CN2837859Y - 使用低压逻辑测试机测试高压ic的接口电路 - Google Patents

使用低压逻辑测试机测试高压ic的接口电路 Download PDF

Info

Publication number
CN2837859Y
CN2837859Y CN 200520103801 CN200520103801U CN2837859Y CN 2837859 Y CN2837859 Y CN 2837859Y CN 200520103801 CN200520103801 CN 200520103801 CN 200520103801 U CN200520103801 U CN 200520103801U CN 2837859 Y CN2837859 Y CN 2837859Y
Authority
CN
China
Prior art keywords
voltage
high pressure
circuit
controller
measured
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN 200520103801
Other languages
English (en)
Inventor
滕贞勇
许益彰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Princeton Technology Corp
Original Assignee
Princeton Technology Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Princeton Technology Corp filed Critical Princeton Technology Corp
Priority to CN 200520103801 priority Critical patent/CN2837859Y/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN2837859Y publication Critical patent/CN2837859Y/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本实用新型涉及使用一般低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，使高压IC的高压输出转换成一般低压逻辑测试机所能接受的电压位准。一种使用低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，该接口电路包括：第一控制器，衔接待测高压IC的输出脚位，藉其内部的控制开关的开、闭而进行高压IC的输出脚位的开路短路测试、功能模式测试或是消耗电流测试；衰减电路，介于第一控制器与低压逻辑测试机之间，以衰减高压IC的输出至低压逻辑测试机所能接受的电压范围；以及第二控制器，介于第一控制器与低压逻辑测试机之间，藉其内部的控制开关的开、闭，并配合第一控制器而进行高压IC的输出是否通过衰减电路。

