CN1060719A - 简易数字集成电路测试器 - Google Patents

Abstract

一种简易数字集成电路测试器，由机壳、操作显 示面板、印制板、一组电平检测和电平输入电路、脉冲 测试器电路、脉冲发生器电路、电源电路等和一套附 件组成。在操作面板上有两排显示灯、两排电平开 关、两排集成电路脚测试孔、至少一个集成电路插座、 两个电阻分压器和一组七段数码显示组件等。每个 脚测试孔通过一个电阻接电平开关的刀端。电平开 关至少有一个悬空的位和一个接低电平的位。

Description

本发明涉及一种数字集成电路测试器。

由于通用数字IC（集成电路）的品种繁多，现在的IC测试器产品都是自动式的。如果将自动式的IC测试器大致分为高、中、低三种档次，则对于一般IC使用者而言，这些测试器的问题是：高档的价格昂贵，体积大;低档的性能过低;而中档的价格不低，体积不小，且性能仍有所局限。此外，对于电子设计、维修和教学实验人员而言，自动式IC测试器不便于对IC进行逐步和逐点的测试、干预和分析。早期的手动式IC测试器和现在的数字电路实验箱等，虽可对IC进行逐步和逐点的测试，但操作很麻烦。随着IC的广泛应用，对IC在线测试的要求也逐渐增多，但目前只有一些不适于普及的高级动态在线测试器产品以及一些性能过低的在线测试器产品（如逻辑测试笔、逻辑测试夹和IC比较器等）。

反映已有技术的专利文献如下：

中国的：85203558、86101612、86205229、88211707、80203080、87206369、88211155;日本的：特许公报（A）、昭59-139640;美国的：3670245、3882386、3883801、3946310、4189673、4282633、4348636。

本发明的目的是：提供一种简易数字IC测试器，它虽是手动式的测试器，但操作简便直观，不仅能离线测试数字IC，还能在线测试数字IC，而且体积不大，成本不高。在这种数字IC测试器上增设极少量元件，还能离线测试运算放大器和电压比较器等常用线性集成电路。

本发明的原理、结构和实施例用以下附图表示：

图1-操作面板结构

图2-电源电路

图3-电平检测和电平输入电路

图4-数码显示电路

图5-测试阈值选择电路

图6-比较电压和偏置电压控制电路

图7-脉冲发生器电路

图8-兼有比较功能的电平检测和电平输入电路

看图1：

在本发明的测试器1的操作面板2上，有两排发光二极管显示灯LD_1～24。在显示灯的外侧，有两排与显示灯一一对准的电平开关KA_1～24。在电平开关的外侧，有两排与电平开关一一对准的集成电路（IC）脚测试孔JIC_1～24。有一个20脚的IC插座SIC₁和一个24脚的IC插座SIC₂，IC插座装在两排显示灯，两排电平开关和两排脚测试孔的外侧。IC插座的脚与JIC_1～24一一对应的接通。在两排显示灯、两排电平开关和两排脚测试孔之间，有一个可放置（但不是必须放置）一张IC图片3的区域。如现在该区域上放置了一张TTLIC-SN7400的图片，在放好的IC图片上所绘制的两排IC脚是可与显示灯、电平开关和脚测试孔一一对准的（注意：不仅仅是与显示灯一一对准）。在面板2上，还有电源开关KS、电源方式选择开关KSM、测试方式选择开关KIS、阈值标准选择开关KTC、上拉电阻开关KPU、脉冲方式选择开关KPM、脉冲速度选择开关KPF、阈值和偏压选择开关KTB、阈值电平选择开关KVT、偏压电平选择开关KVB、数码显示方式选择开关KDS、模拟量输出调节旋钮（电位器）W₁、W₂、线路电源输入插孔JVBG、辅助电源输入插孔JVAG、测试电源（+5V）输出插孔JVC、测试电源（OV）输出插孔JTG、辅助逻辑脉冲测试输入插孔JLTP、辅助逻辑脉冲显示灯LDP、模拟电压输出插孔JW₁、JW₂、脉冲输出插孔JPSO和一组16进制七段数码译码显示器DS_201～203。

应说明：与每个IC脚所对应的显示灯、电平开关和脚测试孔，即使三者的内外位置对调，仍未脱离本发明的特征。此外，单独看所有的显示灯、电平开关或脚测试孔，它们都是分别按IC的双排引脚的顺序和相对位置排列的。

