CN2147548Y - 数字集成电路测试仪器及测试探头 - Google Patents

Abstract

一种利用数字集成电路的逻辑状态图和真值表 来观察判断其功能的在线、离线测试方法和测试仪 器，逻辑状态图是三态实时显示的，可测TTL和各 种电源电压的CMOS电路，可以对动态运行的电路 实行瞬态锁定，还能对被测IC进行多点同时双向多 重强迫驱动，有八种触发驱动信号，可实现多种组合， 使被测IC进入任意工作状态。又能用同型号的IC 进行逻辑比较，同时进行逻辑状态的观察和驱动，还 能进行三态离线测试。附有能观察瞬变现象声光显 示的逻辑探头。

Description

本实用新型涉及一种集成电路的测试仪器和测试探头，其基本工作原理是利用充分显示数字集成电路的逻辑状态图来观察了解其真值表，从而判断该集成电路的功能是否正常。

一个数字集成电路的全部逻辑状态图的集合就是它的真值表，通过数字集成电路的逻辑状态图，来判断该电路功能是否正常是一种形象、直观、简单，可靠的方法，它是以被测板上每个数字集成电路（IC）为对象的故障诊断法。这种诊断法与以被测系统或被测板为对象的诊断法相比具有很多优点。后者常常需要有完好的系统或印制板做对比测量，或要求在故障出现前进行全面测量，并把正常值记录存储下来作为对照，或者需要对系统进行全面激励，根据仪器症状进行分析追踪，维修者必须知道整个系统的工作原理、信号流程、信息流、特征值、故障诊断树……等，但这些要求往往难以满足。而前者只要求操作者了解每个IC应具备的功能即元件的真值表即可，这种方法可以体现数据域测试必须具备的多路性、同时性、非周期性，目前有不少测试方案基于这种方法，例如：中国专利90214599.1，88211155.8，88211707.6，美国专利4348636、3670245，日本专利平2－205779等。

然而，上述各种方案，都存在缺点及不足，从而大大限制了这种方法的应用，概括起来有以下几点：

1.用LED发光二极管来表示各路状态，是一种非常直观、经济、简单的方法，然而由于人的视觉的暂留效应，当闪光频率超过十几Hz时，发光管就成为连续发光，无法分辨，即使低到几个Hz的闪光频率也很难准确判断各路之间的逻辑关系是否符合真值表。因而大大限制了在动态运行条件下的在线测试。有的方案则只能以扫描方式逐个测得逻辑状态，不能体现各路状态之间的同时性。

2.以上所举的可以反映逻辑状态图的方案中，每路信号只有高低两个状态，而不能反映中间状态（或高阻态、悬空态）。由于三态测试的重要性，迄经有一些方案企图解决这个问题，例如：美国格鲁曼航天公司的中国专利88101319A“三态电路测试器”，87108371A“具有三态电路检验能力的计算机辅助探针”以及88214422.7，89202124.1，90209542.0，89214668等中国专利和日本专利JP88－237735，昭58－117468，还有市场产品（美）HP545A，（日）UT1000等Logic Probe逻辑探头。都程度不同地具有三态电平的测试能力。但共同的缺点是只能单结点测试，而不能多点同时测出IC的三态逻辑状态图，体现不出数据域测试多路性同时性的要求，也不能据以判断各脚状态的逻辑关系是否正确，其用途只能局限在静态测试的圈子里。

其次，这些方案还分别存在：三态电平规定不合理；三态门限不明确，有较宽的模糊区；TTL电平与CMOS电平范围没有区分；或只适用于＋5V供电电平，而不能用于各种高于＋5V的CMOS电路等缺点。

3.根据真值表对数字IC的功能进行判断，必须对被测IC的各种可能状态进行充分观察。理论分析表明，一个数字集成电路可能具有的逻辑状态数等于2ⁿ个，其中n为该IC的输入端数。只观察个别状态是不足以判断IC的好坏的。在线测试时，由于电路间的互相连结，一个节点往往既是下一级的输入端又是上一级的输出端，如果只是用普通的高、低电平或脉冲电路来驱动，往往会出现驱不动或烧毁被测电路的问题。必须用强迫驱动的方法，迫使被测电路进入一个又一个新状态。迄今为止有多种逻辑脉冲笔，能够实现某种程度的单节点强迫驱动，如中国专利89202124.1，90214599.1，日本专利 平2－218973，但却不能实现多节点同时双向多重强迫驱动，使被测IC进入测试所需的任意工作状态。

