CN214252431U - 一种接触电阻测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种接触电阻测试装置，包括：上测试头和下测试头，所述下测试头固定设置，所述上测试头被配置为可移动地相对设于所述下测试头的上方；升降模组，用于驱动所述上测试头作指向所述下测试头的移动，并在所述上测试头降落至与置于所述下测试头上的被测产品的表面接触时，能够卸除传递给所述上测试头的驱动力；质量块，用于对降落在被测产品表面上的所述上测试头提供垂直方向上的固定荷载。本实用新型能够确保在测试头与产品表面之间形成稳定的接触压力，因而保证了测试压力的准确性和测试结果的一致性，不仅能快速准确地测出电阻值，且操作极为方便。

Description

一种接触电阻测试装置

技术领域

本实用新型涉及一种用于电学测试领域的接触电阻测试装置。

背景技术

目前，针对表面具有金属覆膜(镀层)的产品(例如电路板)，往往需要进行接触电阻测试。在使用测试设备进行接触电阻测试时，测试设备上的测试头(探针)与被测试产品表面之间的接触压力大小，对接触电阻的测量结果具有重要影响。

为了保证重复性测试时多次测量值之间的一致性，需要对测试头压到产品表面上时的接触压力作出一个适当的规定，并采取一定的手段对该接触压力的大小是否满足要求进行检测。

现有的测试设备通常是采用压力机构对测试头(或对产品)进行施压，使测试头以一定的压力与产品表面接触进行测试，同时，采用压力传感器对压力机构的施力大小进行检测。

然而，上述现有测试方式，并不能确保在测试头与产品表面之间形成稳定的接触压力，并由此造成重复性测试时多次测量值之间的一致性较差问题产生，这经常会导致在产品供方与客户之间因测试方法的差异而产生质量异议。

因此，设计一种能够保证测试时接触压力稳定性的新型接触电阻测试装置，就成为业界的共同需要。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了克服现有技术的不足，提供一种接触电阻测试装置。

本实用新型实现上述目的的一种技术方案是：

一种接触电阻测试装置，包括：

上测试头和下测试头，所述下测试头固定设置，所述上测试头被配置为可移动地相对设于所述下测试头的上方；

升降模组，用于驱动所述上测试头作指向所述下测试头的移动，并在所述上测试头降落至与置于所述下测试头上的被测产品的表面接触时，能够卸除传递给所述上测试头的驱动力；

质量块，用于对降落在被测产品表面上的所述上测试头提供垂直方向上的固定荷载。

进一步地，所述升降模组包括动力机构和导向机构；其中，所述导向机构与所述上测试头相连，用于引导所述上测试头沿其导向移动，所述动力机构设有运动部，所述运动部自下方抵接于所述导向机构上，并在带动所述导向机构及其连接的所述上测试头下降与被测产品的表面接触时，脱离所述导向机构。

进一步地，所述导向机构包括分立于所述上测试头两侧的一副导轨，对应设于所述导轨上的滑块，以及连接于两侧所述滑块之间的支架，所述上测试头设于所述支架的下表面上，所述运动部自下方抵接于所述支架上。

进一步地，所述动力机构还设有本体，所述运动部可移动地容于所述本体中，所述支架包括相连的第一支架部和第二支架部，所述第一支架部的两端连接所述滑块，所述上测试头设于所述第一支架部的下表面上，所述第一支架部上设有过孔，所述第二支架部设于所述过孔的上方且与所述第一支架部保持一定距离，所述本体穿设于所述过孔中，所述运动部被配置为在升起时将所述第二支架部及其连接的所述第一支架部沿所述导轨顶起，使所述上测试头与被测产品的上表面相分离，以及在下降至所述上测试头与被测产品的上表面相接触时继续向所述本体中回缩，使得所述运动部以及所述本体与所述第二支架部之间保持分离状态进行测试。

