CN213544211U - 一种针对光电半导体设备精密零部件的检测工装 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种针对光电半导体设备精密零部件的检测工装，包括工作台，工作台上端设置有支架，支架上端内部设置有第一滑槽，第一滑槽内部贯穿设置有第一丝杆，第一丝杆一端设置有电机，第一丝杆上贯穿设置有滑块，滑块下端穿出第一滑槽设置有固定块，固定块内部设置有液压伸缩缸，液压伸缩缸下端设置有压板，工作台上表面设置有定板；该一种针对光电半导体设备精密零部件的检测工装通过设置V形槽与压块，可以达到将零部件两端稳固夹持，且固定操作便捷，大大加快了零部件检测固定的速度；通过设置T形块，可以达到增强动板移动的稳定性，能有效防止动板移动晃动对零部件固定歪斜的情况。

Description

一种针对光电半导体设备精密零部件的检测工装

技术领域

本实用新型涉及零部件检测设备技术领域，具体为一种针对光电半导体设备精密零部件的检测工装。

背景技术

精密零部件是用于设备内部支撑设备整体运转的重要配件，精密零部件在生产过程中为了保证合格的精密度与符合要求的尺寸，通常需要对生产后的零部件进行检测，能有效对零部件瑕疵品进行筛选，传统检测技术中，由于零部件的种类复杂规模多样，不同的汽车零部件之间的尺寸差距也较大，因此为了保证检测结果的准确性，在检测不同的零部件时，需要选用不同的检测工具，更换麻烦，给检测工组人员造成工作负担，降低检测的工作效率，检测技术的使用，能有效对零部件的质量进行把控。

现有技术存在以下缺陷或问题：

1、现有的精密零部件的检测工装大多通过螺丝将零部件进行夹持固定，但是螺丝的安装拆卸操作麻烦，耗费时间降低了检测工作效率；

2、现有的精密零部件的检测工装在调节动板夹持零部件时，动板的移动不稳定，极易造成夹持歪斜，从而影响零部件的冲压检测，甚至造成零部件冲压变形。

实用新型内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的不足之处，提供一种针对光电半导体设备精密零部件的检测工装，以解决背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种针对光电半导体设备精密零部件的检测工装，包括工作台，所述工作台上端设置有支架，所述支架上端内部设置有第一滑槽，所述第一滑槽内部贯穿设置有第一丝杆，所述第一丝杆一端设置有电机，所述第一丝杆上贯穿设置有滑块，所述滑块下端穿出第一滑槽设置有固定块，所述固定块内部设置有液压伸缩缸，所述液压伸缩缸下端设置有压板，所述工作台上表面设置有定板，所述定板一侧设置有动板，所述工作台内部靠近动板处设置有第二滑槽，所述第二滑槽内部贯穿设置有第二丝杆，所述第二丝杆远离定板的一侧设置有调节钮，所述动板内部设置有螺孔，所述第二滑槽底部设置有T 形块，所述动板下端内部设置有T形槽，所述定板靠近动板的一侧内部设置有V形槽，所述V形槽上端设置有卡槽，所述V形槽内部设置有零部件，所述零部件靠近V形槽的一端设置有辅助套，所述动板靠近定板的一侧内部设置有插槽，所述插槽上端设置有矩形槽，所述矩形槽内部设置有弹簧，所述弹簧靠近插槽的一端设置有压块。

作为本实用新型的优选技术方案，所述滑块带动固定块在第一滑槽内水平滑动，所述液压伸缩缸数量为四组，所述液压伸缩缸固定于固定块内部。

作为本实用新型的优选技术方案，所述动板底端在第二滑槽内部滑动，所述第二丝杆通过螺孔贯穿动板，所述螺孔与第二丝杆相啮合，所述第二丝杆与动板转动连接。

作为本实用新型的优选技术方案，所述T形块固定于第二滑槽底部中心处，所述T形块宽度尺寸与T形槽宽度尺寸相适配，所述T形块通过T 形槽贯穿动板，所述动板与T形块滑动连接。

作为本实用新型的优选技术方案，所述零部件一端通过V形槽插入定板内部，所述零部件另一端通过插槽插入动板内部，所述零部件横向插入 V形槽内部，所述V形槽下拐角处于零部件下端，所述V形槽上拐角与零部件上表面相接触。

作为本实用新型的优选技术方案，所述辅助套呈矩形块状，所述卡槽内部设有矩形通槽，所述矩形通槽宽度尺寸与零部件相适配，所述辅助套通过矩形通槽贯穿零部件，所述辅助套插入卡槽内部与其形成卡接。