在数字集成电路的在线测试方法中，逻辑比较法是一种成熟的常用方法。这种方法在许多产品和专利中被采用，例如（美）HP10529A逻辑比较器，美国专利3882386，中国专利88211155.8，但是这种方法，目前还存在如下问题：①任何数字IC通常都具有多个逻辑状态，只对个别状态进行比较是不足以说明被测IC好坏的。现有的逻辑比较器既不能对逻辑状态进行观察，更不能使状态发生改变，所以其比较结果是在什么状态下作出的，对于操作者来说，完全是盲目的，片面的，被动的。②现有逻辑比较器只能进行高低两种逻辑电平的比较，而把中间电平也作为高电平对待，当被测IC出现了不应出现的中间电平时，就分辨不出来。

针对现有技术的弊端与缺陷，本实用新型的目的在于设计一种，在即使不清楚仪器的全部技术资料，也不使用配套维修电路板的情况下，也可对智能仪器、电子计算机、数字仪表等进行故障分析诊断的通用维修检测设备，它可通过观察被测集成电路（IC）的逻辑状态图将故障定位到元件级，本实用新型具有如下特殊功能：

1.本实用新型可直观地对数字集成电路各管脚的逻辑状态，进行实时多点三态显示，不仅可显示高、低两种电平工作状态，而且可以显示处于高低两种状态之间的中间状态，以利于正确反映具有三态电平的集成电路的正常逻辑状态，并能发现电平变得不正常的性能下降的集成电路。

2.为了显示被测集成电路的全部真值表，必须迫使被测集成电路进入一个又一个新的逻辑状态，本实用新型首次提出并采用了多点同时双向双重强迫驱动技术，成功地解决了数字集成电路的强迫驱动问题。

3.为了准确判断动态运行情况下不断变化的每一个瞬时逻辑状态图，本实用新型设计有三态逻辑状态图的瞬时锁定装置，使操作者能够通过一幅幅静止的逻辑状态图，来准确判断每一个瞬时的逻辑关系。

4.当使用本实用新型对故障仪器及各种数字集成电路进行故障检测和状态监控时，还可以通过本实用新型中的逻辑状态比较电路，使被测集成电路与参考集成电路进行直观比较，来判断被测电路的功能是否正常。

5.本实用新型还实现了在线测试和离线测试的兼容，以扩大仪器的适用范围。

本实用新型中的测试仪，可由被测IC测试夹（6）、强迫驱动电路（1）、逻辑状态判别及选通电路（2）和三态显示及瞬态锁定电路（3）构成。强迫驱动电路（1）可以同时提供正负宽窄脉冲，以及不同频率的方波和高、低电平的驱动信号，加到被测IC的输入端，使被测IC进入所需要的工作状态。被测IC的全部管脚状态即各路（多节点）信号进入逻辑状态判别及选通电路（2），（2）的输出信号则进入三态显示及瞬态锁定电路（3），对三态电平进行实时监控并显示出来。显示的逻辑状态图可随时被瞬态锁定钮（11）锁定进行“定格”观察，从而使动态运行的每个状态能随时被捕捉到。操作者从所观察到的逻辑状态图，对照该器件的真值表，就可以判断该器件的功能是否正常，从而实现了元件级的故障检测。另外，为了使观察到的被测IC的逻辑状态图时能同时与标准的IC的逻辑状态图进行比较，本实用新型还可包括逻辑比较控制电路（4），出错指示电路（5）和参考IC插座（7）。在进行逻辑状态监控的同时进行逻辑比较，被测IC及参考IC的各对应输入脚彼此两两相连，以保证二者的输入状态保持相同，各路输出信号则被成对地送入逻辑比较和控制电路（4）进行逻辑比较，（4）的比较结果则进入出错指示电路（5）直观地显示出来。由于两个IC为同一型号，所以其输出信号亦应相同，一旦两个输出信号不同，则说明被测IC是坏器件，两者的差异立即被比较电路（22）发现，发出误差信号，并通过出错指示电路（5），指出发生错误的管脚号。

