CN212872242U - 一种键盘键帽组装质量的检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种键盘键帽组装质量的检测装置，包括机台，所述机台上设有左右滑动的直线模组，所述直线模组上滑动设有键盘固定治具，所述直线模组的两侧从左到右依次设有固定于机台上的对称结构的第一支架、第二支架、第三支架，所述第一支架与第二支架上分别架设有第一拨键帽机构与第二拨键帽机构，所述第三支架上固定有悬板，所述悬板的下方连接有三维视觉传感器，所述第一拨键帽机构包含固定板、拨杆组件、升降马达，所述第二拨键帽机构与第一拨键帽机构结构相同。本实用新型的有益效果是：可实现键盘上组装不良的键帽的全部拨离，键帽的高低及轮廓的检测，且自动化程度高，键帽拨离速度快，键盘、键帽无损伤，工作效率快，作业质量高。

Description

一种键盘键帽组装质量的检测装置

技术领域

本实用新型涉及键盘检测技术领域，具体为一种键盘键帽组装质量的检测装置。

背景技术

随着生活水平的提高，电脑已成为人们办公、娱乐必不可以的电子设备，键盘也是电脑及电子设备连接必不可少的配件。在键盘组装过程中需要将键帽安装在键盘上，然而常常会出现组装不良，会出现键帽的未装上、虚假装上或键帽歪斜等状况，此时需要用检测设备检测出来并将不良的键帽取下。通常采用手指直接拨离或是用环形拨键器进行键帽拨离，用手指硬掰不仅费力而且容易损坏按键，且由于键帽间间距很小，很难拨离，而使用环形拨键器拨键，对于不同尺寸的键帽难以匹配，不好拨离，同时不适应开档不同的键帽，实用性不高，且拨键速度慢，工作效率低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种键盘键帽组装质量的检测装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种键盘键帽组装质量的检测装置，包括机台，所述机台上设有左右滑动的直线模组，所述直线模组上滑动设有键盘固定治具，所述直线模组的两侧从左到右依次设有固定于机台上的对称结构的第一支架、第二支架、第三支架，所述第一支架与第二支架上分别架设有第一拨键帽机构与第二拨键帽机构，所述第三支架上固定有悬板，所述悬板的下方连接有三维视觉传感器，所述第一拨键帽机构包含固定板、拨杆组件、升降马达，所述固定板的左侧设有前后滑动的第一直线滑轨，所述第一直线滑轨与拨杆组件相连接，所述升降马达固定于固定板的右侧上端，所述升降马达的下端连接有第三连接板，所述第三连接板连接有开档调整板，所述开档调整板与固定板之间设有上下滑动的第三直线滑轨，所述开档调整板上穿设有螺杆，所述螺杆与拨杆组件相连接，所述第二拨键帽机构与第一拨键帽机构结构相同。

进一步优选，所述拨杆组件包含第一连接板、第二连接板、气缸、螺旋测微器、拨杆，所述第一连接板的右侧与螺杆固定连接，所述第一连接板左侧设有上下滑动的第二直线滑轨，所述第二直线滑轨上设有第二连接板，所述第二连接板的上端与气缸固定连接，所述螺旋测微器固定于第二连接板的左侧，所述螺旋测微器的下端与拨杆相连接，所述拨杆的下端设有拨头，所述第一拨键帽机构与第二拨键帽机构上的拨头呈前后对称结构设计。

进一步优选，所述拨杆组件为多组，所述拨杆上设有压力传感器。

进一步优选，所述拨杆的下端为扁平结构设计，其宽度上大下小。

进一步优选，所述拨头设置于拨杆的一侧，所述拨头为左低右高的倾斜结构，其左端采用尖角设计。

进一步优选，所述开档调整板上设有多个斜面滑槽，相邻两个所述斜面滑槽之间的间距上大下小。

进一步优选，所述第一拨键帽机构与第二拨键帽机构前后错位设置，且均设有多个拨杆组件。

进一步优选，所述键盘固定治具上设有矩形槽。

有益效果

本实用新型的键盘键帽组装质量的检测装置，通过第一拨键帽机构与第二拨键帽机构可实现键盘上组装不良的键帽的全部拨离，通过三维视觉传感器实现键帽的高低及轮廓的检测，自动化程度高，键帽拨离速度快，键盘、键帽无损伤，工作效率快，作业质量高。

附图说明

图1为本实用新型实施例所公开的一种键盘键帽组装质量的检测装置的轴侧结构示意图；

图2为本实用新型实施例所公开的第一拨键帽机构的左轴侧结构示意图；

图3为本实用新型实施例所公开的第一拨键帽机构的右轴侧结构示意图；

图4为本实用新型实施例所公开的拨杆组件的结构示意图。

附图标记

1-机台，2-直线模组，3-键盘固定治具，4第一支架，41-第一拨键帽机构，411-固定板，412-第一直线滑轨，413-拨杆组件，4131-第一连接板，4132-第二直线滑轨，4133-第二连接板，4134-气缸，4135-螺旋测微器，4136-压力传感器，4137-拨杆，41371-拨头，414-升降马达，415-第三连接板，416-开档调整板，4161-斜面滑槽，5-第二支架，51-第二拨键帽机构，6-第三支架，61-悬板，62-三维视觉传感器。

