CN213241131U - 一种烧录检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种烧录检测装置，包括：主控板和烧录测试板；所述主控板与所述烧录测试板连接；所述烧录测试板上设置有顶针接口，所述烧录测试板通过所述顶针接口与待烧录芯片连接；其中，所述顶针接口包括烧录信号针和测试信号采样针。本实用新型实施例中的烧录检测装置可同时完成对待烧录芯片的烧录和对烧录完芯片的检测，从而省去了人工检测环节，简化芯片的生产流程，大大提高芯片的生产效率。

Description

一种烧录检测装置

技术领域

本实用新型涉及电子产品技术领域，特别涉及一种烧录检测装置。

背景技术

TCON板(也叫逻辑板、屏驱动板或中心控制板)一般生产流程为贴片→转烧录→转人工检测→出货，由于中间涉及到转换线体，增加了无效的资源和时间成本消耗。

因而现有技术还有待改进和提高。

实用新型内容

鉴于上述现有技术的不足之处，本实用新型的目的在于提供一种烧录检测装置，旨在解决现有技术中的TCON板生产效率低下的问题。

为了达到上述目的，本实用新型采取了以下技术方案：

本实用新型实施例提供了一种烧录检测装置，其中，所述烧录检测装置包括：

主控板和烧录测试板；

所述主控板与所述烧录测试板连接；

所述烧录测试板上设置有顶针接口，所述烧录测试板通过所述顶针接口与待烧录芯片或烧录后芯片连接；其中，所述顶针接口包括烧录信号针和测试信号采样针。

进一步地，所述烧录检测装置中，所述主控板上设置有：主控芯片、烧录测试板接口和第一接口；所述烧录测试板接口和第一接口分别与所述主控芯片连接；所述烧录测试板通过所述烧录测试接口与所述主控芯片连接，所述第一接口用于接收烧录文件。

进一步地，所述烧录检测装置中，所述烧录测试板上还设置有：第一开关芯片、第二开关芯片、ADC芯片、开关译码器和第二接口；所述第二接口分别与所述烧录测试板接口、所述顶针接口、所述开关译码器和所述ADC芯片连接，所述开关译码器与所述ADC芯片、第一开关芯片和第二开关芯片连接，所述第一开关芯片和第二开关芯片分别与所述顶针接口连接。

进一步地，所述烧录检测装置中，还包括与所述主控板连接的状态指示板；所述主控板上还设置有与所述主控芯片连接的第三接口和第四接口；所述状态指示板上设置有显示屏、蜂鸣器、按键、与所述显示屏连接的第五接口和与所述蜂鸣器和按键连接的第六接口；其中，所述第三接口与所述第五接口连接，所述第四接口和第六接口连接。

进一步地，所述烧录检测装置中，所述烧录信号针包括：WP脚、ENA脚、SCL脚和SDA脚；所述WP脚与所述第二接口的第1脚连接，所述SDA脚与所述第二接口的第2脚连接，所述ENA脚与所述第二接口的第3脚连接，所述SCL脚与所述第二接口的第4脚连接。

进一步地，所述烧录检测装置中，所述顶针接口还包括供电针和接地针；所述供电针与所述第二接口的第5脚连接，所述接地针与所述第二接口的第6脚连接。

进一步地，所述烧录检测装置中，所述测试信号采样针包括：VGH脚、AVDD脚、VCOM脚、GAM1脚、VGL脚、GAM2脚、GAM3脚和GAM4脚；所述VCOM脚与所述第一开关芯片的第1脚连接，所述GAM1脚与所述第一开关芯片的第2脚连接，所述AVDD脚与所述第一开关芯片的第3脚连接，所述VGH脚与所述第一开关芯片的第4脚连接；所述GAM4脚与所述第二开关芯片的第1脚连接，所述GAM3脚与所述第二开关芯片的第2脚连接，所述GAM2脚与所述开关芯片的第3脚连接，所述VGL脚与所述第二开关芯片的第4脚连接。