以下结合实施例来详细描述本实用新型。

图1.仪器的原理图

图2.仪器的强迫驱动电路原理图

图3.仪器的逻辑状态监控及锁定电路原理图

图4.强迫驱动电路的一种实施方案

图5.强迫驱动脉冲信号的几种组合方式

图6.逻辑比较电路的一种实施方案

图7.逻辑状态监控电路的一种实施方案

图8.本仪器用于离线测试时的原理图

图9.本仪器的瞬变显示探头原理图

图10.瞬变显示探头中边缘展宽及显示部分的实施例

图11.本仪器整机联接的电路框图

为了迫使被测集成电路进入一个又一个新的逻辑状态，从而观察其在新状态中逻辑功能的情况，需要对被测IC的多个输入端根据电路翻转的需要加入正脉冲或负脉冲，在这些正负脉冲同时起作用的瞬间，迫使被测IC依要求进入一个新状态。然而在数字集成电路中，有一些输入控制端（如：片选，使能，工作模式，方向……等）上的控制信号，必须先于另一些输入端（如：时钟、数据、触发……等）加入并持续一段时间，在持续期内，在后一种输入端上加入触发或时钟信号，才能迫使电路状态按需要翻转，即此强迫触发脉冲应是宽脉冲内嵌入窄脉冲的“脉冲套”方式。

图2即是实现这种强迫驱动方案的原理图，它是由触发驱动开关（16）及触发源电路（17）构成，（17）则由触发控制（31），延时（32），窄脉冲控制（33），宽脉冲控制（34），正负脉冲驱动（35），以及消颤电路（28），振荡电路（29），分频电路（30），高低电平电路（36）等构成。（31）的输入状态可通过（16）控制，可以选择单次手动及连续自动两种驱动方式。（31）产生两路脉冲输出信号，一路经（32）延时后，进入（33）产生窄脉冲信号，另一路进入（34）产生宽脉冲信号，这样就保证了窄脉冲信号是在宽脉冲信号先行作用时在其持续期间，才被加入IC，形成“脉冲套”。上述的宽窄脉冲信号再分别进入（35），产生大功率的正负脉冲驱动信号。（17）中的高低电平电路（36）可以产生带保护的高电平和带保护的低电平。（29）既可向（31）提供连续触发脉冲，又可单独作为方波源输出，（29）还可经（30）形成二分频方波源。以上几种触发信号，加上（35）产生的宽窄不同的正负触发脉冲，一共构成了八种触发源。它们可以单独使用，也可以组合成多种驱动方式供在线测试和离线测试时，使被测IC进入任意需要状态。

图5.示出了脉冲套的几种波形组合方式。

图4.是图2的一种实施方案，其中U1、U2、U3、U9，可选用4049，U4用4013。U5、U6、U7、U8用4528，T1用TIP127，T2用TIP122。

由触发驱动开关（16）和U1、R1、R2、C1构成消颤电路（28），（16）的一端经R1接电源正端，另一端经R2和C1并联电路接地并接到U1的输入端。U5、U6、U7、U8是四个单稳态电路，在各自的定时控制端有各自的RC定时电路R3C3、R4C4、R5C5、R6C6。U5作为触发控制电路（31）产生两路信号，正脉冲送到U6（34）产生宽脉冲控制信号，再进入由U9、R7、T1、T2、R9、C7、R8、C8构成的正负脉冲驱动电路（35），其中缓冲器U9与T1、T2的基极之间接有基极限流电阻R7，T1的发射极经R9接电源正端，并经C7接地，T2的发射极直接到地，R8，C8并联电路接在T1、T2的集电极和输出端之间。（31）所产生的另一路信号，负脉冲送到U7（32）产生负向延迟脉冲，再用延迟脉冲的后沿去触发U8（33），从而实现了延时，U8产生正负窄脉冲控制信号，再经过（35）就得到需要的强迫驱动信号。

U2、U3、R10、C2组成非门振荡器（29），所产生的方波可提供给（31）作连续触发脉冲，又可经U4组成的二分频电路产生二分频方波输出。高低电平电路由R11与R12构成，R11的一端接电源正端，在其另一端可得到带保护的高电平，R12的一端接地，在其另一端可得到带保护的低电平。

图3是逻辑状态判别及选通电路（2）及三态显示及瞬态锁定电路（3）的构成原理图。（2）由输入电路（14），TTL及CMOS电平转换（18）标准电平设置（19）及三态电平判别（8）构成。被测IC的各路信号经（14）后在（80中与来自（18）（19）的上下门限电平相比较，判别的结果立即启动后级的实时三态电平监视电路（9），显示出被测IC的逻辑状态图。（18）可根据TTL，CMOS电路的不同要求选择不同的标准电平作为（8）的门限电平。（3）由（9）及瞬态锁定钮（11）构成。来自（14）的每一路输入信号都可在（8）和（9）中产生两路数字信号，启动（11）后可对两路数字信号进行三态双路锁定。