Description

使用低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路
技术领域
本实用新型涉及使用一般低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，使高压IC的高压输出转换成一般低压逻辑测试机所能接受的电压位准。
背景技术
随着显示器与电视薄型化的趋势，电浆或液晶面板的高压IC的需求量相对大增，为维持这些高压IC的出货品质与良率，量产测试是不可或缺的一环。这些高压IC的输出电压高达80V～100V甚至更高的电压，但是目前一般的逻辑测试机其电源供应电压均小于40V，其输出比较准位(outputcomparator level)均小于12V，仅能测试标准集成电路，无法适用于高压IC。若采用昂贵的高压逻辑测试机，则测试成本将大为提高，不符经济原则。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种测试成本降低的使用一般低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路。
一种使用低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，该接口电路介于低压逻辑测试机与待测高压IC之间，其中该待测高压IC系藉由一高压电源供应器提供高压电源以进行测试，该接口电路包括：
一第一控制器，衔接待测高压IC的输出脚位，藉其内部的控制开关的开、闭而进行高压IC的输出脚位的开路短路测试、功能模式测试或是消耗电流测试；
一衰减电路，介于第一控制器与低压逻辑测试机之间，以衰减高压IC的输出至低压逻辑测试机所能接受的电压范围；以及
一第二控制器，介于第一控制器与低压逻辑测试机之间，藉其内部的控制开关的开、闭，并配合第一控制器而进行高压IC的输出是否通过衰减电路。
本实用新型的有益效果在于使用一般低压逻辑测试机测试高压IC，使得测试成本大大降低，经济实用。
附图说明
图1为本实用新型的接口电路方块图。
图2为本实用新型的消除突波电路图。
图3为图1的详细电路图。
附图标记：
10  接口电路
11  突波消除电路
111 开关组件
112 电阻器
12  第一控制器
121 控制开关
13  第二控制器
131 控制开关
14  衰减电路
141 电阻器
142 电阻器
20  待测高压IC
30  低压逻辑测试机
40  高压电源供应器
具体实施方式
如图1所示，为本实用新型的系统方块图，包含接口电路10、待测高压IC 20、低压逻辑测试机30、高压电源供应器40。接口电路10介于待测高压IC 20与低压逻辑测试机30之间，用以将待测高压IC 20的输出变换为一般低压逻辑测试机30所能接受的电压位准。
接口电路10包含突波消除电路11、第一控制器12、第二控制器13及衰减电路14。
请参考图2，突波消除电路11由一开关组件111与一电阻器112串接组成。待测高压IC 20所需的电源电压由高压电源供应器40提供，但高压容易产生突波情况，本实用新型以此突波消除电路11消除高压电源供应器40所产生的突波，并将高压供应至待测高压IC 20的高压电源脚位(VH)。
请参阅图3，第一控制器12衔接待测高压IC 20所有的输出脚位，第一控制器12内部设有多个控制开关121，该等控制开关121的数量对应于待测高压IC 20的输出脚位数量，由低压逻辑测试机30控制其接通(ON)或断路(OFF)的状态，以决定输出脚位的开路短路测试、功能模式测试或是消耗电流测试。
第二控制器13介于第一控制器12与低压逻辑测试机30之间，第二控制器13设有多个控制开关131，该等控制开关131的数量对应于待测高压IC 20的输出脚位数量，由低压逻辑测试机30控制其接通或断路的状态，并配合第一控制器12而进行待测高压IC 20所有输出的通过下述衰减电路14与否。
衰减电路14，与第一控制器12相连，以衰减待测高压IC 20的输出至低压逻辑测试机30所能接受的电压位准。该衰减电路14由多组串联电阻器141、142组成。该多组串联电阻器的数量对应于待测高压IC 20的输出脚位数量。在本实施例中，电阻器141、142的各别电阻以1∶9的比例设置，使电阻器141上的电压成为待测高压IC 20输出电压的十分之一，而落在低压逻辑测试机30所能接受的电压范围内。
以下配合本新型所提供的接口电路说明测试方法。
1.开路短路测试(open & short test)：
测试目的：
此测试系确定待测高压IC 20的各输出脚位与低压逻辑测试机30间有无开路或短路。
测试步骤：
a.由低压逻辑测试机30设定第一控制器12及第二控制器13为接通状态，即将控制开关121、131接地。
b.因第二控制器13为接通状态，于是使衰减电路14被旁路(Bypass)，而使得待测高压IC 20每一输出脚位直接与低压逻辑测试机30相连接而进行测试。
2.功能模式测试(function pattern test)：
测试目的：
此测试系确定待测高压IC 20的功能及输出电压是否正常。
测试步骤：
a.由低压逻辑测试机30设定第一控制器12为接通状态，第二控制器13为断路状态，即将第一控制器12的控制开关121设定为接地，使每一个控制开关121均为接通状态；设定第二控制器13的控制开关131接+5V，使每一个控制开关131均为断路状态。
b.将突波消除电路11中的开关组件111接通，使高压电源供应器40输出的高压电经突波消除电路11供应至待测高压IC 20的高压电源脚位(VH)。
c.因第一控制器12为接通状态，第二控制器13为断路状态，因此第一控制器12的输出将经由衰减电路14作电压衰减，衰减后的讯号再送至低压逻辑测试机30进行功能模式测试及输出比较准位(Output Compare Level)测试(＜12V)。
3.消耗电流测试(standby current test)：
测试目的：
此测试系确定待测高压IC 20的高压静态消耗电流是否正常。
测试步骤：
a.由低压逻辑测试机30设定第一控制器12为断路(OFF)状态，即将第一控制器12的控制开关121接+5V，使每一个控制开关121均为断路状态，于是待测高压IC 20的每一输出脚位成为无负载(No Loading)或浮接(Floating)状态，不受衰减电路14影响。
b.将突波消除电路11中的开关组件111接通，使高压电源供应器40输出的高压经突波消除电路11，供应至待测高压IC 20的高压电源脚位(VH)。
c.利用高压电源供应器40进行高压电流测试。
d.透过GPIB接口将量测值读回低压逻辑测试机30以进行消耗电流测试。(通常此消耗电流值小于1μA)。
本新型的精神与范围决定于下面的申请专利范围，不受限于上述实施例。

