CN214335140U - 一种应用在芯片测试设备上的轴承机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种应用在芯片测试设备上的轴承机构，固定安装在插拔机构的两侧，包括：固定安装在上底座和下底座两侧的导柱，以及套接在导柱上的轴承；所述轴承滑动卡接在推拉机构中，进而在推拉机构的带动在推拉机构中滚动；所述推拉机构为导轨滑片；所述导轨滑片上可是有若干个滑孔；所述若干个滑孔分为：水平型滑孔和斜坡型滑孔；所述若干个滑孔边缘开设有与轴承适配的凹槽。本实用新型通过轴承机构对将传动机构和推拉机构传递过来的动力进行引导，在运动过程中对轴承机构可减少滑动过程中的振动和摩擦，保证芯片插拔位置精确且对测试设备无损耗，延长设备使用寿命。

Description

一种应用在芯片测试设备上的轴承机构

技术领域

本实用新型属于芯片测试配件领域，尤其是一种应用在芯片测试设备上的轴承机构。

背景技术

现有的芯片测试设备连接器插拔机构的活动框架都是通过在一张PCB板布置多个连接器，再通过人工把PCB板上的连接器和对接的连接器按压上去；这种插拔方法效率低，在插拔过程中插拔推拉力的方向以及力度不同，进而对测试设备造成不同程度的振动和结构件之间的摩擦 ，机械振动与冲击会使一些内部有缺陷的元件加速失效，造成灾难性故障，机械振动还会使焊点、压线点发生松动，导致接触不良；若振动导致导线不应有的接触，长期使用下来会造成插拔机构中元器件失效，因此人工插拔不可靠，测试数据不稳定、效率低等一系列问题。

发明内容

发明目的：提供一种应用在芯片测试设备上的轴承机构，以解决现有技术存在的上述问题。

技术方案：一种应用在芯片测试设备上的轴承机构，

固定安装在插拔机构的两侧，

包括：固定安装在上底座和下底座两侧的导柱，以及套接在导柱上的轴承；所述轴承滑动卡接在推拉机构中，进而在推拉机构的带动在推拉机构中滚动；

所述推拉机构为导轨滑片；所述导轨滑片上可是有若干个滑孔；所述若干个滑孔分为：水平型滑孔和斜坡型滑孔；卡接在斜坡型滑孔中的轴承为上底座滑动件；卡接在水平型滑孔中的轴承为导轨滑片限位件；所述若干个滑孔边缘开设有与轴承适配的凹槽。

在进一步的实施例中，所述插拔机构包括：嵌合在固定框架中的下底座，扣合在下底座上方的上底座，以及固定安装在下底座两侧的导轨滑片固定件；所述上底座与下底座相对侧设有印制板；所述上底座的顶部两侧固定连接有提手；

在进一步的实施例中，所述插拔机构外围设有固定框架，所述固定框架中穿插有传动机构，所述传动机构传动连接推拉机构。

在进一步的实施例中，所述传动机构包括：第一传动轴，固定安装在第一传动轴上的把手，穿插在第一传动轴两端的第一连杆，以及固定连接在第一连杆另一端的第二连杆；所述第二连杆安装在导轨滑片的一端。

在进一步的实施例中，所述固定框架为固定安装在第一传动轴和导轨滑片一侧的多组挡板；所述挡板设有与把手对应的锁紧机构；所述锁紧机构包括：固定安装在把手上的卡块以及开设在固定框架中的卡槽，所述卡块和卡槽的位置可根据设备运行和振动的情况再固定框架和把手上调整。

在进一步的实施例中，所述导轨滑片固定件为穿插在固定框架和下底座导柱上的固定螺丝。

在进一步的实施例中，所述下底座上安装有定位块。

在进一步的实施例中，所述第一连杆的另一侧与阻尼器固定连接。

有益效果：本实用新型通过轴承机构对将传动机构和推拉机构传递过来的动力进行引导，上底座和下底座上的轴承在导轨滑片中滑动，使上底座与下底座沿着加工轨迹进行统一的分离和扣合，在运动过程中对轴承机构可减少滑动过程中的振动和摩擦，保证芯片插拔位置精确且对测试设备无损耗。

附图说明

图1是本实用新型芯片测试设备的结构示意图。

图2是本实用新型芯片测试设备的剖视图。

图3是本实用新型传动机构和滑动件的安装示意图。

图4是本实用新型传动机构的结构示意图。

图5是本实用新型滑孔与轴承的安装示意图。

附图标记为：插拔机构1、下底座100、上底座101、固定件102、滑动件103、印制板104、提手105、限位件106、固定框架2、挡板20、第一传动轴3、把手4、第一连杆5、第二连杆6、导轨滑片7、水平型滑孔80、斜坡型滑孔81、凹槽82、锁紧机构9、卡块90、卡槽91、导柱10、轴承11、定位块12、阻尼器13。