操作显示面板上所有插孔与插孔之间的连接，是用比波段开关便宜的跨接线跨接的，跨接线的两端可装有插头。显然，使用这种JIC_1～24，不仅使电源、时钟等与IC脚能直观地连接，用其它仪器测试IC脚也方便。

通过图1可说明本发明的测试器的使用方法：

离线测试数字IC：以测SN7400为例。将KS置于OFF位，将IC插入SIC₁中，将KAN（N＝1～24）置于M位，用跨接线分别将JVC和JTG与对应的脚测试孔（JIC₂₄和JIC₇）接通，将KIS置于S位，将KTC置于T位，将KTB置于T位，将KRU置于OFF位，将KSM置于L位，只向JVAG送8～15V或只向JVBG送8～18V的电源，置KS于ON位，即通电，被测IC得电。此时LDA1、2、4、5、8、9、10、11、12、13、14、15、17、19、20、22和23为中电平或悬空态，应闪亮（10HZ）。如操作KA₁和KA₂（置于M、H、L分别为不送信号、送“1”信号、送“0”信号），依次送入四组逻辑信号“00”、“01”、“10”和“11”，LDA₃（亮为“1”，暗为“0”）应依次显示“1”、“1”、“1”和“0”。若IC的四个与非门均如此，即IC为好，否则为坏。

如IC是计数器等时序逻辑电路，其时钟端的KAN应置M位，并将对应的JICN与JPSO连接，操作KPF和KPM，向IC输入适当的、无颤动的、使IC能准确计数的脉冲。

如测开集电极IC，可置KRU于ON位，此时每个IC脚与机内正5V电源间跨接一个负载电阻。当然，不置KRU于ON位，也可利用LDAN的“闪亮”和“不亮”，区别OC输出管的“断”和“通”，但输出管“断”时的漏电流应很小。

在线静态测试数字IC：以测TTL电路板上的SN₇₄₀₀为例。向电路板提供+5V电源，再将该电源从板子上引出（+5V和OV），送给JVBG，JVAG中仍另送8～15V的电源。置KSM于L位，置KIS于I位，置KTC于T位，置KRU于OFF位，置KDS于中位，置KTB于T位，置KVT和KVB于M位，置所有KAN于M位。选用一套在线IC连接器（有适于不同脚数的，每套连接器包括一根带状电缆，电缆一端是IC仿真插头，另一端是IC夹），将仿真插头插入SIC₁，将IC夹夹在板子上的SN₇₄₀₀上，即可观察各对应脚的LDAN，如亮则为高电平;如不亮则为低电平;如闪动则可能是开路、中电平或有脉动，是否为脉动，可用JLTP和LDP测试确定。同时还可观察DS_201～203的显示数码，如以前有正确的数码值记录，此时能通过比较，方便地发现异常。若怀疑有快速或尖细的脉冲，也可用JLTP和LDP辅助测试。

在线动态测试IC：与静态测试的区别主要是此时需操作KAN，强行向有关输入端注入电平信号。为防止其它相连的IC输出端连续超载过热而受损，应注意：1、操作宜快;2、适当降低VB值，如VB为4.5V、4V、3.5V甚至3V（对CMOS或HCMOS，VB可为3V或2V）。

在线动态测试TTL电路时，可置KTB于B位，此时不测脚电平的阈值范围，但开路脚对应的显示灯仍能闪动。KTB、KVT和KDS的作用，详见后述。

在操作面板上2上的插孔JW₁和JW₂，其输出大小分别由W₁和W2调节，因此本测试还可以测运算放大器、电压比较器等模拟IC。如将一个比较器LM₃₃₉插入SIC₁，分别向IC的V+脚和GND脚提供+5V和OV电源，分别将IC中某一个比较器的正输入脚和负输入脚与JW₁和JW₂连接，调节JW₁和JW₂各自的绝对电压值和两者的相对电压值，即可观察到与输出脚对应的显示灯的响应，并判断该比较器的功能正常与否（因是开集电报输出，KRU应接通）。对运算放大器，因增益一般较大，也可视为比较器，按上法测试其功能。W₁和W₂是分别跨接在VF（见后述）和OV之间的可调分压器（电位器）。

