CN214918320U - 一种智能卡芯片功耗测试装置 - Google Patents

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苏晨
闵闰
刘冬生
邬亮
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Abstract

本实用新型公开了一种智能卡芯片功耗测试装置,包括横梁、工作台和支撑杆,所述工作台一端的一侧安装有收集箱,所述工作台的顶端安装有传送带,所述工作台顶端的两侧均安装有支撑杆,所述支撑杆一侧底部的两端均安装有连接块,所述支撑杆另一侧的底端安装有限位槽,且限位槽一侧的两端均安装有第一限位块。本实用新型通过在支撑杆底部一端安装的第二伺服电机,启动第二伺服电机,第二螺纹杆带动第一螺纹杆转动,由于螺纹连接的关系,活动块带动连接块移动,根据芯片的不同尺寸将导向板调至合适的位置,导向板可对传送带上的芯片进行导向,使得芯片始终处于测试头的下方,便于测试头对芯片进行测试,提高测试效率。

Description

一种智能卡芯片功耗测试装置
技术领域
本实用新型涉及智能卡芯片测试技术领域,特别涉及一种智能卡芯片功耗测试装置。
背景技术
随着社会的不断发展,智能卡的应用也越来越普及,智能卡是种内嵌有微芯片的塑料卡,其中包含一个微电子芯片,智能卡具有便于携带、存储容量大和保密性高等优点,在智能卡芯片使用前,需要利用测试装置对智能卡芯片进行功耗测试。
公开号为CN206178096U的专利说明书中公开了一种智能卡芯片功能测试装置,涉及芯片测试技术领域,包括读取电路板、显示屏及放置待测试智能卡的工作台,读取电路板与电源相连,工作台侧面设有电源开关及测试按钮,读取电路板与显示屏相连,工作台上设有输送带,待测试智能卡放置在输送带上。通过读取电路板来测试待测试智能卡上的芯片功能是否正常,借助显示屏更直观地观察测试结果信息;利用输送带传输待测试智能卡,方便操作人员取放待测试智能卡,减少辅助工作时间,提高测试效率。本实用新型具有结构简单、操作方便、测试用时短的优点,能够实现对多个芯片功能同时测试,流水线作业进一步提高了测试效率,降低操作人员劳动强度,满足了大批量生产的需要。
上述中的现有技术方案存在不足之处,测试装置不便于分类,不能将不合格的智能卡芯片挑选出来,在一定程度上降低了测试的工作效率。
实用新型内容
(一)要解决的技术问题
本实用新型的目的是提供一种智能卡芯片功耗测试装置,用以解决现有的测试装置不便于分类的缺陷。
(二)实用新型内容
为了解决上述技术问题,本实用新型提供如下技术方案:一种智能卡芯片功耗测试装置,包括横梁、工作台和支撑杆,所述工作台一端的一侧安装有收集箱,所述工作台的顶端安装有传送带,所述工作台顶端的两侧均安装有支撑杆,所述支撑杆一侧底部的两端均安装有连接块,所述支撑杆另一侧的底端安装有限位槽,且限位槽一侧的两端均安装有第一限位块,所述第一限位块与连接块之间均安装有连接板,且连接板的底端均安装有导向板,所述支撑杆的顶端安装有横梁,所述横梁的一端安装有固定块,且固定块的底端安装有测试头,所述固定块的一侧设置有剔除机构。
优选的,所述测试头的顶端设置有调节结构,所述调节结构包括有第二限位块、滑块、滑槽和液压气缸,所述液压气缸安装在固定块的顶端,所述液压气缸的底端安装有第二限位块,且第二限位块的两侧均安装有滑块,且滑块的一侧均安装有滑槽,所述第二限位块的底端与测试头的顶端相连接。
优选的,所述滑槽设置在固定块内部的两侧,所述滑槽与滑块构成滑动结构。
优选的,所述剔除机构包括有固定气缸、吸头、固定板、腔体和第一伺服电机,所述腔体安装在横梁底端的一侧,所述腔体的底端安装有第一伺服电机,且第一伺服电机的底端安装有固定板,所述固定板的底端安装有固定气缸,且固定气缸的底端安装有吸头。