Claims (7)

1、一种使用低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，该接口电路介于低压逻辑测试机与待测高压IC之间，其中该待测高压IC系藉由一高压电源供应器提供高压电源以进行测试，其特征在于：所述接口电路包括：
一第一控制器，衔接待测高压IC的输出脚位，藉其内部的控制开关的开、闭而进行高压IC的输出脚位的开路短路测试、功能模式测试或是消耗电流测试；
一衰减电路，介于第一控制器与低压逻辑测试机之间，以衰减高压IC的输出至低压逻辑测试机所能接受的电压范围；以及
一第二控制器，介于第一控制器与低压逻辑测试机之间，藉其内部的控制开关的开、闭，并配合第一控制器而进行高压IC的输出是否通过衰减电路。
2、如权利要求1所述的使用低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，其特征在于：另包含一突波消除电路，与高压电源供应器连接，用以消除高压电源供应器所产生的突波，并将高压电源供应器所供应的高压电源传送至待测高压IC。
3、如权利要求2所述的使用低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，其特征在于：该突波消除电路由一开关组件与一电阻器串接组成。
4、如权利要求1所述的使用低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，其特征在于：该第一控制器设有多个控制开关，该控制开关的数量对应于待测高压IC的输出脚位的数量；该控制开关于接通状态时，将使待测高压IC的输出脚位直接连接于第二控制器及衰减电路；该等控制开关于断路状态时，将使待测高压IC的输出脚位成无负载或浮接状态。
5、如权利要求1所述的使用低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，其特征在于：该第二控制器设有多个控制开关，该控制开关的数量对应于待测高压IC的输出脚位的数量；该控制开关于接通状态时，将使待测高压IC的输出脚位的输出不经过衰减电路而直接送入低压逻辑测试机；该控制开关于断路状态时，将使待测高压IC的输出脚位的输出通过衰减电路。
6、如权利要求1所述的使用低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，其特征在于：该衰减电路系由多组串联电阻器组成，该多组串联电阻器的数量对应于待测高IC的输出脚位的数量。
7、如权利要求6所述的使用低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，其特征在于：该串联电阻器中每组串联电阻器的电阻值系以1∶9的比例设置，使待测高压IC的输出脚位的输出电压降为十分之一后送入低压逻辑测试机。
CN 200520103801 2005-08-12 2005-08-12 使用低压逻辑测试机测试高压ic的接口电路 Expired - Fee Related CN2837859Y (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 200520103801 CN2837859Y (zh) 2005-08-12 2005-08-12 使用低压逻辑测试机测试高压ic的接口电路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 200520103801 CN2837859Y (zh) 2005-08-12 2005-08-12 使用低压逻辑测试机测试高压ic的接口电路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN2837859Y true CN2837859Y (zh) 2006-11-15

Family

ID=37392347

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN 200520103801 Expired - Fee Related CN2837859Y (zh) 2005-08-12 2005-08-12 使用低压逻辑测试机测试高压ic的接口电路

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN2837859Y (zh)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101290330B (zh) * 2007-04-16 2010-06-23 普诚科技股份有限公司 电路测试装置
CN101369399B (zh) * 2007-08-13 2011-10-12 普诚科技股份有限公司 电路测试装置
CN103713270A (zh) * 2013-10-31 2014-04-09 江苏绿扬电子仪器集团有限公司 针对逻辑分析仪前向通道的测试装置
CN108732483A (zh) * 2017-04-20 2018-11-02 致茂电子(苏州)有限公司 具突波保护的测试装置以及测试方法
US10802070B2 (en) 2017-04-20 2020-10-13 Chroma Ate Inc. Testing device and testing method with spike protection
US20220334169A1 (en) * 2019-06-04 2022-10-20 Qualtec Co., Ltd. Semiconductor Component Test Device and Method of Testing Semiconductor Components

