CN213932361U - 一种三端子贴片元器件的共面度检测治具及其套件 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种三端子贴片元器件的共面度检测治具及其套件，用于对三端子贴片元器件进行共面度检测，三端子贴片元器件包括共用PIN端子、PIN1端子和PIN2端子，共面度检测治具包括治具基体、共用PIN测试电极、PIN1测试电极、PIN2测试电极、测试电路组件，共用PIN测试电极、PIN1测试电极、PIN2测试电极分别设置在治具基体的上表面上，测试电路组件包括第一测试电路和/或第二测试电路，第一测试电路的两端分别与共用PIN测试电极和PIN1测试电极电连接，第二测试电路的两端分别与共用PIN测试电极和PIN2测试电极电连接，共用PIN测试电极与PIN1测试电极和PIN2测试电极中的至少一个的上表面是共面的。本实用新型去除了人为因素影响，而且效率得到了有效提高。

Description

一种三端子贴片元器件的共面度检测治具及其套件

技术领域

本实用新型涉及贴片元器件技术领域，尤其涉及一种三端子贴片元器件的共面度检测治具及其套件。

背景技术

目前行业内关于三个端子类产品的共面度检测，通常将产品放在平台上，然后目测是否有缝隙，如果有缝隙，均需要用塞尺确认端子与平台之间缝隙是否超过标准管控范围，如果没超过管控范围则为合格品，如果超过管控范围则为不合格品。这种检测方法受人为因素(人的情绪因素、塞尺手法、视觉疲劳等)影响，可能导致判断误差较大(因错判而流出的风险高，误判导致合格率低)，并且效率低。

以上背景技术内容的公开仅用于辅助理解本实用新型的构思及技术方案，其并不必然属于本专利申请的现有技术，在没有明确的证据表明上述内容在本专利申请的申请日已经公开的情况下，上述背景技术不应当用于评价本申请的新颖性和创造性。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型提出一种三端子贴片元器件的共面检测治具及其套件，能够方便地对三端子贴片元器件进行共面检测，去除人为因素影响，而且效率得到有效提高。

为了达到上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

本实用新型的一个实施例公开了一种三端子贴片元器件的共面度检测治具，用于对所述三端子贴片元器件进行共面度检测，所述三端子贴片元器件包括共用 PIN端子、PIN1端子和PIN2端子，所述共面度检测治具包括治具基体、共用 PIN测试电极、PIN1测试电极、PIN2测试电极、测试电路组件，所述共用PIN 测试电极、所述PIN1测试电极、所述PIN2测试电极分别设置在所述治具基体的上表面上，且所述共用PIN测试电极、所述PIN1测试电极和所述PIN2测试电极的位置与所述共用PIN端子、所述PIN1端子和所述PIN2端子的位置分别一一对应，其中所述测试电路组件包括第一测试电路和/或第二测试电路，所述第一测试电路的两端分别与所述共用PIN测试电极和所述PIN1测试电极电连接，所述第二测试电路的两端分别与所述共用PIN测试电极和所述PIN2测试电极电连接，所述共用PIN测试电极与所述PIN1测试电极和所述PIN2测试电极中的至少一个的上表面是共面的。

优选地，所述共用PIN测试电极与所述PIN1测试电极和所述PIN2测试电极的上表面均是共面的，且所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路。

优选地，所述共用PIN测试电极与所述PIN2测试电极的上表面是共面的，所述PIN1测试电极的上表面比所述共用PIN测试电极的上表面高出预设高度，且所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路，或者仅包括第一测试电路。

优选地，所述共用PIN测试电极与所述PIN1测试电极的上表面是共面的，所述PIN2测试电极的上表面比所述共用PIN测试电极的上表面高出预设高度，且所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路，或者仅包括第二测试电路。

优选地，所述预设高度是所述三端子贴片元器件的共面度标准高度。

优选地，所述预设高度是0.01～0.5mm。

优选地，所述第一测试电路包括相互电连接的第一电源和第一指示灯，所述第二测试电路包括相互电连接的第二电源和第二指示灯。

本实用新型的另一个实施例公开了一种三端子贴片元器件的共面度检测套件，用于对三端子贴片元器件进行共面度检测，包括三个上述的共面度检测治具，其中第一个所述共面度检测治具的所述共用PIN测试电极与所述PIN1测试电极和所述PIN2测试电极的上表面均是共面的，且其中的所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路；第二个所述共面度检测治具的所述共用PIN测试电极与所述PIN2测试电极的上表面是共面的且所述PIN1测试电极的上表面比所述共用PIN测试电极的上表面高出预设高度，且其中的所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路，或者仅包括第一测试电路；第三个所述共面度检测治具的所述共用PIN测试电极与所述PIN1测试电极的上表面是共面的且所述PIN2测试电极的上表面比所述共用PIN测试电极的上表面高出预设高度，且其中的所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路，或者仅包括第一测试电路。

