CN214298142U - 一种自动上料机 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种自动上料机，所述自动上料机包括上料控制系统、机架、抓取机构以及检测装置；所述上料控制系统用于控制所述抓取机构以及所述检测装置的运行；所述机架用于承载所述抓取机构以及所述检测装置；所述抓取机构用于抓取物料，且对所述物料进行位移；所述检测装置用于在所述物料的位移过程中对所述物料进行检测。本实用新型的自动上料机通过设置抓取机构和检测装置，对物料进行自动抓取和检测，使物料自动精确地进行位移，剔除其中不符合预设要求的物料，达到自动上料的效果，自动化程度更高，有效地提高上料效率。

Description

一种自动上料机

技术领域

本实用新型涉及上料技术领域，特别是涉及一种自动上料机。

背景技术

随着生产工艺的变革，越来越多的自动化设备投入到产线作业当中，以替代人工进行简单重复的流水线作业，从而降低人力成本，提高生产力及企业竞争力。目前，在物料测试领域，上料过程存在非全自动，需人工进行操作，自动化程度不高的问题，且上料过程中未设置检测工序，待测试物料可能在测试前存在不一致的缺陷，影响后续的测试工序顺利进行，降低了整个流水线的工作效率。

实用新型内容

本实用新型主要解决的技术问题是:提供一种自动上料机，在对物料进行上料的过程中进行多次检测，使多个物料在进入下一工序前保持一致性，实现精准定位。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的一个技术方案是：提供一种自动上料机，所述自动上料机包括上料控制系统、机架、抓取机构以及检测装置；

所述上料控制系统用于控制所述抓取机构以及所述检测装置的运行；

所述机架用于承载所述抓取机构以及所述检测装置；

所述抓取机构用于抓取物料，且对所述物料进行位移；

所述检测装置用于在所述物料的位移过程中对所述物料进行检测；

其中，所述机架包括工作台和安装架，所述安装架固定于所述工作台顶部；

所述工作台顶部的一侧为第一区域，与所述第一区域相对的另一侧为第二区域，所述第一区域和所述第二区域之间为第三区域；

所述检测装置设置于所述第三区域内；

所述抓取机构设置于所述安装架上。

其中，所述自动上料机还包括载具，所述载具用于放置所述物料；

所述载具包括来料载具和芯片测试模块，所述来料载具内放置有物料，所述抓取机构用于将所述物料经所述第三区域转移至所述芯片测试模块内；

所述来料载具固定于所述第一区域内，所述芯片测试模块固定于所述第二区域内。

其中，所述抓取机构包括第一抓取机构和第二抓取机构；

所述第一抓取机构用于抓取位于所述来料载具内的所述物料，且将所述物料移动至所述第三区域；

所述第二抓取机构用于抓取位于所述第三区域内的所述物料，并将所述物料移动至位于所述第二区域的所述芯片测试模块内。

其中，所述第一抓取机构和所述第二抓取机构均包括第一导轨、第一电机、变距吸盘模组、伸缩气缸和丝杆模组；

所述第一导轨固定于所述安装架上，所述变距吸盘模组能够沿所述第一导轨滑动；

所述第一电机带动所述伸缩气缸运动，所述伸缩气缸能够带动所述变距吸盘模组沿所述丝杆模组进行上下运动。

其中，所述抓取机构还包括第二导轨和第二电机，所述第二电机用于带动所述第一抓取机构沿所述第二导轨滑动；

所述第一导轨与所述第二导轨相垂直。

其中，所述检测装置包括第一检测装置，所述第一检测装置设置于所述第三区域内，用于对进入所述第三区域内的所述物料进行检测。

其中，所述工作台顶部还设有第一出入口和第二出入口，所述来料载具经所述第一出入口在所述工作台顶面和底部之间移动，所述芯片测试模块经所述第二出入口在所述工作台顶面和底部之间移动；