进一步地，所述烧录检测装置中，所述开关译码器的第1脚至第4脚与所述第一开关芯片的第5脚至第8脚一对一连接；所述开关译码器的第5脚至第8脚与所述第二开关芯片的第5脚至第8脚一对一连接；所述开关译码器的第9脚至第11脚与所述第二接口的第7脚至第9脚一对一连接。

进一步地，所述烧录检测装置中，所述ADC芯片的第1脚与所述开关译码器的第12脚连接，所述ADC芯片的第2脚至第5脚与所述第二接口的第10脚至第13脚一对一连接。

进一步地，所述烧录检测装置中，所述第一开关芯片和第二开关芯片的型号为TMUX6113。

本实用新型所采用的技术方案具有以下有益效果：

本实用新型所提供的烧录检测装置，包括：主控板和烧录测试板；所述主控板与所述烧录测试板连接；所述烧录测试板上设置有顶针接口，所述烧录测试板通过所述顶针接口与待烧录芯片连接；其中，所述顶针接口包括烧录信号针和测试信号采样针。本实用新型实施例中的烧录检测装置可同时完成对待烧录芯片的烧录和对烧录完芯片的检测，从而省去了人工检测环节，简化芯片的生产流程，大大提高芯片的生产效率。

附图说明

图1为本实用新型提供的一种烧录检测装置的结构示意图；

图2为顶针接口的结构示意图；

图3为烧录测试板的结构示意图。

图中：100、主控板；200、烧录测试板；210、顶针接口；300、待烧录芯片；211、烧录信号针；212、测试信号采样针；110、主控芯片；120、烧录测试板接口；130、第一接口；220、第一开关芯片；230、第二开关芯片；240、ADC芯片；250、开关译码器；260、第二接口；400、状态指示板；140、第三接口；150、第四接口；410、显示屏；420、蜂鸣器；430、按键；440、第五接口；450、第六接口。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本实用新型进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

在实施方式和申请专利范围中，除非文中对于冠词有特别限定，否则“一”与“所述”可泛指单一个或复数个。

另外，若本实用新型实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

实施例一：

本实用新型公开了一种烧录检测装置，请一并参阅图1至图3，主控板100和烧录测试板200；所述主控板100与所述烧录测试板200连接；所述烧录测试板200上设置有顶针接口210，所述烧录测试板200通过所述顶针接口210与待烧录芯片300或烧录后芯片连接；其中，所述顶针接口210包括烧录信号针211和测试信号采样针212。

在本实用新型实施例中，所述主控板100内存储有烧录文件，所述主控板100与所述烧录测试板200通过连接线相连接，待烧录芯片300或烧录后的芯片通过所述顶针接口210插接于所述烧录测试板200上；当所述顶针接口210上插入的是待烧录芯片300时，此时执行烧录流程，所述主控板100将事先存储好的烧录文件通过烧录信号针211逐个字节写入至待烧录芯片300中，进而完成烧录动作，当烧录完成后所述主控板100读取烧录完芯片内的文件，并判断烧录完芯片内的文件是否与主控板100内存储的烧录前的文件是否相同，若相同，则表示烧录成功，若不相同则判定失败。进一步地，在烧录成功后需要对烧录完芯片的电压进行测试，所述主控板100通过所述测试信号采样针212采样烧录完芯片中的待测电压，并将采样的待测电压转换成实际电压值，然后和主控板100中的预设电压进行比对，待测电压在预设电压的范围内时，即认为烧录完芯片的电压合格，即当前的芯片为合格品，反之则判定为不良品。本实用新型实施例中的烧录检测装置可同时完成对待烧录芯片300的烧录和对烧录完芯片的检测，从而省去了人工检测环节，简化芯片的生产流程，大大提高芯片的生产效率。

作为进一步地方案，所述主控板100上设置有：主控芯片110、烧录测试板接口120和第一接口130；所述烧录测试板接口120和第一接口130分别与所述主控芯片110连接；所述烧录测试板200通过所述烧录测试接口与所述主控芯片110连接，所述第一接口130用于接收烧录文件。

