CN213210358U

CN213210358U - 一种多级下压式芯片检测仪

Info

Publication number: CN213210358U
Application number: CN202021557472.4U
Authority: CN
Inventors: 顾珈铭
Original assignee: Henan Shenfu Electronic Technology Co ltd
Current assignee: Henan Shenfu Electronic Technology Co ltd
Priority date: 2020-07-31
Filing date: 2020-07-31
Publication date: 2021-05-14
Anticipated expiration: 2030-07-31

Abstract

本实用新型公开了一种多级下压式芯片检测仪，包括机架、底座和探针，所述底座正面的中间位置处固定连接有控制面板，且底座的顶端竖向固定连接有机架，所述机架顶端的中间位置处固定连接有气动伸缩杆，且气动伸缩杆的输出端贯穿机架顶端并横向固定连接有活动板，所述缓冲板的底端均匀固定连接有活动槽，所述活动槽的内部均竖向滑动连接有活动杆，所述活动杆的底端均固定连接有固定箱，且固定箱内部顶端均竖向设置有延伸至固定箱外部的探针。通过在缓冲板底端设置活动杆和活动槽，利用活动杆在活动槽内部的滑动，使得装置可以调节探针不同的高度，便于适用于不同类型的芯片，提高装置的实用性。

Description

一种多级下压式芯片检测仪

技术领域

本实用新型涉及芯片检测设备技术领域，具体为一种多级下压式芯片检测仪。

背景技术

随着社会的发展，半导体科技的进步，使得芯片的种类更大、体积更小和性能更佳等，而芯片生产出来后，需要对其进行检测，以确保芯片的质量，但是现有的多级下压式芯片检测仪还存在很多问题或缺陷：

第一，传统的多级下压式芯片检测仪，使用时没有调节探针高度结构，不能根据芯片的种类，进行可调式的顶针伸出作业，导致经常需要更换设备进行检测；

第二，传统的多级下压式芯片检测仪，使用时没有更换探针结构，但局部探针损坏后，不便及时更换已损坏的探针；

第三，传统的多级下压式芯片检测仪，使用时夹持不够稳定，检测时，芯片固定不佳，易滑动，降低检测精度。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种多级下压式芯片检测仪，以解决上述背景技术中提出的不便调节探针高度、不便更换探针和夹持不够稳定的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种多级下压式芯片检测仪，包括机架、底座和探针，所述底座正面的中间位置处固定连接有控制面板，且底座的顶端竖向固定连接有机架，所述机架两侧的下端均固定连接有横板，且横板一侧的两端均固定连接有夹持结构，所述机架顶端的中间位置处固定连接有气动伸缩杆，且气动伸缩杆的输出端贯穿机架顶端并横向固定连接有活动板，所述活动板的底端横向固定连接有缓冲槽，且缓冲槽的内部横向滑动连接有缓冲板，所述缓冲板的底端均匀固定连接有活动槽，且活动槽的两侧均匀开设有限位孔，所述活动槽的内部均竖向滑动连接有活动杆，且活动杆内部顶端的两侧均开设有限位槽，所述限位槽内部的一侧均固定连接有限位弹簧，且限位弹簧一端均固定连接有与限位孔相配合的限位块，所述活动杆的底端均固定连接有固定箱，且固定箱内部顶端均竖向设置有延伸至固定箱外部的探针，所述探针两侧上端的固定箱内部均设置有更换结构。

优选的，所述机架内部两侧的上端均竖向固定连接有滑杆，且滑杆的表面均滑动连接有滑块，所述滑块的一端均与活动板一侧焊接。

优选的，所述缓冲槽内部的顶端均匀固定连接有缓冲弹簧，且缓冲弹簧的底端均与缓冲板顶端之间呈焊接一体化结构。

优选的，所述夹持结构的内部依次设置有拉杆、压紧弹簧、摩擦块、吸盘、复位弹簧和气囊，所述拉杆均竖向贯穿在横板一侧的两端，且拉杆的表面均缠绕有压紧弹簧，所述拉杆的底端之间均固定连接有摩擦块，且摩擦块内部的底端均匀固定连接有吸盘，所述摩擦块的一侧均固定连接有气囊，且气囊内部的上端和下端均固定连接有复位弹簧，所述复位弹簧的一侧均通过导管与吸盘顶端连通。