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101290330B (zh) * 2007-04-16 2010-06-23 普诚科技股份有限公司 电路测试装置
CN101369399B (zh) * 2007-08-13 2011-10-12 普诚科技股份有限公司 电路测试装置
CN103713270A (zh) * 2013-10-31 2014-04-09 江苏绿扬电子仪器集团有限公司 针对逻辑分析仪前向通道的测试装置
CN108732483A (zh) * 2017-04-20 2018-11-02 致茂电子(苏州)有限公司 具突波保护的测试装置以及测试方法
US10802070B2 (en) 2017-04-20 2020-10-13 Chroma Ate Inc. Testing device and testing method with spike protection
US20220334169A1 (en) * 2019-06-04 2022-10-20 Qualtec Co., Ltd. Semiconductor Component Test Device and Method of Testing Semiconductor Components
US11994551B2 (en) * 2019-06-04 2024-05-28 Qualtec Co., Ltd. Semiconductor component test device and method of testing semiconductor components

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN2837859Y (zh) 使用低压逻辑测试机测试高压ic的接口电路
CN101442312B (zh) 模拟数字转换器
CN1205481C (zh) 电压测量设备
CN101034124A (zh) 变频空调电源模块及其驱动模块的检测系统及检测方法
CN2814451Y (zh) 一种液晶显示屏测试驱动电路和测试驱动电路板
CN202057496U (zh) 一种电动汽车关键部件的测试及调试装置
CN1682124A (zh) 补偿因受试电子器件故障所造成的测试信号恶化
CN1335588A (zh) 图像显示装置的列电极驱动电路及带有这种电路的图像显示装置
CN1153068C (zh) 具有接触检查电路的半导体装置
CN105704878A (zh) 发光装置与发光二极管电路
CN1302452C (zh) 显示装置
TW200605010A (en) TFT LCD source driver with built in test circuit and method for testing the same
CN205015449U (zh) 背光调节测试系统
CN1141593C (zh) 集成电路测试方法和采用该测试方法的集成电路测试装置
CN103048603B (zh) 批量测试发光二极管寿命的电路系统及其测试方法
CN2824048Y (zh) 一种三端稳压器测试装置
CN100391090C (zh) 一种控制电源电压输出范围的电路
US20090278562A1 (en) Test Device and Test Method for Semiconductor Device
CN1934610A (zh) 有机el面板驱动电路及其检查装置和有机el显示装置
CN1750101A (zh) 内建测试电路的源极驱动器及其测试方法
CN1256673C (zh) Pda主板生产测试的方法
CN1599384A (zh) 磁滞检测方法、磁滞检测电路以及移动装置
CN109493776A (zh) 一种显示面板测试治具及其测试方法
CN2864606Y (zh) 机车仪表校验夹具及机车仪表智能校验台
CN204758738U (zh) 一种基于树莓派的自动开短路测试装置

Legal Events

Date Code Title Description
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
EE01 Entry into force of recordation of patent licensing contract

Assignee: Pucheng Science and Technology Co., Ltd.

Assignor: Universal technology (Shenzhen) Co., Ltd.

Contract record no.: 2010990000883

Denomination of utility model: Interface circuit employing low-voltage logic tester to test high-voltage IC

Granted publication date: 20061115

License type: Exclusive License

Record date: 20101108

EE01 Entry into force of recordation of patent licensing contract

Assignee: Universal technology (Shenzhen) Co., Ltd.

Assignor: Pucheng Science and Technology Co., Ltd.

Contract record no.: 2010990000883

Denomination of utility model: Interface circuit employing low-voltage logic tester to test high-voltage IC

Granted publication date: 20061115

License type: Exclusive License

Record date: 20101108

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20061115

Termination date: 20140812

EXPY Termination of patent right or utility model