还应说明：两排显示灯和两排电平开关、两排脚测试孔是一一对准的，这样才能便观察和操作-尤其是操作变得非常方便。如不是这样，即使在两排显示灯之间放上IC卡片，但卡片上的IC脚仅与显示灯一一对准，而不能与电平开关和脚测试孔一一对准，那么操作仍是很不方便的。

IC图片、跨接线和IC连接器等，可作为本测试器的一套附件或部分附件。当测试器的内部电路如图2～7所示时，即成为本发明的一个实施例。

看图2：

稳压器IC₁₀₁的+5V输出VW供本测试器内的电路使用，稳压器IC₁₀₂输出VC供被测IC（离线的）使用。分别串接在IC₁₀₁和IC₁₀₂的输入线上的三极管D₁₀₁和三极管T₁₀₂起阻断反向输入电压（误接反的VA和VB）的保护作用，而T₁₀₂对VB的正向饱和压降却很小。由二极管D₁₀₄、三极管T₁₀₃和电阻₁₁₁、R₁₁₂组成的恒流源接在T₁₀₂的基极上，以提供足够大且恒定的饱和输入电流。由电阻R₁₀₅～R₁₁₀、三极管T₁₀₄、T₁₀₅、T₁₀₇、T₁₀₈、电容C₁₁₁、二极管D₁₀₅、D₁₀₂、D₁₀₃组成双稳态的可使三极管T₁₀₂及时关断的电源保护控制电路，其过压保护信号经D₁₀₅、D₁₀₂、D₁₀₃稳压管Z₁₀₃、Z₁₀₄和电阻R₁₀₄从电源VW和VB上取得，其过流保护信号经由电阻R₁₀₁、R₁₀₂、R₁₀₃、R₁₁₄，电位器W₁₀₁和三极管T₁₀₆组成的电流取样电路，从稳压器IC₁₀₂的输入电流ID上取得。当VW、VB过高或ID过大时即保护。排除保护原因后，经重新断、通VB和VA（如使用），并借助电容C₁₁₁和KS₄的复位作用，三极管T₁₀₂方可恢复导通。跨接在稳压器IC₁₀₁输入端和稳压器IC₁₀₂输出端的稳压管Z₁₀₁、Z₁₀₂起局部瞬时过压的箝位保护作用。三刀两位开关KS可同时通（ON位）、断（OFF位）从外部接入的电流VB、VA和地线（OV）。当四刀两位的开关KSM置于L位时，可单用8～18V的VB或8～15V的VA，也可合用2～8V的VB和8～15V的VA，当KSM置于R位时，只能单用5V的VB，且对ID的限流保护功能消失。图2中的电容除C₁₁₁外，C₁₀₁～C₁₁₄均起电源滤波和去耦作用。开关KIS置于S位时，JVC和插孔JTG与+5V和OV接通，而KIS置于I位时，JVC和JTG均断开。VF是仪器内的综合电压，离线测试时VF＝VW，在线测试时VF＝VB。VE是供电平检测电路中电压比较器用的电源（见图3）。在T₁₀₂的基极上，串接了由三极管T₁₀₁和电阻R₁₁₅组成的受触点KA控制的电子开关，如有VA送入，KA关断，T₁₀₁关断，即T₁₀₂关断，而如无VA送入，只有VB送入，则KA、T₁₀₁和T₁₀₂导通，VB送往仪器内各电路。可以看出，这个电源电路，包括了稳压电路和保护电路，而保护电路包括反压、过压和过流的保护电路。

看图3：

这是24个（一组）相同的电平检测和电平输入电路中的一个，其中代号N表示数1～24中的任一个。ICAN是电压比较器，为电平检测电路所使用。RAN是比较器输入限流电阻，RBN实质上是跨接被测IC脚与正电源（VF）之间的负载电阻或电平上拉电阻，这主要是为测开集电极输出的IC而设置的，但因不常用，故各正向地串一个二极管DAN，且在DAN的公共负端CTU上，共用一个开关KRU，通往VF（见图2），以能切断所有电阻RBN。RFN是LDAN的限流电阻。REN是LDAN的旁路电阻，可使显示灯电源VWN为OV时，对应的比较器ICAN的开集电极输出BSN总为OV（以配合图4的异或门）。CTT是比较器ICAN的阈值比较电压。CTB（见后述）是偏置电压，经限流电阻RCN送至插孔JICN。VLH、VLL为IC测试输入用高、低电平电压，可经电平开关KAN和限流电阻RDN送至插孔JICN，JICN是与SIC₁、SIC₂的脚一一对应接通的。实际上，因RCN＞＞RDN，故仅在开关KAN悬空时，CTB才可能有用（见后述）。由于RDN阻值足够小，而JICN通过RDN接KAN的刀端，在线测试IC时，可在KAN的控制下，从JICN向IC注入较大的能强制原有电平变化的电流。可看出，每个电平检测电路的输入端接对应的脚测试孔JICN，输出端接对应的显示灯LDAN，而KAN有一个悬空的位、一个接低电平的位和一个接高电平的位。