优选的，所述底座底端的四个拐角处均固定连接有万向轮，且万向轮的内部均设置有制动装置。

优选的，所述更换结构的内部依次设置有更换弹簧、拨杆、预留孔、预留块、预留槽、卡块和卡槽，所述卡槽均开设在固定箱内部的中间位置处，且探针顶端均固定连接有与卡槽相配合的卡块，所述卡块内部的两侧均开设有预留孔，且卡块两侧的固定箱内部均开设有预留槽，所述预留槽的一端均固定连接有更换弹簧，且更换弹簧的一端均固定连接有预留块，所述预留块底端的一侧均固定连接有拨杆。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该多级下压式芯片检测仪结构合理，具有以下优点：

（1）、通过在缓冲板底端设置活动杆和活动槽，通过按压限位块，使得限位块移动压缩限位弹簧至完全脱离限位孔，之后可根据需要来依次调节探针下降的高度，进而使得装置可以调节探针不同的高度，便于适用于不同类型的芯片，避免需要更换不同的检测设备，减少其检测的工作时间，进而提高装置的实用性；

（2）、通过在固定箱内部设置预留槽和卡槽，且在卡块内部设置预留孔，通过拨动拨杆，使得预留块移动压缩更换弹簧至完全脱离预留孔，之后可便于将探针取出并进行更换，减少工人员更换已损坏探针的时间，降低工人劳动量，进而提高工作效率，同时避免因局部探针损坏而更换整个检测装置，降低维修成本；

（3）、通过在横板一侧设置摩擦块，且摩擦块一侧设置气囊，通过按压气囊压缩复位弹簧，使得气囊收缩并将部分空气排出，再利用压紧弹簧的弹力，使得摩擦块压紧芯片两侧，此时松开气囊，在复位弹簧的弹力作用下，使得气囊吸出吸盘内部部分空气恢复原样，进而改变吸盘内部的气压，在外界的气压差下，使得吸盘内部产生负压，进而提高对芯片的固定效果，避免检测时，芯片意外滑动，造成检测误差。

附图说明

图1为本实用新型正面结构示意图；

图2为本实用新型侧面剖视结构示意图；

图3为本实用新型的夹持结构处放大结构示意图；

图4为本实用新型的更换结构处放大结构示意图。

图中：1、机架；2、气动伸缩杆；3、活动板；4、滑杆；5、滑块；6、缓冲槽；7、缓冲板；8、固定箱；9、横板；10、夹持结构；1001、拉杆；1002、压紧弹簧；1003、摩擦块；1004、吸盘；1005、复位弹簧；1006、气囊；11、底座；12、万向轮；13、控制面板；14、探针；15、更换结构；1501、更换弹簧；1502、拨杆；1503、预留孔；1504、预留块；1505、预留槽；1506、卡块；1507、卡槽；16、活动杆；17、活动槽；18、缓冲弹簧；19、限位块；20、限位孔；21、限位弹簧；22、限位槽。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种多级下压式芯片检测仪，包括机架1、底座11和探针14，底座11底端的四个拐角处均固定连接有万向轮12，且万向轮12的内部均设置有制动装置；

具体地，如图1和2所示，使用该机构时，首先，通过设置万向轮12，使得可以轻松移动本装置，节省人力；

底座11正面的中间位置处固定连接有控制面板13，且底座11的顶端竖向固定连接有机架1，机架1两侧的下端均固定连接有横板9，且横板9一侧的两端均固定连接有夹持结构10；

夹持结构10的内部依次设置有拉杆1001、压紧弹簧1002、摩擦块1003、吸盘1004、复位弹簧1005和气囊1006，拉杆1001均竖向贯穿在横板9一侧的两端，且拉杆1001的表面均缠绕有压紧弹簧1002，拉杆1001的底端之间均固定连接有摩擦块1003，且摩擦块1003内部的底端均匀固定连接有吸盘1004，摩擦块1003的一侧均固定连接有气囊1006，且气囊1006内部的上端和下端均固定连接有复位弹簧1005，复位弹簧1005的一侧均通过导管与吸盘1004顶端连通；