优选地，所述预设高度是所述三端子贴片元器件的共面度标准高度。

优选地，所述第一测试电路包括相互电连接的第一电源和第一指示灯，所述第二测试电路包括相互电连接的第二电源和第二指示灯。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：本实用新型公开的三端子贴片元器件的共面检测治具，通过将三端子贴片元器件水平放置在共面检测治具上即可确认三端子贴片元器件的三个端子是否共面，去除了人为因素的影响，而且效率得到了有效提高。

在进一步的方案中，通过将共用PIN测试电极与PIN1测试电极和PIN2测试电极的上表面设置为不同情况的不同治具，可以分别确认三端子贴片元器件的三个端子是否共面、共面度的大小以及共面度的位置；并公开了包括多种不同的治具的三端子贴片元器件的共面度检测套件，可以精确确认三端子贴片元器件的三个端子的共面度情况，包括三个端子是否共面、共面度的大小以及共面度的位置。

附图说明

图1是本实用新型优选实施例的三端子贴片电感的共面度检测治具的结构示意图；

图2是三端子贴片电感的结构示意图；

图3是采用本实用新型优选实施例的三端子贴片电感的共面度检测治具对三端子贴片电感的共面度进行检测的示意图；

图4是检测三端子贴片电感的共面度的原理图之一；

图5是检测三端子贴片电感的共面度的原理图之二；

图6是检测三端子贴片电感的共面度的原理图之三。

具体实施方式

为了使本实用新型实施例所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。另外，连接既可以是用于固定作用也可以是用于电路连通作用。

需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多该特征。在本实用新型实施例的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

如图1至图3所示，本实用新型优选实施例公开了一种三端子贴片电感的共面度检测治具10，用于对三端子贴片电感20进行共面度检测，三端子贴片电感 20包括共用PIN端子21、PIN1端子22和PIN2端子23，该三端子贴片电感20 为三点支撑，PIN1端子22和PIN2端子23为实际产品端子，共用PIN端子21 只起支撑作用，其中共用PIN端子21的宽度比PIN1端子22和PIN2端子23的宽度大；共面度检测治具10包括治具基体11、共用PIN测试电极12、PIN1测试电极13、PIN2测试电极14、测试电路组件，共用PIN测试电极12、PIN1测试电极13、PIN2测试电极14分别设置在治具基体11的上表面上，且共用PIN 测试电极12、PIN1测试电极13、PIN2测试电极14的位置与共用PIN端子21、 PIN1端子22和PIN2端子23的位置分别一一对应，其中测试电极包括第一测试电路和/或第二测试电路，第一测试电路包括相互电连接的第一电源和第一指示灯15，第二测试电路包括相互电连接的第二电源和第二指示灯16，第一测试电路的两端分别与共用PIN测试电极12和PIN1测试电极13电连接，第二测试电路的两端分别与共用PIN测试电极12和PIN2测试电极14电连接，共用PIN测试电极12与PIN1测试电极13和PIN2测试电极14中的至少一个的上表面是共面的。

其中在一个实施例中，共用PIN测试电极12与PIN1测试电极13和PIN2 测试电极14的上表面均是共面的，在本实施例中，测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路。

在另一实施例中，共用PIN测试电极12与PIN2测试电极14的上表面是共面的，PIN1测试电极13的上表面比共用PIN测试电极12的上表面高出预设高度，在本实施例中，测试电路组件可包括第一测试电路和第二测试电路，也可仅包括第一测试电路。

在另一个实施例中，共用PIN测试电极12与PIN1测试电极13的上表面是共面的，PIN2测试电极14的上表面比共用PIN测试电极12的上表面高出预设高度，在本实施例中，测试电路组件可包括第一测试电路和第二测试电路，也可仅包括第二测试电路。