作为本实用新型的优选技术方案，所述压块在矩形槽内部滑动，所述弹簧两端分别与矩形槽、压块固定连接，所述矩形槽与插槽相通。

与现有技术相比，本实用新型提供了一种针对光电半导体设备精密零部件的检测工装，具备以下有益效果：

1、该一种针对光电半导体设备精密零部件的检测工装，通过设置V 形槽与压块，将零部件预先与辅助套套接，然后将零部件相对定板向上转动角度，将零部件一端与辅助套经V形槽下拐角插入V形槽底部，再将零部件回正，V形槽上拐角对零部件进行挤压，辅助套插入卡槽内部，再将零部件插入动板内部的插槽，压块受弹簧的推力对零部件进行挤压，从而使零部件两端固定夹持，该固定结构操作便捷，无论是固定安装还是取消拆卸都及其方便，大大加快了零部件检测固定的速度；

2、该一种针对光电半导体设备精密零部件的检测工装，通过设置T 形块，T形块通过T形槽插入动板内部，当第二丝杆转动时，第二丝杆推动动板在第二滑槽内水平滑动，从而使动板在T形块上平稳移动，增强了动板移动的稳定性，能有效防止动板移动晃动对零部件固定歪斜的情况。

附图说明

图1为本实用新型结构整体结构示意图；

图2为本实用新型结构动板连接示意图；

图3为本实用新型结构V形槽结构示意图；

图4为本实用新型结构压块连接示意图。

图中：1、工作台；2、支架；3、第一滑槽；4、第一丝杆；5、电机；6、滑块；7、固定块；8、液压伸缩缸；9、压板；10、定板；11、动板；12、第二滑槽；13、第二丝杆；14、调节钮；15、螺孔；16、T形块；17、T形槽；18、V形槽；19、卡槽；20、零部件；21、辅助套；22、插槽；23、矩形槽；24、弹簧；25、压块。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-4，本实施方案中：一种针对光电半导体设备精密零部件的检测工装，包括工作台1，工作台1上端设置有支架2，支架2上端内部设置有第一滑槽3，第一滑槽3内部贯穿设置有第一丝杆4，第一丝杆 4一端设置有电机5，第一丝杆4上贯穿设置有滑块6，滑块6下端穿出第一滑槽3设置有固定块7，固定块7内部设置有液压伸缩缸8，液压伸缩缸8下端设置有压板9，工作台1上表面设置有定板10，定板10一侧设置有动板11，工作台1内部靠近动板11处设置有第二滑槽12，第二滑槽12内部贯穿设置有第二丝杆13，第二丝杆13远离定板10的一侧设置有调节钮14，动板11内部设置有螺孔15，第二滑槽12底部设置有T形块16，动板11下端内部设置有T形槽17，定板10靠近动板11的一侧内部设置有V形槽18，V形槽18上端设置有卡槽19，V形槽18内部设置有零部件20，零部件20靠近V形槽18的一端设置有辅助套21，动板11靠近定板10的一侧内部设置有插槽22，插槽22上端设置有矩形槽23，矩形槽23内部设置有弹簧24，弹簧24靠近插槽22的一端设置有压块25。

本实施例中，滑块6带动固定块7在第一滑槽3内水平滑动，便于根据零部件20的位置对其进行冲压检测，液压伸缩缸8数量为四组，液压伸缩缸8固定于固定块7内部，用于带动压板9对零部件20进行冲压检测；动板11底端在第二滑槽12内部滑动，便于对动板11进行调节，第二丝杆13通过螺孔15贯穿动板11，用于推动动板11横向移动，螺孔15 与第二丝杆13相啮合，第二丝杆13与动板11转动连接；T形块16固定于第二滑槽12底部中心处，用于增强动板11移动的稳定性，T形块16 宽度尺寸与T形槽17宽度尺寸相适配，T形块16通过T形槽17贯穿动板11，动板11与T形块16滑动连接，使动板11移动更加平稳；零部件 20一端通过V形槽18插入定板10内部，用于将零部件20固定在定板10 内部，零部件20另一端通过插槽22插入动板11内部，将零部件20固定在动板11内部，零部件20横向插入V形槽18内部，V形槽18下拐角处于零部件20下端，便于转动零部件20将其从V形槽18取出，V形槽18 上拐角与零部件20上表面相接触，对零部件20上表面进行挤压，增强连接的稳定性；辅助套21呈矩形块状，用于将零部件20卡在V形槽18内部，卡槽19内部设有矩形通槽，矩形通槽宽度尺寸与零部件20相适配，辅助套21通过矩形通槽贯穿零部件20，便于辅助套21安装拆卸，辅助套21插入卡槽19内部与其形成卡接，加固零部件20与定板10连接的稳定性；压块25在矩形槽23内部滑动，对零部件20进行挤压，弹簧24两端分别与矩形槽23、压块25固定连接，推动压块25移动，矩形槽23与插槽22相通，便于压块25对零部件20进行挤压固定。