图7是图3的一种实施方案，逻辑状态判别及选通电路（2）和三态显示和瞬态锁定电路（3）是由多路组成，图中只表示了一个单路信号的电路图，类似的结构可扩展到n路信号（如16路、20路、40路、64路等）。多路的数目n与被测IC的管脚数相等，n个三态显示共同组成被测IC的逻辑状态图，并可由瞬态锁定按钮（11）同时锁定。

图中，输入信号经R1、R2、D1、D2组成的输入电路（14）后，加到由双比较器构成的窗口电路，即三态电平判别电路（8）。输入电路的作用是既能正确传送高低电平又给悬空脚（高阻态）规定了一个中间电平，同时还可使每一通路保持足够高的输入阻抗，D1及D2可防止输入电平超过供电范围。窗口电路的上下门限电平由R3、R4、R5、R6、R7构成的精密分压网络设置，考虑到故障检测的需要通过双刀双掷开关，可把上下门限电平按输入电平的需要，分别定在：对于TTL电路为2.0V和0.8V，对于CMOS电路为VS×0.7和VS×0.3，其中VS为被测电路的工作电平；也可按输出电平的需要分别定在：TTL电路2.4V和0.4V，CMOS电路VS×0.8和VS×0.2V。

图中的窗口电路，可采用具有上拉电阻R8的集电极开路门比较器（例如LM393及其类似型号），输入电路（14），比较器和标准电平设置（19）用被测电路的工作电平供电，上拉电阻用机内＋5V电平供电，因此可以实现工作电平的转换，使本实用新型可以适用于多种电平的CMOS电路的测试需要。

输入信号电平与上下门限电平相比较的结果，存在高、中、低三种不同的状态，对应地在窗口电路的两个输出端分别产生高低、低低、低高三种输出状态，后面的透明D锁存器（可选用74373），即实时三态电平监视（9），能及时驱动双色发光二极管做出红、灭、绿三种状态，表示高、中、低三种电平。电阻R9上端接正电源是为了使锁定端（LA-TCH）保持高电平，从而使D锁存器保持透明状态以及时反映输入信号的状态。但当瞬态锁定钮（11）按下时，锁定端电平变低，D锁存器的两个输出信号亦同时受到锁定，从而实现了三态瞬时锁定。

图6是逻辑比较电路的一种实施方案电路图，其原理图见图11的下半部分。

由图中可知，被测IC与参考IC通过多路选择开关（20），把彼此的输入端相互连结，输出端断开。两个IC的对应管脚信号，经输入电路（10）（由若干个4049构成），被数据选择器（可选用74151）成对地选出，然后由异或门（可选用7486）比较器逐对进行比较。两路数据选择器由来自计数器（可用74393）的两路完全相同的信号进行选通，当比较器检测出两路信号有差异时，异或门输出变高，触发后级的扫描控制电路（23）。（23）由两个单稳态触发器（可选用74123）和一个双稳态触发器（可选用4011）组成，当第一个单稳态受到来自比较器的触发后，输出一个负脉冲并经过双稳态电路使振荡器（24）（可用4011）停振。从而使计数值停止在发生差异的管脚号上。这个计数值同时驱动出错指示电路（5），使对应的发光二极管D发光，指示出错位置，（5）由译码器（74138）和发光二极管D构成，D的个数n与被测IC的管脚数n一一对应。当需要继续进行逻辑比较时，按下比较启动按钮（12），触发另一个单稳态触发器，使产生一个负脉冲，并经过双稳态电路使振荡器（24）恢复振荡，计数器（25）重新计数，数据选择器继续被选通信号选通，使比较工作继续进行。

图8是本仪器用于离线测试时的原理图。

离线测试时使用参考IC插座（7）作为被测IC的插座，被测IC的各路信号经输入电路（10），通过全部处于连通状态的多路选择开关（20）进入逻辑状态判别和选通电路（2）和三态显示及瞬态锁定电路（3）。其操作方法可参考以下步骤：