进一步地，两个所述动力机构分别与所述支架配合，并分置位于所述上测试头的两侧。

进一步地，所述动力机构包括电动推杆，所述运动部为所述电动推杆的推杆部。

进一步地，所述升降模组和所述下测试头设于一底座上。

进一步地，所述质量块包括砝码，所述砝码置于所述第一支架部上表面上的定位槽中，并位于所述上测试头的正上方。

进一步地，还包括：垫柱，用于对产品的下表面进行支撑，以保持所述产品被放置在所述下测试头上时处于平整状态。

进一步地，还包括：电控按钮，用于控制所述电动推杆的启闭。

相比现有技术，本实用新型具有以下优点：

(1)利用质量块具有的物理特性来施加压力，能够确保在测试头与产品表面之间形成稳定的接触压力，因而保证了测试压力的准确性，且重复性测试结果的一致性很高，能够快速准确地测出电阻值，从而消除了因测试方法的差异而产生的质量异议。

(2)将电动推杆的运动原理与具有独特形式的支架相结合，可在质量块下降过程中有效避免对产品造成冲击，且操作极为方便。

附图说明

图1为本实用新型一较佳实施例的一种接触电阻测试装置的结构示意图。

图2为本实用新型一较佳实施例的一种升降模组的配置结构示意图。

图3为本实用新型一较佳实施例的一种支架的结构示意图。

图4为本实用新型一较佳实施例的一种接触电阻测试装置的使用状态示意图。

图中1.电控按钮，2.立板，3.推杆部，4.第二支架部，5.上测试头，6.砝码，7.过孔，8.导轨，9.升降模组，10.侧板，11.滑块，12. 底座，13.第一支架部，14.垫柱，15.下测试头，16.本体，17.定位槽，18.产品。

具体实施方式

本实用新型的核心思想在于，本实用新型提供一种接触电阻测试装置，通过升降模组驱动上测试头以及置于上测试头之上的质量块下降，升降模组能够在上测试头降落至与置于下测试头上的被测产品的表面接触时，自动卸除传递给上测试头的驱动力，因而能够利用质量块的自身重力作用，通过上测试头对置于下测试头上的产品表面施加固定的压力，从而能够确保在测试头与产品表面之间形成稳定的接触压力，由此保证了测试结果的准确性。

为了能更好地对本实用新型的技术方案进行理解，下面通过具体的实施例进行详细的说明。

请参阅图1。本实用新型的一种接触电阻测试装置，可包括：底座12，安装在底座12上的下测试头15和升降模组9，安装在升降模组9上的上测试头5和质量块等主要结构组成部分。

请参阅图1。下测试头15通常可为柱形，并可通过其下端安装在底座12的上表面上。

上测试头5可通过其上端安装在升降模组9上，并相对设于下测试头15的上方。

质量块置于升降模组9上，用于提供垂直方向上的固定荷载。

升降模组9可带动上测试头5作指向下测试头15的上下移动，并可在上测试头5降落至与放置于下测试头15上的被测产品18(参见图4)的表面相接触后，自动卸除对下测试头15施加的驱动力，使得上测试头5能够在具有固定荷载的质量块的静压作用下，对放置于下测试头15上的被测产品18的表面进行施压，并在此状态下进行接触电阻测试。

请参阅图1。在一优选实施方式中，升降模组9可包括动力机构和导向机构。其中，导向机构可通过设有的支架与上测试头5相连，用于引导上测试头5沿导向机构导向移动。动力机构设有运动部，运动部可自下方抵接于导向机构的第一支架部13上，并在带动导向机构及其连接的上测试头5下降与被测产品18的表面接触时，脱离导向机构的第二支架部4。

请参阅图1并结合参阅图2。在一优选实施例中，导向机构可包括分立于上测试头5两侧的一副导轨8，两个导轨8上对应设有与导轨8相配合的滑块11。两个导轨8可分别通过一个侧板10竖直安装在底座12上，形成一对平行导轨8。

