CN214953808U - 一种天线远场测试系统 - Google Patents
一种天线远场测试系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN214953808U CN214953808U CN202120737408.2U CN202120737408U CN214953808U CN 214953808 U CN214953808 U CN 214953808U CN 202120737408 U CN202120737408 U CN 202120737408U CN 214953808 U CN214953808 U CN 214953808U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- antenna
- probe
- radio frequency
- chip
- test system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
本实用新型涉及天线测试技术领域，尤其涉及一种天线远场测试系统。包括多轴机器臂、探针台、三轴移动装置、射频探针、待测片上天线以及用于夹持固定所述待测片上天线的夹具；所述探针平台一侧横向延伸设置有承重板，所述三轴移动装置的底座倒置于所述承重板的底部，所述夹具设置于所述承重板的一侧；所述三轴移动装置设有射频探针座，所述射频探针倒置固定于所述射频探针座，所述射频探针与所述待测片上天线底部的馈电点相接触；所述多轴机器臂的末端设置有测试探头，所述测试探头位于所述待测片上天线的上方。从而，本实用新型提供的天线远场测试系统实现了能够准确获得到片上天线的远场方向图和增益等测试参数，提高了片上天线测试精准效率等。
Description
技术领域
本实用新型涉及天线测试技术领域，尤其涉及一种天线远场测试系统。
背景技术
天线是通信系统和雷达系统的重要器件，随着技术的发展，射频工作频率逐渐提高，天线的特征尺寸不断缩小。目前印制于射频电路板甚至是芯片上的毫米波和太赫兹天线尺寸仅几毫米，由于尺寸小，对材料、工艺以及加工制作的公差异常敏感，天线的不良率较高，片上天线检测设备能够在天线的生产环节中检测天线的性能，及时发现并剔出批次产品中的不良品，防止其造成损失的扩大。
传统天线具有同轴、波导等标准接口，而片上天线的馈电接口多为共面波导，一般需要采用探针馈电，利用显微镜及探针台辅助机构进行在片天线的夹持及探针同天线触点的精确接触。一般来说，芯片的功能部分与焊点位于芯片的两面，芯片天线也不例外，其馈电点(芯片焊盘)与天线的功能部分以及辐射方向相反，测试天线时，天线的功能部分以及辐射方向不能有遮挡物，芯片背面需要采用射频探针实现在片天线的馈电。
目前现有的片上天线远场测试系统所针对的天线的馈电点和辐射方向在芯片的同一面，称为同面测试系统，测试时测试测试探针等附属设备不可避免的影响天线的辐射性能，造成天线测试误差。对于馈电点和辐射方向异面的片上天线，传统的同面测试系统无法实现测试。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种天线远场测试系统，以解决对于馈电点和辐射方向异面的片上天线，传统的同面测试系统无法实现测试等问题。
为解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：
本实用新型提出了一种天线远场测试系统，包括多轴机器臂、探针台、三轴移动装置、射频探针、待测片上天线以及用于夹持固定所述待测片上天线的夹具；所述探针台包括探针平台和用于固定支撑所述探针平台的机架，所述探针平台一侧横向延伸设置有承重板，所述三轴移动装置的底座倒置于所述承重板的底部，所述夹具设置于所述承重板的一侧；所述三轴移动装置设有射频探针座，所述射频探针倒置固定于所述射频探针座，所述射频探针与所述待测片上天线底部的馈电点相接触；所述多轴机器臂的末端设置有测试探头，所述测试探头位于所述待测片上天线的上方。
其中，所述天线远场测试系统还包括接收扩频模块和发射扩频模块，所述接收扩频模块设置于所述测试探头上，所述发射扩频模块设置于所述三轴移动装置上。
其中，所述射频探针通过射频电缆与所述发射扩频模块连接。
其中，所述测试探头通过射频电缆与所述接收扩频模块连接。
其中，所述探针台还包括分别与所述接收扩频模块和所述发射扩频模块连接的计算机，所述计算机位于所述探针平台的顶部，所述计算机用于控制所述多轴机器臂和所述射频探针的运动以及对所述待测片上天线进行辐相采样。
