CN214373792U - 一种用于观察万能材料试验机刺破性能的探测装置 - Google Patents

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胡嘉赟
王萍
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Suzhou University
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Suzhou University
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Abstract

本实用新型目的在于提供一种用于观察万能材料试验机刺破性能的探测装置,包括固定安装在万能材料试验机的样品夹具上的两个基座,基座上设有多个发光源和摄像头,多个发光源设置在摄像头的周围,一个摄像头拍摄方向为水平方向,另一个基座上摄像头的拍摄方向为竖直方向。通过在夹具的被夹持样品的上端以及下端均安装了一个可以调节亮度的摄像头组合,进行设定时间间隔的实时拍照,可以清楚的了解被测试材料的破坏状态,结合万能材料测试仪的电脑图像,可以更科学的分析,每个时间点材料的破坏机理,且装置较为简单,可操作性强。

Description

一种用于观察万能材料试验机刺破性能的探测装置
技术领域
本申请涉及材料刺破性能检测技术领域,特别是一种用于观察万能材料试验机刺破性能的探测装置。
背景技术
目前,测试材料抗静态穿刺性能的装置是在万能材料试验机上加装的专用夹具,但是它存在一个不可避免的问题,无法观测刺针刚刚接触材料,以及刺穿材料时的应力变化,以及穿刺过程中,被测材料的变化,由于在分析的过程中,刺穿材料后,刺针与材料之间仍旧具有摩擦,仍旧会有载荷的变化,为了精确地分析刺破机理,在现有的仪器的基础上设计一个能够满足分析要求的装置。
发明内容
本申请目的在于提供一种用于观察万能材料试验机刺破性能的探测装置,探测装置包括固定安装在万能材料试验机的样品夹具上的两个基座,基座上设有多个发光源和摄像头,多个发光源设置在摄像头的周围,一个摄像头拍摄方向为水平方向,另一个基座上摄像头的拍摄方向为竖直方向。
作为优选,所述发光源在基座上的安装位置高于所述摄像头的安装位置。
作为优选,多个发光源之间并联。
进一步的,发光源包括LED灯。
作为优选,所述基座上还设有透明罩覆盖所述摄像头。
作为优选,基座上还设有PLC分别与LED灯电连接。
作为优选,所述夹具上设有检测孔,一个基座上的摄像头拍摄方向与检测孔的中心轴向垂直,另一个基座上摄像头的拍摄方向与检测孔的相对。
作为优选,夹具包括配合安装的夹具底板及夹具盖板,所述检测孔贯穿所述夹具盖板及全部或部分夹具底板,一个基座安装在夹具盖板上,另一个基座安装在夹具底板上。
进一步的,夹具底板与所述夹具盖板通过螺栓固定连接。
借由上述结构,通过在夹具的被夹持样品的上端以及下端均安装了一个可以调节亮度的摄像头组合,进行设定时间间隔的实时拍照,可以清楚的了解被测试材料的破坏状态,结合万能材料测试仪的电脑图像,可以更科学的分析,每个时间点材料的破坏机理,且装置较为简单,可操作性强。
附图说明
为了更清楚地说明本说明书实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本说明书中记载的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型中探测装置的整体结构示意图;
图2为图1中探测装置的结构剖面图;
图3为本实用新型中摄像头组件的结构主视图;
图4为图3中摄像头组件的结构侧视图;
图5为本实用新型中发光源的电路控制示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本说明书中的技术方案,下面将结合本说明书实施例中的附图,对本说明书实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本说明书一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本说明书中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本说明书保护的范围。
参见图1和图2所示,本申请实施例公开了一种用于观察万能材料试验机刺破性能的探测装置,该探测装置包括固定安装在万能材料试验机的样品夹具上的两个基座30,基座30上设有多个发光源32和摄像头31,多个发光源32设置在摄像头31的周围,一个摄像头31拍摄方向为水平方向,另一个基座30上摄像头31的拍摄方向为竖直方向。
在试验时,一个基座30上的摄像头31记录样品侧面及上部的状态,另一个基座30上的摄像头31记录样品底部的状态。
如图所示,发光源32在基座30上的安装位置高于所述摄像头31的安装位置。
如图中电路所示,多个发光源32之间并联,这样可以根据需要控制任一发光源32的点亮,降低图像曝光的风险。作为优选,基座30上还设有PLC分别控制多个发光源32,任一发光源32的损坏不会对其他发光源32造成影响,便于替换,节省维护成本,也减少资源的浪费。
在本申请中发光源32采用LED灯,LED灯体积小,方便布置在摄像头31周围,为拍摄提供良好的光线环境。
如图所示,摄像头31基座30上除了摄像头31和发光源32还设有透明罩33,透明罩33覆盖摄像头31,防止摄像头31受损或被污染,透明罩33也容易清洁,透明罩33的材料可以采用玻璃。
在一实施例中,探测装置的样品夹具上设有检测孔,第一基座30上的摄像头31拍摄方向与检测孔的中心轴向垂直,第二基座30上摄像头31的拍摄方向与检测孔的相对。
夹具包括配合安装的夹具底板20及夹具盖板10,检测孔贯穿夹具盖板10及全部或部分夹具底板20,夹具底板20与所述夹具盖板10通过螺栓40固定连接。第一基座30安装在夹具盖板10上,第二基座30安装在夹具底板20上,这样设计让摄像头31可以拍摄到样品至少在上下两个方向上的实验变化。
在样品刺破测试完成后,根据万能材料试验仪生成的载荷位移曲线,以及所拍照片所在的时间点,具体分析材料的刺破机理,根据图表,找到载荷位移最高值的时间点,找到对应的照片,根据连续获得的照片上记载内容(样品状态),以及刺穿样品的时间点,对照找载荷位移曲线的所在点,进行力学性能分析,可以更科学且直观的分析材料的力学性能变化以及机理。
虽然通过实施例描绘了本申请,本领域普通技术人员知道,本申请有许多变形和变化而不脱离本申请的精神,希望所附的实施方式包括这些变形和变化而不脱离本申请。