所述第二出入口一侧还设有第二检测装置，所述第二检测装置用于对所述芯片测试模块的位置进行检测。

其中，所述第一检测装置和所述第二检测装置为CCD传感器、霍尔传感器或行程开关其中的任一种。

其中，所述自动上料机还包括传输机构，所述传输机构包括顶升装置；

所述工作台底部与所述第一出入口相对处设有上料盒，所述来料载具放置于所述上料盒内，由所述顶升装置带动运动；

所述顶升装置包括第三电机和气缸组件，所述第三电机用于带动所述气缸组件运动，所述气缸组件推动所述上料盒向上运动，使所述来料载具经所述第一出入口上升至所述第一区域内。

其中，所述传输机构还包括芯片测试模块搬运模组；

所述芯片测试模块搬运模组设于所述工作台底部，与所述第二出入口相对；

所述芯片测试模块搬运模组包括第三电机、第三导轨、滑块和搬运平台，所述第三电机带动所述滑块沿所述第三导轨滑动，所述搬运平台与所述滑块固定为一体，所述搬运平台承载所述芯片测试模块经所述第二出入口上升或下降。

其中，所述自动上料机还包括载具定位机构；

所述载具定位机构包括驱动件和夹具，所述驱动件用于驱动所述夹具位移，所述夹具的两端分别与所述载具相邻的两侧相抵接，从而将所述载具固定于所述工作台上。

其中，所述自动上料机还包括芯片测试模块开锁装置，用于对所述芯片测试模块进行解锁；

所述芯片测试模块开锁装置包括驱动装置、传动件和拉杆；

所述拉杆的一端固定于所述传动件上，另一端与所述芯片测试模块的定位块相抵接；

所述驱动装置用于带动所述传动件运动；

所述传动件的运动方向为所述拉杆远离所述芯片测试模块的方向。

与现有技术相比，本实用新型的自动上料机达到的有益效果为：通过设置抓取机构和检测装置，对物料进行自动抓取和检测，使物料自动精确地进行位移，剔除其中不符合预设要求的物料，达到自动上料的效果，自动化程度更高，有效地提高上料效率。

附图说明

为更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型的自动上料机的结构示意图；

图2是自动上料机的工作台的俯视图；

图3是自动上料机的安装架的结构示意图；

图4是自动上料机的安装架的仰视图；

图5是自动上料机的抓取机构的另一视角示意图；

图6是自动上料机的工作台的底部结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。本申请中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

本实施例中的自动上料机请参阅图1，图1是本发明自动上料机1的结构示意图，自动上料机1包括上料控制系统、机架11、载具12、抓取机构13以及检测装置14；上料控制系统用于控制抓取机构13以及检测装置14的运行；机架11用于承载载具12、抓取机构13以及检测装置14；载具12用于放置物料；抓取机构13用于抓取载具12内的物料，且对物料进行位移；检测装置14用于对载具12的位置和物料进行检测。通过设置抓取机构13和检测装置14，检测装置14检测载具12的位置和物料，通过上料控制系统控制抓取机构抓取载具12内的物料，使物料自动精确地进行位移，达到自动上料的效果，自动化程度更高，有效地提高上料效率。以下将对上述各部件做具体说明。

本申请中将以待上料的物料为芯片为例进行说明，芯片生产后需要在检测流水线上进行检测，在检测流水线上上料前，芯片放置在生产用载具12内，上料时需将芯片从原有的载具12内抓取出来，转换到测试载具内，因此本申请中的自动上料机1设置抓取机构13对芯片进行自动抓取，再经检测装置14对载具12的位置和芯片在位移中的状态进行检测，从而实现自动抓取载具12内的芯片，且通过检测装置14进行检测，对芯片的位移过程进行监测，以使芯片的上料符合预设的要求。