其中，所述多轴机器臂与所述三轴移动装置均设有用于与所述计算机相连接的网络端口，所述计算机分别通过所述网络端口与所述多轴机器臂和所述三轴移动装置连接。
其中，所述天线远场测试系统还包括光学显微镜，所述光学显微镜位于所述待测片上天线的下方，所述光学显微镜连接于所述三轴移动装置上；使所述光学显微镜在所述三轴移动装置上进行横向和/或纵向移动，所述光学显微镜的探测区域为所述待测片上天线的范围，所述光学显微镜用于获取所述测试探头、所述待测片上天线和所述射频探针的位置。
其中，所述夹具的材质为聚四氟乙烯。
其中，所述承重板与所述探针平台一体成型。
其中，所述多轴机器臂为六轴机器臂。
在本实用新型的天线远场测试系统中，由于所述三轴移动装置的底座倒置于所述承重板的底部，所述夹具设置于所述承重板的一侧；所述三轴移动装置设有射频探针座，所述射频探针倒置固定于所述射频探针座，所述射频探针与所述待测片上天线底部的馈电点相接触；所述多轴机器臂的末端设置有测试探头，所述测试探头位于所述待测片上天线的上方；因此，通过三轴移动装置倒置安装在承重板的底部，射频探针倒置与待测片上天线底部的馈电点相接触，测试探头位于待测片上天线的上方，使待测片上天线向上半空间辐射，采用多轴机器臂携带测试探头在上半空间进行幅相采样，获得待测片上天线的辐射性能参数。从而，本实用新型提供的天线远场测试系统实现了能够准确获得到片上天线的远场方向图和增益等测试参数，提高了片上天线测试精准效率等。
附图说明
图1是本实用新型实施例提供的天线远场测试系统的结构示意图。
图2是图1的局部放大示意图。
图3是本实用新型实施例提供的天线远场测试系统的另一视角的结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
为了说明本实用新型所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。
请参阅图1至图3，本实用新型实施例提供的天线远场测试系统，包括多轴机器臂1、探针台2、三轴移动装置3、射频探针4、待测片上天线5以及用于夹持固定所述待测片上天线5的夹具6；所述探针台2包括探针平台7和用于固定支撑所述探针平台的机架8，所述探针平台7一侧横向延伸设置有承重板9，所述三轴移动装置3的底座倒置于所述承重板9的底部，所述夹具6设置于所述承重板9的一侧；所述三轴移动装置3设有射频探针座10，所述射频探针4倒置固定于所述射频探针座10，所述射频探针4与所述待测片上天线5底部的馈电点相接触，控制三轴移动装置调整射频探针的坐标，从而使所述射频探针与所述待测片上天线背面的馈电点对准和压合；所述多轴机器臂2的末端设置有测试探头11，所述测试探头11位于所述待测片上天线5的上方。通过三轴移动装置倒置安装在承重板的底部，射频探针倒置与待测片上天线底部的馈电点相接触，测试探头位于待测片上天线的上方，使待测片上天线向上半空间辐射，采用多轴机器臂携带测试探头在上半空间进行幅相采样，获得待测片上天线的辐射性能参数。
在本实用新型实施例中，所述天线远场测试系统还包括接收扩频模块12和发射扩频模块13，所述接收扩频模块12设置于所述测试探头11上，所述发射扩频模块13设置于所述三轴移动装置3上。
在本实用新型实施例中，所述射频探针4通过射频电缆与所述发射扩频模块13连接。所述测试探头11通过射频电缆与所述接收扩频模块12连接。
在本实用新型实施例中，所述探针台2还包括分别与所述接收扩频模块12和所述发射扩频模块13连接的计算机14，所述计算机14位于所述探针平台7的顶部，所述计算机14用于控制所述多轴机器臂1和所述射频探针4的运动以及对所述待测片上天线5进行辐相采样。
在本实用新型实施例中，所述多轴机器臂1与所述三轴移动装置3均设有用于与所述计算机14相连接的网络端口，所述计算机14分别通过所述网络端口与所述多轴机器臂1和所述三轴移动装置3连接,从而测试系统能够通过计算机的控制进行全自动扫描、数据采集和数据处理。
在本实用新型实施例中，所述天线远场测试系统还包括光学显微镜15，所述光学显微镜15位于所述待测片上天线5的下方，所述光学显微镜15连接于所述三轴移动装置3上；使所述光学显微镜15在所述三轴移动装置3上进行横向和/或纵向移动，所述光学显微镜15的探测区域为所述待测片上天线5的范围，所述光学显微镜15用于获取所述测试探头11、所述待测片上天线5和所述射频探针4的位置。