优选的,所述支撑杆内部一侧的底端设置有移动机构,所述移动机构包括有活动块、第一螺纹杆、内螺纹、第二螺纹杆和第二伺服电机,所述第二伺服电机安装在支撑杆底部的一端,所述第二伺服电机的一端安装有第二螺纹杆,且第二螺纹杆的一端安装有第一螺纹杆,所述第一螺纹杆与第二螺纹杆的外侧均安装有活动块,所述活动块的内部均安装有与第一螺纹杆和第二螺纹杆相匹配的内螺纹。
优选的,所述活动块的一侧与连接块的一侧相连接,所述活动块分别与第一螺纹杆和第二螺纹杆构成螺纹连接。
优选的,所述第一螺纹杆与第二螺纹杆呈对称设置,所述第一螺纹杆与第二螺纹杆上的螺纹呈相反设置。
(三)有益效果
本实用新型提供的智能卡芯片功耗测试装置,其优点在于:
(1)通过在固定板底端安装的吸头,当出现不合格的芯片时,启动固定气缸,固定气缸推动吸头向下移动,吸头可将不合格芯片吸住,再次启动固定气缸,吸头向上移动,将吸头移动至合适的位置,启动第一伺服电机,固定板带动吸头进行旋转,将吸头旋转至收集箱的上方,使不合格芯片落至收集箱的内部,便于对不合格芯片进行分类收集;
(2)通过在支撑杆底部一端安装的第二伺服电机,启动第二伺服电机,第二螺纹杆带动第一螺纹杆转动,由于螺纹连接的关系,活动块带动连接块移动,根据芯片的不同尺寸将导向板调至合适的位置,导向板可对传送带上的芯片进行导向,使得芯片始终处于测试头的下方,便于测试头对芯片进行测试,提高测试效率;
(3)通过在固定块顶端安装的液压气缸,启动液压气缸,第二限位块顺着滑槽的方向滑动,将测试头移动至合适的位置,使得测试头能够与不同尺寸的芯片相接触,完成对芯片的功耗测试,提高对芯片的测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型的正视结构示意图;
图2为本实用新型的局部俯视立体结构示意图;
图3为本实用新型的剔除机构局部结构示意图;
图4为本实用新型的移动机构局部俯视结构示意图;
图5为本实用新型的调节结构局部结构示意图。
图中的附图标记说明:1、横梁;2、连接块;3、传送带;4、工作台;5、导向板;6、测试头;7、连接板;8、第一限位块;9、限位槽;10、支撑杆;11、固定块;12、调节结构;1201、第二限位块;1202、滑块;1203、滑槽;1204、液压气缸;13、剔除机构;1301、固定气缸;1302、吸头;1303、固定板;1304、腔体;1305、第一伺服电机;14、收集箱;15、移动机构;1501、活动块;1502、第一螺纹杆;1503、内螺纹;1504、第二螺纹杆;1505、第二伺服电机。
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
请参阅图1-5,本实用新型提供的一种实施例:一种智能卡芯片功耗测试装置,包括横梁1、工作台4和支撑杆10,工作台4一端的一侧安装有收集箱14,工作台4的顶端安装有传送带3,工作台4顶端的两侧均安装有支撑杆10,支撑杆10一侧底部的两端均安装有连接块2,支撑杆10另一侧的底端安装有限位槽9,且限位槽9一侧的两端均安装有第一限位块8,第一限位块8与连接块2之间均安装有连接板7,且连接板7的底端均安装有导向板5,支撑杆10内部一侧的底端设置有移动机构15,移动机构15包括有活动块1501、第一螺纹杆1502、内螺纹1503、第二螺纹杆1504和第二伺服电机1505,第二伺服电机1505安装在支撑杆10底部的一端,该第二伺服电机1505的型号可为IHSV57,第二伺服电机1505的输入端与控制面板的输出端电性连接,第二伺服电机1505的一端安装有第二螺纹杆1504,且第二螺纹杆1504的一端安装有第一螺纹杆1502,第一螺纹杆1502与第二螺纹杆1504的外侧均安装有活动块1501,活动块1501的内部均安装有与第一螺纹杆1502和第二螺纹杆1504相匹配的内螺纹1503,活动块1501的一侧与连接块2的一侧相连接,活动块1501分别与第一螺纹杆1502和第二螺纹杆1504构成螺纹连接,便于移动。
