CN213825887U - 一种半导体晶粒筛选设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种半导体晶粒筛选设备,包括装置框架,所述装置框架的上方设有传输机一,所述传输机一的出料位置的下方设有筛选箱,所述筛选箱的两端设有安装框架,所述筛选箱嵌入在所述安装框架的内部通过螺栓和螺母进行固定,所述安装框架的两端底部设有振动机,所述振动机的底部和所述装置框架通过螺栓和螺母进行固定,所述筛选箱的下方设有传输机二,所述筛选箱的出料口与所述传输机二的进料位置相对应分布。该半导体晶粒筛选设备通过在传输机一和传输机二之间设有筛选箱,能够便捷的把半导体晶粒输送到筛选箱的内部,同时也能够对在对半导体晶粒筛选之后能够立即进行输送收集,提高了对半导体晶粒筛选的便捷性,提高了工作效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体晶粒生产技术领域,具体为一种半导体晶粒筛选设备。
背景技术
现有的半导体晶粒筛选设备在工作的过程中需要手动把半导体晶粒投放到筛选箱的内部,在对半导体晶粒进行筛选之后同样需要进行手动收集合格品,导致整体装置不能够便捷的把半导体晶粒输送到筛选箱的内部,同时也不能够对在对半导体晶粒筛选之后能够立即进行输送收集,降低了对半导体晶粒筛选的便捷性,降低了工作效率。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种半导体晶粒筛选设备,解决了背景技术中所提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种半导体晶粒筛选设备,包括装置框架,所述装置框架的上方设有传输机一,所述传输机一的出料位置的下方设有筛选箱,所述筛选箱的两端设有安装框架,所述筛选箱嵌入在所述安装框架的内部通过螺栓和螺母进行固定,所述安装框架的两端底部设有振动机,所述振动机的底部和所述装置框架通过螺栓和螺母进行固定,所述筛选箱的下方设有传输机二,所述筛选箱的出料口与所述传输机二的进料位置相对应分布。
作为本实用新型的一种优选实施方式,所述筛选箱的两端轴对称设有限位块,所述限位块嵌入在所述安装框架的内部通过螺栓和螺母进行固定。
作为本实用新型的一种优选实施方式,所述传输机二的外部设有收集箱,所述收集箱和所述装置框架通过螺栓和螺母进行固定。
作为本实用新型的一种优选实施方式,所述传输机一和所述传输机二的外部设有机架,所述机架和所述装置框架通过螺栓和螺母进行固定。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:
该半导体晶粒筛选设备通过在传输机一和传输机二之间设有筛选箱,能够便捷的把半导体晶粒输送到筛选箱的内部,同时也能够对在对半导体晶粒筛选之后能够立即进行输送收集,提高了对半导体晶粒筛选的便捷性,提高了工作效率。
附图说明
图1为本实用新型一种半导体晶粒筛选设备的主视图,
图2为本实用新型一种半导体晶粒筛选设备的筛选箱结构安装示意图。
图中:装置框架1、传输机一2、筛选箱3、安装框架4、振动机5、传输机二6、限位块7、收集箱8、机架9。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-2,本实用新型提供一种技术方案:一种半导体晶粒筛选设备,包括装置框架1,所述装置框架1的上方设有传输机一2,所述传输机一2的出料位置的下方设有筛选箱3,所述筛选箱3的两端设有安装框架4,所述筛选箱3嵌入在所述安装框架4的内部通过螺栓和螺母进行固定,所述安装框架4的两端底部设有振动机5,所述振动机5的底部和所述装置框架1通过螺栓和螺母进行固定,所述筛选箱3的下方设有传输机二6,所述筛选箱3的出料口与所述传输机二6的进料位置相对应分布。
请参阅图1和图2,所述筛选箱3的两端轴对称设有限位块7,所述限位块7嵌入在所述安装框架4的内部通过螺栓和螺母进行固定,通过增设的限位块7能够便于对筛选箱3进行安装,提高了筛选箱的稳定性。
请参阅图1,所述传输机二6的外部设有收集箱8,所述收集箱8和所述装置框架1通过螺栓和螺母进行固定,通过增设的收集箱8能够便于对筛选下来的物料进行收集。
请参阅图1,所述传输机一2和所述传输机二6的外部设有机架9,所述机架9和所述装置框架1通过螺栓和螺母进行固定,通过增设的机架9便于对传输机一2和传输机二6进行安装固定,提高传输机一2和传输机二6进行工作过程中的稳定性。
本实用新型一种半导体晶粒筛选设备在使用时首先把半导体晶粒投放到输送机一2上,由输送机一2把半导体晶粒输送到筛选箱3的内部,通过振动机5控制筛选箱3对半导体晶粒进行筛选之后,从筛选箱3内漏下来的符合条件的半导体晶粒置于输送机二6上,再由输送机二6把符合条件的半导体晶粒输送到收集箱8的内部即可
本实用新型的装置框架1、传输机一2、筛选箱3、安装框架4、振动机5、传输机二6、限位块7、收集箱8、机架9部件均为通用标准件或本领域技术人员知晓的部件,其结构和原理都为本技术人员均可通过技术手册得知或通过常规实验方法获知,本实用新型解决的问题是现有的半导体晶粒筛选设备在工作的过程中需要手动把半导体晶粒投放到筛选箱的内部,在对半导体晶粒进行筛选之后同样需要进行手动收集合格品,导致整体装置不能够便捷的把半导体晶粒输送到筛选箱的内部,同时也不能够对在对半导体晶粒筛选之后能够立即进行输送收集,降低了对半导体晶粒筛选的便捷性,降低了工作效率的问题。本实用新型该半导体晶粒筛选设备通过在传输机一和传输机二之间设有筛选箱,能够便捷的把半导体晶粒输送到筛选箱的内部,同时也能够对在对半导体晶粒筛选之后能够立即进行输送收集,提高了对半导体晶粒筛选的便捷性,提高了工作效率。
最后应说明的是:以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (4)
1.一种半导体晶粒筛选设备,其特征在于:包括装置框架(1),所述装置框架(1)的上方设有传输机一(2),所述传输机一(2)的出料位置的下方设有筛选箱(3),所述筛选箱(3)的两端设有安装框架(4),所述筛选箱(3)嵌入在所述安装框架(4)的内部通过螺栓和螺母进行固定,所述安装框架(4)的两端底部设有振动机(5),所述振动机(5)的底部和所述装置框架(1)通过螺栓和螺母进行固定,所述筛选箱(3)的下方设有传输机二(6),所述筛选箱(3)的出料口与所述传输机二(6)的进料位置相对应分布。
2.根据权利要求1所述的一种半导体晶粒筛选设备,其特征在于:所述筛选箱(3)的两端轴对称设有限位块(7),所述限位块(7)嵌入在所述安装框架(4)的内部通过螺栓和螺母进行固定。
3.根据权利要求1所述的一种半导体晶粒筛选设备,其特征在于:所述传输机二(6)的外部设有收集箱(8),所述收集箱(8)和所述装置框架(1)通过螺栓和螺母进行固定。
4.根据权利要求1所述的一种半导体晶粒筛选设备,其特征在于:所述传输机一(2)和所述传输机二(6)的外部设有机架(9),所述机架(9)和所述装置框架(1)通过螺栓和螺母进行固定。
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2020
- 2020-11-19 CN CN202022683300.8U patent/CN213825887U/zh active Active
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