在本实用新型实施例中，所述夹具6的材质为聚四氟乙烯。
在本实用新型实施例中，所述承重板9与所述探针平台7一体成型。
在本实用新型实施例中，所述多轴机器臂1为六轴机器臂，六轴机器臂具有更多的“行动自由度”，这六个轴分别控制这机器臂承载重量、控制机器臂伸缩、控制机器臂前后摆动、控制上臂部分180°自由旋转、控制精准定位和控制水平360°旋转。
在本实用新型实施例中，本实用新型提供的天线远场测试系统实现了能够准确获得到片上天线的远场方向图和增益等测试参数，提高了片上天线测试精准效率等。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种天线远场测试系统，其特征在于：包括多轴机器臂、探针台、三轴移动装置、射频探针、待测片上天线以及用于夹持固定所述待测片上天线的夹具；所述探针台包括探针平台和用于固定支撑所述探针平台的机架，所述探针平台一侧横向延伸设置有承重板，所述三轴移动装置的底座倒置于所述承重板的底部，所述夹具设置于所述承重板的一侧；所述三轴移动装置设有射频探针座，所述射频探针倒置固定于所述射频探针座，所述射频探针与所述待测片上天线底部的馈电点相接触；所述多轴机器臂的末端设置有测试探头，所述测试探头位于所述待测片上天线的上方。
2.如权利要求1所述的天线远场测试系统，其特征在于，所述天线远场测试系统还包括接收扩频模块和发射扩频模块，所述接收扩频模块设置于所述测试探头上，所述发射扩频模块设置于所述三轴移动装置上。
3.如权利要求2所述的天线远场测试系统，其特征在于，所述射频探针通过射频电缆与所述发射扩频模块连接。
4.如权利要求2所述的天线远场测试系统，其特征在于，所述测试探头通过射频电缆与所述接收扩频模块连接。
5.如权利要求2所述的天线远场测试系统，其特征在于，所述探针台还包括分别与所述接收扩频模块和所述发射扩频模块连接的计算机，所述计算机位于所述探针平台的顶部，所述计算机用于控制所述多轴机器臂和所述射频探针的运动以及对所述待测片上天线进行辐相采样。
6.如权利要求5所述的天线远场测试系统，其特征在于，所述多轴机器臂与所述三轴移动装置均设有用于与所述计算机相连接的网络端口，所述计算机分别通过所述网络端口与所述多轴机器臂和所述三轴移动装置连接。
7.如权利要求1所述的天线远场测试系统，其特征在于，所述天线远场测试系统还包括光学显微镜，所述光学显微镜位于所述待测片上天线的下方，所述光学显微镜连接于所述三轴移动装置上；使所述光学显微镜在所述三轴移动装置上进行横向和/或纵向移动，所述光学显微镜的探测区域为所述待测片上天线的范围，所述光学显微镜用于获取所述测试探头、所述待测片上天线和所述射频探针的位置。
8.如权利要求1所述的天线远场测试系统，其特征在于，所述夹具的材质为聚四氟乙烯。
9.如权利要求1所述的天线远场测试系统，其特征在于，所述承重板与所述探针平台一体成型。
10.如权利要求1所述的天线远场测试系统，其特征在于，所述多轴机器臂为六轴机器臂。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202120737408.2U CN214953808U (zh) | 2021-04-12 | 2021-04-12 | 一种天线远场测试系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202120737408.2U CN214953808U (zh) | 2021-04-12 | 2021-04-12 | 一种天线远场测试系统 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN214953808U true CN214953808U (zh) | 2021-11-30 |
Family
ID=79044572
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202120737408.2U Active CN214953808U (zh) | 2021-04-12 | 2021-04-12 | 一种天线远场测试系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN214953808U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116429375A (zh) * | 2023-03-29 | 2023-07-14 | 知一航宇(北京)科技有限公司 | 一种光电轴指向一致性标校方法 |