在上述实施例中，预设高度是三端子贴片电感20的共面度标准高度，例如 0.01～0.5mm。

本实用新型的优选实施例还公开了一种三端子贴片电感的共面度检测套件，包括三个如上所述的共面度检测治具，其中第一个共面度检测治具的共用PIN 测试电极12与PIN1测试电极13和PIN2测试电极14的上表面均是共面的，结合图4至图6，其中的测试电路组件包括第一测试电路(相互电连接的第一指示灯15和第一电源17)和第二测试电路(相互电连接的第二指示灯16和第二电源18)；第二个共面度检测治具的共用PIN测试电极12与PIN2测试电极14的上表面是共面的，PIN1测试电极13的上表面比共用PIN测试电极12的上表面高出预设高度，其中的测试电路组件可包括第一测试电路(相互电连接的第一指示灯15和第一电源17)和第二测试电路(相互电连接的第二指示灯16和第二电源18)，也可仅包括第一测试电路(相互电连接的第一指示灯15和第一电源 17)；第三个共面度检测治具的共用PIN测试电极12与PIN1测试电极13的上表面是共面的，PIN2测试电极14的上表面比共用PIN测试电极12的上表面高出预设高度，其中的测试电路组件可包括第一测试电路(相互电连接的第一指示灯15和第一电源17)和第二测试电路(相互电连接的第二指示灯16和第二电源18)，也可仅包括第二测试电路(相互电连接的第二指示灯16和第二电源18)。

在上述实施例中，预设高度是三端子贴片电感20的共面度标准高度，例如 0.1～0.5mm。

采用本实用新型的优选实施例的三端子贴片电感的共面度检测套件对三端子贴片电感进行共面度检测的步骤如下：

第一步，采用共用PIN测试电极12与PIN1测试电极13和PIN2测试电极 14的上表面均是共面的第一个共面度检测治具来确认三端子贴片电感的端子之间是否有缝隙，将三端子贴片电感20按图3所示的位置放置在共面度检测治具 10上，使得共用PIN端子21、PIN1端子22和PIN2端子23的位置与共用PIN 测试电极12、PIN1测试电极13、PIN2测试电极14的位置分别一一对应，测试原理如图4所示。如果无缝隙，则第一指示灯15和第二指示灯16均亮；反之，如果有缝隙，有缝隙对应侧的指示灯则不会亮，具体地，PIN1测试电极13与 PIN1端子22之间有无缝隙与第一指示灯15对应，PIN2测试电极14与PIN2端子23之间有无缝隙与第二指示灯16对应。如果第一指示灯15不亮，则将该三端子贴片电感放到第二个共面度检测治具上，即进行第二步；如果第二指示灯 16不亮，则将该三端子贴片电感放到第三个共面度检测治具上，即进行第三步。

第二步，采用共用PIN测试电极12与PIN2测试电极14的上表面是共面的且PIN1测试电极13的上表面比共用PIN测试电极12的上表面高出预设高度(该预设高度即为三端子贴片电感的共面度标准，例如0.2mm)的第二个共面度检测治具来确认该三端子贴片电感的PIN1端子22与其他端子的共面度高度差是否在标准范围内，将三端子贴片电感20按图3所示的位置放置在共面度检测治具 10上，使得共用PIN端子21、PIN1端子22和PIN2端子23的位置与共用PIN 测试电极12、PIN1测试电极13、PIN2测试电极14的位置分别一一对应，测试原理如图5所示。如果PIN1端子22与其他端子的共面度高度差在标准范围内 (也即小于或等于上述预设高度0.2mm，例如0.1mm或0.15mm)，则第一指示灯15亮，否则，第一指示灯15不亮，也即此时PIN1端子22与其他端子的共面度高度差超过该标准范围(也即大于上述预设高度0.2mm，例如0.3mm或0.25mm)。

第三步，采用共用PIN测试电极12与PIN1测试电极13的上表面是共面的且PIN2测试电极14的上表面比共用PIN测试电极12的上表面高出预设高度(该预设高度即为三端子贴片电感的共面度标准，例如0.2mm)的第三个共面度检测治具来确认该三端子贴片电感的PIN2端子23与其他端子的共面度高度差是否在标准范围内，将三端子贴片电感20按图3所示的位置放置在共面度检测治具 10上，使得共用PIN端子21、PIN1端子22和PIN2端子23的位置与共用PIN 测试电极12、PIN1测试电极13、PIN2测试电极14的位置分别一一对应，测试原理如图6所示。如果PIN2端子23与其他端子的共面度高度差在标准范围内 (也即小于或等于上述预设高度0.2mm，例如0.1mm或0.15mm)，则第二指示灯16亮，否则，第二指示灯16不亮，也即此时PIN2端子23与其他端子的共面度高度差超过该标准范围(也即大于上述预设高度0.2mm，例如0.3mm或 0.25mm)。