Claims (9)

1.一种用于观察万能材料试验机刺破性能的探测装置,其特征在于,
探测装置包括固定安装在万能材料试验机的样品夹具上的两个基座(30),基座(30)上设有多个发光源(32)和摄像头(31),多个发光源(32)设置在摄像头(31)的周围,一个摄像头(31)拍摄方向为水平方向,另一个基座(30)上摄像头(31)的拍摄方向为竖直方向。
2.根据权利要求1所述的探测装置,其特征在于,所述发光源(32)在基座(30)上的安装位置高于所述摄像头(31)的安装位置。
3.根据权利要求1所述的探测装置,其特征在于,多个发光源(32)之间并联。
4.根据权利要求1所述的探测装置,其特征在于,所述发光源(32)包括LED灯。
5.根据权利要求1所述的探测装置,其特征在于,所述基座(30)上还设有透明罩(33)覆盖所述摄像头(31)。
6.根据权利要求1所述的探测装置,其特征在于,所述基座(30)上还设有PLC分别与LED灯电连接。
7.根据权利要求1所述的探测装置,其特征在于,所述夹具上设有检测孔,一个基座(30)上的摄像头(31)拍摄方向与检测孔的中心轴向垂直,另一个基座(30)上摄像头(31)的拍摄方向与检测孔的相对。
8.根据权利要求7所述的探测装置,其特征在于,所述夹具包括配合安装的夹具底板(20)及夹具盖板(10),所述检测孔贯穿所述夹具盖板(10)及全部或部分夹具底板(20),一个基座(30)安装在夹具盖板(10)上,另一个基座(30)安装在夹具底板(20)上。
9.根据权利要求8所述的探测装置,其特征在于,所述夹具底板(20)与所述夹具盖板(10)通过螺栓(40)固定连接。
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