本实用新型的工作原理及使用流程：使用者首先将零部件20预先与辅助套21套接，然后将零部件20相对定板10向上转动角度，将零部件 20一端与辅助套21经V形槽18下拐角插入V形槽18底部，再将零部件 20回正，V形槽18上拐角对零部件20进行挤压，辅助套21插入卡槽19 内部，然后转动调节钮14，调节钮14带动第二丝杆13转动，第二丝杆 13推动动板11在第二滑槽12内水平滑动，从而使动板11在T形块16 上平稳移动，将动板11移动至与零部件20接触的相应位置，将零部件 20插入动板11内部的插槽22，压块25受弹簧24的推力对零部件20进行挤压，从而使零部件20两端固定夹持；通过主控制器控制电机5转动，电机5带动第一丝杆4转动，第一丝杆4推动滑块6在第一滑槽3内水平移动，当滑块6移动至零部件20中心位置时，主控制器控制液压伸缩缸8推动压板9下移，压板9下移对零部件20表面进行冲压，从而对零部件20的承压性进行检测。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种针对光电半导体设备精密零部件的检测工装，其特征在于：包括工作台(1)，所述工作台(1)上端设置有支架(2)，所述支架(2)上端内部设置有第一滑槽(3)，所述第一滑槽(3)内部贯穿设置有第一丝杆(4)，所述第一丝杆(4)一端设置有电机(5)，所述第一丝杆(4)上贯穿设置有滑块(6)，所述滑块(6)下端穿出第一滑槽(3)设置有固定块(7)，所述固定块(7)内部设置有液压伸缩缸(8)，所述液压伸缩缸(8)下端设置有压板(9)，所述工作台(1)上表面设置有定板(10)，所述定板(10)一侧设置有动板(11)，所述工作台(1)内部靠近动板(11)处设置有第二滑槽(12)，所述第二滑槽(12)内部贯穿设置有第二丝杆(13)，所述第二丝杆(13)远离定板(10)的一侧设置有调节钮(14)，所述动板(11)内部设置有螺孔(15)，所述第二滑槽(12)底部设置有T形块(16)，所述动板(11)下端内部设置有T形槽(17)，所述定板(10)靠近动板(11)的一侧内部设置有V形槽(18)，所述V形槽(18)上端设置有卡槽(19)，所述V形槽(18)内部设置有零部件(20)，所述零部件(20)靠近V形槽(18)的一端设置有辅助套(21)，所述动板(11)靠近定板(10)的一侧内部设置有插槽(22)，所述插槽(22)上端设置有矩形槽(23)，所述矩形槽(23)内部设置有弹簧(24)，所述弹簧(24)靠近插槽(22)的一端设置有压块(25)。

2.根据权利要求1所述的一种针对光电半导体设备精密零部件的检测工装，其特征在于：所述滑块(6)带动固定块(7)在第一滑槽(3)内水平滑动，所述液压伸缩缸(8)数量为四组，所述液压伸缩缸(8)固定于固定块(7)内部。

3.根据权利要求1所述的一种针对光电半导体设备精密零部件的检测工装，其特征在于：所述动板(11)底端在第二滑槽(12)内部滑动，所述第二丝杆(13)通过螺孔(15)贯穿动板(11)，所述螺孔(15)与第二丝杆(13)相啮合，所述第二丝杆(13)与动板(11)转动连接。

4.根据权利要求1所述的一种针对光电半导体设备精密零部件的检测工装，其特征在于：所述T形块(16)固定于第二滑槽(12)底部中心处，所述T形块(16)宽度尺寸与T形槽(17)宽度尺寸相适配，所述T形块(16)通过T形槽(17)贯穿动板(11)，所述动板(11)与T形块(16)滑动连接。

5.根据权利要求1所述的一种针对光电半导体设备精密零部件的检测工装，其特征在于：所述零部件(20)一端通过V形槽(18)插入定板(10)内部，所述零部件(20)另一端通过插槽(22)插入动板(11)内部，所述零部件(20)横向插入V形槽(18)内部，所述V形槽(18)下拐角处于零部件(20)下端，所述V形槽(18)上拐角与零部件(20)上表面相接触。

6.根据权利要求1所述的一种针对光电半导体设备精密零部件的检测工装，其特征在于：所述辅助套(21)呈矩形块状，所述卡槽(19)内部设有矩形通槽，所述矩形通槽宽度尺寸与零部件(20)相适配，所述辅助套(21)通过矩形通槽贯穿零部件(20)，所述辅助套(21)插入卡槽(19)内部与其形成卡接。

7.根据权利要求1所述的一种针对光电半导体设备精密零部件的检测工装，其特征在于：所述压块(25)在矩形槽(23)内部滑动，所述弹簧(24)两端分别与矩形槽(23)、压块(25)固定连接，所述矩形槽(23)与插槽(22)相通。

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