需说明，二极管DAN是电子开关，当然也可用三极管实现，其好处是压降小，但成本略高，耐压略低。这是等效变化。而且，既然RBN是可被关断的，亦说明它们是可被省去不用的。即使对OC门，如OC输出管的漏电流小，RBN断开也能测试。

看图4：

这里有三个数码译码显示器DS_201～203。如每个显示器的输入由“0000”变至“1111”时，则显示由“0”变至“F”。显示器DS_201～203通过12个异或非门IC_201～212去监测24个电平检测器输出BSN（见图3）。由于开关KDS的作用，即KDS置于L或H位时，DS_201～203将下排或上排显示灯的12位二进制码以三位16进制码显示出来。但将开关KDS置于M位时，显示器显示的是上排与下排的二进制码经“异或非”处理后的值，仍为三位16进制数，这对使用者的读数较方便，元件也省。可认为，显示器的二进制输入信号等效取自脚测试孔JICN（见图1）。

再看KDS的作用：置于L位时，VW_1～12与VW（+5V）接通，VW_13～24与OV接通;置于H位时VW_1～12与OV接通，VW_13～24与VW接通;置于M位时，VWN全部与VW接通。KDS可以是三位24刀的开关，也可由电子电路组成，因极简单而图略。

看图5：

由电阻R_301～307、三极管T₃₀₁和二极管D₃₀₁组成的分压器或降压器，用来产生0.8V、2.2V、0.3VF和0.7VF的阈值比较电压。当四刀两位开关KIS置于1位（在线测试）时，高电平电压VLH＝VK，低电平电压VLL＝OV。但当开关KIS置于S位（离线测试）时，如五刀两位的开关KTC置于C位（CMOSIC测试），则VLH＝0.7VF，VLL＝0.3VF;如KTC置于T位（TTLIC测试），则VLH＝2.2V，VLL＝0.8V。为适合TTLIC（离线测试），用二极管D₃₀₁以能灌入较大低电平电流，用三极管T₃₀₁以能拉出较大高电平电流。VLH、VLL供开关KAN（见图2）取用，以向被测IC提供输入信号。

看图6：

该电路只有两根输出线CTT和CTB（去图3）。电阻R₄₀₉～R₄₁₁、二极管D₄₀₁、D₄₀₂组成产生中阈值电平0.5VF（对于CMOS）和1.3V（对于TTL）的分压器。PSL线上是10HZ、5VPP（幅度）的方波。由电阻R₄₁₂～R₄₁₄和三极管T₄₀₄组成的放大器，将PSL的幅度变至VF。由电阻R₄₀₁～R₄₀₈、三极管T₄₀₁、T₄₀₂组成与PSL同步波动的分压器。当单刀三位的开关KVT置于M位时，电阻R₄₀₂和R₄₀₃的连接点上产生以10HZ频率自动轮换的高（CMOS的0.7VF或TTL的2.2V）、低（CMOS的0.3VF或TTL的0.8V）阈值电压方波。当双刀两位的开关KTB置于T位，且单刀三位的开关KVT置于M位时，CTT线即输出高、低阈值电压方波，而CTB线上输出中阈值电平，当开关KTB置于B位且单刀三位的KVB置于M位时，CTT线输出中阈值电平，而CTB线上输出以10HZ频率自动轮换的高（VF）、低（OV）方波。开关KTC置于T或C位时，高、中、低阈值电平符合TTL或CMOS要求。开关KVT由M位置于H或L位时，CTT线的方波可能变为恒定的高或低阈值。开关KVB由M位改置于H或L位时，CTB线的方波变为恒定的高（VF）或低电平（OV）。