请参阅图1和图2，图1为本发明自动上料机的结构示意图，图2为本发明自动上料机的工作台的俯视图，具体的，本实施例中的机架11包括工作台111和安装架112，安装架112固定于工作台111顶部；工作台111顶部的一侧为第一区域1111，与第一区域1111相对的另一侧为第二区域1112，第一区域1111和第二区域1112之间为第三区域1113；载具12设置于第一区域1111和第二区域1112内；检测装置14设置于第三区域1113内；抓取机构13设置于安装架112上。如图所示，工作台111和安装架112均为顶部为工作面，四角为支撑柱的形式，工作台111安装或放置于地面，安装架112的支撑柱安装固定于工作台111的工作面上。本实施例中工作台111的工作面为长方形，第一区域1111位于工作面的一侧，第二区域1112位于与第一区域1111相对的另一侧，两者的中间部分即位于正方形中心处的为第三区域1113。芯片的载具12有至少两种，分别设置于第一区域1111和第二区域1112处。由于载具12的移动需要一定空间，因此将不同载具12设置于不同的区域，避免上料时在空间内形成冲突。芯片的上料过程为从第一区域1111移动至第二区域1112，因此在第一区域1111和第二区域1112的中间区域，即第三区域1113处设置检测装置14，用于上料过程中对芯片进行检测。抓取机构13设置于安装架112上，具体的，设置于安装架112的工作面的底部，从而使抓取机构13位于工作台111的工作面的正上方，便于抓取机构13对下部的芯片进行抓取和移动。

仍参阅图1，图1为本发明自动上料机的结构示意图，本实施例中的载具12包括来料载具121和芯片测试模块7，来料载具121内放置有物料，抓取机构13用于将物料经第三区域1113转移至芯片测试模块7内；来料载具121固定于第一区域1111内，芯片测试模块7固定于第二区域1112内。本申请中的来料载具121为芯片上料前的原载具，一个来料载具121内可以放置较多的芯片。来料载具121可以为托盘。芯片测试模块7为芯片移动后的新载具，由于芯片检测需放置于特定的芯片测试模块7内，才能与后续的测试机进行匹配，且芯片测试模块7内可盛装芯片的数量也与来料载具121不同，因此上料过程中需将芯片从来料载具121内转移至芯片测试模块7内。来料载具121和芯片测试模块7分别设置于第一区域1111和第二区域1112内，将两者区分开来，避免不同载具12的混淆和错用。

请参阅图3至图5，图3为本发明自动上料机的安装架的结构示意图，图4为本发明自动上料机的安装架的仰视图，图5为本发明自动上料机的抓取机构的另一视角示意图。本申请中的抓取机构13包括第一抓取机构131和第二抓取机构132；第一抓取机构131用于抓取位于来料载具121内的物料，且将物料移动至第三区域1113；第二抓取机构132用于抓取位于第三区域1113内的物料，并将物料移动至位于第二区域1112的芯片测试模块7内。本实施例中的抓取过程分为以下步骤，分别为首先使用第一抓取机构131将来料载具121内的芯片从第一区域1111转移至第三区域1113，经检测装置14检测后，再使用第二抓取机构132将位于第三区域1113内的芯片转移至第二区域1112的芯片测试模块7内。第一抓取机构131和第二抓取机构132的作用不同，将两者分别使用，可以提高生产效率。

具体的，第一抓取机构131和第二抓取机构132均包括第一导轨1311、第一电机1312、变距吸盘模组1313、伸缩气缸1314和丝杆模组1315；第一导轨1311固定于安装架112上，变距吸盘模组1313能够沿第一导轨1311滑动；第一电机1312用于带动伸缩气缸1314运动，伸缩气缸1314能够带动变距吸盘模组1313沿丝杆模组1315进行上下运动。

本实施例中以上下方向为z轴，以第一导轨321长度方向为y轴，以与第一导轨321长度方向垂直的方向为x轴为例进行说明。第一导轨1311的方向与第一区域1111和第三区域1113连线方向平行，即均沿y轴方向，由于第一抓取机构131仅用于带动芯片从第一区域1111移动至第三区域1113，第二抓取机构132仅用于带动芯片从第三区域1113移动至第二区域1112，因此第一导轨1311的长度略大于第一区域1111和第三区域1113之间距离的一半，同时为避免干涉，第一抓取机构131和第二抓取机构132之间形成高度差，使两条第一导轨1311可以位于同一直线上。

本实施例中第一电机1312用于带动变距吸盘模组1313沿第一导轨1311滑动，即在y轴方向上滑动，伸缩气缸1314用于带动变距吸盘模组1313上下运动，即在z轴方向运动，从载具12内抓取芯片。

