CN214703781U - 一种接触电阻测试设备 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 122
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 99
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 18
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 9
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 28
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 abstract description 28
- 239000010703 silicon Substances 0.000 abstract description 28
- 230000008520 organization Effects 0.000 abstract description 4
- 230000005611 electricity Effects 0.000 abstract description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
- 229920001342 Bakelite® Polymers 0.000 description 1
- 239000004637 bakelite Substances 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000008707 rearrangement Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
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Abstract
本实用新型公开了一种接触电阻测试设备，属于太阳能电池技术领域。本实用新型的接触电阻测试设备，包括底座和测试机构，测试机构包括探针单元、升降驱动组件、换挡开关和电阻测量件，探针单元可升降地设置在底座的上方，升降驱动组件被配置为驱动探针单元上升至收纳位置或下降至测试位置，探针单元包括多组测试探针，换挡开关被配置为使电阻测量件与多组测试探针择一电连接。利用多组测试探针与硅片上的多组测试点位接触，相比于传统的人工利用万用表逐一接触的测量方式，硅片受力均匀不会被压坏；通过换挡开关控制通断，以实现多组测试点位切换测量，切换操作简单快捷，大大提高了测试效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及太阳能电池技术领域，尤其涉及一种接触电阻测试设备。
背景技术
RS接触电阻为电池片背电极与背电场之间的接触电阻。现有的RS接触电阻测试大都采用万用表及其两支表笔进行接触测量，而RS接触电阻的测量点总计12组，这种采用逐一接触测量的测试方式，不仅测量效率低、精度低，而且人工用表笔测量过程压力不均匀，还会压坏硅片。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种接触电阻测试设备，不会损坏待测件，并且提高了接触电阻测试工作效率及测试精度。
为实现上述目的，提供以下技术方案：
一种接触电阻测试设备，包括：
底座；
测试机构，包括探针单元、升降驱动组件、换挡开关和电阻测量件，所述探针单元可升降地设置在所述底座的上方，所述升降驱动组件被配置为驱动所述探针单元上升至收纳位置或下降至测试位置，所述探针单元包括多组测试探针，所述换挡开关被配置为使所述电阻测量件与多组所述测试探针择一电连接。
作为接触电阻测试设备的优选方案，所述换挡开关上设有多个挡位，多个所述挡位与多组所述测试探针一一对应地电连接。
作为接触电阻测试设备的优选方案，所述测试探针均为弹性伸缩探针。
作为接触电阻测试设备的优选方案，所述探针单元还包括探针固定件，多组所述测试探针均设置在所述探针固定件上，所述升降驱动组件被配置为驱动所述探针固定件上升至收纳位置或下降至测试位置。
作为接触电阻测试设备的优选方案，所述测试机构还设有供电接口，所述电阻测量件与所述供电接口电连接。
作为接触电阻测试设备的优选方案，所述供电接口为快插式结构。
作为接触电阻测试设备的优选方案，所述电阻测量件的测量精度不低于0.01Ω。
作为接触电阻测试设备的优选方案，所述底座的顶部设有待测件放置板，所述待测件放置板与所述底座之间设有弹性缓冲件。
作为接触电阻测试设备的优选方案，所述待测件放置板上设有待测件放置区，所述探针单元位于所述待测件放置区的正上方。
作为接触电阻测试设备的优选方案，所述待测件放置区的周侧设有多个限位块，多个所述限位块围成与所述待测件的形状及大小相适配的定位空间。
作为接触电阻测试设备的优选方案，所述待测件放置板上设有扣手槽，所述待测件放置区部分位于所述扣手槽。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果：
本实用新型的接触电阻测试设备，包括底座和测试机构，测试机构包括探针单元、升降驱动组件、换挡开关和电阻测量件，探针单元可升降地设置在底座的上方，升降驱动组件被配置为驱动探针单元上升至收纳位置或下降至测试位置，探针单元包括多组测试探针，换挡开关被配置为使电阻测量件与多组测试探针择一电连接。利用多组测试探针与硅片上的多组测试点位接触，相比于传统的人工利用万用表逐一接触的测量方式，硅片受力均匀不会被压坏；通过换挡开关控制通断，以实现多组测试点位切换测量，切换操作简单快捷，大大提高了测试效率。