由于CTT线上的方波送往电平检测电路作为比较电压，从而使每个单灯、单比较器的检测电路成为双阈值三态的检测电路，即如插孔JICN上的电平高于高阈值、低于低阈值或介于高、低阈值之间时，则对应的显示灯LDAN亮、不亮或以10HZ频率闪动。CTB线上的方波分别通过大阻值电阻送往每个电平检测电路的输入端LJ，作为偏值电压。因CMOSIC的悬空输入端不象TTLIC的那样确定为中电平，此时通过电阻RCN向对应的脚测试孔JICN送方波信号，即可由显示灯LDAD的闪动得知被测点是悬空或开路。虽然JICN上有脉动信号时也可能闪动，但可再用脉冲测试装置（JLTP和LDP，见图1）测试以区分。

显然，电平检测电路的比较电压是经开关选择的高阈值电平、中阈值电平、低阈值电平和以10HZ频率自动轮换的高低阈值电平方波，而偏置电压是经开关选择的高电平、低电平、中阈值电平和以10HZ频率自动轮换的高低电平方波。

电阻R₄₁₅用于限制可能由D₄₀₁、D₄₀₂、KVB和KTB沟通的从VF流出的电流。开关KRU和引线CTU通往图3。

看图7：

这里包括一个慢连续脉冲（10HZ）发生器，由反相器IC₅₀₃、IC₅₀₄、电阻R₅₀₃、R₅₀₄和电容C₅₀₂组成;一个快连续脉冲（1KHZ）发生器，由反相器IC₅₀₁、IC₅₀₂、电阻R₅₀₁、R₅₀₂和电容C₅₀₁组成;一个单次脉冲发生器，由与非门IC₅₀₅、IC₅₀₆和电阻R₅₀₅、R₅₀₆组成;一个单刀两位的开关KPM和一个双刀两位开关KPF，它们按图连接，可实现的功能是：当开关KPM置于S位时，即可随开关KPF的由L位变至H位，脉冲信号线PS（反相）无颤抖地由L变0，反之亦然。当开关KPM置于C位，PS（反相）为连续脉冲，但其快慢取决于开关KPF所置的H或L位。AI为电流放大器，PS（反相）经AI放大后，由JPSO端出，因能输出大电流（内阻小），故可在线驱动被测IC的时钟端。反相器IC₅₀₄始终输出10HZ方波PSL（去图6）。

本文中所提到的10HZ频率，均是为肉眼易察觉闪动而确定的;所提到的1KHZ频率，是为示波器易观察和被测电路一般能响应而确定的，均无严格要求。

至于仪器中的脉冲测试器电路，可采用各种市售逻辑测试笔（探头）的方案。该电路的输入端接插孔JLTP，输出端接显示灯LDP。该电路的功能只要能满足判别有无脉动的要求即可，例如，JLTP上有正或负的窄的单脉冲时，LDP闪亮一下;JLTP上有连续脉冲时，LDP亮;JLTP为高或低电平时，LDP不亮。