本申请的变距吸盘模组1313包括变距机构和吸盘，变距机构适用于包装和理料，用于保证各个活动块间的距离变化一致，对产品进行批量整理变距后放入载具12内，本实施例中为放入芯片测试模块7内。吸盘设置于变距机构底部，用于吸取芯片。芯片测试模块7内包含若干芯片放置位，芯片放置位均匀排布，芯片从来料载具121内被吸取出后，经过变距机构调整各个芯片之间的距离，使之与芯片放置位的间距匹配，从而可以同时将多个芯片放入芯片测试模块7内。

本实施例中的抓取机构13还包括第二导轨133和第二电机134，第二电机134带动第一抓取机构131沿第二导轨133滑动；第一导轨321与第二导轨133相垂直。第二导轨133也固定于安装架112的底面，且与第一导轨1311垂直，沿x轴方向设置。第一抓取机构131整个可以沿第二导轨133滑动，即沿x轴方向滑动，第一抓取机构131内的变距吸盘模组1313可以沿第一导轨1311滑动，即沿y轴方向滑动，上述设置可以使变距吸盘模组323沿x轴和y轴两方向运动。上述已进行过相应说明，芯片在第一抓取机构131上时为沿y轴方向运动，当上料时同时设置多个来料载具121，且多个来料载具121沿x轴平行排布时，第一抓取机构131可以在x轴上运动，抓取不同来料载具121内的芯片，之后再调整位置，沿y轴方向转移芯片。

本实施例中的第一抓取机构131除用于抓取位于来料载具121内的芯片之外，还用于将经检测装置14检测后不符合要求的芯片移动至NG区域1114，NG区域1114位于第三区域1113的一侧，用于存放上料过程中检测到的不符合要求的芯片，不符合要求的芯片被第一抓取机构131沿x轴方向移动至NG区域1114，再由吸盘模组移出上料机，达到全程自动化的效果。

当然，也可以在第一抓取机构131上设置更多夹具，当来料载具121内的芯片被抓取完后，通过夹具将空的来料载具121移出第一区域1111，第一抓取机构131继续抓取位于下部的来料载具121内的芯片，使整个上料机更加自动化，提高生产效率。

本实施例中的检测装置14包括第一检测装置141和第二检测装置142，第一检测装置141设置于第三区域1113内，用于对进入第三区域1113内的物料进行检测，具体的，检测进入第三区域1113内的芯片是否符合预设要求，如是否符合预设的位置和角度要求，或检测芯片是否存在质量问题，对芯片进行筛选，将不符合要求的芯片剔除，以便下一步转移至芯片测试模块7内。

请参阅图2，图2为本发明自动上料机的工作台的俯视图。工作台111顶部设有第一出入口1115和第二出入口1116，来料载具121经第一出入口1114在工作台111顶面和底面之间移动，芯片测试模块7经第二出入口1116在工作台111顶面和底面之间移动，来料载具121承载芯片从工作台111底部上升至工作台111顶部，芯片测试模块7承载经检测后的芯片从工作台111顶部下降至工作台111底部，经传输线流出至后续的检测机。第二检测装置142设置于第二出入口1116的一侧，用于对芯片测试模块7的位置进行检测，从而便于第二抓取机构132移动芯片测试模块7至第二出入口1116，再经第二出入口1116下降。

本实施例中的第一检测装置141和第二检测装置142为CCD传感器、霍尔传感器或行程开关其中的任一种。优选的，本实施例中采用CCD传感器，对芯片底部进行拍照，检测芯片底面是否与预设图像数据相匹配，避免芯片无法正确放置在芯片测试模块7内，影响后续的检测。

请参阅图6，图6为本发明自动上料机的工作台的底部结构示意图，本实施例中的自动上料机1还包括传输机构15，传输机构15包括顶升装置151；工作台111底部与第一出入口1115相对处设有上料盒153，来料载具121放置于上料盒153内，由顶升装置151带动运动；顶升装置151包括第三电机和气缸组件，第三电机带动气缸组件运动，气缸组件推动上料盒153向上运动，使来料载具121经第一出入口1115上升至第一区域1111内。上料盒153用于存放来料载具121，由人工将带有芯片的来料载具121放入，可以一次放置多个、多层来料载具121，顶升装置151将来料载具121带动上升至工作台111的工作面上。