将被测IC插入（7）中→把（20）全部置于连通状态→此时（2），（3）被自动接通→在被测IC的相应管脚上接上电源和地线→在被测IC的输入端加上强迫驱动电路（1）的激励信号→在（3）的实时三态电平监视（9）上观察显示出的逻辑状态图，根据真值表判断其响应是否符合要求，并从而判断其功能是否正常。

强迫驱动电路在进行强迫驱动时，必须有足够的强度才能驱动，但又要防止功耗太大损坏被测器件，所以必须对驱动总能量进行严格限制，即对作用时间进行限制。但这样一来又产生了对窄脉冲的观察的新问题。为了解决在输出端观察窄脉冲的瞬态响应问题，本实用新型又专门设计了对瞬变现象具有展宽效应的逻辑探头。它可配合本仪器使用作为仪器的一个附件。

图9显示了这种瞬变显示探头的原理，它由输入电路（40），三态判别电路（41），三态显示电路（42），边缘展宽电路（43）及瞬态显示电路（44）构成。（40），（41），（42）顺序连结，其功能作用与输入电路（14），逻辑状态判别及选通电路（2），实时三态电平监视电路（9）相同或相似，具体实施方案可参照图7，这里不再赘述。三态判别电路（41）的一部份输入信号，进入边缘展宽电路（43），它可灵敏地检测出电路中存在的上跳变或下跳变信号，并将跳变信号形成的窄脉冲展宽为可以明显观察的宽脉冲，经展宽后的脉冲信号，则启动瞬态显示电路（44）显示出来。在三态显示电路（42）中当显示出被测单节点一直处于高电平时，检测到的瞬变信号是负脉冲，反之当该节点一直处于低电平时，检测到的是正脉冲。（44）的显示方式可以采用通常的各种显示手段，如光显示、声显示等。也可利用记忆装置保留下来。

图10给出了边缘展宽（43）和瞬态显示（44）的一种实施例。其中U1U2、U3构成的边缘检测器，可使输入信号经U1、U2延迟后与原始信号一同加入异或门U3的两输入端，当输入信号发生跳变时就表现出了差异，在U3的输出端产生正脉冲，U4、R1、C1构成的单稳态触发器可将U3输出的窄脉冲信号展宽，其脉冲宽度与时间常数R1、C1有关。由于本实施例从方便观察的目的出发，采用了声光显示电路，所以需将展宽后的脉冲变成既能看到又能听到的电信号，U5、U6、R2、R3、C2构成振荡器，U4产生的宽脉冲可使振荡器发出音频振荡，其振荡频率由R3C2决定，R4、发光二极管LED、U7、压电扬声器SP则构成声光显示电路，可将音频振荡变成声光显示信号，在本实施例中U1、U2、U7可采用4049，U4可用4528，U3可用4070，U5、U6可用4011。

由于本实用新型是针对单个集成块进行多节点同时测试，并能实时显示三态逻辑状态图，操作者不必考虑系统的其余部分是否能够运行，只需知道每个集成电路的真值表即可进行元件级的故障诊断。这种诊断结果除能正确反映具有三态电平的集成电路的正常逻辑状态外，还能发现电平变得不正常的性能下降的集成电路。本实用新型由于可将逻辑状态的观察由动态扩展为一幅幅静态，因而操作者可以准确判断电路的每一个瞬时逻辑关系。本实用新型将状态监控功能与逻辑比较功能集中在同一仪器内之后，就可以在对逻辑状态图进行监视和控制驱动时，自动进行逻辑比较，从而避免人眼观察的不足，防止错误的遗漏及误判；在进行逻辑比较时同时观察逻辑状态图，就使得不再是盲目的个别比较，而是清楚的可信的全面比较。即两种功能不是简单的叠加关系，而是使两者自身的功能都得到了增强。本实用新型由于其结构上的特点实现了一机多用，既可对数字集成电路进行在线测试又可进行离线测试。还可以在强迫驱动时，观察到不易分辨的窄脉冲响应信号。一部仪器就可以解决数字集成电路功能测试的全部需要，极大地方便了智能化仪器及设备的维修人员及检测人员。本实用新型有可能成为维修及检测人员的必备通用检测工具进入市场。将为技术进步及市场繁荣做出积极的贡献。

Claims (13)

1、一种数字集成电路测试仪，包括被测IC夹(6)，其特征在于还包括强迫驱动电路(1)，逻辑状态判别及选通电路(2)和三态显示及瞬态锁定电路(3)，强迫驱动电路(1)的输出信号可加到被测IC的输入端，被测IC的各路信号进入逻辑状态判别及选通电路(2)，(2)的输出信号则进入三态显示及瞬态锁定电路(3)。