第一螺纹杆1502与第二螺纹杆1504呈对称设置,第一螺纹杆1502与第二螺纹杆1504上的螺纹呈相反设置,便于导向,启动第二伺服电机1505,第二螺纹杆1504带动第一螺纹杆1502转动,由于螺纹连接的关系,活动块1501带动连接块2移动,根据芯片的不同尺寸将导向板5调至合适的位置,导向板5可对传送带3上的芯片进行导向,使得芯片始终处于测试头6的下方,便于测试头6对芯片进行测试。
支撑杆10的顶端安装有横梁1,横梁1的一端安装有固定块11,且固定块11的底端安装有测试头6,测试头6的顶端设置有调节结构12,调节结构12包括有第二限位块1201、滑块1202、滑槽1203和液压气缸1204,液压气缸1204安装在固定块11的顶端,该液压气缸1204的型号可为SC100,液压气缸1204的输入端与控制面板的输出端电性连接,液压气缸1204的底端安装有第二限位块1201,且第二限位块1201的两侧均安装有滑块1202,且滑块1202的一侧均安装有滑槽1203,第二限位块1201的底端与测试头6的顶端相连接,滑槽1203设置在固定块11内部的两侧,滑槽1203与滑块1202构成滑动结构,增强稳定性,将芯片放置在传送带3进行传送,当芯片传送至测试头6的底端时,启动液压气缸1204,第二限位块1201顺着滑槽1203的方向滑动,将测试头6移动至合适的位置,使得测试头6能够与芯片相接触,完成对芯片的功耗测试。
固定块11的一侧设置有剔除机构13,剔除机构13包括有固定气缸1301、吸头1302、固定板1303、腔体1304和第一伺服电机1305,腔体1304安装在横梁1底端的一侧,腔体1304的底端安装有第一伺服电机1305,该第一伺服电机1305的型号可为ZB105,第一伺服电机1305的输入端与控制面板的输出端电性连接,且第一伺服电机1305的底端安装有固定板1303,固定板1303的底端安装有固定气缸1301,该固定气缸1301的型号可为SC75,固定气缸1301的输入端与控制面板的输出端电性连接,且固定气缸1301的底端安装有吸头1302,当测试头6测试出不合格芯片时,测试头6将信息传递给固定气缸1301,启动固定气缸1301,固定气缸1301推动吸头1302向下移动,吸头1302可将不合格芯片吸住,再次启动固定气缸1301,吸头1302向上移动,将吸头1302移动至合适的位置,启动第一伺服电机1305,固定板1303带动吸头1302进行旋转,将吸头1302旋转至收集箱14的上方,使不合格芯片落至收集箱14的内部,便于对不合格芯片进行分类收集。
工作原理:使用时,该装置采用外接电源,首先,启动第二伺服电机1505,第二螺纹杆1504带动第一螺纹杆1502转动,由于螺纹连接的关系,活动块1501带动连接块2移动,根据芯片的不同尺寸将导向板5调至合适的位置,导向板5可对传送带3上的芯片进行导向,使得芯片始终处于测试头6的下方,便于测试头6对芯片进行测试。
其次,将芯片放置在传送带3进行传送,当芯片传送至测试头6的底端时,启动液压气缸1204,第二限位块1201顺着滑槽1203的方向滑动,将测试头6移动至合适的位置,使得测试头6能够与芯片相接触,完成对芯片的功耗测试。
最后,当测试头6测试出不合格芯片时,测试头6将信息传递给固定气缸1301,启动固定气缸1301,固定气缸1301推动吸头1302向下移动,吸头1302可将不合格芯片吸住,再次启动固定气缸1301,吸头1302向上移动,将吸头1302移动至合适的位置,启动第一伺服电机1305,固定板1303带动吸头1302进行旋转,将吸头1302旋转至收集箱14的上方,使不合格芯片落至收集箱14的内部,便于对不合格芯片进行分类收集。
