CN214503425U - 基于毛细管光学元件的微区x射线残余应力分析仪 - Google Patents
基于毛细管光学元件的微区x射线残余应力分析仪 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型提供一种基于毛细管光学元件的微区X射线残余应力分析仪，包括X射线光管，在X射线光管发出的光路上依次设有单毛细管光学元件、用于保持样品的样品台、探测器。本实用新型利用单毛细管对X射线传输方向的调控，将X射线束径减小几十mm的同时又可得到准平行光，从而更准确有效地测定微区残余应力。
Description
技术领域
本实用新型涉及残余应力无损测试领域，具体涉及基于毛细管光学元件的微区X射线残余应力分析仪。
背景技术
材料自身残余应力的研究与测试是材料科学和力学研究方向的一个重要领域，材料微观区域的应力状态可能对材料的宏观特性起着决定性作用，这就要求人们必须准确有效地测定微区残余应力。
对于基于衍射法的微区残余应力测定来说，较好的平行度是确保试验数据准确的必备条件之一。平行度会影响衍射图谱中的衍射峰峰位、峰型等信息。
实用新型内容
有鉴于此，本实用新型的目的是提供即能获得小焦斑、又可得到准平行光的微区残余应力测试仪器。
本实用新型的目的是通过这样实现的：
基于毛细管光学元件的微区X射线残余应力分析仪，包括X射线光管，在X射线光管发出的光路上依次设有单毛细管光学元件、用于保持样品的样品台、探测器。
所述X射线光管为侧窗式X射线光管。
所述单毛细管光学元件为抛物线管。
所述样品台包括高精密手动平移台组合和手动角位移台。
所述探测器为高分辨率X射线CCD照相机。
单毛细管包括锥管、椭球管、抛物线管等，主要用于同步辐射以及常规实验室的微束X射线荧光分析和微束X射线衍射分析研究。
基于全反射原理的玻璃毛细管X射线光学元件能够实现对大功率宽波段X射线的调控，使X射线会聚成直径可达几十微米的X射线微束，提高X射线的利用率。
用毛细管X射线透镜进行限束，形成微区照射面积的方法，在基于衍射法的微区残余应力测定方面具有一定的优势。
本实用新型提出的基于毛细管光学元件的微区X射线残余应力分析仪的有益效果在于：利用单毛细管对X射线传输方向的调控，将X射线束径减小几十mm的同时又可得到准平行光，从而更准确有效地测定微区残余应力。
附图说明
为了使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型作进一步的详细描述，其中：
图1为本实用新型结构示意图；
图2为实施例中的初始X射线束穿过单毛细管后的效果。
具体实施方式
以下将结合附图，对本实用新型的优选实施例进行详细的描述；应当理解，优选实施例仅为了说明本实用新型，而不是为了限制本实用新型的使用范围。
如图1所示，基于毛细管光学元件的微区X射线残余应力分析仪，包括X射线光管1，在X射线光管1发出的光路上依次设有单毛细管光学元件2、用于保持样品的样品台3、探测器4。
所述X射线光管1为侧窗式X射线光管。
所述单毛细管光学元件2为抛物线管。抛物线管能够尽可能大范围地接收由光源发出的X射线，并在管内部进行全反射，最终得到准平行光束，照射到物体上形成微区照射光斑。
所述样品台3包括高精密手动平移台组合和手动角位移台。
所述探测器4为高分辨率X射线CCD照相机。可以为其它能实时成像的高分辨率探测器。
图2示出了侧窗式X射线光管发射出的X射线经连接在侧窗后的抛物线管调控，得到了一束准平行的X射线光，光束尺寸约为1mm。
根据本实用新型实施例设计的微区X射线残余应力分析仪，由侧窗式X射线光管产生发散度较大的初始X射线，经单毛细管光学器件调控后得到发散度较小但有足够强度的光束，光束照射到被测物体的微小区域并与物质发生相互作用，随后由高分辨率X射线CCD照相机接收信号。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并不用于限制本实用新型，显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (4)
1.基于毛细管光学元件的微区X射线残余应力分析仪，其特征在于，包括X射线光管（1），在X射线光管（1）发出的光路上依次设有单毛细管光学元件（2）、用于保持样品的样品台（3）、探测器（4）；所述单毛细管光学元件（2）为抛物线管，利用单毛细管光学元件（2）对X射线传输方向的调控，将X射线束径减小几十mm的同时又可得到准平行光。
2.根据权利要求1所述的基于毛细管光学元件的微区X射线残余应力分析仪，其特征在于，所述X射线光管（1）为侧窗式X射线光管。
3.根据权利要求1所述的基于毛细管光学元件的微区X射线残余应力分析仪，其特征在于，所述样品台（3）包括高精密手动平移台组合和手动角位移台。
4.根据权利要求1所述的基于毛细管光学元件的微区X射线残余应力分析仪，其特征在于，所述探测器（4）为高分辨率X射线CCD照相机。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202120057419.6U CN214503425U (zh) | 2021-01-11 | 2021-01-11 | 基于毛细管光学元件的微区x射线残余应力分析仪 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN202120057419.6U CN214503425U (zh) | 2021-01-11 | 2021-01-11 | 基于毛细管光学元件的微区x射线残余应力分析仪 |
Publications (1)
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| CN214503425U true CN214503425U (zh) | 2021-10-26 |
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ID=78214812
Family Applications (1)
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| CN202120057419.6U Active CN214503425U (zh) | 2021-01-11 | 2021-01-11 | 基于毛细管光学元件的微区x射线残余应力分析仪 |
Country Status (1)
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2021
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