CN211263620U - 垂直电阻测试治具 - Google Patents

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刘晚平
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Shenzhen Boyihong Electronics Co ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种垂直电阻测试治具,包括下夹具和上夹具,所述下夹具设有下测试载体,所述上夹具设有上测试载体,所述下夹具设有导柱,所述上夹具开设有导孔,所述下夹具可放置于导柱上并沿着导柱滑动,所述上测试载体用于配合下测试载体夹住测试导体。本实用新型提供的垂直电阻测试治具,结构简单,操作方便。

Description

垂直电阻测试治具
技术领域
本实用新型涉及电阻测试技术领域,具体地说,涉及一种垂直电阻测试治具。
背景技术
测量导体电阻率的方法是通过一对引线强制电流流过样品,用另一对引线测量其电压降来决定已知几何尺寸的样品的电阻,而治具在测量过程中起到固定导体的作用。
电阻测试一般分为水平电阻和垂直电阻。中国专利201520988574.4提出的一种电阻测试治具,包括机架,机架上设置有工作台,工作台上设置有下测试载体以及设置在下测试载体的上方的快速夹具,快速夹具包括滑台以及驱动滑台升降的手柄,滑台的底部设置有与下测试载体对应的上测试载体。该治具的结构复杂,操作麻烦,容易因为误操作手柄而夹手。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种垂直电阻测试治具,结构简单,操作方便。
本实用新型公开的垂直电阻测试治具所采用的技术方案是:
一种垂直电阻测试治具,包括下夹具和上夹具,所述下夹具设有下测试载体,所述上夹具设有上测试载体,所述下夹具设有导柱,所述上夹具开设有导孔,所述下夹具可放置于导柱上并沿着导柱滑动,所述上测试载体用于配合下测试载体夹住测试导体。
作为优选方案,所述下测试载体为铜片。
作为优选方案,所述上夹具为铜块,所述铜块设有凸台,所述凸台用于配合下测试载体夹住测试导体。
作为优选方案,所述凸台的接触顶面为4×4mm。
作为优选方案,所述上夹具的重量不小于300克。
本实用新型公开的垂直电阻测试治具的有益效果是:当需要进行导体电阻测量时,将测试导体放置于下测试载体或上测试载体上,然后上夹具沿着导柱滑动,配合下测试载体夹住测试导体,之后就可以进行电阻测试了。
附图说明
图1是本实用新型垂直电阻测试治具的侧视结构示意图。
图2是本实用新型垂直电阻测试治具的结构示意图。
具体实施方式
下面结合具体实施例和说明书附图对本实用新型做进一步阐述和说明:
请参考图1和图2,垂直电阻测试治具包括下夹具和上夹具,所述下夹具设有下测试载体,所述上夹具设有上测试载体,所述下夹具设有导柱,所述上夹具开设有导孔,所述下夹具可放置于导柱上并沿着导柱滑动,所述上测试载体用于配合下测试载体夹住测试导体。
当需要进行导体电阻测量时,将测试导体放置于下测试载体或上测试载体上,然后上夹具沿着导柱滑动,配合下测试载体夹住测试导体,之后就可以进行电阻测试了。本治具只包括上夹具和下夹具,结构简单,且测试过程中,只需将上夹具放置于下夹具即可,操作方便。
具体的,下夹具由绝缘材料制成,其正中间位置固定有下测试载体,下测试载体可以为铜片或镀金铜片。下夹具的侧边还设有接线柱,接线柱与下测试载体电连接。下夹具设有导柱,例如四条导柱,导柱可以固定于铜片范围内,也可以固定于铜片范围外,当导柱固定于铜片范围内,导柱穿过铜片,且与铜片之间设有绝缘体,例如橡胶。
上夹具为铜块,铜块设有凸台,该凸台作为上测试载体,铜块的侧边还设有与铜块电连接的接线柱。上夹具开设有导孔,导孔内还设有绝缘体,例如橡胶。下夹具放置于导柱上并沿着导柱向下滑动,而凸台配合下测试载体将测试导体夹住。测试导体固定后,将测试仪器的测试端分别与上夹具和下夹具的接线柱电连接,便可以对测试导体的垂直电阻进行测试了。
进一步的,所述凸台的接触顶面为4×4mm,较小的接触面积,可以更精确的测量测试导体的垂直电阻,以满足高分子导电材料极高的导电性能测试。
进一步的,上夹具的重量不小于300克,在进行垂直电阻测试时,一定重量的上夹具压住测试导体,对导电测试有很好的导通性和重力稳定性。同时,还可以根据需要在上夹具上增加砝码。
最后应当说明的是,以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案,而非对本实用新型保护范围的限制,尽管参照较佳实施例对本实用新型作了详细地说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。

Claims (5)

1.一种垂直电阻测试治具,其特征在于,包括下夹具和上夹具,所述下夹具设有下测试载体,所述上夹具设有上测试载体,所述下夹具设有导柱,所述上夹具开设有导孔,所述下夹具可放置于导柱上并沿着导柱滑动,所述上测试载体用于配合下测试载体夹住测试导体。
2.如权利要求1所述的垂直电阻测试治具,其特征在于,所述下测试载体为铜片。
3.如权利要求1所述的垂直电阻测试治具,其特征在于,所述上夹具为铜块,所述铜块设有凸台,所述凸台用于配合下测试载体夹住测试导体。
4.如权利要求3所述的垂直电阻测试治具,其特征在于,所述凸台的接触顶面为4×4mm。
5.如权利要求1所述的垂直电阻测试治具,其特征在于,所述上夹具的重量不小于300克。
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