最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (7)

1.一种智能卡芯片功耗测试装置,包括横梁(1)、工作台(4)和支撑杆(10),其特征在于:所述工作台(4)一端的一侧安装有收集箱(14),所述工作台(4)的顶端安装有传送带(3),所述工作台(4)顶端的两侧均安装有支撑杆(10);
所述支撑杆(10)一侧底部的两端均安装有连接块(2),所述支撑杆(10)另一侧的底端安装有限位槽(9),且限位槽(9)一侧的两端均安装有第一限位块(8),所述第一限位块(8)与连接块(2)之间均安装有连接板(7),且连接板(7)的底端均安装有导向板(5),所述支撑杆(10)的顶端安装有横梁(1);
所述横梁(1)的一端安装有固定块(11),且固定块(11)的底端安装有测试头(6),所述固定块(11)的一侧设置有剔除机构(13)。
2.根据权利要求1所述的一种智能卡芯片功耗测试装置,其特征在于:所述测试头(6)的顶端设置有调节结构(12),所述调节结构(12)包括有第二限位块(1201)、滑块(1202)、滑槽(1203)和液压气缸(1204),所述液压气缸(1204)安装在固定块(11)的顶端,所述液压气缸(1204)的底端安装有第二限位块(1201),且第二限位块(1201)的两侧均安装有滑块(1202),且滑块(1202)的一侧均安装有滑槽(1203),所述第二限位块(1201)的底端与测试头(6)的顶端相连接。
3.根据权利要求2所述的一种智能卡芯片功耗测试装置,其特征在于:所述滑槽(1203)设置在固定块(11)内部的两侧,所述滑槽(1203)与滑块(1202)构成滑动结构。
4.根据权利要求1所述的一种智能卡芯片功耗测试装置,其特征在于:所述剔除机构(13)包括有固定气缸(1301)、吸头(1302)、固定板(1303)、腔体(1304)和第一伺服电机(1305),所述腔体(1304)安装在横梁(1)底端的一侧,所述腔体(1304)的底端安装有第一伺服电机(1305),且第一伺服电机(1305)的底端安装有固定板(1303),所述固定板(1303)的底端安装有固定气缸(1301),且固定气缸(1301)的底端安装有吸头(1302)。
5.根据权利要求1所述的一种智能卡芯片功耗测试装置,其特征在于:所述支撑杆(10)内部一侧的底端设置有移动机构(15),所述移动机构(15)包括有活动块(1501)、第一螺纹杆(1502)、内螺纹(1503)、第二螺纹杆(1504)和第二伺服电机(1505),所述第二伺服电机(1505)安装在支撑杆(10)底部的一端,所述第二伺服电机(1505)的一端安装有第二螺纹杆(1504),且第二螺纹杆(1504)的一端安装有第一螺纹杆(1502),所述第一螺纹杆(1502)与第二螺纹杆(1504)的外侧均安装有活动块(1501),所述活动块(1501)的内部均安装有与第一螺纹杆(1502)和第二螺纹杆(1504)相匹配的内螺纹(1503)。
6.根据权利要求5所述的一种智能卡芯片功耗测试装置,其特征在于:所述活动块(1501)的一侧与连接块(2)的一侧相连接,所述活动块(1501)分别与第一螺纹杆(1502)和第二螺纹杆(1504)构成螺纹连接。
7.根据权利要求5所述的一种智能卡芯片功耗测试装置,其特征在于:所述第一螺纹杆(1502)与第二螺纹杆(1504)呈对称设置,所述第一螺纹杆(1502)与第二螺纹杆(1504)上的螺纹呈相反设置。
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