附图说明
图1为本实用新型实施例中接触电阻测试设备的结构图；
图2为本实用新型实施例中接触电阻测试设备的侧视图；
图3为本实用新型实施例中测试探针与RS接触电阻接触时的示意图；
图4为本实用新型实施例中待测硅片与底座的俯视图；
图5为本实用新型实施例中换挡开关的结构示意图。
附图标记：
1、底座；11、待测件放置板；111、待测件放置区；112、限位块；113、扣手槽；12、立架；13、导向柱；
2、测试机构；21、探针单元；211、测试探针；212、探针固定件；22、升降驱动组件；221、曲轴手柄；222、传动杆；223、连接杆；224、支座；23、换挡开关；24、电阻测量件；
3、弹性缓冲件；
4、待测硅片；41、RS接触电阻；411、背银触点；412、铝栅触点。
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。
如图1-5所示，本实施例在于提供一种接触电阻测试设备，包括底座1和测试机构2，测试机构2包括探针单元21、升降驱动组件22、换挡开关23和电阻测量件24，探针单元21可升降地设置在底座1的上方，升降驱动组件22被配置为驱动探针单元21上升至收纳位置或下降至测试位置，探针单元21包括多组测试探针211，换挡开关23被配置为使电阻测量件24与多组测试探针211择一电连接。
可选地，换挡开关23上设有多个挡位，多个挡位与多组测试探针211一一对应地电连接。
在本实施例中，如图4所示，待测硅片4上设有十二组背银触点411与铝栅触点412，即十二个RS接触电阻41，每一组触点包含相邻的背银触点411及铝栅触点412，每组测试探针211的数量为两根，即一根测试探针211与背银触点411接触，另一根测试探针211与铝栅触点412接触，测试探针211均位于对应的接触点的正上方。需要说明的是，测试探针211与待测硅片4上的RS接触电阻41的数量及位置相匹配，即一组测试探针211对应一个RS接触电阻41。探针单元21位于收纳位置时，测试探针211与对应的接触点分离；探针单元21位于测试位置时，测试探针211与对应的接触点接触。
对应地，如图5所示，换挡开关23上设有十二个挡位，分别记为一挡、二挡、……、十二挡，每个挡位对应连接一组测试探针211。示例性地，换挡开关23为旋钮式开关，换挡开关23的旋钮上的指针指向哪个挡位，哪个挡位对应的一组测试探针211与电阻测量件24电连接，电阻测量件24的显示屏则显示该组测试探针211对应的RS接触电阻41的阻值。
可选地，底座1的顶部设有待测件放置板11，待测件放置板11与底座1之间设有弹性缓冲件3。为了避免待测硅片4受力过大而损坏，在放置待测硅片4的待测件放置板11与底座1之间设置弹性缓冲件3，以缓冲待测硅片4受到的压力。
可选地，待测件放置板11上设有待测件放置区111，探针单元21位于待测件放置区111的正上方。测试时，待测硅片4放置在待测件放置区111，探针单元21位于待测硅片4的正上方，以保证测试探针211与待测硅片4上的RS接触电阻41位置准确对应。
可选地，待测件放置区111的周侧设有多个限位块112，多个限位块112围成与待测件的形状及大小相适配的定位空间。示例性地，待测硅片4为正方形结构，待测件放置区111的面积与待测硅片4的面积相同，待测件放置区111的四周设有四个限位块112，分别对待测硅片4的四个边进行定位，进而使得待测硅片4能够快速准确的定位。
可选地，待测件放置板11上设有扣手槽113，待测件放置区111部分位于扣手槽113。由于硅片一般为薄片状结构，且待测件放置区111周侧又设有限位块112对待测硅片4进行定位，为了便于取出测试完的硅片，在待测件放置区111边缘位置设置扣手槽113，且待测件放置区111部分位于扣手槽113，以使放置在待测件放置区111的硅片能部分位于扣手槽113，以便快速取出测试完的硅片。
可选地，探针单元21还包括探针固定件212，多组测试探针211均设置在探针固定件212上，升降驱动组件22被配置为驱动探针固定件212上升至收纳位置或下降至测试位置。示例性地，探针固定件212采用板式结构，将测试探针211穿设并固定在探针固定件212上，既能将测试探针211稳定的固定，还能使测试探针211的位置与待测硅片4上的RS接触电阻41位置相对应。
可选地，底座1上还架设有立架12，升降驱动组件22包括曲轴手柄221、传动杆222、连接杆223和支座224，支座224固定在立架12上，曲轴手柄221铰接在支座224上，传动杆222的一端与曲轴手柄221铰接，另一端与连接杆223铰接，连接杆223插设在支座224上沿竖直方向设置的支撑孔内，并可沿支撑孔上下滑动，连接杆223的另一端通过支架与探针固定件212固定连接。曲轴手柄221可上下摆动，进而通过传动杆222带动连接杆223沿竖直方向上下运动，连接杆223带动探针固定件212竖直上下运动，进而可使测试探针211上升至收纳位置或下降至测试位置。
可选地，电阻测量件24也设置在立架12上，便于查看测量数据。
可选地，为了使探针固定件212平稳的上下移动，探针固定件212的两侧均设有导向柱13，导向柱13的一端与底座1固定连接，另一端于立架12固定连接，探针固定件212的两侧分别与对应的导向柱13滑动连接，利用导向柱13对探针固定件212起到导向和支撑作用。
可选地，测试探针211均为弹性伸缩探针。采用弹性可伸缩式的探针，不仅能保证探针能与触点接触良好，还能避免测试探针211受力过大而被压坏。
可选地，测试机构2还设有供电接口，电阻测量件24与供电接口电连接，供电接口可通过电源线与电源连接，以对测试机构2供电。可选地，供电接口为快插式结构，快插结构便于快速插拔电源线，不使用时及时将电源线拆除收纳，便于延长电源线使用寿命。示例性地，供电接口为USB接口。