在本实用新型实施例中，所述第一接口130可以是USB接口，用于接收外部所传输的烧录文件，例如通过U盘与所述第一接口130连接，使主控芯片110读取U盘内的烧录文件。可选的，所述主控芯片110可以是单片机，例如型号为GD32F303的单片机，所运行时钟频率为120MHz，可通过编程器向其片上flash固化程序代码。在接收到所述第一接口130传输的烧录文件后，由所述主控芯片110将烧录文件传输至烧录测试板200，再由所述烧录测试板200中的顶针接口210将烧录文件写入到待烧录芯片300中，完成烧录的步骤。其中，所述主控板100上还设置有供电电路，所述供电电路与所述主控芯片110连接。

作为更进一步地方案，所述烧录测试板200上还设置有：第一开关芯片220、第二开关芯片230、ADC芯片240、开关译码器250和第二接口260；所述第二接口260分别与所述烧录测试板接口120、所述顶针接口210、所述开关译码器250和所述ADC芯片240连接，所述开关译码器250与所述ADC芯片240、第一开关芯片220和第二开关芯片230连接，所述第一开关芯片220和第二开关芯片230分别与所述顶针接口210连接。具体的，所述第二接口260与所述烧录测试板接口120相连接，用于将主控芯片110和顶针接口210、开关译码器250和ADC连接。其中，所述主控芯片110通过所述第二接口260直接连接所述顶针接口210中的烧录信号针211，当所述顶针接口210上接入待烧录芯片300时直接进行文件烧录。进一步地，所述第一开关芯片220和第二开关芯片230均连接所述测试信号采样针212，当所述顶针接口210接入烧录完芯片时则对烧录完芯片的电压进行采样。更具体的，测试信号采样针212连接到第一开关芯片220和第二开关芯片230，然后经过开关译码器250的选择将主控板100指定的电压信号传送给ADC芯片240进行采样，再由ADC芯片240将采样结果通过第二接口260发回主控板100处理。

需要说明的是，当进行文件烧录时，所述第一开关芯片220和第二开关芯片230均为断开状态，在进行电压采样时，所述第一开关芯片220和第二开关芯片230均为闭合状态。

可选的，所述第一开关芯片220和第二开关芯片230的型号为TMUX6113。

更具体的，还包括与所述主控板100连接的状态指示板400；所述主控板100上还设置有与所述主控芯片110连接的第三接口140和第四接口150；所述状态指示板400上设置有显示屏410、蜂鸣器420、按键430、与所述显示屏410连接的第五接口440和与所述蜂鸣器420和按键430连接的第六接口450；其中，所述第三接口140与所述第五接口440连接，所述第四接口150和第六接口450连接。

在本实用新型实施例中，所述显示屏410用于显示相应信息，所述蜂鸣器420用于进行发声提示，所述按键430用于输入相应的指令；例如，在上文中提到，当烧录完成后所述主控板100读取烧录完芯片内的文件，并判断烧录完芯片内的文件是否与主控板100内存储的烧录前的文件是否相同，若相同，则表示烧录成功，此时所述显示屏410中显示烧录成功的提示信息，蜂鸣器420不发声或仅发出特定的声音以提示烧录成功；若不相同，则判定失败，此时所述显示屏410中显示烧录出错的提示信息，蜂鸣器420发出特定的声音以提示烧录出错。进一步地，在烧录成功后需要对烧录完芯片的电压进行测试，若测试烧录完芯片的电压合格，即当前的芯片为合格品，此时所述显示屏410中显示测试合格的提示信息，蜂鸣器420不发声或仅发出特定的声音以提示测试合格；若判定为不良品，此时所述显示屏410中显示测试出错的提示信息，蜂鸣器420发出特定的声音以提示测试出错。其中，所述按键430可设置为多个，以对应不同的功能，例如设置第一按键430和第二按键430；第一按键430用于触发烧录文件的程序运行，第二按键430用于触发电压采样及测试的程序运行。

具体的，所述烧录信号针211包括：WP脚、ENA脚、SCL脚和SDA脚；所述WP脚与所述第二接口260的第1脚连接，所述SDA脚与所述第二接口260的第2脚连接，所述ENA脚与所述第二接口260的第3脚连接，所述SCL脚与所述第二接口260的第4脚连接。其中，所述WP脚用于待烧录芯片300的写保护使能，所述SCL脚用于连接时钟信号线，所述SDA脚用于连接数据信号线；可选的，所述用于连接I2C总线。