通过上述步骤，采用本实用新型的优选实施例的三端子贴片电感的共面度检测套件即可方便地实现对三端子贴片电感进行共面检测，具体地，可以确认三端子贴片电感的三个端子是否共面、共面度的大小以及共面度的位置，采用该共面度检测套件，去除了人为因素的影响，而且效率得到了有效提高。

上述优选实施例中公开的共面度检测治具及其套件是应用于对三端子贴片电感的共面度的检测，在其他实施例中，还可以应用于对三端子贴片电阻、三端子贴片电容等其他三端子贴片元器件的共面度的检测。另外上述实施例中的第一指示灯15和第二指示灯16还可以采用其他的具有提醒功能的元器件，例如可以是嗡鸣器或者多种提醒功能元器件的结合。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干等同替代或明显变型，而且性能或用途相同，都应当视为属于本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种三端子贴片元器件的共面度检测治具，其特征在于，用于对所述三端子贴片元器件进行共面度检测，所述三端子贴片元器件包括共用PIN端子、PIN1端子和PIN2端子，所述共面度检测治具包括治具基体、共用PIN测试电极、PIN1测试电极、PIN2测试电极、测试电路组件，所述共用PIN测试电极、所述PIN1测试电极、所述PIN2测试电极分别设置在所述治具基体的上表面上，且所述共用PIN测试电极、所述PIN1测试电极和所述PIN2测试电极的位置与所述共用PIN端子、所述PIN1端子和所述PIN2端子的位置分别一一对应，其中所述测试电路组件包括第一测试电路和/或第二测试电路，所述第一测试电路的两端分别与所述共用PIN测试电极和所述PIN1测试电极电连接，所述第二测试电路的两端分别与所述共用PIN测试电极和所述PIN2测试电极电连接，所述共用PIN测试电极与所述PIN1测试电极和所述PIN2测试电极中的至少一个的上表面是共面的。

2.根据权利要求1所述的三端子贴片元器件的共面度检测治具，其特征在于，所述共用PIN测试电极与所述PIN1测试电极和所述PIN2测试电极的上表面均是共面的，且所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路。

3.根据权利要求1所述的三端子贴片元器件的共面度检测治具，其特征在于，所述共用PIN测试电极与所述PIN2测试电极的上表面是共面的，所述PIN1测试电极的上表面比所述共用PIN测试电极的上表面高出预设高度，且所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路，或者仅包括第一测试电路。

4.根据权利要求1所述的三端子贴片元器件的共面度检测治具，其特征在于，所述共用PIN测试电极与所述PIN1测试电极的上表面是共面的，所述PIN2测试电极的上表面比所述共用PIN测试电极的上表面高出预设高度，且所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路，或者仅包括第二测试电路。

5.根据权利要求3或4所述的三端子贴片元器件的共面度检测治具，其特征在于，所述预设高度是所述三端子贴片元器件的共面度标准高度。

6.根据权利要求3或4所述的三端子贴片元器件的共面度检测治具，其特征在于，所述预设高度是0.01～0.5mm。

7.根据权利要求1至4任一项所述的三端子贴片元器件的共面度检测治具，其特征在于，所述第一测试电路包括相互电连接的第一电源和第一指示灯，所述第二测试电路包括相互电连接的第二电源和第二指示灯。

8.一种三端子贴片元器件的共面度检测套件，其特征在于，用于对三端子贴片元器件进行共面度检测，包括三个如权利要求1所述的共面度检测治具，其中第一个所述共面度检测治具的所述共用PIN测试电极与所述PIN1测试电极和所述PIN2测试电极的上表面均是共面的，且其中的所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路；第二个所述共面度检测治具的所述共用PIN测试电极与所述PIN2测试电极的上表面是共面的且所述PIN1测试电极的上表面比所述共用PIN测试电极的上表面高出预设高度，且其中的所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路，或者仅包括第一测试电路；第三个所述共面度检测治具的所述共用PIN测试电极与所述PIN1测试电极的上表面是共面的且所述PIN2测试电极的上表面比所述共用PIN测试电极的上表面高出预设高度，且其中的所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路，或者仅包括第一测试电路。

9.根据权利要求8所述的三端子贴片元器件的共面度检测套件，其特征在于，所述预设高度是所述三端子贴片元器件的共面度标准高度。

10.根据权利要求8或9所述的三端子贴片元器件的共面度检测套件，其特征在于，所述第一测试电路包括相互电连接的第一电源和第一指示灯，所述第二测试电路包括相互电连接的第二电源和第二指示灯。

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