选地，垂直支脚22还可以为六个，探针11从六个垂直支脚22的中心穿出，相邻垂直支脚22之间留有观察窗3，其中观察窗3需要两两相对，便于从至少两个不同的方向观察到打刻面。

可选地，底座2可以由金属，或塑料，或有机玻璃制成。当塑料或有机玻璃制成时，可以是透明的，更有利于观察探针。

进一步地，如图4所示，垂直支脚22为方形柱体。方形主体的垂直支脚22正好位于正方形的四个角上，外轮廓为正方形。

可选地，垂直支脚22还可以为圆柱形，或其他形状的柱体，只要能够与测量面充分接触，并且保证探针11的垂直度，都属于本实用新型的保护范围。

进一步地，如图3所示，主体21为圆柱体。四个垂直支脚22从圆柱体的底面向下延伸出，主体21用于连接千分表1，并且供探针11穿过，起到了安装探针11的作用。

可选地，主体21还可以为正方形柱体，或其他形状的柱体结构，主体21的横截面积等于四个垂直支脚22组成的正方形的面积。

进一步地，如图4所示，主体21的中心开设有通孔211，探针11穿过通孔211。

如图5所示，探针11包括固定部111、安装部112和探测部113，固定部111与千分表1的活动部13的伸缩部132的下端固定连接。

具体为，固定部111上设有外螺纹，与伸缩部132螺纹连接，安装部112的外表面设有斜纹，便于持握安装部112将探针11的固定部111拧入到伸缩部132的下端中。

如图7所示，千分表1与底座2安装后，连接部131与底座2的通孔21固定连接，伸缩部132能够在通孔21中自由伸缩，安装部112位于通孔21中，探测部113伸出通孔211。

测量时，将打刻深度测量仪放置在待测件10上，探针11先与待测件10接触；然后将底座2的垂直支脚22放置在待测件10的最高处，此时伸缩部132被压缩，探针11部分缩回；通过观察窗3调整探针11的位置，确保探针11与待测件10的最深处接触；最后千分表1的表盘12显示测量到的打刻深度。

本实用新型的一些实施例中，如图6所示，还包括校准块4，校准块4包括校零平面42。

测量前，将垂直支脚22放置在校零平面42上，并且探针11与校零平面42接触，用于校零。

进一步地，如图6所示，校零平面42上开设有多条不同深度的校准槽41。例如：校准槽41可以为深度为0.5mm、1mm的槽，校准槽41用于校准千分表的测量精度。

本实用新型一优选实施例中打刻深度测量仪的测量过程如下：

使垂直支脚22和探针11均与校零平面42接触，用于校零；

将打刻深度测量仪放置在待测件10上，探针11先与待测件10接触；

然后将底座2的垂直支脚22放置在待测件10的最高处，此时伸缩部132被压缩，探针11部分缩回；

通过观察窗3调整探针11的位置，确保探针11与待测件10的最深处接触，调整后垂直支脚22的磁铁23吸附在待测件10上，保证打刻深度测量仪不动；

读取千分表1的表盘12上的读数，获取测量到的打刻深度。

本实用新型中的打刻深度测量仪，垂直支脚22能够保持探针11与待测件之间垂直；观察窗3便于观察探针11与待测件的最深处的接触情况，避免盲测；并且由于通过磁铁与待测件吸附来保持稳定，避免了测量过程中探针11的位置偏移；同时，也便于测量结束后，打刻深度测量仪的拆除。

以上所述的仅是本实用新型的原理和较佳的实施例。应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在本实用新型原理的基础上，还可以做出若干其它变型，也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种打刻深度测量仪，包括千分表(1)和底座(2)，所述千分表(1)的探针(11)穿过所述底座(2)，其特征在于，所述底座(2)包括主体(21)和多个垂直支脚(22)，所述垂直支脚(22)从所述主体(21)延伸出用于与测量面垂直接触，所述探针(11)伸出所述垂直支脚(22)用于测量深度，相邻所述垂直支脚(22)之间留有观察窗(3)，所述观察窗(3)用于观察到所述探针(11)。

2.根据权利要求1所述的打刻深度测量仪，其特征在于，所述垂直支脚(22)中设有磁铁(23)。

3.根据权利要求1所述的打刻深度测量仪，其特征在于，所述垂直支脚(22)的底面为平面。

4.根据权利要求1所述的打刻深度测量仪，其特征在于，所述垂直支脚(22)有四个，四个所述垂直支脚(22)分布在正方形的四个角上，所述探针(11)从所述正方形的中心穿出。

5.根据权利要求1所述的打刻深度测量仪，其特征在于，所述垂直支脚(22)为方形柱体，所述主体(21)为圆柱体。

6.根据权利要求1所述的打刻深度测量仪，其特征在于，所述观察窗(3)有至少四个，并且两两对准布置。

7.根据权利要求1所述的打刻深度测量仪，其特征在于，所述主体(21)的中心开设有通孔(211)，所述探针(11)穿过所述通孔(211)。

8.根据权利要求7所述的打刻深度测量仪，其特征在于，所述探针(11)包括固定部(111)、安装部(112)和探测部(113)，所述固定部(111)与所述千分表(1)的活动部(13)固定连接，所述活动部(13)插入到所述通孔(211)中后，所述安装部(112)位于所述通孔(211)中，所述探测部(113)穿出所述通孔(211)。

9.根据权利要求1所述的打刻深度测量仪，其特征在于，还包括校准块(4)，所述校准块(4)包括校零平面(42)。

10.根据权利要求9所述的打刻深度测量仪，其特征在于，所述校零平面(42)上开设有多条不同深度的校准槽(41)。

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