CN213516936U - Ic芯片检测装置的检测机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种IC芯片检测装置的检测机构，其包括机台、视觉检测支架、摄像头、特制光源、检测台和背光源，机台包括顶部的顶板和侧面的斜板，视觉检测支架连接在斜板上，包括光源支架固定座和摄像头固定座，摄像头固定座位于光源支架固定座上方，摄像头连接在摄像头固定座上，用于摄像检测，特制光源连接在光源支架固定座上，包括引脚光源和字符光源，用于发出光方便摄像检测，检测台设置在斜板上，靠近视觉检测支架，用于固定IC芯片接受检测，背光源设置在检测台下方，用于发出光方便摄像检测。本实用新型的IC芯片检测装置的检测机构检测字符时字符光源单独使用，检测引脚时引脚光源和背光源一起使用，检测效果更好。

Description

IC芯片检测装置的检测机构

技术领域

本实用新型涉及芯片检测设备领域，特别涉及一种IC芯片检测装置的检测机构。

背景技术

随着电子元件迅速向微型化、片式化、高性能方向的发展，集成电路IC的外观缺陷检测是电子元件的质量保证，通常在IC植好球，焊接好以后，要对IC的外观进行检测，外观检测是IC生产的一个重要环节，通过外观检测，可以避免由IC外观缺陷导致的IC功能缺陷。现有的IC芯片检测装置检测效果较差，容易出现漏检、错检，故需要提供一种IC芯片检测装置的检测机构来解决上述技术问题。

实用新型内容

本实用新型提供一种IC芯片检测装置的检测机构，以解决现有技术中的IC芯片检测装置检测效果较差，容易出现漏检、错检，以及各个部件的分布不够合理的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案为：一种IC芯片检测装置的检测机构，其包括：

机台，包括顶部的顶板和侧面的斜板，所述顶板与地面平行，顶板和所述斜板夹角为钝角；

视觉检测支架，连接在所述斜板上，包括光源支架固定座和摄像头固定座，所述摄像头固定座位于所述光源支架固定座上方；

摄像头，连接在所述摄像头固定座上，用于摄像检测；

特制光源，连接在所述光源支架固定座上，包括引脚光源和字符光源，用于发出光方便摄像检测；

检测台，设置在所述斜板上，靠近所述视觉检测支架，用于固定IC芯片接受检测；以及，

背光源，设置在所述检测台下方，用于发出光方便摄像检测。

本实用新型所述的IC芯片检测装置的检测机构中，所述检测台上设置有检测轨道、棱镜固定板和棱镜，所述棱镜设置在所述检测轨道两侧，棱镜设置在检测轨道和所述背光源之间，棱镜连接在所述棱镜固定板上，检测轨道用于固定IC芯片接受检测，棱镜用于将折射背光源的光到IC芯片的引脚。

本实用新型所述的IC芯片检测装置的检测机构中，所述检测轨道中部设置有真空吸孔，所述真空吸孔设置在远离所述背光源一侧，真空吸孔用于保障IC芯片检测时不会移动。

本实用新型所述的IC芯片检测装置的检测机构中，所述检测轨道上设置有光电感应器，所述光电感应器靠近所述真空吸孔，所述光电感应器用于感应检测轨道上是否有IC芯片。

本实用新型所述的IC芯片检测装置的检测机构中，所述检测轨道靠近所述背光源一侧设置有倒角，所述倒角用于方便所述背光源照射IC芯片的引脚。

本实用新型所述的IC芯片检测装置的检测机构中，所述检测台四周设置有安装孔和定位孔，所述安装孔用于将检测台连接在所述斜板上，所述定位孔用于保障安装精度。

本实用新型所述的IC芯片检测装置的检测机构中，所述视觉检测支架包括支撑杆，所述支撑杆呈圆柱状，所述光源支架固定座上设置有连接孔，所述连接孔连接在所述支撑杆上，光源支架固定座远离所述特制光源一端设置有开口，所述开口连通连接孔，开口用于方便调节连接孔对支撑杆的夹持力。

本实用新型所述的IC芯片检测装置的检测机构中，所述字符光源呈圆柱状，所述引脚光源呈方块状，字符光源连接在引脚光源下方，引脚光源连接在所述光源支架固定座上。

本实用新型所述的IC芯片检测装置的检测机构中，所述字符光源中部设置有字符光源通孔，所述引脚光源中部设置有引脚光源通孔，所述字符光源通孔连通所述引脚光源通孔，用于方便摄像头进行摄像检测。