2、如权利要求1所述的测试仪，其特征在于还可包括逻辑比较控制电路（4），出错指示电路（5）和参考IC插座（7），在逻辑状态监控的同时进行逻辑状态比较，被测IC及参考IC的各对应输入脚彼此两两相连，各路输出信号则被成对地送入逻辑比较和控制电路（4）成对比较，（4）的比较结果则进入出错指示电路（5）。

3、如权利要求1所述的测试仪，其特征在于所述的强迫驱动电路（1）中的触发源电路（17）可由触发控制电路（31），延时电路（32），窄脉冲控制电路（33），宽脉冲控制电路（34）及正负脉冲驱动电路（35）构成，触发控制电路（31）的输入状态可通过触发驱动开关（16）控制，（31）的一路输出信号经延时电路（32）进入窄脉冲控制电路（33），另一路输出信号则进入宽脉冲控制电路（34），上述两路脉冲控制输出信号可分别进入能输出强迫驱动信号的正负脉冲驱动电路（35）。

4、如权利要求1或权利要求2所述的测试仪，其特征在于强迫驱动电路（1）的输出信号可采用在宽脉冲内嵌入窄脉冲的“脉冲套”形式。

5、如权利要求3所述的测试仪，其特征在于所述的正负脉冲驱动电路（35）是由驱动器（U9），与PNP管T1，NPN管T2以及R7、R9、C7构成，T1及T2的基极电阻R7与U9相接，在集电极与输出端之间还可接入并联电路R8、C8，T1的发射极经R9接电源正端并经C7接地。T2的发射极则可直接接地。

6、如权利要求1或权利要求2所述的测试仪，其特征在于所述的强迫驱动电路具有正负宽脉冲，正负窄脉冲，方波源，二分频方波源，带保护高电平，带保护低电平等触发驱动方式，它们可以单独使用，也可根据测试需要进行组合使用。

7、如权利要求1或权利要求2所述的测试仪，其特征在于所述的逻辑状态判别及选通电路（2）可由输入电路（14），三态电平判别（8），TTL、CMOS电平转换（18），标准电平设置（19）等电路构成，被测IC的各路信号经输入电路（14）后在三态电平判别（8）中与来自TTL、CMOS电平转换（18）和标准电平设置（19）的上下门限电平相比较，判别的逻辑状态结果可立即启动后级的实时三态电平监示电路（9）。

8、如权利要求（7）所述的测试仪，其特征在于所述的三态电平判别电路（8）可采用具有上拉电阻的集电极开路门比较器，上拉电阻可由机内正电平供电，所述的输入电路（14），三态电平判别电路（8），标准电平设置（19）则出被测IC的工作电平供电。

9、如权利要求1或权利要求2所述的测试仪，其特征在于强迫驱动电路（1）可由被测IC的工作电平供电。

10、如权利要求1所述的测试仪，其特征在于三态显示及瞬态锁定电路（3）可由实时三态电平监视电路（9）及瞬态锁定钮（11）构成，进入逻辑状态判别及选通电路（2）的每一路信号都可在实时三态电平监视电路（9）的输入端形成两路数字信号，启动瞬态锁定钮（11）后可对两路数字信号同时进行双路锁定。

11、如权利要求1所述的测试仪，其特征在于所述的逻辑状态判别及选通电路（2）及三态显示及瞬态锁定电路（3）是由多路组成，多路的数目n等于被测IC的管脚数，n个三态显示共同组成被测IC的逻辑状态图，逻辑状态图可由瞬态锁定按钮（11）同时锁定。

12、可用于权利要求1所述的测试仪的测试探头，包括输入电路（40）及瞬态显示电路（44），其特征在于还包括了三态判别电路（41），三态显示电路（42），及边缘展宽电路（43），其中，输入电路（40），三态判别电路（41）及三态显示电路（42）可顺序级连。三态判别电路（41）的一部分输入信号进入能将窄脉冲信号展宽的边缘展宽电路（43），经展宽的脉冲信号响应可进入瞬态显示电路（44）中显示出来。

13、如权利要求12所述的测试探头，其特征在于所述的瞬态显示电路（44）的显示装置可采用声光结合指示方式，也可单独用声或光或其它方式显示。

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