| CN116953297A (zh) * | 2023-07-26 | 2023-10-27 | 中国计量科学研究院 | 毫米波片上天线背馈测量装置 |
-
2021
- 2021-04-12 CN CN202120737408.2U patent/CN214953808U/zh active Active
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116429375A (zh) * | 2023-03-29 | 2023-07-14 | 知一航宇(北京)科技有限公司 | 一种光电轴指向一致性标校方法 |
| CN116429375B (zh) * | 2023-03-29 | 2024-03-12 | 知一航宇(北京)科技有限公司 | 一种光电轴指向一致性标校方法 |
| CN116953297A (zh) * | 2023-07-26 | 2023-10-27 | 中国计量科学研究院 | 毫米波片上天线背馈测量装置 |
| CN116953297B (zh) * | 2023-07-26 | 2024-02-20 | 中国计量科学研究院 | 毫米波片上天线背馈测量装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN214953808U (zh) | 一种天线远场测试系统 | |
| CN109842452B (zh) | 测试装置、测试系统和测试方法 | |
| US20090153158A1 (en) | Rf integrated circuit test methodology and system | |
| CN111289809B (zh) | 量测封装天线的传导及辐射特性的综合系统 | |
| US11300609B2 (en) | Electronic component pressing apparatus and electronic component testing apparatus | |
| CN111624415B (zh) | 机器臂片上天线测试系统及测试方法 | |
| CN211374898U (zh) | 天线测试系统 | |
| US20240027519A1 (en) | Electronic component testing apparatus, sockets, and replacement parts for electronic component testing apparatus | |
| JPWO2020110483A1 (ja) | 試験装置 | |
| CN212540550U (zh) | 机器臂片上天线测试系统 | |
| CN111521881B (zh) | 天线测试系统 | |
| CN116087856A (zh) | 芯片天线测量校准装置及远场测量方法 | |
| CN113945777A (zh) | 射频电子元件测试装置及应用其的测试设备 | |
| CN217156720U (zh) | 测试装置 | |
| CN215986267U (zh) | Nfc天线测试装置及电子设备 | |
| CN215494108U (zh) | 一种雷达信号测量系统 | |
| TW202136804A (zh) | 射頻電子元件測試裝置及其應用之測試設備 | |
| TW202134677A (zh) | 射頻電子元件測試裝置及其應用之測試設備 | |
| TW202122812A (zh) | 射頻電子元件測試裝置及其應用之測試設備 | |
| CN215415633U (zh) | 一种用于相控阵天线测试近场设备 | |
| TWI741433B (zh) | 射頻電子元件測試裝置及其應用之測試作業設備 | |
| CN211955666U (zh) | 一种幅相测试设备 | |
| CN111198304A (zh) | 用于量测天线的自动化系统 | |
| TWI777616B (zh) | 用於測試具有天線元件之半導體封裝結構的測試治具、測試系統及其測試方法 | |
| TWI741673B (zh) | 射頻電子元件測試裝置及其應用之測試設備 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |