CN213986731U - 一种简易对接探针检具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种简易对接探针检具，包括固定在机架上的测试台、若干只探针以及弹性按压组件，测试台两侧通过定位销和锁紧螺栓配合定位，测试台中部设置有芯片槽，内部放置待检测的芯片，锁紧螺栓套设有定位弹簧，芯片槽内对应芯片引脚位置处均竖直方向开设有探针引导孔，弹性按压组件包括按压气缸、升降板、导杆导套组件以及按压杆，按压杆包括弹性按压杆和刚性按压杆，弹性按压杆包括橡胶压头、压杆、缓冲弹簧和压筒，该简易对接探针检具可将芯片快速放置并定位在测试台上，并与测试台下端面模块化的探针对接，利用弹性按压组件定位缓速锁紧芯片，保证芯片不受损坏，再由测试台下降使芯片引脚与探针主动接触，并实施加电测试，实用方便。

Description

一种简易对接探针检具

技术领域

本实用新型涉及工装夹具设备技术领域，具体涉及一种简易对接探针检具。

背景技术

随着电子元器件市场的蓬勃发展，各类电子产品视听设备开始普及人们生活，电子芯片作为电子产品中必不可少的核心部件，对于芯片的测试也成为厂商重点关注的工程，包括外观检查、加电检测、性能检测、抗疲劳性检测等等，其中，对于加电检测环节，能够将芯片内部晶体管的良性完全检测，并且结合指令信号能够判定芯片性能是否良好，因此为了加快芯片检测的效率，针对每一只芯片都要进行检测的情况下，需要设计一种高效的快速与芯片引脚对接的检测治具，帮助厂商对芯片实施高效检测。

实用新型内容

本实用新型目的：为了解决背景技术中的问题，我们设计一种简易对接探针检具，可将芯片快速放置并定位在测试台上，并与测试台下端面模块化的探针对接，利用弹性按压组件定位锁紧芯片后实施加电测试，实用方便。

为解决上述问题采取的技术方案是：

一种简易对接探针检具，包括固定在机架上的测试台、若干只探针以及弹性按压组件。

所述测试台两侧通过定位销和锁紧螺栓配合定位，使得测试台保持水平，所述测试台中部设置有芯片槽，内部放置待检测的芯片，所述锁紧螺栓套设有定位弹簧，用于配合弹性按压组件将放置在芯片槽内的芯片按压夹紧，所述芯片槽内对应芯片引脚位置处均竖直方向开设有探针引导孔，用于配合固定在探针盒上的若干只探针穿入，使探针与待检测的芯片引脚对接实现电连接，

所述弹性按压组件固定在支撑架上，包括按压气缸、升降板、导杆导套组件以及按压杆，所述按压气缸固定在支撑架上，其顶杆竖直升降，并与升降板垂直固连，带动升降板上下升降，所述升降板后端与导套固连，导套与竖直固定在机架上的导杆配合上下滑移动作，所述按压杆竖直固定在升降板下端面，包括弹性按压杆和刚性按压杆，所述弹性按压杆包括橡胶压头、压杆、缓冲弹簧和压筒，橡胶压头与待检测的芯片上端面配合，所述刚性按压杆与测试台周边实施按压配合。

进一步地，所述芯片槽四角还固定有限位柱，上端设有圆角，方便放置芯片并且定位芯片位置。

进一步地，所述探针包括探针头、探针弹簧以及探针筒，探针头可伸缩活动，探针筒尾部与检测缆线电连接。

本实用新型的有益效果是：

该简易对接探针检具可将芯片快速放置并定位在测试台上，并与测试台下端面模块化的探针对接，利用弹性按压组件定位缓速锁紧芯片，保证芯片不受损坏，再由测试台下降使芯片引脚与探针主动接触，并实施加电测试，实用方便。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。

图1为实施例简易对接探针检具的结构示意图；

图2为图1中A处的局部放大图；

图3为实施例所述升降板下压状态的结构示意图；

图4为图3中B处的局部放大图；

图5为本实施例所述测试台的俯视图；

其中，1-机架，2-锁紧螺栓，3-复位弹簧，4-刚性按压杆，5-导杆，6-顶杆，7-按压气缸，8-支撑架，9-弹性按压杆，10-升降板，11-导套，12-芯片，13-测试台，14-定位弹簧，15-探针盒，16-探针，17-芯片槽，18-限位柱，19-引脚，20-探针筒，21-探针弹簧，22-探针头，23-探针引导孔，24-橡胶压头，25-缓冲弹簧，26-压筒，27-压杆，28-定位销。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。

请参阅图1-5，该简易对接探针16检具包括固定在机架1上的测试台13、若干只探针16以及弹性按压组件。

具体地说，所述测试台13两侧通过定位销28和锁紧螺栓2配合定位，使得测试台13保持水平，所述测试台13中部设置有芯片槽17，内部放置待检测的芯片12，所述锁紧螺栓2套设有定位弹簧14，用于配合弹性按压组件将放置在芯片槽17内的芯片12按压夹紧，所述芯片槽17内对应芯片引脚19位置处均竖直方向开设有探针16引导孔，用于配合固定在探针盒15上的若干只探针16穿入，使探针16与待检测的芯片引脚19对接实现电连接，所述芯片槽17四角还固定有限位柱18，上端设有圆角，方便放置芯片12并且定位芯片12位置，所述探针16包括探针头22、探针弹簧21以及探针筒20，探针头22可伸缩活动，探针筒20尾部与检测缆线电连接，所述弹性按压组件固定在支撑架8上，包括按压气缸7、升降板10、导杆5导套11组件以及按压杆27，所述按压气缸7固定在支撑架8上，其顶杆6竖直升降，并与升降板10垂直固连，带动升降板10上下升降，所述升降板10后端与导套11固连，导套11与竖直固定在机架1上的导杆5配合上下滑移动作，所述按压杆27竖直固定在升降板10下端面，包括弹性按压杆9和刚性按压杆4，所述弹性按压杆9包括橡胶压头24、压杆27、缓冲弹簧25和压筒26，橡胶压头24与待检测的芯片12上端面配合，保证而芯片引脚与探针接触时缓冲撞击力，降低芯片引脚的损伤，所述刚性按压杆4与测试台13周边实施按压配合，刚性按压杆与缓冲结构，与测试台竖直方向直接按压时，由锁紧螺栓套设的定位弹簧缓冲撞击力，保证设备安全和延迟设备使用寿命。

工作原理是：将芯片带有引脚的一面向下放置在芯片槽内，利用限位柱定位芯片四角，按压气缸的顶杆下压，升降板中部的弹性按压杆先与芯片上端面接触实施缓速安全方式按压，外周的刚性按压杆再与测试台四周按压，并带动测试台下降，使得探针上端的探针头穿过探针引导孔后，与芯片下端的待测引脚接触，而探针外接测试设备，即可实施加电检测作业。

上面结合附图对本实用新型的实施方式作了详细说明，但是本实用新型并不限于上述实施方式，在本领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本实用新型宗旨的前提下做出各种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (4)

1.一种简易对接探针检具，包括固定在机架上的测试台、若干只探针以及弹性按压组件，其特征在于：

所述测试台两侧通过定位销和锁紧螺栓配合定位，所述测试台中部设置有芯片槽，内部放置待检测的芯片，所述锁紧螺栓套设有定位弹簧，所述芯片槽内对应芯片引脚位置处均竖直方向开设有探针引导孔，

所述弹性按压组件固定在支撑架上，包括按压气缸、升降板、导杆导套组件以及按压杆，所述按压杆竖直固定在升降板下端面，包括弹性按压杆和刚性按压杆，所述弹性按压杆包括橡胶压头、压杆、缓冲弹簧和压筒，橡胶压头与待检测的芯片上端面配合，所述刚性按压杆与测试台周边实施按压配合。

2.根据权利要求1所述的简易对接探针检具，其特征在于：所述按压气缸固定在支撑架上，其顶杆竖直升降，并与升降板垂直固连，带动升降板上下升降，所述升降板后端与导套固连，导套与竖直固定在机架上的导杆配合上下滑移动作。

3.根据权利要求1所述的简易对接探针检具，其特征在于：所述芯片槽四角还固定有限位柱，上端设有圆角。

4.根据权利要求1所述的简易对接探针检具，其特征在于：所述探针包括探针头、探针弹簧以及探针筒，探针头可伸缩活动，探针筒尾部与检测缆线电连接。

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