请参阅图1并结合参阅图3。在一优选实施例中，导向机构还包括连接于两侧滑块11之间的支架。其中，上测试头5可通过其上端安装在第一支架部13的下表面上。

请参阅图1-图3。在一优选实施例中，动力机构还设有本体16，运动部可移动地容于本体16中。例如，动力机构可包括电动推杆，运动部即为电动推杆的推杆部3。

在一优选实施例中，支架还可包括相连的第一支架部13和第二支架部4。其中，第一支架部13可采用横梁结构，第一支架部13的两端分别连接对应侧的一个滑块11。上测试头5可安装在第一支架部13下表面的中部上。在第一支架部13上可设有过孔7，过孔7用于容纳电动推杆的外壳(本体16)，使得电动推杆能够以可移动的方式在过孔7中穿过。

第二支架部4设于过孔7的上方，第二支架部4可采用例如板式结构；并且，第二支架部4可通过连接件例如立板2连接在第一支架部13的上表面上，从而使得第二支架部4的下表面与第一支架部13 的上表面之间保持一定距离。

将电动推杆的本体16穿设于过孔7中，电动推杆的推杆部3即可在从本体(电动推杆)16中伸出时，自下方抵接于第二支架部4的下表面上，从而可将第二支架部4顶起，连带使与第二支架部4连接的第一支架部13也被顶起，并沿导轨8向上滑动，使第一支架部13 上的上测试头5与被测产品18的上表面相分离。反之，当需要进行测试时，控制使电动推杆的推杆部3向本体16中缩回，同时，第二支架部4将跟随推杆部3的回缩而下降，连带使与第二支架部4连接的第一支架部13也随之下降，并沿导轨8向下滑动，使第一支架部 13上的上测试头5降至与被测产品18的上表面相接触而停止。此时，控制使推杆部3继续向本体16中回缩，使推杆部3以及本体16与第二支架部4之间相上下分离。

上述状态下，产品18的上表面上将只受到分别来自上测试头5、支架以及质量块自身重量带来的固定重力作用，因而能够确保在上、下测试头5、15与产品18表面之间形成稳定的接触压力，并由此保证了测试压力的准确性。

请参阅图1。在一优选实施例中，可在上测试头5的两侧各设置一个电动推杆，每个电动推杆分别在上测试头5的两侧穿过第一支架部13上的一个过孔7与支架配合，可保证提供高精度的升降移动控制。

请参阅图1。在一优选实施例中，质量块可包括砝码6，并可根据设定的压力在第一支架部13上配置一定质量的一至多个砝码6。

请参阅图3。在一优选实施例中，在对应上测试头5正上方位置的第一支架部13的上表面上，还可加工出一个定位槽17，将砝码6 堆叠起来放置在定位槽17中，可保持升降过程中的相对稳定性，同时也具有了安全保障。

请参阅图1和图4。进一步地，还可配置例如一对垫柱14；垫柱 14可用于对产品18的下表面进行支撑，以保持例如片状产品18被放置在下测试头15上进行测试时处于平整状态，防止产品18的边部向下弯曲而影响测试精度。

在其他优选实施例中，还可设置一个电控按钮1；将电控按钮1 与电动推杆之间形成电连接，即可用于控制电动推杆的启闭，方便操作。

请参阅图4。使用本实用新型时，可操纵电控按钮1，使电动推杆开启，电动推杆的推杆部3以一定速度上升，并抵触到第二支架部 4，继而将整个支架沿导轨8逐渐抬升，使上测试头5逐渐远离下测试头15。当推杆部3的上升行程到位时，上测试头5被定位。

然后，将需要测试的产品18，例如呈片状的电路板产品18放到下测试头15上，并使产品18上的被测试镀层区域与下测试头15对准。同时，利用垫柱14对产品18边部进行支撑，使产品18处于平面状态。