本实施例中的传输机构15还包括芯片测试模块搬运模组152；芯片测试模块搬运模组152设于工作台111底部，与第二出入口1116相对；芯片测试模块搬运模组152包括第三电机(图未示)、第三导轨1521、滑块1522和搬运平台1523，第三电机带动滑块1522沿第三导轨1521滑动，搬运平台1523与滑块1522固定为一体，搬运平台1523承载芯片测试模块7经第二出入口1116上升或下降。芯片测试模块搬运模组152用于将带有芯片的芯片测试模块7从工作台111的工作面上传送至工作台111下部，再经传输线流出。第三导轨1521的方向为沿z轴方向，搬运平台1523水平设置，芯片测试模块7放置于搬运平台1523沿第三导轨1521下滑，流动至下一工序进行芯片检测。当搬运平台1523上升时，可通过下部的流水线在搬运平台1523上传输空的芯片测试模块7，用于进行下一批的芯片盛放，以此反复进行芯片的上料。

本实施例中的自动上料机1还包括载具定位机构；载具定位机构包括驱动件和夹具，驱动件驱动夹具位移，夹具的两端分别与载具12相邻的两侧相抵接，从而将载具12固定于工作台111上。具体的，载具定位机构可以分别设置于第一区域1111和第三区域1113内，当芯片在转移的过程中，来料载具121和芯片测试模块7均被载具定位机构固定于工作台111上，便于芯片的取放定位。

本实施例中的自动上料机1还包括芯片测试模块开锁装置8，用于对芯片测试模块7进行开锁，从而将芯片放置在芯片测试模块7内，芯片测试模块开锁装置8的具体结构将在下述内容进行说明。

本申请的自动上料机1的工作流程为：

1.人工在位于机架11下部的上料盒153内放好盛放有芯片的来料载具121，通过顶升装置151将来料载具121顶升至工作台111顶部工作面的第一区域1111，同时另一侧的芯片测试模块搬运模组152将空的芯片测试模块7传输至工作台111顶部工作面的第三区域1113；

2.载具定位机构将来料载具121和芯片测试模块7定位后，第一抓取机构131开始在来料载具121内抓取芯片：

3.第一抓取机构131将抓取的芯片移动并放置于第三区域1113内，第一检测装置141对芯片进行拍照检测，若芯片匹配预设条件则第二抓取机构132将芯片转移至芯片测试模块7内，若芯片不匹配预设条件则第一抓取机构131将不符合芯片剔除，转移至NG区域1114内；

4.芯片测试模块搬运模组152带动已安装芯片的芯片测试模块7下降，将芯片测试模块7移动至待测模块传输线61上，芯片测试模块7流出至后续的工位；

5.芯片测试模块搬运模组152带动空的芯片测试模块7上升；

6.循环重复上述2-5步骤。

使用本发明的自动上料机，通过设置抓取机构和检测装置，对物料进行自动抓取和检测，使物料自动精确地进行位移，剔除其中不符合预设要求的物料，达到自动上料的效果，自动化程度更高，有效地提高上料效率。

以上所述仅为本实用新型的实施方式，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (13)