图2～图7或图8中的所有电路及元器件，都可以装在一块印制板上，印制板装在机壳内，板子上所有涉及操作或显示的元器件，都可以在操作显示面板上接触到或看到。

在图1～图8中，主要元件器的参数或型号是：

R₁₀₁＝2.4R，R₁₀₂＝₄₇₀R，R₁₀₃＝₁₀KR，R₁₀₄＝₂KR，R₁₀₅＝₁KR，R₁₀₆＝₁₀KR，

R₁₀₇＝₁₀₀KR，R₁₀₈＝₂₀KR，R₁₀₉＝₈₂KR，R₁₁₀＝₁₀KR，R₁₁₁＝₇₅₀R，

R₁₁₂＝₁₅₀R，R₁₁₃＝₁₀₀KR，R₁₁₄＝₁₀KR，R₁₁₅＝_4.7KR，W₁₀₁＝₁KR，

RAN＝₂₀KR，RBN＝_8.2KR，RCN＝₁MR，RDN＝₁₅R，REN＝₅₁KR，RFN＝₅₁₀R，

R₃₀₁＝₃₀KR，R₃₀₂＝₃₀₀R，R₃₀₃＝₁₆KR，R₃₀₄＝₅₁KR，R₃₀₅＝₃₀KR，

R₃₀₆＝_1.5KR，R₃₀₇＝₃₃KR，R₄₀₁＝_37.1KR，R₄₀₂＝_18.91KR，

R₄₀₃＝_8.12KR，R₄₀₄＝₅₁KR，R₄₀₅＝_2.6KR，R₄₀₆＝₂₀KR，R₄₀₇＝₅₁KR，

R₄₀₈＝_33.3KR，R₄₀₉＝₅₁KR，R₄₁₀＝₅₁KR，R₄₁₁＝_4.7KR，R₄₁₂＝₃₀KR，

R₄₁₃＝₂₀₀KR，R₄₁₄＝₁₀KR，R₄₁₅＝₁₀KR，R₅₀₁＝₁₀₀KR，R₅₀₂＝₁₀₀KR，

R₅₀₃＝₁₀₀KR，R₅₀₄＝₁MR，R₅₀₅＝₅₁KR，R₅₀₆＝₅₁KR，R₆₀₁＝_4.7R，

R₆₀₂＝₂₀KR，R₆₀₃＝₂₀KR，R₅₀₆＝₅₁KR，RGN＝RGN＝₁MR，RHN＝RDN，

RI＝₅₁KR，RJ＝₅₁KR，（R为欧姆），C₁₀₁＝_0.1UF，C₁₀₂＝₂₂UF，

C₁₀₃＝_0.1UF，C₁₀₄＝₂₂UF，C₁₀₅＝_0.1UF，C₁₀₆＝_0.1UF，C₁₀₇＝₂₂UF，

C₁₀₈＝_0.1UF，C₁₀₉＝₂₂UF，C₁₁₀＝_0.1UF，C₁₁₁＝₁UF，C₁₁₂＝₂₂UF，

C₁₁₃＝₂₂UF，C₁₁₄＝_0.1UF，C₅₀₁＝₁₀₀₀PF，C₅₀₂＝_0.033UF，（UF为微法）

IC₁₀₁＝₇₈M₀₅，IC₁₀₂＝₇₈M₀₅，ICAN＝LM₃₃₉，IC₂₀₁～IC₂₁₂＝CD₄₀₇₇，

IC₅₀₁～IC₅₀₄＝₇₄CDHC₀₄，IC₅₀₅～IC₅₀₆＝CD₇₄HC₀₀，ICBN＝CD₄₀₃₀，

ICCN＝₄₀₄₃，ICDN＝CD₇₄HC₁₅₈，Z₁₀₁＝₃₀V，Z₁₀₂＝_6.5V，Z₁₀₃＝_3.5V，

Z₁₀₄＝₂₃V。

当然，根据本发明的特征，对本发明的上述实施例可作出多种修改，以满足不同的目的或要求。例如：希望本发明的IC测试器成本更低，操作更简便，且只满足不太宽的离线测试IC的范围，可采用以下任一种、任几种或全部的修改：只用一个20脚IC插座（SIC₁），电平检测电路（图3）也相应减少;电源电路（图2）全部省去，只保留一个地端和正端，以从外部送入+5V电源，供测试器电路和被测IC使用，电平开关（KAN）用单刀两位的而不是三位的，即只有一个悬空的位和一个接低电平的位，而每个IC脚测试孔（JICN）与电源正端之间跨接的电阻负载改为不可关断的，即二极管（DAN），和开关（KRU）均导通，偏置电压也不另外设置。这样一来，当电平开关断开时，对应的脚测试孔上不是高电平（接被测IC输入脚），便是随IC输出电平变化（接被测IC输出脚），需向IC输入低电平时，接通电平开关即可;电平检测用的电压比较器（ICAN）改为单阈值的，甚至可用普通CMOS反相器（如CD₄₀₄₉等）替代;脉冲发生器的信号可以不用电流放大器而直接输出给离线的被测IC;七段数码译码显示电路不用等等。

本发明的测试器也可以作为其它仪器的一部分，例如：作为电路自动测试设备的IC辅助手动测试部分。

今后，如果能出现体积小或尺寸适当、性能好、价格低的直线式多位转换开关商品，则电源、脉冲输出等与被测IC脚的连接，可用转换开关实现，甚至可将脚测试孔省去，但这时的将脚测孔省去，属等效的变化，仍未摆脱本发明的特征。

