CN213516286U - 一种光学镜头调制传递函数检测设备调平装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种光学镜头调制传递函数检测设备调平装置,包括摄像头支架,采样摄像头、检测支架、测试物治具、被测镜头、分划板、光源、高精密电动XY轴水平滑台、高精密电动Z轴滑台、驱动器、控制器、主控计算机、准直系统支架、准直系统平行光源、准直系统光学反射晶体、光学反射晶体和光学反射镜。本实用新型与现有技术相比的优点在于:结构简单,成本较低,快速动作,节省测试时间,精度高,一致性好。
Description
技术领域
本实用新型涉及光学系统镜头的调制传递函数自动检测设备技术领域,具体是指一种光学镜头调制传递函数检测设备调平装置。
背景技术
调制传递函数、离焦曲线,是评价光学镜头成像质量的重要参数。自动化测试光学镜头的调制传递函数及离焦曲线,是目前高品质镜头生产必须的工艺和品质要求。检测设备各平面相对平行度,影响测试结果准确性。在数据合致、机种切换过程中,方便快速的调平装置是非常需要的。
实用新型内容
本实用新型提供一种结构简单,成本较低,快速动作,节省调试时间,精度高,一致性好的一种光学镜头调制传递函数检测设备调平装置。
本实用新型提供的技术方案为:一种光学镜头调制传递函数检测设备调平装置,包括摄像头支架,采样摄像头、检测支架、测试物治具、被测镜头、分划板、光源、高精密电动XY 轴水平滑台、高精密电动Z轴滑台、驱动器、控制器、主控计算机、准直系统支架、准直系统平行光源、准直系统光学反射晶体、光学反射晶体和光学反射镜,所述高精密电动XY轴水平滑台置于高精密电动Z轴滑台与光源之间,所述分划板位于光源上方,高精密电动XY轴水平滑台能够使分划板在水平XY方向上平移,所述测试物治具位于分划板的上方连接放置于检测支架上,所述检测支架半包围放置于准直系统支架上,所述准直系统平行光源和准直系统光学反射晶体平行放置于准直系统支架上,所述准直系统光学反射晶体位于测试物治具的正上方,所述摄像头支架位于准直系统光学反射晶体的上方,连接安装采样摄像头。
进一步的,所述被测镜头、光学反射晶体和光学反射镜轮流放置于测试物治具上。
进一步的,所述主控计算机上设有调制传递函数测试程序,所述主控计算机连接控制器,所述控制器连接驱动器,所述驱动器驱动高精密电动XY轴水平滑台和高精密电动Z轴滑台。
进一步的,所述采样摄像头与主控计算机连接,所述驱动器可触发采样摄像头。
本实用新型与现有技术相比的优点在于:
1充分利用检测设备中心视场采样摄像头,和设备软件系统,实现同样的光路调平功能,成本比使用准直仪方案大幅度降低,占用空间面积小,设备紧凑;
2操作简便快速,不需要专业人员和专业工具;
3一套调试装置可以用于多台检测设备。
附图说明
图1是本实用新型实施例构造图。
图2为未调整图像。
图3为准直系统调好图像。
图4为三线重合调好图像;
图5为平面度为调整图像;
图6为分划板为调整图像;
如图所示:1、摄像头支架,2、采样摄像头,3、检测支架,4、测试物治具,5、被测镜头,6、分划板,7、光源,8、高精密电动XY轴水平滑台,9、高精密电动Z轴滑台,10、驱动器,11、控制器,12、主控计算机,13、准直系统支架,14、准直系统平行光源,15、准直系统光学反射晶体,16、光学反射晶体,17、光学反射镜。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型做进一步的详细说明。
结合图1-6所示,一种光学镜头调制传递函数检测设备调平装置,包括摄像头支架1,采样摄像头2、检测支架3、测试物治具4、被测镜头5、分划板6、光源7、高精密电动XY轴水平滑台8、高精密电动Z轴滑台9、驱动器10、控制器11、主控计算机12、准直系统支架13、准直系统平行光源14、准直系统光学反射晶体15、光学反射晶体16和光学反射镜17,其特征在于:所述高精密电动XY轴水平滑台8置于高精密电动Z轴滑台9与光源7之间,所述分划板6位于光源7上方,高精密电动XY轴水平滑台8能够使分划板6在水平XY方向上平移,所述测试物治具4位于分划板6的上方连接放置于检测支架3上,所述检测支架3半包围放置于准直系统支架上13,所述准直系统平行光源14和准直系统光学反射晶体15平行放置于准直系统支架上13,所述准直系统光学反射晶体15位于测试物治具4的正上方,所述摄像头支架1位于准直系统光学反射晶体15的上方,连接安装采样摄像头2。
所述被测镜头5、光学反射晶体16和光学反射镜17轮流放置于测试物治具4上,所述主控计算机12上设有调制传递函数测试程序,所述主控计算机12连接控制器11,所述控制器11连接驱动器10,所述驱动器10驱动高精密电动XY轴水平滑台8和高精密电动Z轴滑台9,所述采样摄像头2与主控计算机12连接,所述驱动器10可触发采样摄像头2。
本实用新型在具体实施时:
步骤一:将准直系统支架13安装到设备指定位置,并使其水平方向稳定为基准平面,准直系统光学反射晶体15位于采样摄像头2和测试物治具之间,且居中放置,采样摄像头2位于摄像头支架1的中心视场位置;
步骤二:准直系统平行光源14安装于准直系统支架13上并发出十字像平行光,照射在准直系统光学反射晶体15中心,被其半反射界面反射到测试物治具方向,反射光线在准直系统光学反射晶体15下表面界面处,有小部分反射到采样摄像头2方向,透过准直系统光学反射晶体15半反射界面,入射到采样摄像头2;
步骤三:采样摄像头2采集到十字像图像一后,传输到主控计算机12,运行主控计算机 12上的调制传递函数测试程序,将十字像图像一显示出来,如图2所示;
步骤四:在测试物治具上原本放置被测镜头5的位置放置光学反射晶体16,光学反射晶体16将照射到其上的光线原路返回,返回的光线再次照射到准直系统光学反射晶体15中心,透过其半反射界面,入射到采样摄像头2;