具体地，如图1、2和3所示，使用该机构时，首先，通过按压气囊1006压缩复位弹簧1005，使得气囊1006收缩并将部分空气排出，再利用压紧弹簧1002的弹力，使得摩擦块1003压紧芯片两侧，此时松开气囊1006，在复位弹簧1005的弹力作用下，使得气囊1006吸出吸盘1004内部部分空气恢复原样，进而改变吸盘1004内部的气压，在外界的气压差下，使得吸盘1004内部产生负压，进而提高对芯片的固定效果；

机架1顶端的中间位置处固定连接有气动伸缩杆2，该气动伸缩杆2的型号可为HL-A-8，且气动伸缩杆2的输出端贯穿机架1顶端并横向固定连接有活动板3；

机架1内部两侧的上端均竖向固定连接有滑杆4，且滑杆4的表面均滑动连接有滑块5，滑块5的一端均与活动板3一侧焊接；

具体地，如图1所示，使用该机构时，首先，利用滑块5在滑杆4的上下滑动，使得活动板3可以平稳移动，进而使得探针14的上下移动，便于对芯片进行检测；

活动板3的底端横向固定连接有缓冲槽6，且缓冲槽6的内部横向滑动连接有缓冲板7；

缓冲槽6内部的顶端均匀固定连接有缓冲弹簧18，且缓冲弹簧18的底端均与缓冲板7顶端之间呈焊接一体化结构；

具体地，如图1和2所示，使用该机构时，首先，利用缓冲弹簧18的弹力，避免下压力较大，使得探针14弯折，造成其损坏，同时也避免探针14对芯片下压力过大，使得芯片损坏；

缓冲板7的底端均匀固定连接有活动槽17，且活动槽17的两侧均匀开设有限位孔20，活动槽17的内部均竖向滑动连接有活动杆16，且活动杆16内部顶端的两侧均开设有限位槽22，限位槽22内部的一侧均固定连接有限位弹簧21，且限位弹簧21一端均固定连接有与限位孔20相配合的限位块19，活动杆16的底端均固定连接有固定箱8，且固定箱8内部顶端均竖向设置有延伸至固定箱8外部的探针14，探针14两侧上端的固定箱8内部均设置有更换结构15；

更换结构15的内部依次设置有更换弹簧1501、拨杆1502、预留孔1503、预留块1504、预留槽1505、卡块1506和卡槽1507，卡槽1507均开设在固定箱8内部的中间位置处，且探针14顶端均固定连接有与卡槽1507相配合的卡块1506，卡块1506内部的两侧均开设有预留孔1503，且卡块1506两侧的固定箱8内部均开设有预留槽1505，预留槽1505的一端均固定连接有更换弹簧1501，且更换弹簧1501的一端均固定连接有预留块1504，预留块1504底端的一侧均固定连接有拨杆1502；

具体地，如图1、2和4所示，使用该机构时，首先，通过拨动拨杆1502，使得预留块1504移动压缩更换弹簧1501至完全脱离预留孔1503，之后可便于将探针14取出并进行更换，进而减少更换时间，提高工作效率；

控制面板13内部的单片机通过导线与气动伸缩杆2电连接。

工作原理：使用本装置时，首先通过万向轮12将本装置移动至指定检测地点后，再外接电源，然后拉动拉杆1001，使得摩擦块1003向上移动压缩压紧弹簧1002，之后再将待测芯片置于底座11顶端，然后按压气囊1006压缩复位弹簧1005，使得气囊1006收缩并将部分空气排出，松开拉杆1001后，利用压紧弹簧1002的弹力，使得摩擦块1003压紧芯片两侧，此时松开气囊1006，在复位弹簧1005的弹力作用下，使得气囊1006吸出吸盘1004内部部分空气恢复原样，进而改变吸盘1004内部的气压，在外界的气压差下，使得吸盘1004内部产生负压，进而提高对芯片的固定效果；

然后根据芯片种类来调节探针14下降的高度，通过按压限位块19，使得限位块19移动压缩限位弹簧21至完全脱离限位孔20，之后可根据需要来依次调节探针14下降的高度，并利用限位弹簧21的弹力，使得限位块19弹出并卡入限位孔20内，实现活动杆16的固定，进而使得装置可以调节探针14不同的高度，便于适用于不同类型的芯片；