对于发光二极管LDAN，如果采用双色的，当然可构成单灯三态或更多态（增加显示内容）的显示器，但仍属等效变化或在原有基础上的补充。

当将本发明的原理、结构和特征与目前市售的IC比较器产品相结合时，只要增设少量的元件即提高少量成本，便可使原IC比较器的功能大大提高，由只能在线比较IC，变为既能在线比较IC，又能离线测试IC。这就是本发明的又一个实施例，它与上述实施例的区别主要是在电平检测和电平输入电路上。如图8所示：

这种电平检测电路使用了一个双输入异或门ICBN和一个RS锁存器ICCN。以ICBN的一个输入端接脚测试孔，另一个输入端接在线IC连接器的脚PICN，即至少有一个端为电平检测电路的输入端。离线测试IC时，以ICBN的A为输入端;在线比较时，以ICBN的A和B为输入端;在线测试IC时，以ICBN的B为输入端。图中号码表示1～20（设只用一个20脚IC插座SIC₁）。JICN与SIC₁脚一一对应的连接。JICN、电平开关KAN、显示灯LDAN的面板布局，与图1的相同。如取消二极管DAN、DAN′、电阻RBN、RBN′、RHN、开关KRU、KRU′、KAB和数据选择器ICDN等，并取消开关KAN的L位，图8即表示了一个典型而普通的IC比较器的20（或16）个相同通道中的一个。比较测试时，在SIC₁中插入与PICN上相同的IC，将对应IC输入端和电源的KAN置于H位，即两个对比IC的输入脚和电源脚对应地并接，ICBN即比较两个IC对应输出脚相同与否。由于增设了跨接在正电源VW和JICN之间的可关断的负载RBN及DAN和KRU，SIC₁中的被测IC便可以是OC门的，同理PICN与VW间增设了对应相同（参数和作用）的RBN′、DAN′和KRU′，PICN所接的在线IC也可以是OC门的，这虽是对普通IC比较器的改进，但进一步地，再给KAN增设L端和限流电阻RHN，离线测试时，RHN的作用和连接等效于图1中的RDN（等效串在图8中KAN的刀端上），使得离线测试IC时，KAN置于M位时，JICN为高（如接被测IC的输入端）或跟随被测IC的输出状态;KAN置于L位时，JICN为低（接被测IC的输入端）。这种RBN与有一个悬空位和一个接低电平位的KAN相配合的方法，实现了IC的简单（较上一实施而言）离线测试。所增设的ICDN，不仅对本实施例，对普通IC比较器也是改进，它受其S端电平的控制，可将ICCN的输入或输出，即未被锁存的或被锁存的ICBN的输出送往LDAN，使用ICDN的好处是：（1）比较IC时，可肉眼判别连续相异和瞬时相异;（2）在线测试时，可判别有无连续窄脉冲。电阻RGN和RGN′的作用是：当KRU和KRU′都断开时，如只用一个ICBN输入端进行测试，则另一个输入端是低电平，使ICBN为同相输出门。由此又推知，仅将KRU接通，ICBN对PICN即为反相门，这时可利用ICCN和ICDN判别连续负窄脉冲，这又是一个改进。按钮PB和电阻RI组成ICCN的复位电路。PSC是₁₀HZ方波（可设置一简单的振荡器），可经电阻R₅送给ICDN的选择控制端S，但还须随三位开关KAB的置于BL、AL、或AB位，即经KAB选择后才能将未被锁存的、被锁存的或两者以10HZ自动轮换的ICBN输出直接地、间接地或以₁₀HZ频率自动轮换的直接地和间接地送给LDAN。亦可见，本电平检测电路的输出端可以是ICBN、ICCN或ICD的输出端。RFN是LDAN的限流电阻。图8所有最后一个代码不是N的元器件和电源VW等，都是几个通道所共用的。从插座JVBG上可送入+5V和OV的电源VB，并从JVC和JTG上引出给离线的被测IC（通过相应的JICN）。DW是反压（对VB）保护二极管。在线测试或比较时，在线IC电源脚（最高电位点，+5V）通过对应的二极管DPN向机内电源线VW送正电压，在线IC地线脚（最低电位点，OV）通过对应的二极管DMN向机内地线送负（相对VW）电压。故此时不需经JVBG向测试器供电。