具体实施方式

在下文的描述中，给出了大量具体的细节以便提供对本实用新型更为彻底的理解。然而，对于本领域技术人员而言显而易见的是，本实用新型可以无需一个或多个这些细节而得以实施。在其他的例子中，为了避免与本实用新型发生混淆，对于本领域公知的一些技术特征未进行描述。

申请人发现现有的芯片测试设备连接器插拔机构的活动框架都是通过在一张PCB板布置多个连接器，再通过人工把PCB板上的连接器和对接的连接器按压上去；这种插拔方法效率低，在插拔过程中插拔推拉力的方向以及力度不同，进而对测试设备造成不同程度的振动和结构件之间的摩擦 ，机械振动与冲击会使一些内部有缺陷的元件加速失效，造成灾难性故障，机械振动还会使焊点、压线点发生松动，导致接触不良；若振动导致导线不应有的接触，长期使用下来会造成插拔机构中元器件失效，因此人工插拔不可靠，测试数据不稳定、效率低等一系列问题。

如图1至图5所示的一种应用在芯片测试设备上的轴承机构，固定安装在插拔机构的两侧，进而整个装置的结构包括：插拔机构1、下底座100、上底座101、固定件102、滑动件103、印制板104、提手105、限位件106、固定框架2、挡板20、第一传动轴3、把手4、第一连杆5、第二连杆6、导轨滑片7、水平型滑孔80、斜坡型滑孔81、凹槽82、锁紧机构9、卡块90、卡槽91、导柱10、轴承11、定位块12、阻尼器13。

其中，插拔机构1中设有与芯片引脚嵌合的印制板104，便于对芯片进行测试以确定，芯片是否是合格的，固定框架2设置在插拔机构1的外围，传动机构穿插在固定框架2上对按压力进行转化，滑动机构与传动机构传动连接；传动机构进而推拉滑动机构使插拔机构1实现插拔，定位块12从而对滑动机构推拉行程进行限位。轴承机构设置在插拔机构上与推拉机构滑动连接，进而对推拉机构的滑动力进行减振和减少摩擦系数，轴承机构包括：固定安装在上底座101和下底座100两侧的导柱10，以及套接在导柱10上的轴承11；所述轴承11滑动卡接在推拉机构中，进而在推拉机构的带动下在带动上底座101和下底座100沿着各自嵌合的滑孔轨迹移动；

所述推拉机构为导轨滑片7；所述导轨滑片7上可是有若干个滑孔；所述若干个滑孔分为：水平型滑孔80和斜坡型滑孔81；卡接在斜坡型滑孔中的轴承为上底座滑动件103；卡接在水平型滑孔中的轴承为导轨滑片限位件106；所述若干个滑孔边缘开设有与轴承11适配的凹槽82。

所述插拔机构1包括：嵌合在固定框架2中的下底座100，扣合在下底座100上方的上底座101，以及固定安装在下底座100两侧的导轨滑片7固定件102，所述滑动机构包括导轨滑片7和滑动件103；所述滑动件103固定连接在上底座101两侧且与多个滑孔滑动连接；所述上底座101与下底座100相对侧设有印制板104；所述上底座101的顶部两侧固定连接有提手105；

所述传动机构包括：第一传动轴3穿插在固定框架2上，把手4固定安装在第一传动轴3的一端，第一连杆5穿插在第一传动轴3两端，第二连杆6固定连接在第一连杆5的另一端，导轨滑片7固定连接在第二连杆6的另一端且导轨滑片7通过固定件102固定在固定框架2和下底座100之间，进而在第一传动轴3和第一连杆5以及第二连杆6的带动下在固定框架2中前后移动；

所述固定框架2为固定安装在第一传动轴3和导轨滑片7一侧的多组挡板20；所述挡板20设有与把手4对应的锁紧机构9。所述锁紧机构9包括：固定安装在把手4上的卡块90以及开设在固定框架2中的卡槽91，所述卡块90和卡槽91的位置可根据设备运行和振动的情况再固定框架2和把手4上调整。

在测试过程中可通过分离下底座100和上底座101将待测试的芯片插入在印制板104中，检测完成后将芯片拔出。把手4上的向下传递带动第一传动轴3旋转，进而动力经过第一连杆5带动第二连杆6传动，实现对第二连杆6的推拉，进而第二连杆6带动导轨滑片7在固定框架2中前后运动，导轨滑片7运动过程中从而使上底座101中的滑动件103在导轨滑片7中的斜坡型滑孔81滚动，进而带动上底座101沿着斜坡型滑孔81的方向相对于下底座100进行上下运动，进而完成对芯片的插拔工序；所述导轨滑片7固定件102为穿插在固定框架2和下底座100导柱10上的固定螺丝。