本实用新型所述的IC芯片检测装置的检测机构中，所述斜板上设置有光源孔，所述光源孔位于所述检测台下方，所述背光源连接在光源孔内。

本实用新型相较于现有技术，其有益效果为：本实用新型的IC芯片检测装置的检测机构通过设置特制光源，特制光源包括字符光源和引脚光源，检测字符时字符光源单独使用，检测引脚时引脚光源和背光源一起使用，使得摄像头对IC芯片的检测更加清晰，不易出现漏检、错检，检测效果更好。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面对实施例中所需要使用的附图作简单的介绍，下面描述中的附图仅为本实用新型的部分实施例相应的附图。

图1为本实用新型的IC芯片检测装置的检测机构的结构示意图。

图2为本实用新型的IC芯片检测装置的检测机构的检测台和背光源的结构示意图。

图3为本实用新型的IC芯片检测装置的检测机构的特制光源的结构示意图。

图4为本实用新型的IC芯片检测装置的检测机构的字符光源的结构示意图。

其中，1、机台，11、顶板，12、斜板，31、视觉检测支架，32、摄像头，33、特制光源，34、检测台，35、背光源，311、光源支架固定座，312、摄像头固定座，313、支撑杆，331、引脚光源，332、字符光源，341、检测轨道，342、棱镜固定板，343、棱镜，344、安装孔，345、定位孔，3411、真空吸孔，3412、光电感应器，3317、引脚光源通孔，3326、字符光源通孔。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型中所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」、「顶部」以及「底部」等词，仅是参考附图的方位，使用的方向用语是用以说明及理解本实用新型，而非用以限制本实用新型。

本实用新型术语中的“第一”“第二”等词仅作为描述目的，而不能理解为指示或暗示相对的重要性，以及不作为对先后顺序的限制。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

现有技术中的IC芯片检测装置检测效果较差，容易出现漏检、错检。

如下为本实用新型提供的一种能解决以上技术问题的IC芯片检测装置的检测机构的优选实施例。

请参照图1、图2、图3和图4，其中图1为本实用新型的IC芯片检测装置的检测机构的结构示意图，图2为本实用新型的IC芯片检测装置的检测机构的检测台和背光源的结构示意图，图3为本实用新型的IC芯片检测装置的检测机构的特制光源的结构示意图，图4为本实用新型的IC芯片检测装置的检测机构的字符光源的结构示意图。

在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。

本实用新型提供一种IC芯片检测装置的检测机构，其包括机台1、视觉检测支架31、摄像头32、特制光源33、检测台34和背光源35，机台1包括顶部的顶板11和侧面的斜板12，顶板11与地面平行，顶板11和斜板12夹角为钝角；视觉检测支架31连接在斜板12上，包括光源支架固定座311和摄像头固定座312，摄像头固定座312位于光源支架固定座311上方；摄像头32连接在摄像头固定座312上，用于摄像检测；特制光源33连接在光源支架固定座311上，包括引脚光源331和字符光源332，用于发出光方便摄像检测；检测台34设置在斜板12上，靠近视觉检测支架31，用于固定IC芯片接受检测；背光源35设置在检测台34下方，用于发出光方便摄像检测，斜板12上设置有光源孔，光源孔位于检测台34下方，背光源35连接在光源孔内。

参照图1和图2，检测台34上设置有检测轨道341、棱镜固定板342和棱镜343，棱镜343设置在检测轨道341两侧，且位于检测轨道341下方，棱镜343设置在检测轨道341和背光源35之间，背光源35点亮后，一部分光直接照射IC芯片，一部分光通过棱镜343折射到IC芯片引脚处，对IC芯片的引脚照射更加充分，棱镜343连接在棱镜固定板342上，检测轨道341用于固定IC芯片接受检测，棱镜343用于将折射背光源35的光到IC芯片的引脚，检测轨道341靠近背光源35一侧设置有倒角，倒角用于方便背光源35照射IC芯片的引脚，倒角设计方便棱镜343将光折射到IC芯片的引脚。

检测轨道341中部设置有真空吸孔3411，真空吸孔3411设置在远离背光源35一侧，真空吸孔3411用于保障IC芯片检测时不会移动，光电感应器3412感应到IC芯片后，在真空吸孔3411处传递吸力将IC芯片吸住。检测轨道341上设置有光电感应器3412，光电感应器3412靠近真空吸孔3411，光电感应器3412用于感应检测轨道341上是否有IC芯片。

检测台34四周设置有安装孔344和定位孔345，安装孔344用于将检测台34连接在斜板12上，定位孔345用于保障安装精度，安装孔344通过螺栓连接在斜板12上，定位孔345内安置定位销。

参照图1，视觉检测支架31包括支撑杆313，支撑杆313呈圆柱状，光源支架固定座311上设置有连接孔，连接孔连接在支撑杆313上，光源支架固定座311远离特制光源33一端设置有开口，开口连通连接孔，开口用于方便调节连接孔对支撑杆313的夹持力，光源支架固定座311可以沿支撑杆313转动，以及调节在支撑杆313上的位置，进而调节光照效果，摄像头固定座312的原理和光源支架固定座311的原理类似，也可以调节在支撑杆313上的位置。