对图8的测试器的使用方法的补充说明是：（1）在线比较：将PICN接在线IC，将JICN即SIC₁接与在线IC相同的已知为好的离线IC，两个IC上所有对应电源和输入脚的KAN置于H位，KAB置于AB位，如LDAN亮则两个对比IC脚为连续或长时相异，如LDAN闪亮（10HZ）则为非连续或非长时相异，如不亮则为无相异。（2）在线测试：SIC₁不用，KRU断开，KAB置于AB，将PICN接在线IC，如LDAN不亮则PICN上是低电平，如LDAN闪动则PICN上有非“负而窄”的脉冲，如LDAN亮则PICN上是高电平或有“负而窄”的脉冲，如将KRU接通后LDAN闪动，则PICN上有非“正而窄”的脉冲。注意，测试时要经常对ICCN清○。（3）离线测试：将KAB置于BL位，将LRU置于ON位，将KRU′置于OFF位，而KAN不要置于H位。

从满足最低要求的离线测试和在线比较看，ICBN和ICDN都可以省去，但本发明的特征仍未被摆脱。

在线比较时，如每一对JICN和PICN之间跨接一个电阻（是双向恒流器件更好），可使操作简化，即只要将电源正和电源地脚上的KAN置H位，SIC₁上的IC便可工作，但在非比较地测试时，这些电阻均应（用电子或机械的开关）断开。

Claims (10)

1、一种简易数字集成电路测试器，由机壳、操作显示面板、印制板、一组电平检测和电平输入电路、脉冲测试器电路、脉冲发生器电路、电源电路和一套包括在线集成电路连接器、集成电路图片、连接线等的附件组成，其特征在于：在操作面板上有两排显示灯；在显示灯的外侧有两排与显示灯一一对准的电平开关；在电平开关的外侧有两排与电平开关一一对准的集成电路脚测试孔；在操作面板上，有至少一个集成电路插座，该插座脚与脚测试孔一一对应接通；电源电路至少有一个地端和正端；每个电平检测电路的输入端接对应的脚测试孔，输出端接对应的显示灯；在每个脚测试孔与电源正端之间，跨接一个电阻负载；每个脚测试孔通过一个电阻接对应电平开关的刀端；电平开关至少有一个悬空的位和一个接低电平的位。

2、按权利要求1所述的测试器，其特征在于：每个电平开关有一个悬空的位、一个接低电平的位和一个接高电平的位;每个脚测试孔与电源正端间的电阻负载上，各正向地串有一个二极管且共用一个通向电源正端的开关。

3、按权利要求1或2所述的测试器，其特征在于：每个电平检测电路使用一个电平比较器，比较电压为经开关选择的高阈值电平、低阈值电平、中阈值电平和以10HZ频率自动轮换的高低阈值电平方波。

4、按权利要求2所述的测试器，其特征在于：每个脚测试孔各通过一个电阻接偏置电压，偏置电压为经开关选择的高电平，低电平、中阈值电平和以10HZ频率自动轮换的高低电平方波。

5、按权利要求1、2或4所述的测试器，其特征在于：操作面板上有一组十六进制七段数码译码显示器，该译码显示器的二进制输入信号取自脚测试孔。

6、按权利要求1、2或4所述的测试器，其特征在于：电源电路包括稳压电路和保护电路，保护电路包括反压保护电路、过压保护电路和过流保护电路。

7、按权利要求1、2或4所述的测试器，其特征在于：脉冲发生器电路包括单脉冲发生电路和连续脉冲发生电路。

8、按权利要求1、2或4所述的测试器，其特征在于：在操作面板上有两个可调分压器。

9、按权利要求1所述的测试器，其特征在于：每个电平检测电路使用了一个双输入异或门，异或门的一个输入端接脚测试孔，另一个输入端接在线集成电路连接器脚，异或门的输出经开关选择后，直接地、经过锁存器间接地或以10HZ频率自动轮换的直接地和间接地送给显示灯。

10、按权利要求1、2、4或9所述的测试器，其特征在于：操作面板上的集成电路插座装在两排显示灯、两排电平开关和两排脚测试孔的外侧，在两排显示灯、两排电平开关和两排脚测试孔之间，有一个可放置一张集成电路图片的区域，在放在该区域上的图片上所绘制的两排集成电路脚是与显示灯、电平开关和脚测试孔一一对准的。

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