具体实施方式

以下是本实用新型的具体实施例并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步的描述，但本实用新型并不限于这些实施例。

实施例

如图1-4所示，一种键盘键帽组装质量的检测装置，包括机台1，所述机台1上设有左右滑动的直线模组2，所述直线模组2上滑动设有键盘固定治具3，所述直线模组2的两侧从左到右依次设有固定于机台1上的对称结构的第一支架4、第二支架5、第三支架6，所述第一支架4与第二支架5上分别架设有第一拨键帽机构41与第二拨键帽机构51，所述第三支架6上固定有悬板61，所述悬板61的下方连接有三维视觉传感器62，所述第一拨键帽机构41包含固定板411、拨杆组件413、升降马达414，所述固定板411的左侧设有前后滑动的第一直线滑轨412，所述第一直线滑轨412与拨杆组件413相连接，所述升降马达414固定于固定板411的右侧上端，所述升降马达414的下端连接有第三连接板415，所述第三连接板415连接有开档调整板416，所述开档调整板416与固定板411之间设有上下滑动的第三直线滑轨417，所述开档调整板416上穿设有螺杆418，所述螺杆418与拨杆组件413相连接，所述第二拨键帽机构51与第一拨键帽机构41结构相同。

在本实施例中，所述直线模组2用于驱动键盘7左右移动，所述第一拨键帽机构41和第二拨键帽机构51用于键盘7上组装不良的键帽的拨离，所述三维视觉传感器62为键帽轮廓测量机构，当直线模组2驱动键盘固定治具3通过第三支架6的下方时，所述第三支架6上的三维视觉传感器62可检测其下方通过的键盘固定治具3内的键盘7，检测键盘7上的键帽是否有高低、坏损等状况。

优选的，所述拨杆组件413包含第一连接板4131、第二连接板4133、气缸4134、螺旋测微器4135、拨杆4137，所述第一连接板4131的右侧与螺杆418固定连接，所述第一连接板4131左侧设有上下滑动的第二直线滑轨4132，所述第二直线滑轨4132上设有第二连接板4133，所述第二连接板4133的上端与气缸4134固定连接，所述螺旋测微器4135固定于第二连接板4133的左侧，所述螺旋测微器4135的下端与拨杆4137相连接，所述拨杆4137的下端设有拨头41371，所述第一拨键帽机构41与第二拨键帽机构51上的拨头41371呈前后对称结构设计。

在本实施例中，所述第一拨键帽机构41上的拨头41371设置于拨杆4137的后侧，所述第二拨键帽机构41上的拨头41371设置于拨杆4137的前侧，通过前后对称设置的拨头41371，实现键盘7上组装不良的键帽的拨离，可防止有组装歪斜的键帽被疏忽和未拨离。

在本实施例中，所述第一连接板4131可沿第一直线滑轨412前后滑动，调整拨杆组件413之间的间距，所述第二连接板4133可在气缸4134的驱动下作上下移动，驱动拨杆4137作上下移动，调节拨杆4137的高低位置，所述螺旋测微器4135可对拨杆4137进行高度位置的微调，使拨头41371的对键帽的相对位置更加精准，防止拨头41371压伤、划伤键盘7及其上的键帽，对组装不良的键帽进行精准拨离。

优选的，所述拨杆组件413为多组，所述拨杆4137上设有压力传感器4136，通过压力传感器4136可设定拨键帽的力的大小，可测试键帽受力曲线，方便分析键帽的组装质量。

优选的，所述拨杆4137的下端为扁平结构设计，其宽度上大下小，便于拨杆4137插入前后相邻的两个键帽之间，且拨杆4137强度大，不易发生变形。

优选的，所述拨头41371设置于拨杆4137的一侧，所述拨头41371为左低右高的倾斜结构，其左端采用尖角设计，便于拨头41371插入到不良键帽的底部，同时通过键盘固定治具3的左右移动，驱动键盘7向右移动，而拨头41371不动，通过拨头41371的倾斜结构慢慢将键帽拨高，最终将组装不良的键帽拨离。

优选的，所述开档调整板416上设有多个斜面滑槽4161，相邻两个所述斜面滑槽4161之间的间距上大下小。通过升降马达414驱动第三连接板415上下移动，进而驱动开档调整板416上下移动，使螺杆418在斜面滑槽4161的推动下作水平移动，进而驱动拨杆组件413进行水平移动，使拨头41371可满足不同开档的键帽的拨离。

优选的，所述第一拨键帽机构41与第二拨键帽机构51前后错位设置，且均设有多个拨杆组件413，通过错位设置的多个拨杆组件413，适用于不同的键帽组装结构，可将键盘7上所有的键帽全部检测，能够将所有组装不良的键帽都进行拨离作业，防止有遗漏的组装不良的键帽，同时可适用于不同键帽排列的不同键盘7。