1.一种自动上料机，其特征在于，所述自动上料机包括上料控制系统、机架、抓取机构以及检测装置；

所述上料控制系统用于控制所述抓取机构以及所述检测装置的运行；

所述机架用于承载所述抓取机构以及所述检测装置；

所述抓取机构用于抓取物料，且对所述物料进行位移；

所述检测装置用于在所述物料的位移过程中对所述物料进行检测。

2.根据权利要求1所述的自动上料机，其特征在于，

所述机架包括工作台和安装架，所述安装架固定于所述工作台顶部；

所述工作台顶部的一侧为第一区域，与所述第一区域相对的另一侧为第二区域，所述第一区域和所述第二区域之间为第三区域；

所述检测装置设置于所述第三区域内；

所述抓取机构设置于所述安装架上。

3.根据权利要求2所述的自动上料机，其特征在于，所述自动上料机还包括载具，所述载具用于放置所述物料；

所述载具包括来料载具和芯片测试模块，所述来料载具内放置有物料，所述抓取机构用于将所述物料经所述第三区域转移至所述芯片测试模块内；

所述来料载具固定于所述第一区域内，所述芯片测试模块固定于所述第二区域内。

4.根据权利要求3所述的自动上料机，其特征在于，所述抓取机构包括第一抓取机构和第二抓取机构；

所述第一抓取机构用于抓取位于所述来料载具内的所述物料，且将所述物料移动至所述第三区域；

所述第二抓取机构用于抓取位于所述第三区域内的所述物料，并将所述物料移动至位于所述第二区域的所述芯片测试模块内。

5.根据权利要求4所述的自动上料机，其特征在于，所述第一抓取机构和所述第二抓取机构均包括第一导轨、第一电机、变距吸盘模组、伸缩气缸和丝杆模组；

所述第一导轨固定于所述安装架上，所述变距吸盘模组能够沿所述第一导轨滑动；

所述第一电机用于带动所述伸缩气缸运动，所述伸缩气缸能够带动所述变距吸盘模组沿所述丝杆模组进行上下运动。

6.根据权利要求5所述的自动上料机，其特征在于，所述抓取机构还包括第二导轨和第二电机，所述第二电机用于带动所述第一抓取机构沿所述第二导轨滑动；

所述第一导轨与所述第二导轨相垂直。

7.根据权利要求3所述的自动上料机，其特征在于，所述检测装置包括第一检测装置，所述第一检测装置设置于所述第三区域内，用于对进入所述第三区域内的所述物料进行检测。

8.根据权利要求7所述的自动上料机，其特征在于，所述工作台顶部还设有第一出入口和第二出入口，所述来料载具经所述第一出入口在所述工作台顶面和底部之间移动，所述芯片测试模块经所述第二出入口在所述工作台顶面和底部之间移动；

所述第二出入口一侧还设有第二检测装置，所述第二检测装置用于对所述芯片测试模块的位置进行检测。

9.根据权利要求8所述的自动上料机，其特征在于，所述第一检测装置和所述第二检测装置为CCD传感器、霍尔传感器或行程开关其中的任一种。

10.根据权利要求8所述的自动上料机，其特征在于，所述自动上料机还包括传输机构，所述传输机构包括顶升装置；

所述工作台底部与所述第一出入口相对处设有上料盒，所述来料载具放置于所述上料盒内，由所述顶升装置带动运动；

所述顶升装置包括第三电机和气缸组件，所述第三电机用于带动所述气缸组件运动，所述气缸组件推动所述上料盒向上运动，使所述来料载具经所述第一出入口上升至所述第一区域内。

11.根据权利要求10所述的自动上料机，其特征在于，所述传输机构还包括芯片测试模块搬运模组；

所述芯片测试模块搬运模组设于所述工作台底部，与所述第二出入口相对；

所述芯片测试模块搬运模组包括第三电机、第三导轨、滑块和搬运平台，所述第三电机带动所述滑块沿所述第三导轨滑动，所述搬运平台与所述滑块固定为一体，所述搬运平台承载所述芯片测试模块经所述第二出入口上升或下降。

12.根据权利要求2所述的自动上料机，其特征在于，所述自动上料机还包括载具定位机构；

所述载具定位机构包括驱动件和夹具，所述驱动件用于驱动所述夹具位移，所述夹具的两端分别与所述载具相邻的两侧相抵接，从而将所述载具固定于所述工作台上。

13.根据权利要求2所述的自动上料机，其特征在于，所述自动上料机还包括芯片测试模块开锁装置，用于对所述芯片测试模块进行解锁；

所述芯片测试模块开锁装置包括驱动装置、传动件和拉杆；

所述拉杆的一端固定于所述传动件上，另一端与所述芯片测试模块的定位块相抵接；

所述驱动装置用于带动所述传动件运动；

所述传动件的运动方向为所述拉杆远离所述芯片测试模块的方向。

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