参照图1、图3和图4，字符光源332呈圆柱状，引脚光源331呈方块状，方便引脚光源331与光源支架固定座311连接，字符光源332连接在引脚光源331下方，引脚光源331连接在光源支架固定座311上。字符光源332中部设置有字符光源通孔3326，引脚光源331中部设置有引脚光源通孔3317，字符光源通孔3326连通引脚光源通孔3317，字符光源通孔3326和引脚光源通孔3317下方正对检测轨道341，上方正对摄像头32，用于方便摄像头32进行摄像检测。

本实用新型的工作原理：IC芯片运输到检测轨道341，检测轨道341上的光电感应器3412感应到IC芯片，检测轨道341上的真空吸孔3411将IC芯片吸住开始检测，特制光源33上字符光源332点亮，摄像头32对IC芯片进行拍照，传递照片信息到后台对比检测，特制光源33上的字符光源332熄灭，引脚光源331点亮，背光源35点亮，摄像头对IC芯片进行拍照，传递照片信息到后台对比检测，检测完毕后，检测轨道341上的真空吸孔3411松开IC芯片，开始等待检测下一个IC芯片。

这样即完成了本优选实施例的IC芯片检测装置的检测机构的工作过程。

综上所述，虽然本实用新型已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本实用新型，本领域的普通技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本实用新型的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (10)

1.一种IC芯片检测装置的检测机构，其特征在于，包括：

机台，包括顶部的顶板和侧面的斜板，所述顶板与地面平行，顶板和所述斜板夹角为钝角；

视觉检测支架，连接在所述斜板上，包括光源支架固定座和摄像头固定座，所述摄像头固定座位于所述光源支架固定座上方；

摄像头，连接在所述摄像头固定座上，用于摄像检测；

特制光源，连接在所述光源支架固定座上，包括引脚光源和字符光源，用于发出光方便摄像检测；

检测台，设置在所述斜板上，靠近所述视觉检测支架，用于固定IC芯片接受检测；以及，

背光源，设置在所述检测台下方，用于发出光方便摄像检测。

2.根据权利要求1所述的IC芯片检测装置的检测机构，其特征在于，所述检测台上设置有检测轨道、棱镜固定板和棱镜，所述棱镜设置在所述检测轨道两侧，棱镜设置在检测轨道和所述背光源之间，棱镜连接在所述棱镜固定板上，检测轨道用于固定IC芯片接受检测，棱镜用于将折射背光源的光到IC芯片的引脚。

3.根据权利要求2所述的IC芯片检测装置的检测机构，其特征在于，所述检测轨道中部设置有真空吸孔，所述真空吸孔设置在远离所述背光源一侧，真空吸孔用于保障IC芯片检测时不会移动。

4.根据权利要求3所述的IC芯片检测装置的检测机构，其特征在于，所述检测轨道上设置有光电感应器，所述光电感应器靠近所述真空吸孔，所述光电感应器用于感应检测轨道上是否有IC芯片。

5.根据权利要求2所述的IC芯片检测装置的检测机构，其特征在于，所述检测轨道靠近所述背光源一侧设置有倒角，所述倒角用于方便所述背光源照射IC芯片的引脚。

6.根据权利要求1所述的IC芯片检测装置的检测机构，其特征在于，所述检测台四周设置有安装孔和定位孔，所述安装孔用于将检测台连接在所述斜板上，所述定位孔用于保障安装精度。

7.根据权利要求1所述的IC芯片检测装置的检测机构，其特征在于，所述视觉检测支架包括支撑杆，所述支撑杆呈圆柱状，所述光源支架固定座上设置有连接孔，所述连接孔连接在所述支撑杆上，光源支架固定座远离所述特制光源一端设置有开口，所述开口连通连接孔，开口用于方便调节连接孔对支撑杆的夹持力。

8.根据权利要求1所述的IC芯片检测装置的检测机构，其特征在于，所述字符光源呈圆柱状，所述引脚光源呈方块状，字符光源连接在引脚光源下方，引脚光源连接在所述光源支架固定座上。

9.根据权利要求1所述的IC芯片检测装置的检测机构，其特征在于，所述字符光源中部设置有字符光源通孔，所述引脚光源中部设置有引脚光源通孔，所述字符光源通孔连通所述引脚光源通孔，用于方便摄像头进行摄像检测。

10.根据权利要求1所述的IC芯片检测装置的检测机构，其特征在于，所述斜板上设置有光源孔，所述光源孔位于所述检测台下方，所述背光源连接在光源孔内。

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