可选地，电阻测量件24的测量精度不低于0.01Ω。
示例性地，电阻测量件24可选用高精度的电阻表，且其测量精度为0.01Ω。
可选地，底座1采用电木制成，绝缘性好，且强度高。
测试时，先下压曲轴手柄221，使探针固定件212下移，直至测试探针211与对应的接触点接触，此时电阻测量件24显示数值。然后，可通过旋转换挡开关23的旋钮选择任一挡位，其旋钮上的指针指向哪个挡位，哪个挡位对应的一组测试探针211与电阻测量件24电连接，电阻测量件24则显示该组测试探针211对应的RS接触电阻41的阻值。直至硅片上所有的RS接触电阻41均测试完毕，则上翻曲轴手柄221，使探针固定件212上移，将测试探针211与接触点分离，取出硅片，更换下一个待测硅片4，再重复上述步骤进行测试即可。
注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。
Claims (10)
1.一种接触电阻测试设备，其特征在于，包括：
底座(1)；
测试机构(2)，包括探针单元(21)、升降驱动组件(22)、换挡开关(23)和电阻测量件(24)，所述探针单元(21)可升降地设置在所述底座(1)的上方，所述升降驱动组件(22)被配置为驱动所述探针单元(21)上升至收纳位置或下降至测试位置，所述探针单元(21)包括多组测试探针(211)，所述换挡开关(23)被配置为使所述电阻测量件(24)与多组所述测试探针(211)择一电连接。
2.根据权利要求1所述的接触电阻测试设备，其特征在于，所述换挡开关(23)上设有多个挡位，多个所述挡位与多组所述测试探针(211)一一对应地电连接。
3.根据权利要求1所述的接触电阻测试设备，其特征在于，所述测试探针(211)均为弹性伸缩探针。
4.根据权利要求1所述的接触电阻测试设备，其特征在于，所述探针单元(21)还包括探针固定件(212)，多组所述测试探针(211)均设置在所述探针固定件(212)上，所述升降驱动组件(22)被配置为驱动所述探针固定件(212)上升至收纳位置或下降至测试位置。
5.根据权利要求1所述的接触电阻测试设备，其特征在于，所述测试机构(2)还设有供电接口，所述电阻测量件(24)与所述供电接口电连接。
6.根据权利要求1所述的接触电阻测试设备，其特征在于，所述电阻测量件(24)的测量精度不低于0.01Ω。
7.根据权利要求1-6任一项所述的接触电阻测试设备，其特征在于，所述底座(1)的顶部设有待测件放置板(11)，所述待测件放置板(11)与所述底座(1)之间设有弹性缓冲件(3)。
8.根据权利要求7所述的接触电阻测试设备，其特征在于，所述待测件放置板(11)上设有待测件放置区(111)，所述探针单元(21)位于所述待测件放置区(111)的正上方。
9.根据权利要求8所述的接触电阻测试设备，其特征在于，所述待测件放置区(111)的周侧设有多个限位块(112)，多个所述限位块(112)围成与所述待测件的形状及大小相适配的定位空间。
10.根据权利要求8所述的接触电阻测试设备，其特征在于，所述待测件放置板(11)上设有扣手槽(113)，所述待测件放置区(111)部分位于所述扣手槽(113)。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202120386137.0U CN214703781U (zh) | 2021-02-19 | 2021-02-19 | 一种接触电阻测试设备 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202120386137.0U CN214703781U (zh) | 2021-02-19 | 2021-02-19 | 一种接触电阻测试设备 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN214703781U true CN214703781U (zh) | 2021-11-12 |
Family
ID=78567841
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202120386137.0U Expired - Fee Related CN214703781U (zh) | 2021-02-19 | 2021-02-19 | 一种接触电阻测试设备 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN214703781U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2024061098A1 (zh) * | 2022-09-23 | 2024-03-28 | 上海米高莱电子有限公司 | 一种耐压测试装置 |
-
2021
- 2021-02-19 CN CN202120386137.0U patent/CN214703781U/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2024061098A1 (zh) * | 2022-09-23 | 2024-03-28 | 上海米高莱电子有限公司 | 一种耐压测试装置 |
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|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
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