步骤五:采样摄像头2采集到十字像图像二后,传输到主控计算机12,运行主控计算机 12上的调制传递函数测试程序,将十字像图像二显示出来,如图2所示;
步骤六:运行主控计算机12上的调制传递函数测试程序,标识出图像中心位置,如图2 所示,微调准直系统平行光源14,使十字像图像一和十字像图像二重合,则准直系统调整好,如图3所示,微调采样摄像头2,使十字像图像一、十字像图像二和图像中心位置三线重合,则采样摄像头2垂直调整完成,如图4所示;
步骤七:取下测试物治具上的光学反射晶体16,在测试物治具上放置光学反射镜17,光学反射镜17将照射到其上的光线反射,反射的光线再次照射到准直系统光学反射晶体15,透过其半反射界面,入射到采样摄像头2;
步骤八:采样摄像头2采集到十字像图像三后,传输到主控计算机12,运行主控计算机 12上的调制传递函数测试程序,将十字像图像三显示出来,如图5所述,此时十字像图像三和其他两线不重合,微调测试物治具平面,使三线重合,则测试物治具调平完成;
步骤九:取下光学反射镜17,使光线照射到分划板6上,分划板6将照射到其上的光线反射,反射的光线再次照射到准直系统光学反射晶体15,透过其半反射界面,入射到采样摄像头2;
步骤十:采样摄像头2采集到十字像图像四后,传输到主控计算机12,运行主控计算机 12上的调制传递函数测试程序,将十字像图像四显示出来,如图6所示,此时十字像图像四和其他两线不重合,微调分划板6平面,使三线重合,则分划板6调平完成;
步骤十一:移动或移除准直系统支架13,使准直系统不干扰测设光路,设备可进行正常测试。
Claims (4)
1.一种光学镜头调制传递函数检测设备调平装置,包括摄像头支架(1),采样摄像头(2)、检测支架(3)、测试物治具(4)、被测镜头(5)、分划板(6)、光源(7)、高精密电动XY轴水平滑台(8)、高精密电动Z轴滑台(9)、驱动器(10)、控制器(11)、主控计算机(12)、准直系统支架(13)、准直系统平行光源(14)、准直系统光学反射晶体(15)、光学反射晶体(16)和光学反射镜(17),其特征在于:所述高精密电动XY轴水平滑台(8)置于高精密电动Z轴滑台(9)与光源(7)之间,所述分划板(6)位于光源(7)上方,高精密电动XY轴水平滑台(8)能够使分划板(6)在水平XY方向上平移,所述测试物治具(4)位于分划板(6)的上方连接放置于检测支架(3)上,所述检测支架(3)半包围放置于准直系统支架上(13),所述准直系统平行光源(14)和准直系统光学反射晶体(15)平行放置于准直系统支架上(13),所述准直系统光学反射晶体(15)位于测试物治具(4)的正上方,所述摄像头支架(1)位于准直系统光学反射晶体(15)的上方,连接安装采样摄像头(2)。
2.根据权利要求1所述的一种光学镜头调制传递函数检测设备调平装置,其特征在于:所述被测镜头(5)、光学反射晶体(16)和光学反射镜(17)轮流放置于测试物治具(4)上。
3.根据权利要求2所述的一种光学镜头调制传递函数检测设备调平装置,其特征在于:所述主控计算机(12)上设有调制传递函数测试程序,所述主控计算机(12)连接控制器(11),所述控制器(11)连接驱动器(10),所述驱动器(10)驱动高精密电动XY轴水平滑台(8)和高精密电动Z轴滑台(9)。
4.根据权利要求2所述的一种光学镜头调制传递函数检测设备调平装置,其特征在于:所述采样摄像头(2)与主控计算机(12)连接,所述驱动器(10)可触发采样摄像头(2)。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN202022610292.4U CN213516286U (zh) | 2020-11-12 | 2020-11-12 | 一种光学镜头调制传递函数检测设备调平装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202022610292.4U CN213516286U (zh) | 2020-11-12 | 2020-11-12 | 一种光学镜头调制传递函数检测设备调平装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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CN213516286U true CN213516286U (zh) | 2021-06-22 |
Family
ID=76423315
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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CN202022610292.4U Active CN213516286U (zh) | 2020-11-12 | 2020-11-12 | 一种光学镜头调制传递函数检测设备调平装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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CN (1) | CN213516286U (zh) |
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- 2020-11-12 CN CN202022610292.4U patent/CN213516286U/zh active Active
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