更具体的，所述顶针接口210还包括供电针VCC和接地针GND；所述供电针与所述第二接口260的第5脚连接，所述接地针与所述第二接口260的第6脚连接；所述供电针VCC用于给待烧录芯片300或烧录完芯片供电，所述接地针GND用于将待烧录芯片300或烧录完芯片，以及所述烧录测试板200接地。

进一步地，所述测试信号采样针212包括：VGH脚、AVDD脚、VCOM脚、GAM1脚、VGL脚、GAM2脚、GAM3脚和GAM4脚；所述VCOM脚与所述第一开关芯片220的第1脚连接，所述GAM1脚与所述第一开关芯片220的第2脚连接，所述AVDD脚与所述第一开关芯片220的第3脚连接，所述VGH脚与所述第一开关芯片220的第4脚连接；所述GAM4脚与所述第二开关芯片230的第1脚连接，所述GAM3脚与所述第二开关芯片230的第2脚连接，所述GAM2脚与所述开关芯片的第3脚连接，所述VGL脚与所述第二开关芯片230的第4脚连接。其中，所述VGH脚、AVDD脚、VCOM脚、GAM1脚、VGL脚、GAM2脚、GAM3脚和GAM4脚均用于待测电压信号采样。需要说明的是，本实用新型采用两个四通道的开关芯片(第一开关芯片220和第二开关芯片230)连接开关译码器250和顶针接口210，当然也可选用一个八通道的开关芯片来连接，在使用时应根据实际需求进行选择。

更进一步地，所述开关译码器250的第1脚至第4脚与所述第一开关芯片220的第5脚至第8脚一对一连接；所述开关译码器250的第5脚至第8脚与所述第二开关芯片230的第5脚至第8脚一对一连接；所述开关译码器250的第9脚至第11脚与所述第二接口260的第7脚至第9脚一对一连接。

更进一步地，所述ADC芯片240的第1脚与所述开关译码器250的第12脚连接，所述ADC芯片240的第2脚至第5脚与所述第二接口260的第10脚至第13脚一对一连接。

应理解的是，本实用新型对于所述开关译码器250和所述ADC芯片240的具体型号不做限定。

下面对本实施例中的烧录检测装置的工作原理进行介绍：

当需要执行烧录流程时，如用户通过按下按键430触发烧录程序，此时所述主控芯片110与连接在所述顶针接口210上的待烧录芯片300建议通讯连接，所述主控芯片110将事先加载好的烧录文件通过所述烧录信号针211逐字节写入到待烧录芯片300中，当烧录文件写入完成后，所述主控芯片110与烧录完芯片建立通讯连接，并读取烧录完芯片内的烧录文件，并将其与主控芯片110中存储的烧录文件比对校验，若两份文件校验一致则认为烧录成功，否则判定烧录失败；

其中，所述显示屏410和蜂鸣器420在烧录成功和烧录失败时均产生相应的提示，以告知用户烧录后的状况；

当需要执行测试流程时，如用户通过按下按键430触发测试程序，此时所述主控芯片110初始化所述ADC芯片240，并经由所述开关译码器250按顺序打开第一开环芯片和第二开关芯片230上的各个开关，随后所述主控芯片110驱动ADC芯片240依次采样烧录完芯片上的待测电压(通过所述测试信号采样针212：VGH脚、AVDD脚、VCOM脚、GAM1脚、VGL脚、GAM2脚、GAM3脚和GAM4脚)，并将采样结果转化成实际电压值，然后和主控芯片110中存储的预设电压进行比对，若待测电压值均在预设电压范围内，则认为当前的烧录完芯片为合格品，否则为不良品；