优选的，所述键盘固定治具3上设有矩形槽，用于键盘7的安装与固定。

本实施例所述的键盘键帽组装质量的检测装置的工作流程为：

1）将键盘7放入键盘固定治具3内并固定，所述直线模组2驱动键盘固定治具3向右移动；

2）当键盘7移动至第一拨键帽机构41下方时，所述第一拨键帽机构41对键盘7进行不良键帽拨离作业，首先气缸4134驱动第二连接板4133下行，将拨头41371移动至设定位置并通过螺旋测微器4135进行微调，然后通过压力传感器4136设定拨键帽的力的大小，对组装不良的键帽进行拨离；

3）当键盘7移动至第二拨键帽机构51下方时，所述第二拨键帽机构51对键盘7进行不良键帽拨离作业，首先气缸4134驱动第二连接板4133下行，将拨头41371移动至设定位置并通过螺旋测微器4135进行微调，然后通过压力传感器4136设定拨键帽的力的大小，对组装不良的键帽进行拨离；

4）当键盘7移动至三维视觉传感器62的下方时，通过三维视觉传感器62检测键帽的高低，检出不良键帽；

5）当键盘7上的键帽开档发生变化时，通过升降马达414驱动开档调整板416上下移动，进而通过螺杆418驱动第一连接板4131左右移动，实现相邻两个拨杆4137的间距的调整，达到键盘7的键帽开档不同时的拨头41371的位置调整。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神与原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型性的保护范围之内的实用新型内容。

Claims (8)

1.一种键盘键帽组装质量的检测装置，包括机台（1），其特征在于：所述机台（1）上设有左右滑动的直线模组（2），所述直线模组（2）上滑动设有键盘固定治具（3），所述直线模组（2）的两侧从左到右依次设有固定于机台（1）上的对称结构的第一支架（4）、第二支架（5）、第三支架（6），所述第一支架（4）与第二支架（5）上分别架设有第一拨键帽机构（41）与第二拨键帽机构（51），所述第三支架（6）上固定有悬板（61），所述悬板（61）的下方连接有三维视觉传感器（62），所述第一拨键帽机构（41）包含固定板（411）、拨杆组件（413）、升降马达（414），所述固定板（411）的左侧设有前后滑动的第一直线滑轨（412），所述第一直线滑轨（412）与拨杆组件（413）相连接，所述升降马达（414）固定于固定板（411）的右侧上端，所述升降马达（414）的下端连接有第三连接板（415），所述第三连接板（415）连接有开档调整板（416），所述开档调整板（416）与固定板（411）之间设有上下滑动的第三直线滑轨（417），所述开档调整板（416）上穿设有螺杆（418），所述螺杆（418）与拨杆组件（413）相连接，所述第二拨键帽机构（51）与第一拨键帽机构（41）结构相同。

2.根据权利要求1所述的一种键盘键帽组装质量的检测装置，其特征在于：所述拨杆组件（413）包含第一连接板（4131）、第二连接板（4133）、气缸（4134）、螺旋测微器（4135）、拨杆（4137），所述第一连接板（4131）的右侧与螺杆（418）固定连接，所述第一连接板（4131）左侧设有上下滑动的第二直线滑轨（4132），所述第二直线滑轨（4132）上设有第二连接板（4133），所述第二连接板（4133）的上端与气缸（4134）固定连接，所述螺旋测微器（4135）固定于第二连接板（4133）的左侧，所述螺旋测微器（4135）的下端与拨杆（4137）相连接，所述拨杆（4137）的下端设有拨头（41371），所述第一拨键帽机构（41）与第二拨键帽机构（51）上的拨头（41371）呈前后对称结构设计。

3.根据权利要求2所述的一种键盘键帽组装质量的检测装置，其特征在于：所述拨杆组件（413）为多组，所述拨杆（4137）上设有压力传感器（4136）。

4.根据权利要求2所述的一种键盘键帽组装质量的检测装置，其特征在于：所述拨杆（4137）的下端为扁平结构设计，其宽度上大下小。

5.根据权利要求2所述的一种键盘键帽组装质量的检测装置，其特征在于：所述拨头（41371）设置于拨杆（4137）的一侧，所述拨头（41371）为左低右高的倾斜结构，其左端采用尖角设计。

6.根据权利要求1所述的一种键盘键帽组装质量的检测装置，其特征在于：所述开档调整板（416）上设有多个斜面滑槽（4161），相邻两个所述斜面滑槽（4161）之间的间距上大下小。

7.根据权利要求1所述的一种键盘键帽组装质量的检测装置，其特征在于：所述第一拨键帽机构（41）与第二拨键帽机构（51）前后错位设置，且均设有多个拨杆组件（413）。

8.根据权利要求1所述的一种键盘键帽组装质量的检测装置，其特征在于：所述键盘固定治具（3）上设有矩形槽。

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