接着，再次操纵电控按钮1，为使电动推杆关闭，电动推杆的推杆部3将以一定速度回缩，使支架随着推杆部3沿导轨8逐渐下降。

在电动推杆的推杆部3回缩过程中，上测试头5将会接触到产品 18表面；此时，推杆部3因尚未达到回缩行程末端而将继续回缩，从而与已处于停滞状态的支架的第二支架部4发生分离。

这时，就可利用放置在第二支架部4上的砝码6，对上测试头5 施加固定的重力，故可以在产品18上形成稳定的压力，即可用于进行高一致性的重复性测试，并可得到较为准确的测试结果。

本技术领域中的普通技术人员应当认识到，以上的实施例仅是用来说明本实用新型，而并非用作为对本实用新型的限定，只要在本实用新型的实质精神范围内，对以上实施例的变化、变型都将落在本实用新型的权利要求书范围内。

Claims (10)

1.一种接触电阻测试装置，其特征在于，包括：

上测试头和下测试头，所述下测试头固定设置，所述上测试头被配置为可移动地相对设于所述下测试头的上方；

升降模组，用于驱动所述上测试头作指向所述下测试头的移动，并在所述上测试头降落至与置于所述下测试头上的被测产品的表面接触时，能够卸除传递给所述上测试头的驱动力；

质量块，用于对降落在被测产品表面上的所述上测试头提供垂直方向上的固定荷载。

2.根据权利要求1所述的接触电阻测试装置，其特征在于，所述升降模组包括动力机构和导向机构；其中，所述导向机构与所述上测试头相连，用于引导所述上测试头沿其导向移动，所述动力机构设有运动部，所述运动部自下方抵接于所述导向机构上，并在带动所述导向机构及其连接的所述上测试头下降与被测产品的表面接触时，脱离所述导向机构。

3.根据权利要求2所述的接触电阻测试装置，其特征在于，所述导向机构包括分立于所述上测试头两侧的一副导轨，对应设于所述导轨上的滑块，以及连接于两侧所述滑块之间的支架，所述上测试头设于所述支架的下表面上，所述运动部自下方抵接于所述支架上。

4.根据权利要求3所述的接触电阻测试装置，其特征在于，所述动力机构还设有本体，所述运动部可移动地容于所述本体中，所述支架包括相连的第一支架部和第二支架部，所述第一支架部的两端连接所述滑块，所述上测试头设于所述第一支架部的下表面上，所述第一支架部上设有过孔，所述第二支架部设于所述过孔的上方且与所述第一支架部保持一定距离，所述本体穿设于所述过孔中，所述运动部被配置为在升起时将所述第二支架部及其连接的所述第一支架部沿所述导轨顶起，使所述上测试头与被测产品的上表面相分离，以及在下降至所述上测试头与被测产品的上表面相接触时继续向所述本体中回缩，使得所述运动部以及所述本体与所述第二支架部之间保持分离状态进行测试。

5.根据权利要求4所述的接触电阻测试装置，其特征在于，两个所述动力机构分别与所述支架配合，并分置位于所述上测试头的两侧。

6.根据权利要求2-5任意一项所述的接触电阻测试装置，其特征在于，所述动力机构包括电动推杆，所述运动部为所述电动推杆的推杆部。

7.根据权利要求1所述的接触电阻测试装置，其特征在于，所述升降模组和所述下测试头设于一底座上。

8.根据权利要求4所述的接触电阻测试装置，其特征在于，所述质量块包括砝码，所述砝码置于所述第一支架部上表面上的定位槽中，并位于所述上测试头的正上方。

9.根据权利要求1所述的接触电阻测试装置，其特征在于，还包括：垫柱，用于对产品的下表面进行支撑，以保持所述产品被放置在所述下测试头上时处于平整状态。

10.根据权利要求6所述的接触电阻测试装置，其特征在于，还包括：电控按钮，用于控制所述电动推杆的启闭。

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