其中，所述显示屏410和蜂鸣器420在电压测试成功和测试出错时均产生相应的提示，以告知用户电压测试后的芯片的合格状况。

综上所述，本实用新型提供了一种烧录检测装置，包括：主控板和烧录测试板；所述主控板与所述烧录测试板连接；所述烧录测试板上设置有顶针接口，所述烧录测试板通过所述顶针接口与待烧录芯片连接；其中，所述顶针接口包括烧录信号针和测试信号采样针。本实用新型实施例中的烧录检测装置可同时完成对待烧录芯片的烧录和对烧录完芯片的检测，从而省去了人工检测环节，简化芯片的生产流程，大大提高芯片的生产效率。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的方案后，将容易想到本实用新型的其它实施方案。本实用新型旨在涵盖本实用新型的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本实用新型的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本实用新型的真正范围和精神由权利要求所指出。

Claims (10)

1.一种烧录检测装置，其特征在于，所述烧录检测装置包括：

主控板和烧录测试板；

所述主控板与所述烧录测试板连接；

所述烧录测试板上设置有顶针接口，所述烧录测试板通过所述顶针接口与待烧录芯片或烧录后芯片连接；其中，所述顶针接口包括烧录信号针和测试信号采样针。

2.根据权利要求1所述烧录检测装置，其特征在于，所述主控板上设置有：主控芯片、烧录测试板接口和第一接口；所述烧录测试板接口和第一接口分别与所述主控芯片连接；所述烧录测试板通过所述烧录测试接口与所述主控芯片连接，所述第一接口用于接收烧录文件。

3.根据权利要求2所述烧录检测装置，其特征在于，所述烧录测试板上还设置有：第一开关芯片、第二开关芯片、ADC芯片、开关译码器和第二接口；所述第二接口分别与所述烧录测试板接口、所述顶针接口、所述开关译码器和所述ADC芯片连接，所述开关译码器与所述ADC芯片、第一开关芯片和第二开关芯片连接，所述第一开关芯片和第二开关芯片分别与所述顶针接口连接。

4.根据权利要求3所述烧录检测装置，其特征在于，还包括与所述主控板连接的状态指示板；所述主控板上还设置有与所述主控芯片连接的第三接口和第四接口；所述状态指示板上设置有显示屏、蜂鸣器、按键、与所述显示屏连接的第五接口和与所述蜂鸣器和按键连接的第六接口；其中，所述第三接口与所述第五接口连接，所述第四接口和第六接口连接。

5.根据权利要求3所述烧录检测装置，其特征在于，所述烧录信号针包括：WP脚、ENA脚、SCL脚和SDA脚；所述WP脚与所述第二接口的第1脚连接，所述SDA脚与所述第二接口的第2脚连接，所述ENA脚与所述第二接口的第3脚连接，所述SCL脚与所述第二接口的第4脚连接。

6.根据权利要求5所述烧录检测装置，其特征在于，所述顶针接口还包括供电针和接地针；所述供电针与所述第二接口的第5脚连接，所述接地针与所述第二接口的第6脚连接。

7.根据权利要求6所述烧录检测装置，其特征在于，所述测试信号采样针包括：VGH脚、AVDD脚、VCOM脚、GAM1脚、VGL脚、GAM2脚、GAM3脚和GAM4脚；所述VCOM脚与所述第一开关芯片的第1脚连接，所述GAM1脚与所述第一开关芯片的第2脚连接，所述AVDD脚与所述第一开关芯片的第3脚连接，所述VGH脚与所述第一开关芯片的第4脚连接；所述GAM4脚与所述第二开关芯片的第1脚连接，所述GAM3脚与所述第二开关芯片的第2脚连接，所述GAM2脚与所述开关芯片的第3脚连接，所述VGL脚与所述第二开关芯片的第4脚连接。

8.根据权利要求6所述烧录检测装置，其特征在于，所述开关译码器的第1脚至第4脚与所述第一开关芯片的第5脚至第8脚一对一连接；所述开关译码器的第5脚至第8脚与所述第二开关芯片的第5脚至第8脚一对一连接；所述开关译码器的第9脚至第11脚与所述第二接口的第7脚至第9脚一对一连接。

9.根据权利要求8所述烧录检测装置，其特征在于，所述ADC芯片的第1脚与所述开关译码器的第12脚连接，所述ADC芯片的第2脚至第5脚与所述第二接口的第10脚至第13脚一对一连接。

10.根据权利要求3所述烧录检测装置，其特征在于，所述第一开关芯片和第二开关芯片的型号为TMUX6113。

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