所述轴承11的外直径等于所在滑孔的内直径，从而能够使滑动件103始终嵌合在滑孔中。

所述下底座100和上底座101的扣合边缘设有定位块12；能够对插拔位置进行限位，避免插拔错误。所述第一连杆5的另一侧与阻尼器13固定连接，能够对传动机构的动力进行缓冲和减振，避免动力的惯性冲击。

工作原理：

芯片测试时，按下把手4，按压力通过把手4传递至把手4底部额第一传动轴3上带动第一传动轴3旋转，第一传动轴3进而带动第一连杆5向下运动，进而带动第一连杆5向后推动第二连杆6和导轨滑片7，导轨滑片7向后运动过程中，从而使上底座101中的滑动件103在导轨滑片7中的斜坡型滑孔81滚动，进而带动上底座101沿着斜坡型滑孔81的方向相对于下底座100进行向上运动，进而完成对上底座101和下底座100之间的分离，方便待测试芯片的插拔，检测前插入芯片，芯片插入后，把手4向上运动，进而带动第一连杆5向前拉回第二连杆6和导轨滑片7，导轨滑片7向前运动过程中，从而使上底座101中的滑动件103在导轨滑片7中的斜坡型滑孔81滚动，进而带动上底座101沿着斜坡型滑孔81的方向相对于下底座100进行向下运动，滑动至定位块12上终止，进而完成对上底座101和下底座100之间的扣合，压紧待测芯片，使芯片引脚与印制板104电联，对芯片进行电性检测后，检测完成后再次按下把手4打开上底座101和下底座100拔出芯片，在进入下一芯片的测试。

本实用新型通过轴承11机构对将传动机构和推拉机构传递过来的动力进行引导，上底座101上的轴承11在导轨滑片7中滑动，使上底座101与下底座100沿着加工轨迹进行统一的分离和扣合过程中对减少滑动过程中的振动和摩擦，保证芯片插拔位置精确且对测试设备无损耗。

以上结合附图详细描述了本实用新型的优选实施方式，但是，本实用新型并不限于上述实施方式中的具体细节，在本实用新型的技术构思范围内，可以对本实用新型的技术方案进行多种等同变换，这些等同变换均属于本实用新型的保护范围。

Claims (8)

1.一种应用在芯片测试设备上的轴承机构，其特征在于，

固定安装在插拔机构的两侧，

包括：固定安装在上底座和下底座两侧的导柱，以及套接在导柱上的轴承；所述轴承滑动卡接在推拉机构中，进而在推拉机构的带动在推拉机构中滚动；

所述推拉机构为导轨滑片；所述导轨滑片上可是有若干个滑孔；所述若干个滑孔分为：水平型滑孔和斜坡型滑孔；卡接在斜坡型滑孔中的轴承为上底座滑动件；卡接在水平型滑孔中的轴承为导轨滑片限位件；所述若干个滑孔边缘开设有与轴承适配的凹槽。

2.根据权利要求1所述的一种应用在芯片测试设备上的轴承机构，其特征在于，所述插拔机构包括：嵌合在固定框架中的下底座，扣合在下底座上方的上底座，以及固定安装在下底座两侧的导轨滑片固定件；所述上底座与下底座相对侧设有印制板；所述上底座的顶部两侧固定连接有提手。

3.根据权利要求1所述的一种应用在芯片测试设备上的轴承机构，其特征在于，所述插拔机构外围设有固定框架，所述固定框架中穿插有传动机构，所述传动机构传动连接推拉机构。

4.根据权利要求3所述的一种应用在芯片测试设备上的轴承机构，其特征在于，所述传动机构包括：第一传动轴，固定安装在第一传动轴上的把手，穿插在第一传动轴两端的第一连杆，以及固定连接在第一连杆另一端的第二连杆；所述第二连杆安装在导轨滑片的一端。

5.根据权利要求3所述的一种应用在芯片测试设备上的轴承机构，其特征在于，所述固定框架为固定安装在第一传动轴和导轨滑片一侧的多组挡板；所述挡板设有与把手对应的锁紧机构；所述锁紧机构包括：固定安装在把手上的卡块以及开设在固定框架中的卡槽，所述卡块和卡槽的位置可根据设备运行和振动的情况再固定框架和把手上调整。

6.根据权利要求2所述的一种应用在芯片测试设备上的轴承机构，其特征在于，所述导轨滑片固定件为穿插在固定框架和下底座导柱上的固定螺丝。

7.根据权利要求3所述的一种应用在芯片测试设备上的轴承机构，其特征在于，所述下底座上安装有定位块。

8.根据权利要求4所述的一种应用在芯片测试设备上的轴承机构，其特征在于，所述第一连杆的另一侧与阻尼器固定连接。

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