然后启动气动伸缩杆2，利用滑块5在滑杆4的上下滑动，使得活动板3可以平稳移动，进而带动探针14平稳移动，对芯片进行检测，并将检测结果通过控制面板13显示，便于工作人员观察，以提高芯片质量；

当某个探针14损坏时，可拨动拨杆1502，使得预留块1504移动压缩更换弹簧1501至完全脱离预留孔1503，之后可便于将探针14取出并进行更换，进而减少更换时间，提高工作效率。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims

1.一种多级下压式芯片检测仪，包括机架（1）、底座（11）和探针（14），其特征在于：所述底座（11）正面的中间位置处固定连接有控制面板（13），且底座（11）的顶端竖向固定连接有机架（1），所述机架（1）两侧的下端均固定连接有横板（9），且横板（9）一侧的两端均固定连接有夹持结构（10），所述机架（1）顶端的中间位置处固定连接有气动伸缩杆（2），且气动伸缩杆（2）的输出端贯穿机架（1）顶端并横向固定连接有活动板（3），所述活动板（3）的底端横向固定连接有缓冲槽（6），且缓冲槽（6）的内部横向滑动连接有缓冲板（7），所述缓冲板（7）的底端均匀固定连接有活动槽（17），且活动槽（17）的两侧均匀开设有限位孔（20），所述活动槽（17）的内部均竖向滑动连接有活动杆（16），且活动杆（16）内部顶端的两侧均开设有限位槽（22），所述限位槽（22）内部的一侧均固定连接有限位弹簧（21），且限位弹簧（21）一端均固定连接有与限位孔（20）相配合的限位块（19），所述活动杆（16）的底端均固定连接有固定箱（8），且固定箱（8）内部顶端均竖向设置有延伸至固定箱（8）外部的探针（14），所述探针（14）两侧上端的固定箱（8）内部均设置有更换结构（15）。

2.根据权利要求1所述的一种多级下压式芯片检测仪，其特征在于：所述机架（1）内部两侧的上端均竖向固定连接有滑杆（4），且滑杆（4）的表面均滑动连接有滑块（5），所述滑块（5）的一端均与活动板（3）一侧焊接。

3.根据权利要求1所述的一种多级下压式芯片检测仪，其特征在于：所述缓冲槽（6）内部的顶端均匀固定连接有缓冲弹簧（18），且缓冲弹簧（18）的底端均与缓冲板（7）顶端之间呈焊接一体化结构。

4.根据权利要求1所述的一种多级下压式芯片检测仪，其特征在于：所述夹持结构（10）的内部依次设置有拉杆（1001）、压紧弹簧（1002）、摩擦块（1003）、吸盘（1004）、复位弹簧（1005）和气囊（1006），所述拉杆（1001）均竖向贯穿在横板（9）一侧的两端，且拉杆（1001）的表面均缠绕有压紧弹簧（1002），所述拉杆（1001）的底端之间均固定连接有摩擦块（1003），且摩擦块（1003）内部的底端均匀固定连接有吸盘（1004），所述摩擦块（1003）的一侧均固定连接有气囊（1006），且气囊（1006）内部的上端和下端均固定连接有复位弹簧（1005），所述复位弹簧（1005）的一侧均通过导管与吸盘（1004）顶端连通。

5.根据权利要求1所述的一种多级下压式芯片检测仪，其特征在于：所述底座（11）底端的四个拐角处均固定连接有万向轮（12），且万向轮（12）的内部均设置有制动装置。

6.根据权利要求1所述的一种多级下压式芯片检测仪，其特征在于：所述更换结构（15）的内部依次设置有更换弹簧（1501）、拨杆（1502）、预留孔（1503）、预留块（1504）、预留槽（1505）、卡块（1506）和卡槽（1507），所述卡槽（1507）均开设在固定箱（8）内部的中间位置处，且探针（14）顶端均固定连接有与卡槽（1507）相配合的卡块（1506），所述卡块（1506）内部的两侧均开设有预留孔（1503），且卡块（1506）两侧的固定箱（8）内部均开设有预留槽（1505），所述预留槽（1505）的一端均固定连接有更换弹簧（1501），且更换弹簧（1501）的一端均固定连接有预留块（1504），所述预留块（1504）底端的一侧均固定连接有拨杆（1502）。